JPS638536B2 - - Google Patents

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JPS638536B2
JPS638536B2 JP52092311A JP9231177A JPS638536B2 JP S638536 B2 JPS638536 B2 JP S638536B2 JP 52092311 A JP52092311 A JP 52092311A JP 9231177 A JP9231177 A JP 9231177A JP S638536 B2 JPS638536 B2 JP S638536B2
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JP
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diode laser
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record carrier
spot
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JP52092311A
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JPS5317706A (en
Inventor
Petorusu Yosefusu Heemusukeruku Yakobosu
Antonii Iminku Korunerisu
Aasaa Yan Shimonzu Kareru
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Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Koninklijke Philips Electronics NV
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Publication date
Application filed by Koninklijke Philips Electronics NV filed Critical Koninklijke Philips Electronics NV
Publication of JPS5317706A publication Critical patent/JPS5317706A/ja
Publication of JPS638536B2 publication Critical patent/JPS638536B2/ja
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    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/005—Optical components external to the laser cavity, specially adapted therefor, e.g. for homogenisation or merging of the beams or for manipulating laser pulses, e.g. pulse shaping
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/06233—Controlling other output parameters than intensity or frequency
    • H01S5/06243—Controlling other output parameters than intensity or frequency controlling the position or direction of the emitted beam

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は放射線反射型情報構体を有する記録担
体走査用光学読取装置に関する。この光学読取装
置はトラツク状に配置した反射型情報構体を有す
る記録担体および前記読取装置の相対運動期間中
に記録担体の走査を行なうものであり、この読取
装置は読取ビームを情報構体上に集束させる対物
レンズ系および読取ビームを供給すると共に情報
構体からの反射読取ビームを受光ししかも特性が
読出情報に依存して変化する半導体ダイオードレ
ーザを含む放射源兼検出装置を具えるものであ
る。
光学読取装置とは、読取ビームを形成し、この
ビームを情報構体上で所望の寸法の読取スポツト
として集束させ、しかも反射読取ビームを電気信
号へと変換させる各動作を確実に行なわせる手段
の組合せから成る装置と解する。
また、「トラツク状に配置した」情報構体とは、
情報細部を同心円トラツクまたは一つの連続した
スパイラル状トラツクを形成する準同心円トラツ
クに従つて配置した構造を意味するものと解す
る。
ダイオードの「特性」は特定電流時におけるダ
イオードレーザの印加電圧およびこのレーザを経
て流れる電流の商すなわちダイオードレーザの電
気抵抗と称せられる量および特定電流時における
ダイオードレーザから放射される放射強度であ
る。
カラーテレビジヨンプログラムの如き情報を記
録担体中のトラツク状情報構体に記録することが
できる。この場合、トラツクは多数の領域と中間
領域とが交互に配置したものから成る。情報はこ
の領域の空間周波数およびこの領域の長さで符号
化することができる。この領域は中間領域とは光
学的性質を異にするものであり、例えば異なる吸
収係数または異なる位相の深さを有する。
この点、情報構体が反射型構体すなわち領域が
