JPS6454B2 - - Google Patents
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- JPS6454B2 JPS6454B2 JP56011894A JP1189481A JPS6454B2 JP S6454 B2 JPS6454 B2 JP S6454B2 JP 56011894 A JP56011894 A JP 56011894A JP 1189481 A JP1189481 A JP 1189481A JP S6454 B2 JPS6454 B2 JP S6454B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/12—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for looking at the eye fundus, e.g. ophthalmoscopes
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- Eye Examination Apparatus (AREA)
- Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、眼科機械における合焦位置検出装置
に関する。
に関する。
従来の眼科機械の合焦位置検出装置の例として
は、眼の屈折力を測定する屈折力測定装置や眼底
像を撮影する眼底カメラ等において、被検眼の瞳
を通して眼底にターゲツト像を投影し、そのター
ゲツト像の合焦状態を観察して被検眼の屈折度及
び眼底のピント状態を検出することが知られてい
る。また従来の眼科機械の合焦位置検出装置の他
の例としては、上記ターゲツトの合焦状態を光電
的に検出して投影系にフイードバツクさせること
により、自動的にターゲツト像を被検眼眼底に合
焦させるいわゆる自動合焦を行う装置が知られて
いる。例えば、米国特許第3614214号であり、眼
底カメラとは別個に備えた屈折度測定装置により
被検眼の屈折度を測定し、その測定値により眼底
カメラが自動的に合焦する。この屈折度測定装置
は、合焦時には直流信号を出力し、非合焦時には
交流信号を出力する焦点合せ用ターゲツトを被検
眼眼底に投影するものである。
は、眼の屈折力を測定する屈折力測定装置や眼底
像を撮影する眼底カメラ等において、被検眼の瞳
を通して眼底にターゲツト像を投影し、そのター
ゲツト像の合焦状態を観察して被検眼の屈折度及
び眼底のピント状態を検出することが知られてい
る。また従来の眼科機械の合焦位置検出装置の他
の例としては、上記ターゲツトの合焦状態を光電
的に検出して投影系にフイードバツクさせること
により、自動的にターゲツト像を被検眼眼底に合
焦させるいわゆる自動合焦を行う装置が知られて
いる。例えば、米国特許第3614214号であり、眼
底カメラとは別個に備えた屈折度測定装置により
被検眼の屈折度を測定し、その測定値により眼底
カメラが自動的に合焦する。この屈折度測定装置
は、合焦時には直流信号を出力し、非合焦時には
交流信号を出力する焦点合せ用ターゲツトを被検
眼眼底に投影するものである。
本発明は、上記従来知られている合焦位置検出
装置に較べて、簡単な構成でしかも高精度に合焦
位置を検出することができる眼科機械における合
焦位置検出装置を提供することを目的とする。
装置に較べて、簡単な構成でしかも高精度に合焦
位置を検出することができる眼科機械における合
焦位置検出装置を提供することを目的とする。
以下、本発明を眼底カメラの合焦位置検出装置
に適用した実施例を図について説明する。まず第
１図において、撮影光学系は、被検眼Ｅに対して
配置される対物レンズ１、該対物レンズ１に対し
被検眼の瞳Epと共役の位置付近に置かれた絞り
２、合焦用レンズ２、結像レンズ４およびフイル
ム５からなり、合焦用レンズ３と結像レンズ４の
間はアフオーカル光学系である。フイルム５の前
方に設けられた斜設反射鏡２２、該反射鏡２２の
反射光路上に設けられたフイールドレンズ２３、
反射鏡２４および結像レンズ２５により撮像管２
６の光電面に結像する。撮像管２６からの信号は
