JPWO2009145070A1 - 波長多重光信号測定装置及びその方法 - Google Patents
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Abstract
Description
岡本 圭司、伊藤 文彦 著、"Simultaneous WDM signal detection realized by ultrafast field sampling" Optics Express, Vol.17, Issue 8, pp.6696−6702、2009年4月13日発行。 The Convention of National Societies of Electrical Engineers of Europe (EUREL)が2008年9月21日〜25日にベルギーのブリュッセルで開催したECOC2008での発表用資料:岡本 圭司、伊藤 文彦 著、"Simultaneous WDM Signal Detection Realized by Ultrafast Field Sampling" 2008年9月16日〜19日に開催された2008年電子情報通信学会通信ソサイエティ大会発表論文:岡本 圭司、伊藤 文彦 著、「超高速電界サンプリング法を用いたWDM信号一括受信」
(1)波長多重光信号の全電界振幅を測定する連続時系列電界サンプリング部と、前記連続時系列電界サンプリング部の測定結果をフーリエ解析して個々の波長の信号成分の電界振幅を算出する時系列電界解析部とを具備し、前記連続時系列電界サンプリング部は、前記波長多重光信号の全電界振幅Jmを時間TごとにM回測定し(但し、前記波長多重光信号の全帯域をΔftotalとしたとき、時間Tを1/Δftotalよりも小さく設定し、全観測時間の逆数1/(MT)が隣接波長チャネルの周波数間隔Δfよりも小さくなるように設定する)、前記時系列電界解析部は、前記連続時系列電界サンプリング部で求められた全電界振幅Jm(0≦m≦M−1)の級数のフーリエ変換を求めることにより個々の波長の信号の振幅を算出する構成とする。
Jm (0)(0≦m≦M−1)
とし、波長多重光信号の全電界振幅を
Jm(0≦m≦M−1)
としたときに、
Km ≡Jm Jm (0)*(但し、*は位相共役を示す)
を波長多重光信号の全電界振幅とみなす構成とする。
また、本発明に係る波長多重光信号測定方法は、以下のように処理される。
前記時間遅延の遅延量に誤差が存在する場合に、予め一定の振幅の単一の波長を観測することによって得られた電界振幅を
Jm (0)(0≦m≦M−1)
とし、波長多重光信号の全電界振幅を
Jm(0≦m≦M−1)
としたときに、
Km ≡Jm Jm (0)*(但し、*は位相共役を示す)
を波長多重光信号の全電界振幅とみなす処理を行う。
すなわち、上記構成による波長多重光信号測定装置及びその方法では、波長多重光信号の全電界波形を極めて高速な連続時系列電界サンプリング部によって測定し、これをフーリエ解析することによって、個々の波長の光信号の電界波形を算出することを特徴とするものである。
図1は本発明に係る波長多重光信号測定方法を用いた測定装置の一実施形態の構成を示すブロック図である。図1において、Lは被測定光信号となる波長多重光信号である。この波長多重光信号Lとは、図2に示すように、文字通り複数の波長光を異なる信号によって変調しそれらを合波したものである。個々の波長光の周波数をfi(i=1,2,…,N)とし、それに対応する変調信号をai(t)とすると、1つの波長信号の電界は
波長多重光信号の振幅測定は、通常の受光素子等を用いる方法では速度的に不可能であるが、以下に述べる方法によって実現することができる。
上記光90度ハイブリッド22−1〜22−Mは、それぞれ図4に示すように、光カプラa,b,c,dで構成され、図中の光路長ABとADとの差が、光路長CBとCDとの差よりもλ/4(λは光波長)だけ大きいかまたは小さくなるように設定される。
