JPS64643B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS64643B2
JPS64643B2 JP12783682A JP12783682A JPS64643B2 JP S64643 B2 JPS64643 B2 JP S64643B2 JP 12783682 A JP12783682 A JP 12783682A JP 12783682 A JP12783682 A JP 12783682A JP S64643 B2 JPS64643 B2 JP S64643B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
inspected
camera
half mirror
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP12783682A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5917104A (ja
Inventor
Futoshi Fuchida
Shinji Okamoto
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP12783682A priority Critical patent/JPS5917104A/ja
Publication of JPS5917104A publication Critical patent/JPS5917104A/ja
Publication of JPS64643B2 publication Critical patent/JPS64643B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/2433Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures for measuring outlines by shadow casting

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は形状検査装置、詳しくは被検査物の上
面と側面の形状を同時に認識及び検査する装置に
関する。
従来、被検査物の上面と側面を同時に1台のカ
メラで検査するには、側面像と被検査物上に配置
した全反射ミラーによる上面像を同時にカメラに
取入れていた。しかしこの方法では照明配置が難
しく、上面像と側面像とでカメラの焦点深度が一
致しにくく、さらに各画像の受光量に差があるた
め、それぞれ2値化レベルを設定しなければなら
ないといつた欠点があつた。
本発明は上記の欠点を改善し、被検査物の上面
と側面の形状を同時に検査することを目的とする
ものである。
第1図は被検査物の一例を示すもので、図はモ
ータの例を示す。イは正面図、ロは側面図を示
す。図において1はデータの本体、2は端子、3
はツメ、4はリブを示すもので、ツメ3の形状を
上面より検査し、端子2、リブ4の形状を側面よ
り検査する。
第2図は本発明の検査装置を示すもので、11
は被検査物で光源12より拡散フイルタ13を介
して被検査物11の側面を照射する。14はハー
フミラーで被検査物の上方で傾斜して配置され、
光源15は被検査物の上方やや後方からハーフミ
ラー14を介して被検査物を照射する。16はカ
メラで、このカメラの上部には、ハーフミラー1
4を介して光源15により照射した被検査物11
の上面の像をハーフミラーにより反射せしめ、カ
メラの上面に写し(落射照明方式)、側面のシル
エツトはカメラの下部に写し(シルエツト方式)、
その形状を白黒の画像として画像処理部17で処
理し、モニタテレビ18に写す。
第3図はモニタテレビによる白黒の画像を示
す。図中斜線部は黒、その他の部分は白である。
すなわち落射照明方式とシルエツト方式の組合せ
によつてモニタテレビ上の2値化像は第3図のよ
うに上半分に上面画像、下半分に側面画像とな
り、必要部分にマスクを作り、その中を検査す
る。なお上面画像と側面画像で白黒が逆転する。
本発明は叙上のように形状検査装置において被
検査物の後方に拡散フイルタを介して配置した光
源と、前記の被検査物の上方で傾斜して配置した
ハーフミラーを介して、被検査物を上方でやや後
方から照射する光源と、ハーフミラーを介して被
検査物の上面画像と側面画像とを同時に写すカメ
ラと、前記のカメラの像を2値化像として、上半
分に上面画像、下半分に側面画像を写すためのモ
ニタテレビとを備えることによつて (イ) 被検査物の側面をシルエツト像として撮像す
る側面画像と、被検査物の上面(あるいは下面
でも可)を反射像として撮像する上面画像とを
同時に撮像する機能とを有するものであり、特
に本発明においてはシルエツト像で反射では撮
像し難い外形像がえられ、反射像でシルエツト
では撮像し難い表面像がえられるものである。
さらに、 (ロ) ハーフミラーを使用しての落射照明方式とシ
ルエツト方式の組合せによつて光源の配置が簡
単になるとともに、各光源の相互干渉が少なく
なる。
(ハ) ハーフミラーをやや前方に配置することによ
つてハーフミラー像とシルエツト像のカメラの
焦点深度が一致しやすくなる。
(ニ) 各光源の光量を調整することによつて各画像
の2値化レベルを共通化できる。
等の効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図イ,ロは被検査物の一例、第2図は本発
明の装置、第3図はモニタテレビによる2値化画
像を示す。 11……被検査物、12,15……光源、13
……拡散フイルタ、14……ハーフミラー、16
……カメラ、17……画像処理部、18……モニ
タテレビ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 被検査物の後方に拡散フイルタを介して配置
    した光源と、前記の被検査物の上方で傾斜して配
    置したハーフミラーを介して、被検査物を上方で
    やや後方から照射する光源と、ハーフミラーを介
    して被検査物の上面画像と側面画像とを同時に写
    すカメラと、前記のカメラの像を2値化像とし
    て、上半分に上面画像、下半分に側面画像を写す
    ためのモニタテレビとを備えることを特徴とする
    形状検査装置。
JP12783682A 1982-07-21 1982-07-21 形状検査装置 Granted JPS5917104A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12783682A JPS5917104A (ja) 1982-07-21 1982-07-21 形状検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12783682A JPS5917104A (ja) 1982-07-21 1982-07-21 形状検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5917104A JPS5917104A (ja) 1984-01-28
JPS64643B2 true JPS64643B2 (ja) 1989-01-09

Family

ID=14969858

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12783682A Granted JPS5917104A (ja) 1982-07-21 1982-07-21 形状検査装置

Country Status (1)

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JP (1) JPS5917104A (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6366445A (ja) * 1986-09-09 1988-03-25 Ikegami Tsushinki Co Ltd 外観検査装置
JPH0641853B2 (ja) * 1986-09-29 1994-06-01 株式会社安川電機 多回転式絶対値エンコ−ダ
JPS648606U (ja) * 1987-07-03 1989-01-18

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55106305A (en) * 1979-02-07 1980-08-15 Kureha Chem Ind Co Ltd Measuring method for pattern area
JPS5654307A (en) * 1979-10-09 1981-05-14 Inoue Japax Res Inc Measuring instrument for work precision
JPS5662508U (ja) * 1979-10-22 1981-05-27

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5917104A (ja) 1984-01-28

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