モニターテレビ２７に送られ、ブラウン管の画面
に画像を形成する。
に適用した実施例を図について説明する。まず第
１図において、撮影光学系は、被検眼Ｅに対して
配置される対物レンズ１、該対物レンズ１に対し
被検眼の瞳Epと共役の位置付近に置かれた絞り
２、合焦用レンズ２、結像レンズ４およびフイル
ム５からなり、合焦用レンズ３と結像レンズ４の
間はアフオーカル光学系である。フイルム５の前
方に設けられた斜設反射鏡２２、該反射鏡２２の
反射光路上に設けられたフイールドレンズ２３、
反射鏡２４および結像レンズ２５により撮像管２
６の光電面に結像する。撮像管２６からの信号は
モニターテレビ２７に送られ、ブラウン管の画面
に画像を形成する。
照明光学系は、絞り２の前方において撮影光学
系の光路中に挿入された斜設孔あきミラー６、該
孔あきミラー６の反射光路に設けられたリレーレ
ンズ７、集光レンズ９、リング状スリツト１０、
撮影用光源となる閃光管１１、防熱フイルターン
１２、集光レンズ１３および普通照明用光源１４
からなり、光源１４からの照明光は孔あきミラー
の反射面にリング状に当つて反射され、対物レン
ズ１を通つて眼底ERを照明する。
系の光路中に挿入された斜設孔あきミラー６、該
孔あきミラー６の反射光路に設けられたリレーレ
ンズ７、集光レンズ９、リング状スリツト１０、
撮影用光源となる閃光管１１、防熱フイルターン
１２、集光レンズ１３および普通照明用光源１４
からなり、光源１４からの照明光は孔あきミラー
の反射面にリング状に当つて反射され、対物レン
ズ１を通つて眼底ERを照明する。
眼底写真撮影のためのピント合わせのための指
標投影系は、絞り２の後方において撮影光学系の
光路に設けられた斜設反射鏡１５、反射鏡１６、
リレーレンズ１７、スリツト状指標１８、該指標
１８に密着して配置された偏角プリズム１９、集
光レンズ２０および光源２１からなる。光源２１
からの光は、集光レンズ２０を通りスリツト状指
標１８を照明する。スリツト状指標１８は第２図
ａに示すように、YY′軸上に設けられたスリツト
状指標１８ａ，１８ｄ、及び１８ａ（１８ｄ）と
平行でXX′軸方向の両側に同一距離離して設けら
れたスリツト状指標１８ｂ，１８ｃを有する。ス
リツト状指標１８ａ，１８ｂ，１８ｃ，１８ｄに
は夫々偏角プリズム１９ａ，１９ｂ，１９ｃ，１
９ｄが密着して配管されている。偏角プリズム１
９ａ，１９ｂ，１９ｃ，１９ｄは、第２図ｂに示
すように、XX′軸を含む面内のａ，ｂ，ｃ，ｄの
方向に偏角を与えるものである。このスリツト透
過光は、リレーレンズ１７、反射鏡１６，１５、
絞２および孔あきミラー６の孔部を通つて、レン
ズ３，４に対しフイルム５と共役な位置Ｆに一旦
結像し、対物レンズ１を通して被検眼Ｅに入射す
る。
標投影系は、絞り２の後方において撮影光学系の
光路に設けられた斜設反射鏡１５、反射鏡１６、
リレーレンズ１７、スリツト状指標１８、該指標
１８に密着して配置された偏角プリズム１９、集
光レンズ２０および光源２１からなる。光源２１
からの光は、集光レンズ２０を通りスリツト状指
標１８を照明する。スリツト状指標１８は第２図
ａに示すように、YY′軸上に設けられたスリツト
状指標１８ａ，１８ｄ、及び１８ａ（１８ｄ）と
平行でXX′軸方向の両側に同一距離離して設けら
れたスリツト状指標１８ｂ，１８ｃを有する。ス
リツト状指標１８ａ，１８ｂ，１８ｃ，１８ｄに
は夫々偏角プリズム１９ａ，１９ｂ，１９ｃ，１
９ｄが密着して配管されている。偏角プリズム１
９ａ，１９ｂ，１９ｃ，１９ｄは、第２図ｂに示
すように、XX′軸を含む面内のａ，ｂ，ｃ，ｄの
方向に偏角を与えるものである。このスリツト透
過光は、リレーレンズ１７、反射鏡１６，１５、
絞２および孔あきミラー６の孔部を通つて、レン
ズ３，４に対しフイルム５と共役な位置Ｆに一旦
結像し、対物レンズ１を通して被検眼Ｅに入射す
る。
上述のように偏角プリズム１９によつて二方向
に分けられ光軸に対し対称に投影されるスリツト
透過光を対物レンズ１に向けて反射するために、
撮影光学系の光路に配置された反射鏡１５は、第
３図に示すように、光軸の両側に対称に配置され
