JP4439857B2 - 光パルスの位相測定方法及び装置 - Google Patents
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Description
光のキャリア周波数は非常に高いため、光波の波形を直接観測することは極めて困難である。このため、上記した干渉を用いた位相測定が用いられており、その一つに周波数領域干渉法(Spectral interferometry)がある。周波数領域干渉法は、時間軸上で離れたパルスが周波数軸上では重なりあって干渉が発生する現象を利用したものである。具体的には、基準光パルスと被測定光パルスを時間τだけずらして合波し、そのパワースペクトルを測定することにより、被測定光パルスの基準光パルスに対する相対位相を算出する方法である。
この図において、101は被測定光パルス100が入力されるタイミング調整手段、103はこのタイミング調整手段101の出力光と基準光パルス102が合波される合波手段、104はこの合波手段103によって合波された出力光が入力されるスペクトル測定手段、105はこのスペクトル測定手段104からの出力が入力される位相算出手段であり、この位相算出手段105は、フーリエ変換部106、フーリエ変換成分抽出部107、横軸移動部108、フーリエ逆変換部109、逆正接(tan-1)計算部110を備えている。
基準光パルスの電界の時間波形をe0 (t)、被測定光パルスの電界の時間波形をe1 (t)とする。被測定光パルスを時間τだけずらして2つのパルスを合波すると、全電界e(t)は、
L.Lepetit,et al.,J.Opt.Soc.Am.B,vol.12,no.12,pp.2467−2474,1995
すなわち、本発明は、周波数領域干渉法を複数の被測定光パルスに拡張し、複数の短パルス光の位相を求める光パルスの位相測定方法及び装置を提供することを目的とする。
〔1〕光パルスの位相測定方法において、基準光パルスと複数の被測定光パルスを一定時間間隔に調整するタイミング調整過程と、前記基準光パルスと前記複数の被測定光パルスを合波する合波過程と、前記合波された光のパワースペクトルを測定するスペクトル測定過程と、前記パワースペクトルから前記複数の被測定光パルスの前記基準光パルスに対する位相を算出する位相算出過程とを有し、前記位相算出過程は、前記パワースペクトルを複数のフーリエ変換成分に分離する過程と、この複数のフーリエ変換成分から前記複数の被測定光パルスの位相を算出する過程とを含むことを特徴とする。
〔4〕上記〔2〕又は〔3〕記載の光パルスの位相測定方法において、前記フーリエ変換成分から前記複数の被測定光パルスの位相を算出する過程は、複数の被測定光パルスの位相の初期値を設定し、複数の被測定光パルスの位相の値の修正を繰り返して前記複数の被測定光パルスの位相を求める過程を含むことを特徴とする。
(A)複数の光パルスの位相をまとめて測定することができ、複数の光パルスを分離して1つずつ測定する必要が無くなる。
(B)簡単な構成で感度が高く、受光器の速度に依存せずに短パルスの測定が可能である。
n個のパルスを時間間隔τで合波し、パワースペクトルを測定する。i番目のパルス電界のフーリエ変換をEi (ω)とすると、パワースペクトルI(ω)は、
この図において、1−1〜1−n-1はタイミング調整手段、2は基準光パルス、3は合波手段、4はスペクトル測定手段、5は位相算出手段であり、この位相算出手段5は、フーリエ変換部6、フーリエ変換成分抽出部7、横軸移動部8、フーリエ逆変換部9、連立方程式の解の計算部10を有している。
図3に基準光パルスと被測定光パルスを合波した光パルス列の時間波形の例を示す。ここでは、最初のパルスを基準光パルスとし、残りの7個を被測定光パルスとする。パルス幅は1ps、パルス間隔τは6.25psである。パルス位相は図4に示すランダムな値とした。
図2(a)は図1に示したフーリエ変換成分抽出部7と横軸移動部8の順序を入れ換えたものである。図9の破線は、図6のフーリエ変換結果を時間軸上で25ps移動したものである。これより中央の6.25ps幅だけ抽出すると図9の実線のようになり、順序を入れ換えても等価であることがわかる。
i番目のパルスの電界の時間波形をei (t)とし、パルスの時間間隔をτとすると、n個のパルスを合成した全電界e(t)は、
入力信号は、光ラベル21と伝送すべきデータで変調されたペイロード22である。ノードでは光ラベル21を認識し、自分宛のデータの場合はドロップし、それ以外はスルーにして他のノードに転送する必要がある。ここで、位相変調されたパルス列を光ラベル21とする。ノードでは、バンドパスフィルタ24である波長を選択し、受光器25で受けて光スイッチ27のスルー/ドロップを制御する。保持回路26はペイロード22の時間だけ光スイッチ27の状態を保持する。例えば、ラベル1のスペクトルにはバンドパスフィルタ24の波長にピークが存在し、光スイッチ27はドロップ側に設定されるが、ラベル2はバンドパスフィルタ24の波長にピークが存在しないので、光スイッチ27はスルー側となる。なお、23は光カプラ、28はタイミング調整用の光ファイバである。