放射線吸収型および中間領域が放射線反射型であ
る場合、あるいは領域および中間領域が共に反射
型であるが記録担体中において異なる深さに位置
する場合に有益である。この場合には、放射源か
ら放出される変調されていない読取ビームおよび
情報構体から反射されて変調された読取ビームは
実質的に同一光学通路を経るので、共通放射線通
路中に含まれている光学的素子の相対的変化は読
出し信号には実質的に何ら影響を及ぼさない。
放射線反射型記録担体をガスレーザ例えばヘリ
ウムネオンレーザで読取る場合には、変調された
読取ビームを共通放射線通路外に位置する放射線
感知検出器に向ける必要がある。この目的のた
め、例えば共通放射線通路中に半透鏡を含ませる
ことができる。しかしながら、その場合には光路
中での吸収および反射損失は別として、放射源か
ら放出された放射線の例えば25％が読出しに利用
されるにすぎない。さらに、ガスレーザを使用す
る場合には、変調された放射線をレーザに帰還さ
せることができない点に留意する必要がある。そ
の理由は、その場合には、レーザビームのコヒー
レンス長が著しく大であるため、読取ビーム中に
不所望な変動が生じてしまうからである。このた
め、追加の処置を講じる必要がある。例えば、半
透鏡を使用する代わりに、高価な偏光感知分割プ
リズムを使用し、このプリズムと記録担体との間
にλ／４板を設ける必要がある。
ドイツ特許出願公告第2244119号公報において、
記録担体を半導体ダイオードレーザを用いて読取
ることが提案されている。これに開示されている
技術では、ダイオードレーザから放出された放射
ビームを記録担体によつてダイオードレーザへと
反射させると、放出レーザビーム強度およびダイ
オードレーザの電気抵抗が増大するという事実を
使用するものである。記録担体をこのようなレー
ザビームで走査する場合には、前記強度および電
気抵抗は当該トラツク中の領域および中間領域の
順序に従つて変化する。従つて、記録担体を個別
検出器を使用せずに読取ることができる。この場
合には、ビームスプリツタを最早必要としないの
で、読取装置の構造を簡単にすることができる。
著しく微小の例えば1μm程度の情報細部の読取
を可能とするために、読取ビームを情報構体上に
著しく厳密に集束させる必要がある。さらに、読
取スポツトの中心を読取られるべきトラツクの中
心と常に一致させるように注意する必要がある。
先のドイツ公報に開示されている装置において
は、この目的のために、ダイオードレーザを記録
担体中に押圧形成した溝を介して引張られるスケ
ート上に取付ける。かかる機械的案内部は記録担
体が摩耗する欠点がある。さらに、先のドイツ公
報の装置によれば、読取スポツトの直径を十分に
小さくできないので、μm程度の読取情報細部の
解像度を十分高めることができない欠点がある。
本発明の目的は上述した欠点を有しないでしか
も特に正確な読出しが可能であり、構造が小型か
つ簡単でありしかも軽量であるために容易に高速
度で動かし得るようになした上述した如き型の装
置すなわち読取ペンを提供せんとするにある。本
発明光学的読取装置によれば、放射源兼検出装置
は読取スポツト位置の読取られるべきトラツクに
対するずれおよびまたは対物レンズ系のフオーカ
シングの面の所望位置と実際の位置との間のずれ
を検出するオプトエレクトロニツク手段を含むこ
とを特徴とする。
放射源兼検出器から供給されるこのずれを表示
する信号を処理し制御信号を形成し、この信号に
より既知方法により読取られるべきトラツクに対
する読取スポツトの位置または対物レンズ系のフ
オーカシングの面を夫々補正することができる。
記録担体の読取期間中、読取ヘツドは情報構体
と接触しない。この場合、この構体を透明の保護
層の下側に位置させることができるので、読取り
操作がほこり粒子、指紋および傷等により影響さ
れることがない。
ガスレーザを放射源として使用する読取装置に
関しては本願人は既に読取るべきトラツクに対す
る読取スポツトの位置誤差検出方法（例えば特願
昭48−52469号）およびフオーカシングの面の所
望位置と実際の位置との間のずれ検出方法（例え
ば特願昭48−52468号）等種々の方法を提案して
きている。これら方法に従つて導出した制御信号
は変調された読取ビームを放射源に帰還させるこ
とによつて生ずべき読取ビームの方向および強度
の各変化により影響を受けること明らかである。
これら光学的変化の周波数は所望の制御信号の周
波数に近い。好適な制御信号を得るためには、帰
還を阻止すべき処置を講じる必要がある。本発明
装置によれば、情報読出しおよび制御信号導出の
ためにダイオードレーザに帰還する放射線を使用
するものである。この場合、上述した光学的変動
の問題が生じない。
読取るべきトラツクに対する読取スポツト位置
の誤差を検出するために、本発明装置の実施例に
おいては、放射源兼検出装置は周期的電気信号
を、読取ビームの直径よりも小さい振幅と情報構
体中の細部の平均空間周波数に相応する周波数よ
りも実質的に小さい周波数とにおけるトラツク方
向を横切る方向の読取スポツトの周期的運動に変
換する手段を含み、さらにダイオードレーザから
供給される信号を処理する電子回路中に制御信号
へと処理される低周波信号を抽出するフイルタを
含ませ、この制御信号を読取るべきトラツクに対
する読取スポツトの時間平均位置を補正する電気
機械手段に供給するように構成することができ
る。
オランダ国特許出願第66.01666号（I.B.M.）明
細書からも明らかなように、ダイオードレーザか
ら形成される放射ビームを動かすことはこれまで
も既知である。しかしながら、その場合には、レ
ーザビームをダイオードレーザに帰還させないの
で、ダイオードレーザを検出器としては使用して
いない。記録担体の読取中、読取ビームの位置誤
差を検出するために、レーザビームを動かすこと