上記構成による連続時系列電界サンプリング部11は、特許文献2に記載の光サンプリング方法、装置を応用することによって実現されている。特許文献2では、繰り返し入力される局速な信号光を観測する光サンプリング方法であって、信号光の繰り返し周期と僅かに異なる周期を有し、光パルス幅が信号光の周波数変動の逆数よりも短いサンプリングパルス光を光パルス発生部から発生し、信号光の強度がサンプリングパルス光のパルス幅の時間内においてはほとんど変化しないという第1の条件、被測定光信号Lの周波数がサンプリングパルス光LSPのパルス幅の時間内においてはほとんど変化しないという第2の条件、及びサンプリングパルス光LSPの中心周波数が信号光の中心周波数とほぼ一致しているという第3の条件において、光信号の強度変調と周波数変調成分を観測する技術が開示されている。したがって、この強度変調と周波数変調成分より、光信号の電界振幅を求めることができる。
上記サンプリングパルス光が光90度ハイブリッド22−1〜22−Mに入射する際には、遅延器21−1〜21−Mによってそれぞれ0、T、2T、…、(M−1)Tの遅延が与えられるので、サンプリングパルス光が第1番目の光90度ハイブリッド22−1に到着する時刻をt=t0とすると、第m番目の光90度ハイブリッド22−mに入射するサンプリングパルス光の振幅Sammは
光90度ハイブリッド22−1〜22−Mからの出力光は、それぞれインフェーズ(in−phase)チャネルの受光素子23−1i〜23−Mi及びカドラチャ(quadrature)チャネルの受光素子23−1q〜23−Mqに結合され、それぞれインフェーズチャネルの光電流I1〜IM及びカドラチャチャネルの光電流Q1〜QMを誘起する。これらの光電流の大きさは
簡単のため、各波長チャネルの振幅ai(mT)が、時間MTの間にほとんど変化しない場合を考える。これは、各チャネルのスペクトル広がりが、チャネル間の周波数間隔Δfに比べて小さいことを意味しており、通常の波長多重光信号においては当然ながら成立している。その場合には、式(7)は
以上のことから、全電界振幅Jmは個々の波長多重光信号の振幅ai(0)とフーリエ変換の関係にあること分かる。したがって、全電界振幅Jmに対してフーリエ逆変換処理を行うことにより、個々の波長チャネルの振幅ai(0)を求めることが可能である。すなわち、振幅ai(0)を求める場合には
図3に示した数値演算器24−1〜24−Mは、受光素子23−mi,23−mqからの電流ImとQmより、Jm≡Im+jQmによって全電界振幅Jmを計算する。また、時系列電界解析部12は、式(10)に基づき、全電界振幅Jmから各波長チャネルの信号振幅ai(0)を計算する。
ここで、図3において遅延器21−1〜21−Mによって実現される時間遅延T0〜TM−1が以下のように設定された場合を考える。
このような場合には、以下に説明する手段によって予め係数exp(−j2πmfsΔTm)を測定し、数値演算処理においてこれを補正する。すなわち、図1の構成において、一定の振幅の単一の波長光のみを観測する。仮にa1(0)を測定したとすると、このとき出力されるJm (0)は
以上の説明から明らかなように、本実施形態によれば、単一の時刻t=0において各波長チャネルの振幅を検出することができる。すなわち、図3に示すように、クロック発生器25によって繰り返しサンプリングパルス光を発生し、その発生周波数をビット周波数の整数分の1からわずかに離調させれば、サンプリングオシロスコープの原理により、あらゆる時刻の信号波形(振幅)を観測することも可能となる。
Claims (8)
- 波長多重光信号の全電界振幅を測定する連続時系列電界サンプリング部と、
前記連続時系列電界サンプリング部の測定結果をフーリエ解析して個々の波長の信号成分の電界振幅を算出する時系列電界解析部とを具備し、
前記連続時系列電界サンプリング部は、前記波長多重光信号の全電界振幅Jmを時間TごとにM回測定し(但し、前記波長多重光信号の全帯域をΔftotalとしたとき、時間Tを1/Δftotalよりも小さく設定し、全観測時間の逆数1/(MT)が隣接波長チャネルの周波数間隔Δfよりも小さくなるように設定する)、
前記時系列電界解析部は、前記連続時系列電界サンプリング部で求められた全電界振幅Jm(0≦m≦M−1)の級数のフーリエ変換を求めることにより個々の波長の信号の振幅を算出することを特徴とする波長多重光信号測定装置。 - 前記連続時系列電界サンプリング部は、