た２個の反射部１５ａ，１５ｂからなる。このた
め、反射鏡１５は、眼底ERにより反射され、フ
イルム５に向う撮影系有効光束に対し何ら障害と
はならない。絞り２も、撮影光学系の光軸に沿つ
た撮影用光束と、スリツト透過光束とを通過させ
るため、中央の撮影光束用絞り孔２ａとその両側
のスリツト透過光束用絞り孔２ｂ，２ｃとを有す
る。さらに、孔あきミラー６も、スリツト透過光
を通過させ得るように両側に張出し部を備えた孔
を有する。
に分けられ光軸に対し対称に投影されるスリツト
透過光を対物レンズ１に向けて反射するために、
撮影光学系の光路に配置された反射鏡１５は、第
３図に示すように、光軸の両側に対称に配置され
た２個の反射部１５ａ，１５ｂからなる。このた
め、反射鏡１５は、眼底ERにより反射され、フ
イルム５に向う撮影系有効光束に対し何ら障害と
はならない。絞り２も、撮影光学系の光軸に沿つ
た撮影用光束と、スリツト透過光束とを通過させ
るため、中央の撮影光束用絞り孔２ａとその両側
のスリツト透過光束用絞り孔２ｂ，２ｃとを有す
る。さらに、孔あきミラー６も、スリツト透過光
を通過させ得るように両側に張出し部を備えた孔
を有する。
眼底ERに投影されるスリツト指標像のコント
ラストを高めるためには、その投影領域において
背景照明を遮光することが望ましい。この目的
で、本例においては、照明系の眼底ERと共役な
位置に指標像を覆いえる大きさの遮光板８が出し
込れ自在に設けてある。
ラストを高めるためには、その投影領域において
背景照明を遮光することが望ましい。この目的
で、本例においては、照明系の眼底ERと共役な
位置に指標像を覆いえる大きさの遮光板８が出し
込れ自在に設けてある。
第１図および第２図に示す光学系においては、
合焦レンズ３と指標投影系のリレーレンズ１７、
スリツト指標１８、偏角プリズム１９、集光レン
ズ２０および光源２１を一体として光軸方向に動
かしてピント合わせを行ない、眼底ER上に結像
したスリツト指標像の状態により、フイルム５上
のピント状態を知ることができる。
合焦レンズ３と指標投影系のリレーレンズ１７、
スリツト指標１８、偏角プリズム１９、集光レン
ズ２０および光源２１を一体として光軸方向に動
かしてピント合わせを行ない、眼底ER上に結像
したスリツト指標像の状態により、フイルム５上
のピント状態を知ることができる。
以上述べた構成をとることにより、モニターテ
レビ２７には、第４図に示すように、眼底像に重
ねて指標像が写し出される。合焦状態と指標像と
の関係は次の通りである。第５図ａは合焦時の指
標像を示し、第５図ｂ及びｃは非合焦時の指標像
を示す。眼底に対して指標像面が光軸上を移動す
ると、スリツト状指標像１８a′と１８b′，１８
c′とは相互に反対方向に移動する。そして合焦時
にはスリツト状指標１８b′と１８a′との間隔l1と、
スリツト状指標像１８a′と１８c′との間隔l2とが
等しくなる。すなわちl1，l2を電気的に検出し、
（l1−l2）の正負によつて合焦レンズ３の移動方向
が決まり、l1＝l2の時に合焦状態であることを検
知することができる。本実施例では、さらに、目
視によつても合焦状態を検知することができる。
すなわちスリツト状視標像１８a′と１８d′とが同
一直線上にあれば合焦している。従つて上記合焦
状態自動検出装置に頼るだけでなく、検者が目視
により合焦状態を確認することができるから、合
焦状態自動検出装置の故障等により再撮影を要す
るようになることを防ぐことができる。
レビ２７には、第４図に示すように、眼底像に重
ねて指標像が写し出される。合焦状態と指標像と
の関係は次の通りである。第５図ａは合焦時の指
標像を示し、第５図ｂ及びｃは非合焦時の指標像
を示す。眼底に対して指標像面が光軸上を移動す
ると、スリツト状指標像１８a′と１８b′，１８
c′とは相互に反対方向に移動する。そして合焦時
にはスリツト状指標１８b′と１８a′との間隔l1と、
スリツト状指標像１８a′と１８c′との間隔l2とが
等しくなる。すなわちl1，l2を電気的に検出し、
（l1−l2）の正負によつて合焦レンズ３の移動方向
が決まり、l1＝l2の時に合焦状態であることを検
知することができる。本実施例では、さらに、目