はない。このオランダ国特許出願明細書には、ビ
ーム運動の振幅および周波数に関する詳細な説明
については何ら記載されていない。
対物レンズ系のフオーカシングの面の実際の位
置と所望の位置との間のずれを検出するために、
本発明装置の好適実施例においては、情報構体中
の細部の平均空間周波数に相応する周波数よりも
実質的に小さな運動周波数および対物レンズ系の
焦点深度よりも小さな運動振幅で放射源兼検出装
置を対物レンズ系の光軸方向に周期的に運動させ
る電気機械駆動装置を設け、およびダイオードレ
ーザから供給する信号を処理する電子回路中に制
御信号へと処理される低周波信号を導出するフイ
ルタを含ませ、この制御信号を放射源兼検出装置
の光軸方向の時間平均位置を補正する電気機械手
段に供給するように構成することができる。
米国特許第3673412号明細書からも明らかなよ
うに、光学記録担体の読取期間中、読取スポツト
を光軸に沿つて振動させることは既知である。し
かしながら、これに開示されている方法では、追
加の振動型鏡を光路中に配置する必要がある。さ
らに、放射源兼検出装置を使用するのではなく個
別の放射源および個別の検出器を使用している。
さらに、記録担体の反射読取ではなく透過読取を
行なつている。
ダイオードレーザから放出した放射ビームを周
期的に動かし放射源兼検出装置の光軸に沿う位置
を周期的に変化させるように構成した本発明装置
の好適実施例においては、変動を表わす時間関数
をｐ（ｆ，ｔ）およびｐ（nf，ｔ＋π／２）で与え
ることができる。但しｐは周期関数を示し、ｆは
１つの変動が行なわれる周波数を示し、およびｎ
＝１，２……である。
本発明装置の他の実施例においては、放射源兼
検出装置には、読取ビームを供給する主ダイオー
ドレーザに追加して、互いに等しい強度を有する
補助ビームを供給しおよび情報構体から反射され
た対応する補助ビームを夫々受光する２つの補助
ダイオードレーザを設けることができる。
これら補助ダイオードレーザを用いて２つの補
助スポツトを形成し、その一方のスポツトを読取
スポツトの面の前方に位置決めし、他方のスポツ
トをその面の後方に位置決めし、さらに、トラツ
クの横方向におけるこれら２つの補助スポツトの
位置を同一位置とすることができる。この場合に
は、補助ダイオードレーザから供給される信号中
の低周波成分の差によつて対物レンズ系のフオー
カシングを表示することができる。また、補助ス
ポツトを読取スポツトと同一面内に位置決めする
ことも可能である。補助スポツトが読取スポツト
に対してトラツクの横方向に対称的にシフトして
いる場合には、補助ダイオードレーザが供給する
信号の低周波成分の差が読取るべきトラツクの中
心に対する読取スポツトの中心位置を表示する。
読取るべきトラツクに対する読取スポツトの位
置のずれおよびフオーカシングエラーを検出する
ために２つの補助放射線スポツトを用いることを
本願人は既に提案している（例えば特願昭48−
52469号および特願昭49−112672号）。これら既知
装置においては、個別の放射源を設けるかまたは
ガスレーザから供給される放射ビームを副ビーム
へ分離する素子を設ける必要がある。これら副ビ
ームを記録担体で反射させた後に個別の検出器へ
と反射させる必要がある。さらに、ここに用いら
れる導出制御信号は先にも述べた光学的雑音の影
響を受けやすいものである。ダイオードレーザの
利点は多数のこのようなレーザを半導体基板上に
集積化できるので、合成レーザを著しく小型化す
ることができることである。この場合、制御信号
は放射源相互間の変動の影響を受けることがな
い。
上述した方法を用いて、読取るべきトラツクに
対する読取スポツトの位置誤差およびフオーカシ
ング誤差を検出する場合には、光学読取装置を著
しく簡単な構造とすることができる。本発明装置
の好適実施例によれば、この光学読取装置には内
部に放射源兼検出装置および対物レンズ系を収納
した中空円筒本体を設け、この本体には、オプト
エレクトロニツク手段から供給される制御信号が
与えられこの本体の長手方向およびまたはこの長
手方向と直交する互いに直交する２つの方向のう
ちの少なくとも一方の方向における当該本体の位
置を補正する電気機械手段を、その本体の外側か
ら設けることができる。
本発明光学読取装置の対物レンズ系は厳格な要
件を充足する必要がある。このレンズ系の開口数
を大きくししかもこのレンズ系を満足できるよう
に補正する必要がある。かかる要請に適合させる
ため、本発明による読取装置によれば、対物レン
ズ系を半対称系としおよび非球面を有する第１お
よび第２の単レンズを以つて構成する。半対称と
は一方のレンズのパラメータ例えばレンズ面の曲
率半径またはレンズ面の非球面度が他方のレンズ
のパラメータとはレンズ系の倍率に等しい因子だ
け異なることを意味するものと解する。
ダイオードレーザの放出面の大きさが読取スポ
ツトの所望の大きさよりも大きくない場合には、
これらレンズを同等のものとすることができるの
で、レンズ系の製造がさらに簡単となる。
以下、図面により本発明の実施例につき説明す
る。
尚図において、XYZ座標系を用いて読取装置
または個別素子の配置を明確にしている。
第１図は例えば円形デイスク状の記録担体１の
半径方向の断面である。第２図はこの記録担体の
底面図である。情報はスパイラル状トラツクに含
むことができる。このトラツクは記録担体の１回
転に相当する部分に沿つて夫々延在する多数の準
同心円副トラツク３から成る。各副トラツクは中
間領域ｔと交互に配置した多数の領域ｇを含む。
情報は領域および中間領域の長さの中に含ませる
ことができる。これら領域は中間領域とは異なる
効果を読取ビームに与える。情報をトラツクに記
録する方法は本発明の要旨ではないので、これに
ついての説明を省略する。トラツク面２を記録担
体の前面に位置させることができる。しかしなが