スペクトル広がりが前記波長多重光信号の全帯域Δftotalより大で、かつスペクトルの中心が前記波長多重光信号光全体の中心波長にほぼ一致するサンプリングパルス光を発生する光発生手段と、
前記サンプリングパルス光と前記波長多重光信号光をそれぞれM分岐する分岐手段と、
前記M分岐後のサンプリングパルス光の経路または波長多重光信号光のどちらか一方の経路において前記時間Tの整数倍の時間遅延を与える遅延手段と、
前記分岐及び遅延後に、分岐出力毎に上記サンプリングパルス光ならびに波長多重光信号光を合波して位相が90度離れた信号光を得るM個の光90度ハイブリッドと、
前記M個の光90度ハイブリッドからの出射光を受光してそれぞれ直交電流Im,Qm(0≦m≦M−1)を得るM個のバランス型受光器と、
前記M個のバランス型受光器それぞれの出力電流Im,Qmの任意の時刻の値を測定し、前記波長多重光信号光の全電界振幅Jmを、Jm=Im+jQmにより求める演算部とを備えることを特徴とする請求項1記載の波長多重光信号測定装置。 - 前記連続時系列電界サンプリング部は、
前記遅延手段による遅延量に誤差が存在する場合に、予め一定の振幅の単一の波長を観測することによって得られた電界振幅を
Jm (0)(0≦m≦M−1)
とし、波長多重光信号の全電界振幅を
Jm(0≦m≦M−1)
としたときに、
Km ≡Jm Jm (0)*(但し、*は位相共役を示す)
を波長多重光信号の全電界振幅とみなすことを特徴とする請求項2記載の波長多重光信号測定装置。 - 前記光発生手段は、前記サンプリングパルス光を繰り返し発生し、その発生周波数をビット周波数の整数分の1からわずかに離調させるようにしたことを特徴とする請求項2または3に記載の波長多重光信号測定装置。
- 波長多重光信号の全電界振幅を測定し、その測定結果をフーリエ解析して個々の波長の信号成分の電界振幅を算出する波長多重光信号測定方法であって、
前記波長多重光信号の全電界振幅Jmを時間TごとにM回測定し(但し、前記波長多重光信号の全帯域をΔftotalとしたとき、時間Tを1/Δftotalよりも小さく設定し、全観測時間の逆数1/(MT)が隣接波長チャネルの周波数間隔Δfよりも小さくなるように設定する)、前記全電界振幅Jm(0≦m≦M−1)をフーリエ解析することにより個々の波長の信号の振幅を算出することを特徴とする波長多重光信号測定方法。 - 波長多重光信号の全電界振幅の測定は、
前記前記波長多重光信号に対し、スペクトル広がりが前記波長多重光信号の全帯域Δftotalより大で、かつスペクトルの中心が前記波長多重光信号光全体の中心波長にほぼ一致するサンプリングパルス光を発生し、
前記サンプリングパルス光と前記波長多重光信号をそれぞれM分岐させ、
前記M分岐後のサンプリングパルス光の経路または波長多重光信号のどちらか一方の経路において前記時間Tの整数倍の時間遅延を与え、
前記分岐及び遅延後に、分岐出力毎に上記サンプリングパルス光ならびに波長多重光信号を合波して位相が90度離れた一対の信号光を取得し、
前記一対の信号光それぞれの直交電流Im,Qm(0≦m≦M−1)を取得し、
前記直交電流Im,Qmの任意の時刻の値を測定し、前記波長多重光信号の全電界振幅Jmを、Jm=Im+jQmにより求めることを特徴とする請求項5記載の波長多重光信号測定方法。 - 前記波長多重光信号の全電界振幅の測定は、
前記時間遅延の遅延量に誤差が存在する場合に、予め一定の振幅の単一の波長を観測することによって得られた電界振幅を
Jm (0)(0≦m≦M−1)
とし、波長多重光信号の全電界振幅を
Jm(0≦m≦M−1)
としたときに、
Km ≡Jm Jm (0)*(但し、*は位相共役を示す)
を波長多重光信号の全電界振幅とみなすことを特徴とする請求項6記載の波長多重光信号測定方法。 - 前記サンプリングパルス光を繰り返し発生し、その発生周波数をビット周波数の整数分の1からわずかに離調させるようにしたことを特徴とする請求項6または7に記載の波長多重光信号波形測定方法。
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