視によつても合焦状態を検知することができる。
すなわちスリツト状視標像１８a′と１８d′とが同
一直線上にあれば合焦している。従つて上記合焦
状態自動検出装置に頼るだけでなく、検者が目視
により合焦状態を確認することができるから、合
焦状態自動検出装置の故障等により再撮影を要す
るようになることを防ぐことができる。
上記l1、l2を検出する方法としては、微小面積
の受光面を有するフオトダイオードアレイ、又は
電荷結合素子のアレイ上に指標像を形成しその素
子群の信号に指標像位置を求める方法、及びスリ
ツト状指標像の形成する位置で、後方に光電検出
器を配置したスリツト状絞りを走査して、その光
電検出器の信号により指標像位置を検出する方法
がある。本実施例では、テレビ映像走査信号を用
いて指標像位置を検出し、自動合焦を行なう方法
について述べる。以下その電気的検出について説
明を行なう。第６図、第７図において、モニター
テレビ上での指標像および映像信号抽出のタイミ
ングを示す。すなわち垂直同期信号から時間t1だ
けたつたｎ番目の走査信号を抽出し、そのｎ番目
の水平同期信号から時間t2遅れた時間から時間t3
だけ信号を抽出し、その電気信号により指標像の
位置を検出しようとするものである。モニターテ
レビからの信号により自動合焦を行なう信号処理
等のブロツクダイアグラムを示す第８図、及び各
信号波形を示す第９図において、複合電気信号
は、水平垂直同期信号と映像信号とに分離され
る。さらに水平・垂直同期信号は、水平同期信号
と垂直同期信号とに分離されて計数回路１００に
入力される。計数回路１００は、水平同期信号を
ｎ個計数することにより、垂直同期信号から時間
t1だけ遅れたｎ番目の走査信号を選択しパルスを
発生させる。このタイミングによりワンシヨツト
マルチ(1)１０１、ワンシヨツトマルチ(2)１０２は
信号２１５，２１６を発生させる。垂直同期信号
は１フイールド毎に計数回路１００をリセツトす
る。すなわちワンシヨツトマルチ(2)１０２はｎ番
目の走査信号から時間t2だけ遅れて時間t3のパル
ス幅をもつゲート信号２１６を発生するものであ
る。一方映像信号は比較回路１０４によりＨ、Ｌ
の２値信号に変換されてゲート回路１０６に入力
され、ゲート信号２１６によりｎ番目の走査線に
おいて２値信号に変換された映像信号２１７が抽
出される。３１０はタイミング信号発生回路であ
り、タイミング信号２１８および２２０，２２
２，２２４，２２８を発生する。タイミング信号
２１８は電圧発生回路３０２に、タイミング信号
２２０，２２２，２２４，２２６，２２８はそれ
ぞれサンプルホールド回路３０３，３０４，３０
５，３０６に供給される。電圧発生回路３０７は
直線性のよい電圧２１９を発生する。サンプルホ
ールド回路３０３，３０４，３０５，３０６は前
記タイミング信号により電圧２１９を夫々２２
１，２２３，２２５，２２７，２２９としてホー
ルドされそれぞれのＨ期間の走査に要する電気量
の電圧を得る。これらのアナログ量は、回路選択
用タイミング発生回路３０９の信号により選択さ
れＡ／Ｄ変換器３０８の働きによりデジタル化さ
れて置数器Ａ〜Ｅに記憶される。演算回路３２０
は置換器Ａ〜Ｅのデータを取り込み、３つのスリ
ツト状指標像の左右の間隔l1，l2をもとめ、両間
隔が等しくなるまでサーボ系３２１に移動量及び
移動方向の信号を与えるものである。置換器Ａ〜
Ｅに記憶されたデジタル量を夫々ａ、ｂ、ｃ、
ｄ、ｅとすると、第５図におけるl1はl1＝ａ／２＋ （ｂ−ａ）＋ｃ−ｂ／２＝ｂ−ａ＋ｃ／２で求められ、
l2 はl2＝ｃ−ｂ／２＋（ｄ−ｃ）＋ｅ−ｄ／２＝ ｄ−ｃ＋ｅ−ｂ／２で求められる。△ｌ＝l1−l2が移 動量、l1−l2の符号が移動方向の信号を与えるも
のである。サーボ系３２１は合焦レンズ３と指標
投影系のリレーレンズ１７、スリツト指標１８、
偏角プリズム１９、集光レンズ２０および光源２
１を１体として光軸方向に動かすものであり、眼
底にスリツト像指標を合焦させることにより、フ
イルム５上の眼底のピント合わせを自動的に行な
うことができる。
の受光面を有するフオトダイオードアレイ、又は
電荷結合素子のアレイ上に指標像を形成しその素