ら第１図に示すように、記録担体中の後側に位置
させることもできるので、この場合には記録担体
を保護層として用いることができる。記録情報の
種類は本発明の要旨ではないし、この情報をカラ
ーテレビジヨンプログラムあるいは他の情報とす
ることもできる。
記録担体の読取を半導体ダイオードレーザ６か
らの放射ビームｂで行なう。図示の便宜のため単
レンズ７として示した対物レンズを用いて、ビー
ムｂを情報構体上に読取スポツトＶとして集束さ
せる。情報構体から反射した放射ビームは対物レ
ンズ系を経てダイオードレーザに入射する。この
対物レンズ系を選定して読取スポツトをトラツク
幅よりも大きくすることができる。読取装置にお
ける光学損失は別として読取ビームを領域上に入
射させる場合には、このビームは対物レンズ系の
アパーチヤの範囲を越えて部分的に偏向するの
で、ダイオードレーザに戻る放射ビーム強度は実
質的に減少する。読取スポツトが情報構体上の領
域外に当る場合には、読取ビームの大部分がダイ
オードレーザに戻る。記録担体１が中央開口部４
を貫通するスピンドル５の周囲を回転する場合に
は、反射読取ビームは読取られるべきトラツク中
の順次の領域および中間領域に応じて強度変調を
受ける。この反射読取ビームはダイオードレーザ
のある特性に影響を及ぼす。
第３図はこのようなダイオードレーザを示す。
レーザは例えば液晶AlGaAsの２つの層１０，１
１からなり、層１０をｐ型とし、層１１をｎ型と
する。中間層１２を例えば純粋な結晶GaAsとす
る。層１０，１１上には電極１４，１５を夫々設
ける。電流源１８からの電流Ｉは層１０，１２，
１１を流れる。層１０および１２の境界におい
て、中間層１２に電子が注入される。この中間層
において、電子と正孔とが再結合して約900nmの
波長の放射線が放出される。端面１６，１７は好
適な反射係数を有する。放射線はこれら端面間で
繰返反射された後、増幅されてこれら端面１６，
１７から矢印１９，２０で夫々示すようにレーザ
放射線を放出する。
既に説明した通り、記録担体からの反射放射線
はダイオードレーザに戻る。ある条件を与える
と、この帰還放射線はさらに放射線の放出を誘導
するので、矢印１９，２０の方向に同時に放出さ
れる放射線を記録担体上の情報によつて定めるこ
とができる。本発明装置の実施に当り、ダイオー
ドレーザを流れる電流Ｉを閾値よりも例えばわず
かに大とすると、レーザビームを記録担体上の領
域外に入射させた場合の放出レーザビームの強度
はレーザビームが領域上に入射した場合の強度の
約２倍大となることが判つた。帰還読取を行なう
ための基本的要件は情報構体とダイオードレーザ
との間の距離を特定の最小値よりも大きくするこ
とである。その場合には、光学帰還によりダイオ
ードレーザから放出される放射線に変化をもたら
すことができる。
レーザビームの強度変化を変換するために、第
１図に示すように例えばフオトダイオードの如き
放射線感知検出器８をダイオードレーザの記録担
体とは反対側に設置することができる。この検出
器よりの信号Ｓを既知電子回路９において処理符
号化して情報信号Siに変換する。尚、この既知電
子回路については、例えば、「フイリツプステク
ニカルレビユー，33巻、No.７、頁181−185」に開
示されている。TVプログラムを記録担体上に記
録してある場合には、この信号を普通のテレビジ
ヨン受像機２１で再生できる。
第１図では、フオトダイオードを個別素子とし
て示しているが、このフオトダイオードをダイオ
ードレーザと一体に形成することもできる。さら
に、ダイオードレーザを第３図の矢印２０で示す
ように後部から放射線を放出させるようにするこ
とは必らずしも必要ではない。また、方向１９に
対してこれを横切る方向またはこれと傾いた方向
に放射線を放出させるようにすることもできる。
この場合には、フオトダイオード８をダイオード
レーザの後方ではなく横側に配設する必要があ
る。
第４図に示す例は、放射線感知検出器を用いな
いで記録担体の読取を行なう場合を示す。この場
合には、定電流Ｉにおいてダイオードレーザの両
端子間電圧の変動を測定する方法である。本発明
装置の実施例においては、レーザビームを情報構
体上のある領域外に入射させた場合とレーザビー
ムを領域上に入射させた場合とにおいて生ずるダ
イオード電圧の差は約0.1Vであつた。この電圧
を結合コンデンサ２２を介して電子回路９に供給
することができる。電流源と直列に接続したコイ
ル２３は読出信号に対しては高インピーダンスを
呈する。
記録担体を読出す場合に、読取スポツトを読取
るべきトラツクに対して常に正しく位置決めする
ように注意する必要がある。このため、読取るべ
きトラツクに対する読取スポツトの位置決め誤差
を検出する手段を設ける必要がある。本発明では
この位置決め誤差を、読取スポツトをトラツク方
向に対して横切る方向に周期的に運動させること
によつて動的に検出することができる。この周期
運動の振幅をトラツク幅よりも小さくするので、
読取ビームはトラツクの十分大なる部分を常に照
射する。
読取スポツトを動かすために、先のオランダ国
特許出願第66.01666号および米国特許第3436679
号明細書に開示されている原理を利用することが
できる。この原理によれば、電極の１つを２個以
上の副電極に分割してこれら副電極に適切な電流
を流す。ダイオードレーザの場合には、各副電極
を流れる電流とこの副電極の長さとの積の各電極
に対する和が特定の閾値に達した場合のみレーザ
作用が得られるので、ダイオードレーザからレー
ザビームが放出する箇所を電極を通じる電流を変
化させることによつて変化させることができる。
その場合、読取装置には例えば機械駆動される振
動鏡の如き追加の光学素子を設ける必要はない。
本発明装置においては、読取スポツトを平均位