以上のように構成したので、本発明により複数の光パルスの位相をまとめて測定することができ、複数の光パルスを分離して1つずつ測定する必要が無くなる。そして、従来の周波数領域干渉法と同様に、簡単な構成で感度が高く、受光器の速度に依存せずに短パルスの測定が可能となる。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能であり、これらを本発明の範囲から排除するものではない。
2 基準光パルス
3 合波手段
4 スペクトル測定手段
5 位相算出手段
6 フーリエ変換部
7 フーリエ変換成分抽出部
8 横軸移動部
9 フーリエ逆変換部
10 連立方程式の解の計算部
11 バンドパスフィルタ部
12 正弦波発生部
13 乗算部
15 ローパスフィルタ部
21 光ラベル
22 伝送すべきデータで変調されたペイロード
23 光カプラ
24 バンドパスフィルタ
25 受光器
26 保持回路
27 光スイッチ
28 タイミング調整用の光ファイバ
Claims (7)
- (a)基準光パルスと複数の被測定光パルスを一定時間間隔に調整するタイミング調整過程と、
(b)前記基準光パルスと前記複数の被測定光パルスを合波する合波過程と、
(c)前記合波された光のパワースペクトルを測定するスペクトル測定過程と、
(d)前記パワースペクトルから前記複数の被測定光パルスの前記基準光パルスに対する位相を算出する位相算出過程とを有し、
(e)前記位相算出過程は、前記パワースペクトルを複数のフーリエ変換成分に分離する過程と、該複数のフーリエ変換成分から前記複数の被測定光パルスの位相を算出する過程とを含むことを特徴とする光パルスの位相測定方法。 - 請求項1記載の光パルスの位相測定方法において、前記位相算出過程は、前記パワースペクトルをフーリエ変換する過程と、該フーリエ変換結果を一定時間間隔で複数の成分に分離する過程と、各成分を時間軸上で移動する過程と、移動された各成分をフーリエ逆変換する過程と、該フーリエ逆変換結果から前記複数の被測定光パルスの前記基準光パルスに対する位相を算出する過程とを含むことを特徴とする光パルスの位相測定方法。
- 請求項1記載の光パルスの位相測定方法において、前記位相算出過程は、前記パワースペクトルに正弦波を乗算して時間軸上で移動する過程と、フィルタにより複数のフーリエ変換成分を抽出する過程と、該複数のフーリエ変換成分から前記複数の被測定光パルスの位相を算出する過程とを含むことを特徴とする光パルスの位相測定方法。
- 請求項2又は3記載の光パルスの位相測定方法において、前記フーリエ変換成分から前記複数の被測定光パルスの位相を算出する過程は、複数の被測定光パルスの位相の初期値を設定し、複数の被測定光パルスの位相の値の修正を繰り返して前記複数の被測定光パルスの位相を求める過程を含むことを特徴とする光パルスの位相測定方法。
- (a)基準光パルスと複数の被測定光パルスを一定時間間隔に調整するタイミング調整手段と、
(b)前記基準光パルスと前記複数の被測定光パルスを合波する合波手段と、
(c)前記合波された光のパワースペクトルを測定するスペクトル測定手段と、
(d)前記パワースペクトルから前記複数の被測定光パルスの前記基準光パルスに対する位相を算出する位相算出手段とを備え、
(e)前記位相算出手段は、前記パワースペクトルを複数のフーリエ変換成分に分離する手段と、該複数のフーリエ変換成分から前記複数の被測定光パルスの位相を算出する手段とを含むことを特徴とする光パルスの位相測定装置。 - 請求項5記載の光パルスの位相測定装置において、前記位相算出手段は、前記パワースペクトルをフーリエ変換する手段と、該フーリエ変換結果を一定時間間隔で複数の成分に分離する手段と、各成分を時間軸上で移動する手段と、移動された各成分をフーリエ逆変換する手段と、該フーリエ逆変換結果から前記複数の被測定光パルスの前記基準光パルスに対する位相を算出する手段とを含むことを特徴とする光パルスの位相測定装置。
- 請求項5記載の光パルスの位相測定装置において、前記位相算出手段は、前記パワースペクトルに正弦波を乗算して時間軸上で移動する手段と、フィルタにより複数のフーリエ変換成分を抽出する手段と、該複数のフーリエ変換成分から前記複数の被測定光パルスの位相を算出する手段とを含むことを特徴とする光パルスの位相測定装置。
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