子群の信号に指標像位置を求める方法、及びスリ
ツト状指標像の形成する位置で、後方に光電検出
器を配置したスリツト状絞りを走査して、その光
電検出器の信号により指標像位置を検出する方法
がある。本実施例では、テレビ映像走査信号を用
いて指標像位置を検出し、自動合焦を行なう方法
について述べる。以下その電気的検出について説
明を行なう。第６図、第７図において、モニター
テレビ上での指標像および映像信号抽出のタイミ
ングを示す。すなわち垂直同期信号から時間t1だ
けたつたｎ番目の走査信号を抽出し、そのｎ番目
の水平同期信号から時間t2遅れた時間から時間t3
だけ信号を抽出し、その電気信号により指標像の
位置を検出しようとするものである。モニターテ
レビからの信号により自動合焦を行なう信号処理
等のブロツクダイアグラムを示す第８図、及び各
信号波形を示す第９図において、複合電気信号
は、水平垂直同期信号と映像信号とに分離され
る。さらに水平・垂直同期信号は、水平同期信号
と垂直同期信号とに分離されて計数回路１００に
入力される。計数回路１００は、水平同期信号を
ｎ個計数することにより、垂直同期信号から時間
t1だけ遅れたｎ番目の走査信号を選択しパルスを
発生させる。このタイミングによりワンシヨツト
マルチ(1)１０１、ワンシヨツトマルチ(2)１０２は
信号２１５，２１６を発生させる。垂直同期信号
は１フイールド毎に計数回路１００をリセツトす
る。すなわちワンシヨツトマルチ(2)１０２はｎ番
目の走査信号から時間t2だけ遅れて時間t3のパル
ス幅をもつゲート信号２１６を発生するものであ
る。一方映像信号は比較回路１０４によりＨ、Ｌ
の２値信号に変換されてゲート回路１０６に入力
され、ゲート信号２１６によりｎ番目の走査線に
おいて２値信号に変換された映像信号２１７が抽
出される。３１０はタイミング信号発生回路であ
り、タイミング信号２１８および２２０，２２
２，２２４，２２８を発生する。タイミング信号
２１８は電圧発生回路３０２に、タイミング信号
２２０，２２２，２２４，２２６，２２８はそれ
ぞれサンプルホールド回路３０３，３０４，３０
５，３０６に供給される。電圧発生回路３０７は
直線性のよい電圧２１９を発生する。サンプルホ
ールド回路３０３，３０４，３０５，３０６は前
記タイミング信号により電圧２１９を夫々２２
１，２２３，２２５，２２７，２２９としてホー
ルドされそれぞれのＨ期間の走査に要する電気量
の電圧を得る。これらのアナログ量は、回路選択
用タイミング発生回路３０９の信号により選択さ
れＡ／Ｄ変換器３０８の働きによりデジタル化さ
れて置数器Ａ〜Ｅに記憶される。演算回路３２０
は置換器Ａ〜Ｅのデータを取り込み、３つのスリ
ツト状指標像の左右の間隔l1，l2をもとめ、両間
隔が等しくなるまでサーボ系３２１に移動量及び
移動方向の信号を与えるものである。置換器Ａ〜
Ｅに記憶されたデジタル量を夫々ａ、ｂ、ｃ、
ｄ、ｅとすると、第５図におけるl1はl1＝ａ／２＋ （ｂ−ａ）＋ｃ−ｂ／２＝ｂ−ａ＋ｃ／２で求められ、
l2 はl2＝ｃ−ｂ／２＋（ｄ−ｃ）＋ｅ−ｄ／２＝ ｄ−ｃ＋ｅ−ｂ／２で求められる。△ｌ＝l1−l2が移 動量、l1−l2の符号が移動方向の信号を与えるも
のである。サーボ系３２１は合焦レンズ３と指標
投影系のリレーレンズ１７、スリツト指標１８、
偏角プリズム１９、集光レンズ２０および光源２
１を１体として光軸方向に動かすものであり、眼
底にスリツト像指標を合焦させることにより、フ
イルム５上の眼底のピント合わせを自動的に行な
うことができる。
モニターテレビ２７からの特徴抽出された信号
を位置信号に変換する方法と特徴信号の発生した
時刻を測る方法も考えられる。この場合は別に設
けたクロツクパルスの計数によるデジタル方式で
パルス列として出力する。しかしながら精度をク
ロツクパルスの周波数及び高周波回路に依存す
る。それに対して本実施例では、特徴抽出された
信号をサンプリングパルスとして、その時に要し
た電気量をサンプリングホールド回路でアナログ
量として所要の電圧を得この電圧をアナログ・デ
ジタル変換器によりデジタル化し出力する。この
場合、高ビツトのアナログ・デジタル変換器を使