置の回りに周期運動させる必要があり、その運動
の振幅を例えば約0.1μmとする。この目的のた
め、例えば、第５図の右側部分に示すダイオード
レーザを使用することができる。第６図はこのダ
イオードレーザの底面を見た図である。副電極１
５′および１５″に直流電源１８から電流Ｉを供給
する。この電源と電極１５″との間に第２電源２
４を設け、この電源からは例えば電流I′（sin2π／Ｔ ｔ）を供給する。第６図に示す電極形状の場合に
は、レーザ作用は、ｔ＝０の瞬時においては線l1
に沿つて発生し、ｔ＝１／４Ｔの瞬時では線l2に沿 つて発生し、およびｔ＝３／４Ｔの瞬時では線l3に 沿つて発生する。周期運動の振幅（ΔZ）は比
I′／Ｉで定まる。この比を例えば0.2とする。
記録担体を回転する場合に、トラツク方向を横
切る方向の読取スポツトの周期運動に基因して、
読取ビームは、トラツク中の順次の領域および中
間領域に基因する高周波変調に加えて、低周波変
調を受ける。第７図はこのような追加の変調を示
すもので、これは正弦波的であるとする。低周波
読取すなわち個々の領域を別々に読取らない場合
には、ピツトから成るトラツクは記録担体中の溝
として作用して放射線を部分的に対物レンズ系の
外側へと偏向させてしまう。読取スポツトを横方
向ｒに振動させない場合の、読取スポツトの位置
関数としての信号変化を曲線４０で表わす。位置
r0をあるトラツクの中心とし、位置r1およびr2を
隣接トラツクの中心とし、r3，r4を２つのトラツ
ク間の中間位置とする。第７図において、読取ス
ポツトの周期運動を曲線４１で表わすことができ
る。尚、軸ｔは時間軸である。
読取スポツトが位置r5の周りで振動する場合、
すなわち、読取スポツトの平均位置が読取られる
べきトラツクの中心に対して右側に偏移している
場合には、ダイオードレーザの出力信号は低周波
信号４２で変調される。読取スポツトが位置r6の
周りで振動する場合には、出力信号は低周波信号
４３で変調される。信号４２および４３の周波数
は読取スポツトの振動周波数と等しい。読取スポ
ツトの平均位置が読取るべきトラツクの中心と一
致する（第７図のr0）場合には、ダイオードレー
ザの出力信号は信号４４で変調され、この場合、
信号４２，４３の振幅よりも小さくおよび周波数
は２倍となる。
ダイオードレーザの出力信号が読取スポツトの
振動周波数と等しい周波数成分を含む場合には、
読取スポツトは読取るべきトラツクに対して正し
く位置決めされていないこととなる。低周波成分
の位相と読取スポツトを振動させる制御信号の位
相とを比較することによつて、偏移方向を定める
ことができる。
第５図の右側部分に信号処理方法を示す。ダイ
オードレーザの出力信号Ｓを高域通過フイルタ２
５および低域通過フイルタ２６に供給する。高域
通過フイルタを電子回路９に接続しこの電子回路
で信号処理して情報信号Siに変換する。低域通過
フイルタを位相感知回路２７に接続して信号Ｓの
低周波成分を電源２４からの信号の位相と比較
し、制御信号Srを形成し、この信号によつて読取
るべきトラツクの中心からの読取スポツトの位置
ずれを補正する。
この補正を行なうため、ダイオードレーザを例
えば第８図に示すような磁界中に設けたコイルを
用いて駆動することができる。第８図において、
レーザビームｂを読取部に向ける。ダイオードレ
ーザ６を駆動コイル４６を具える保持部４５に取
付ける。第５図に示す信号Srを駆動コイル４６に
供給する。その結果、保持部４５従つてダイオー
ドレーザ６をＺ方向にある特定距離にわたり運動
させるがＸまたはＹ方向の運動についてはスプリ
ングによつて実質的に阻止する。
ダイオードレーザは小型で軽量な素子であるの
で、第８図に示す駆動手段も小型で軽量とするこ
とができる。第５図の回路配置も著しく小型とす
ることができると共にダイオードレーザと一体に
形成することができる。
また、ダイオードレーザ自体をＺ方向に振動さ
せることによつて、トラツクを横切る方向に読取
スポツトを周期運動させることができる。この運
動を、第８図の装置の駆動コイル４６に周期信号
を供給することによつて保持部４５をその共振周
波数で運動させることによつて得ることができ
る。読取るべきトラツクの中心に対する読取スポ
ツトの位置誤差を定めるために、出力信号Ｓの低
周波成分の位相を読取スポツトの周期運動の位相
と比較する。
固定ダイオードレーザの場合には、ダイオード
レーザを運動させる代わりに、ダイオードレーザ
および対物レンズ系間の放射線通路中に追加の鏡
を含ませることによつて読取スポツト位置を補正
することができる。この場合、鏡を読取るべきト
ラツク部分の方向と実質的に平行な軸の周りを回
動できるように構成する。このような回動鏡につ
いては、「フイリツプス テクニカル レビユー
第33巻、No.７、頁186〜189」に開示されている。
しかしながら、構造上の点から、可動ダイオード
レーザを用いる実施例の方が好適である。
読取スポツトをトラツクを横切る方向に振動さ
せるかまたは読取るべきトラツクに対する読取ス
ポツトの位置補正を行なうために、電磁素子を使
用する代わりに電歪素子を使用することができ
る。
記録担体を正しく読取るための他の要件は、読
取ビームｂを情報構体の面に常に鋭く集束または
フオーカシングさせる必要がある。そうでなけれ
ば、読取高周波信号の変調深度が減少し隣接トラ
ツク間でのクロストークが生じてしまう。本発明
によれば、放射線源兼検出装置は集束の程度を表
示する信号を導出するオプトエレクトロニツク手
段を含むので、この信号を用いて集束または焦点
またはフオーカシング補正を行なうことができ
る。
読取るべきトラツクの中心に対する読取スポツ
トの位置誤差を検出する上述した方法と同様に、
集束（またはフオーカシング）面（または、焦点
面を）を周期的に動かして焦点誤差を検出するこ
とができる。この場合、運動周波数例えば50KHz
を記録担体上の情報の平均空間周波数に相応する
周波数例えば106.m-1よりも実質的に小さくし、
運動振幅例えば0.1μmを対物レンズ系の焦点深度
よりも小さくする。
集束面の周期運動に基因してダイオードレーザ
から供給された信号Ｓの変調深度は低周波数で周
期的に変化する。周期的変動が無い場合には、集
束の関数としての信号Ｓを第９図に曲線５０で示
す。点F0は読取ビームが平均してトラツク上に
鋭く集束する場合を示す。点F1は情報構体面の
後方に集束する場合を示し、点F2は情報構体面
の前面に集束する場合を示す。曲線５１は集束の
周期的変動を示す。また軸ｔは時間軸を示す。フ
オーカシングの周期的変動により、ダイオードレ
ーザの出力信号Ｓの低周波成分が変化する。この
成分を第９図に曲線５２，５３および５４で示
す。T1はフオーカシング変動の周期を示す。読
取ビームを時間平均で正しく集束させる場合に生
じる曲線５４に従う信号成分は集束が変化する周
波数の２倍の周波数を有する。曲線５２および５
３に従う信号成分は集束変動の周波数と同一の周
波数を夫々有するが、それらの位相は互いに180゜
偏移している。
読取スポツトの位置誤差の検出について説明し
たと同様に、位相感知検出器を用いて、読取ビー
ムを平均的に正しく集束させるかどうかおよびい
ずれの方向に誤差が生じているかを検出すること
ができる。このため、第５図の装置と同様な回路
配置を使用することができる。回路２７におい
て、信号Ｓの低周波成分の位相をフオーカシング
の周期的変動の位相と比較する。次いで回路２７
の出力端子に信号Srを形成しこの信号でフオーカ
シングの補正を行なうことができる。
フオーカシングの周期的変動をダイオードレー
ザを光軸方向に振動させることにより得ることが
できる。この目的のため、第１０図に断面図とし
て示す磁石系を使用することができる。第１０図
に示す実施例では、レーザビームを矢印１９で示
す方向に発光させる。素子５５，５６，５７，５
８および５９は第８図の素子４５，４６，４７，
４８および４９に夫々対応するものである。本例
においては駆動コイルを例えば50KHzの振幅の小
さい交流電流で附勢して読取ビームを集束させる
面をＸ―方向に10分の数μm程度にわたり運動さ
せる。
信号Srを用いてフオーカシング面の平均位置を
補正するために、対物レンズ系の焦点距離を再調
整するかまたは対物レンズ系を磁石系を用いて運
動させることができる。しかしながら、第１０図
に示す構成と同様な構成中の附勢コイル５６にSr
に比例する電流を供給することによつて、光軸方
向のダイオードレーザの位置を補正することによ
つて、フオーカシング面の平均位置を調整するこ
とが好適である。
電磁素子を使用する代わりに、電歪素子を用い
ることによつて読取ビームのフオーカシングを周
期的に変化させたりまたはフオーカシング面の平
均位置を補正することができる。
読取スポツトの位置およびフオーカシング面の
位置の上述した検出方法を１つの読取装置として
結合する場合には、ダイオードレーザの出力信号
には２つの低周波成分が生じる。これら成分を相
互に十分に識別できるようにするために、トラツ
ク面内およびこのトラツク面と垂直な方向での読
取ビーム振動周波数を夫々異なる値に選定して信
号が互いに高調波を含まないようにすることがで
きる。このことは制御信号の周波数を高くする必
要があることを意味する。さらに、この場合、２
つの信号発生器が必要となる。しかしながら、本
発明によれば、両発振器の周波数を同一とするこ
とができる。
実際には、読取るべきトラツクの中心に対する
読取スポツトの位置誤差の検出およびフオーカシ
ング誤差の検出のために、ダイオードレーザの出
力信号Ｓの低周波成分を基準信号と比較する必要
がある。この基準信号を光軸方向のダイオードレ
ーザの運動またはトラツクを横切る方向の読取ス
ポツトの運動で定めることができる。この低周波
成分の位相は関連する基準信号と同相または逆相
のいずれかとすることができる。両基準信号が互
いに90゜移相している場合には、低周波成分は十
分に相違し、基準信号は同一周波数を有すること
ができる。この場合、基準信号を１個の信号発生
器から供給することができる。また一方の基準信
号の位相を他方の基準信号の位相に対して90゜移
相させている。
本発明の他の要旨によれば、読取るべきトラツ
クの中心に対する読取スポツトの位置誤差を決定
するために、本願人の先の特願昭第48−52469号
明細書に開示した原理を利用することができる。
この原理によれば読取ビームに追加して２つの補
助ビームを情報構体上に投光させる。これら補助
ビームを個別のガスレーザから放出させることも
できるしまたは読取ビームから導出することもで
きる。補助ビームを情報構体と接触させた後にこ
れら補助ビームを個別の補助検出器に向ける必要
がある。既知装置では、放射線量が実質的に失な
われ、放射線通路が相当複雑化ししかも装置の安
定性の面で厳しい要件を充足しなければならない
という欠点がある。さらに、ガスレーザからのビ
ームの不所望変動のために、導出した制御信号が
影響を受けてしまう。
本発明においては、３個のダイオードレーザを
容易に集積化または一体化することができるとい
う事実を利用するものである。その場合には、ビ
ームまたは放射線源を互いに位置決めする必要は
ない。記録担体からの反射レーザビームをダイオ
ードレーザでさえぎるので、追加の検出器を用い
る必要はない。読取装置を第１２図に示すように
著しく簡単な構造とすることができる。
第１１図は３個のダイオードレーザを含む合成
ダイオードレーザ６０の一例を示す図である。こ
のダイオードレーザはｎ型の共通層６２を具え、
その上に共通電極６１を形成する。ｐ型層を３つ
の部分６６，６７および６８に分割してこれらを