用することにより高精度が得られるものである。
さらに、ゲート回路１０６の出力である映像信号
２１７に被検者のまばたきによる閉瞼時の瞼から
の反射光の信号が混入したり、開瞼時の測定でも
スリツト状指標像の欠落した場合、これを検出す
る回路を設け、この検出回路の信号によりこの時
のサンプルホールド回路のアナログ量データを無
効とし、Ａ／Ｄ変換器３０８を作動しないように
することも可能である。
を位置信号に変換する方法と特徴信号の発生した
時刻を測る方法も考えられる。この場合は別に設
けたクロツクパルスの計数によるデジタル方式で
パルス列として出力する。しかしながら精度をク
ロツクパルスの周波数及び高周波回路に依存す
る。それに対して本実施例では、特徴抽出された
信号をサンプリングパルスとして、その時に要し
た電気量をサンプリングホールド回路でアナログ
量として所要の電圧を得この電圧をアナログ・デ
ジタル変換器によりデジタル化し出力する。この
場合、高ビツトのアナログ・デジタル変換器を使
用することにより高精度が得られるものである。
さらに、ゲート回路１０６の出力である映像信号
２１７に被検者のまばたきによる閉瞼時の瞼から
の反射光の信号が混入したり、開瞼時の測定でも
スリツト状指標像の欠落した場合、これを検出す
る回路を設け、この検出回路の信号によりこの時
のサンプルホールド回路のアナログ量データを無
効とし、Ａ／Ｄ変換器３０８を作動しないように
することも可能である。
以上述べたように、本発明によれば、被検眼眼
底に第１スリツト状指標像、及びこれを挾む位置
に置かれ合焦状態の変化により第１スリツト状指
標と逆方向に移動する第２及び第３スリツト状指
標像を結像させ、これら３つのスリツト状指標像
間の距離を光電式に検出することにより合焦位置
を検出するから、簡易な構成であるにもかかわら
ず高精度の検出をすることができる。
底に第１スリツト状指標像、及びこれを挾む位置
に置かれ合焦状態の変化により第１スリツト状指
標と逆方向に移動する第２及び第３スリツト状指
標像を結像させ、これら３つのスリツト状指標像
間の距離を光電式に検出することにより合焦位置
を検出するから、簡易な構成であるにもかかわら
ず高精度の検出をすることができる。
第１図は本発明の実施例を適用した眼底カメラ
の光学図、第２図ａは本発明の実施例のスリツト
状指標の斜視図、第２図ｂは上記スリツト状指標
の平面図、第３図は指標投影系の光学図、第４図
は眼底像の図、第５図は合焦状態とスリツト状指
標像との関係の説明図、第６図及び第７図はスリ
ツト状指標像の間隔測定の説明図、第８図はスリ
ツト状指標像の間隔測定のフローチヤート、第９
図は上記フローチヤートの波形図である。 １……対物レンズ、３……合焦用レンズ、１８
……スリツト状指標、１９……偏角プリズム、２
６……撮像管、２７……モニターテレビ、１００
……計数回路、１０４……比較回路。
の光学図、第２図ａは本発明の実施例のスリツト
状指標の斜視図、第２図ｂは上記スリツト状指標
の平面図、第３図は指標投影系の光学図、第４図
は眼底像の図、第５図は合焦状態とスリツト状指
標像との関係の説明図、第６図及び第７図はスリ
ツト状指標像の間隔測定の説明図、第８図はスリ
ツト状指標像の間隔測定のフローチヤート、第９
図は上記フローチヤートの波形図である。 １……対物レンズ、３……合焦用レンズ、１８
……スリツト状指標、１９……偏角プリズム、２
６……撮像管、２７……モニターテレビ、１００
……計数回路、１０４……比較回路。
Claims (1)
- １ 中心に配置された第１スリツト、該第１スリ
ツトに対して平行でかつ両側の対称位置に配置さ
れた第２スリツト、第３スリツトとを有する指標
および上記第１スリツトからの光束と上記第２ス
リツト、第３スリツトからの光束とをスリツト方
向と直角方向で互いに逆方向の偏角をもたらす偏
角部材からなる合焦検出用ターゲツトと、上記タ
ーゲツトを被検眼眼底へ投影するターゲツト投影
系と、被検眼眼底のターゲツト像からの光束を結
像するターゲツト像結像光学系と、上記ターゲツ
ト像結像光学系により結像された第１スリツト、
第２スリツト及び第３スリツトターゲツト像を横
切る方向に走査して検出する走査検出部とによつ
て構成され、上記走査検出部の出力からターゲツ
ト像結像光学系で結像された第１スリツトのター
ゲツト像と第２スリツトとのターゲツト像の間隔
及び第２スリツトのターゲツト像と第３スリツト
のターゲツト像との間隔から合焦状態を検出する
ことを特徴とする眼科機械における合焦位置検出
装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56011894A JPS57125732A (en) | 1981-01-29 | 1981-01-29 | Apparatus for detecting focus position in ophthalmic machine |
| US06/343,512 US4400070A (en) | 1981-01-29 | 1982-01-28 | Focus detecting device for opthalmologic instruments |
| DE19823202816 DE3202816A1 (de) | 1981-01-29 | 1982-01-29 | Einrichtung zum ermitteln des scharfeinstellungszustandes bei ophthalmologischen instrumenten |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56011894A JPS57125732A (en) | 1981-01-29 | 1981-01-29 | Apparatus for detecting focus position in ophthalmic machine |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57125732A JPS57125732A (en) | 1982-08-05 |
| JPS6454B2 true JPS6454B2 (ja) | 1989-01-05 |
Family
ID=11790433
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56011894A Granted JPS57125732A (en) | 1981-01-29 | 1981-01-29 | Apparatus for detecting focus position in ophthalmic machine |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4400070A (ja) |
| JP (1) | JPS57125732A (ja) |
| DE (1) | DE3202816A1 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5987336A (ja) * | 1982-11-11 | 1984-05-19 | Asahi Optical Co Ltd | 分割像合致式合焦指示光学系を有するレンズメ−タ− |
| JPS59156324A (ja) * | 1983-02-25 | 1984-09-05 | 株式会社トプコン | 眼科器械の信号検出装置 |
| JPS59183727A (ja) * | 1983-04-02 | 1984-10-18 | 株式会社トプコン | 眼科器械の合焦検出装置 |
| JPS59230534A (ja) * | 1983-06-13 | 1984-12-25 | キヤノン株式会社 | 眼科用自動合焦装置 |
| JPS6077737A (ja) * | 1983-10-04 | 1985-05-02 | 株式会社トプコン | 眼科用撮影装置の露光制御装置 |
| JPS62122629A (ja) * | 1985-11-25 | 1987-06-03 | キヤノン株式会社 | 眼屈折計 |
| JPH0820666B2 (ja) * | 1987-02-24 | 1996-03-04 | 旭光学工業株式会社 | フアインダ−装置 |