個別の電極６９，７０および７１を経て電流源１
８に接続する。レーザ作用が発生する能動領域を
６３，６４および６５で示す。第１１図において
レーザビームを読取装置に向ける。
第１２図において、レーザビームをb1，b2およ
びb3で示す。ビームb1は読取ビームであつて、こ
のビームを対物レンズ系７で集束させて情報構体
面上に読取スポツトV1を形成する。ビームb2お
よびb3を補助ビームとし、これら補助ビームは互
いに同一強度を有するものとする。しかしこの強
度はビームb1の強度よりも弱くすることができ
る。ビームb2およびb3を補助スポツトV2および
V3として集束させる。補助スポツトの中心を読
取スポツトの中心に対して反対方向にトラツクの
横方向における例えばトラツク幅の1/4に等しい
距離にわたりシフトさせる。対物レンズ系の光軸
の周りに合成ダイオードレーザをわずかに傾斜さ
せることにより、補助スポツトをトラツクの長手
方向において読取スポツトに対して反対方向にわ
ずかにシフトさせる。
第１１図は個々のダイオードレーザ出力信号の
処理方法を示す図である。読取ダイオードからの
信号を高域通過フイルタ７２を経て前に説明した
回路９に供給し、この回路の出力端子に高周波情
報信号Siを形成する。補助ダイオードレーザの出
力信号を低域通過フイルタ７３，７４を経て電子
回路７５に供給し、この回路で信号の比較を行な
つて制御信号Srを発生させる。例えば第８図に示
す装置により、この制御信号を用いて、補助放射
線スポツトの位置を補正して信号Srを零にする。
この場合、読取スポツトの位置を自動的に補正す
ることができる。
３個の個別のレーザを有する合成ダイオードレ
ーザを使用してフオーカシング誤差を検出する。
この目的のため、レーザダイオードからのレーザ
ビーム発光面を対物レンズ系の光軸に対して斜め
配設する必要がある。第１３図はかかる状態を示
す図である。レーザ源を対物レンズ系から異なる
位置に配設するので、この対物レンズ系で形成さ
れるレーザ源の像V1，V2およびV3は異なる面に
形成される。この場合、補助ビームb2およびb3は
同一強度を有し、V3はV2がV1の後側に離れて位
置する距離と同じ距離だけV1から離れて位置し、
およびV1，V2，V3は同一半径方向の位置を有す
る。
第１３図に示すように、読取ビームをトラツク
面上に正確に集束させる場合には、読取ダイオー
ドが受光する放射線強度は最大となる。尚、この
場合、情報細部に基因して変調を受ける。この場
合、補助ビームb2およびb3の焦点が外れているの
で、補助ダイオードが受ける放射線強度は低い
が、この強度は２つの補助ダイオードに対して同
一強度である。トラツク面を右側にシフトさせる
と、反射ビームb2の強度は反射ビームb3の強度よ
りも大である。トラツク面を左側にシフトさせる
場合には、、反射ビームb3の強度は反射ビームb2
の強度よりも大である。補助ダイオードの出力信
号の低周波成分を比較することによつて、フオー
カシング誤差の大きさと方向を検出することがで
きる。この検出を第１１図に示す回路配置と同様
の回路配置をもつて達成することができる。この
場合、回路７５はフオーカシング補正用の制御信
号Srを供給する。
すでに説明した通り、帰還読出の利点は光学読
取装置が著しく簡単な構造となることすなわちこ
の装置は本質的には唯一個の放射源兼検出装置お
よび対物レンズ系から成るということである。こ
れまで説明した制御信号導出方法を採用すること
によつて、読取装置に追加の光学素子を設ける必
要がない。この場合、光学読取装置全体は長さが
例えば60mmおよび直径が例えば20mmの小型の管か
ら成る。この管は高周波情報信号および制御信号
の両者を供給することができる。
円形デイスク状記録担体の１トラツクの読取に
際して、この記録担体を中心の周りに回転させ
る。全トラツクを順次読取る場合には、この管を
記録担体に対して半径方向に移動させることがで
きる。この目的のため、この管を移動自在に取付
ける保持具を「フイリツプス テクニカル レビ
ユー 第33巻、No.７、頁178〜180」に開示されて
いるような駆動手段に接続する。読取るべきトラ
ツクに対する読取スポツトの位置の微調整および
読取ビームのフオーカシングの調整を保持部の管
を長手方向を横切る方向および長手方向の両方向
に移動させることによつて達成することができ
る。この場合、フオーカシングを例えば0.5μmの
精度まで高めることができると共に位置決めを
0.1μmの精度まで高めることができる。この目的
のため、管の外部に電気機械駆動手段を設ける。
第１６図は本発明による管の一実施例を示す断面
図である。
管をその長手方向に移動させるために、この管
を第１０図の磁石系と同様な磁石系内に配設す
る。管１００を第１６図のダイオードレーザ６の
位置に配設する。コイル５６には信号Sfを供給す
る。横方向への管の運動を第８図の磁石系と同様
な磁石系を用いて達成することができる。この場
合、管１００をダイオードレーザ６の位置に配設
しコイル４６に信号Srを供給する。
特願昭第52−52723号において提案したと同様
な方法で、読取るべきトラツクに対する読取スポ
ツトの位置を管を軸周回動させることによつて補
正することができる。第１４図および第１５図は
管の回動および軸方向運動を行なわせる駆動手段
を示す図である。
第１４図において１００は管状光学読取装置を
示す。永久磁石回路は中央開口部８１および２つ
の軸端に夫々設けた２つの軟鉄端板８２および８
３を具える補助磁化用永久磁石８０を有する。中
空の軟鉄製の鉄芯８４に中央開口８１を配設す
る。鉄芯８５の周りに同軸に配置した円筒状コイ
ル構体８５を管１００に固定する。この構体８５
は端板８２とコア８４との間の環状空隙８６およ
び端板８３とコア８４との間の第２環状空〓８７
中を軸方向に移動できる。フオーカシング用支承