| DD268392A1 (de) * | 1988-01-20 | 1989-05-31 | Zeiss Jena Veb Carl | Anordnung und verfahren zur einstellung eines untersuchungsgeraetes sowie fuer untersuchung des auges |
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| WO2000030527A1 (en) | 1998-11-24 | 2000-06-02 | Welch Allyn, Inc. | Eye viewing device for retinal viewing through undilated pupil |
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| US6705726B2 (en) * | 2002-02-20 | 2004-03-16 | Nidek Co., Ltd. | Instrument for eye examination and method |
| AU2004287478A1 (en) | 2003-10-28 | 2005-05-19 | Welch Allyn, Inc. | Digital documenting ophthalmoscope |
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Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3819256A (en) * | 1972-08-11 | 1974-06-25 | H Borough | Apparatus for refracting the eye |
| JPS5713294B2 (ja) * | 1973-03-31 | 1982-03-16 | ||
| US4187014A (en) * | 1977-01-29 | 1980-02-05 | Tokyo Kogaku Kikai Kabushiki Kaisha | Eye fundus camera |
| US4277150A (en) * | 1977-08-24 | 1981-07-07 | Tokyo Kogaku Kikai Kabushiki Kaisha | Eye refractmeter |
| US4293198A (en) * | 1977-09-21 | 1981-10-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Eye refractometer |
-
1981
- 1981-01-29 JP JP56011894A patent/JPS57125732A/ja active Granted
-
1982
- 1982-01-28 US US06/343,512 patent/US4400070A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-01-29 DE DE19823202816 patent/DE3202816A1/de active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5292515A (en) * | 1976-01-29 | 1977-08-04 | Tokyo Optical | Device for detecting focus position of optical system |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4400070A (en) | 1983-08-23 |
| JPS57125732A (en) | 1982-08-05 |
| DE3202816A1 (de) | 1982-09-02 |
| DE3202816C2 (ja) | 1987-11-05 |
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