手段を管１００と平行案内を形成するために面支
承とし、これら支承手段はフレームに接続した第
１支承ブツシユ８８および対物レンズに接続した
第２支承ブツシユ８９から成る。この第２支承ブ
ツシユは支承ブツシユ８８に対して軸方向に移動
可能である。支承ブツシユ８８を２個の支承ピン
９０を用いてコア８４に堅固に接続する。これら
支承ピンをコア８４に堅固に取付け、さらに、支
承ブツシユ８８に堅固に取付けた２個の支承ブツ
シユ９１をピンの位置で回動できるようにする。
本発明の実施例においては、すでに説明したよう
に、支承ブツシユ８９を管１００に堅固に接続し
これを支承ブツシユ８８内で運動できるように構
成する。もちろん管１００の外壁を面支承構造の
一部分として使用することができる。
第４図に示す構成の利点は、管１００がその光
軸９２方向に移動できることおよび読取るべきト
ラツクの中心に対する読取スポツトの位置補正の
ために単一電磁系のみによつて枢軸９３の軸周を
運動できることにある。尚、この場合、永久磁石
８０は二重の作用を達成する。コイル構体８５
に、第１５図に示すように、枢軸９３のいずれか
の側に対称的に配置した２つのコイル９４を設け
る。これらコイルは読取スポツトのフオーカシン
グおよび位置決め用として供するものである。第
１４図に示すように、円筒状軟鉄コア８４を取付
けた取付板９５を用いて、端板８２，８３および
コア８４間に環状空隙８６および８７を形成する
ように構成する。管１００を軸方向に運動させる
と共に回動させる効率の高い電磁手段を得ること
ができる。第１５図に示すように、各コイル９４
の巻回部分９６は空隙８７内に延在する。これら
部分９６および９７を枢軸９３の周りに電気的に
形成したトルクに対し同等の影響を与えるように
位置させる。
コイル９４の部分９６および９７に作用する電
磁力は軸方向に向いている。２つのコイルの対応
する部分９６および９７を経る電流方向を選定し
て軸方向の力が同一方向となりしかも大きさが等
しい場合にフオーカシング運動を達成することが
できる。これからのずれが生じている場合には、
読取るべきトラツクに対する読取スポツトの位置
決めに使用する管１００の旋回運動を得る。
テレビジヨンプログラムが記録された記録担体
の読取に際しては、読取スポツトの位置を接線方
向すなわち読取るべきトラツクの長手方向におい
て補正する必要がある。特願昭第48−125023号に
おいて説明されているように、読取スポツトの接
線方向のずれまたは偏移を読取スポツトの半径方
向の誤差検出に使用すると同一の補助スポツト
V2およびV3（第１２図参照）を用いて検出するこ
とができる。この場合、補助ダイオードレーザか
らの制御信号の位相を円板状記録担体の1/4回転
周期に相当する量だけシフトする必要がある。読
取スポツトの接線位置を補正するために、再び電
磁手段を用いることができる。この場合、第１４
図に示すように完全な装置を例えば記録すべきト
ラツクの長手方向にこの装置を移動させることが
できる他の磁石装置に組込むことができる。
記録担体に対して管を軸、半径および接線方向
に運動させるために、電磁手段の代わりに電歪手
段を利用することができる。
第１６図において光学読取装置を収納した管を
１００で示す。ダイオードレーザおよび関連する
回路を素子１０１に一体構成する。ダイオードレ
ーザにはライン１０２を経て供給する。高周波情
報信号Siおよび制御信号Sf，SrおよびSt（接線方
向）をライン１０３，１０４，１０５および１０
９を経て供給する。フオーカシング誤差を検出す
るために、ダイオードレーザには第１３図につき
説明したように３個の個別レーザ源を設けること
ができる。読取るべきトラツクに対する読取スポ
ツト位置検出のために、例えば読取ビームを供給
するレーザ源の形状を第５図および第６図の如く
形成する。勿論、上述したフオーカシング誤差お
よび読取スポツト位置の検出方法を組合せ使用す
ることもできる。
ダイオードレーザの放射領域例えば2.5μm×
0.5μmを情報構体上に結像させる必要がある。ガ
スレーザ読取装置では放射源を対物レンズ系から
比較的離して配置するが、本発明光学読取装置の
ダイオードレーザおよび対物レンズ系間距離は小
さい。このため、対物レンズ系はオブジエクトフ
イールドの大きさに関する厳密な要件を充足する
必要がある。ダイオードレーザからの放射線の波
長（λは例えば890nm）はヘリウムネオンレーザ
の出す放射線の波長（λ＝633nm）よりも長いの
で、本発明光学読取装置の光学系の開口数（例え
ば0.63）はヘリウムネオンレーザを用いる読取装
置の対物レンズ系の開口数（例えば0.45）よりも
実質的に大とする必要がある。対物レンズ系が形
成するダイオードレーザの像は高度に平面的であ
る必要がある。
これらの要件にマツチさせるためには、比較的
多数のレンズ素子を有する対物レンズ系を選択す
るが、本発明においては、対物レンズ系のレンズ
素子の個数を２枚に限定することが出来る。この
場合、この対物レンズ系を比較的簡単に製造する
ことができる。第１６図からも明らかなように、
この対物レンズ系を２つの単レンズ１０６および
１０８を以つて構成する。このレンズ系を半対称
的とするので、この系の倍率Ａが知られている場
合には、レンズ１０６および１０８のパラメータ
を互いに導出することができる。レンズ１０６お
よび１０８の夫々は２つの非球面を有する。かか
るレンズは本願人による特願昭第50−55553号に
開示されているいわゆるバイ―スフエリカルレン
ズと称せられるものである。
ダイオードレーザの放射面の寸法が読取スポツ
トの所望の寸法よりも大きくない場合には、レン
ズ１０６および１０８は１対１の像を形成する必
要がある。この場合、同等のレンズを使用しおよ
びレンズ系を対称系とするので、コマ収差や非点
収差の如き非対称誤差を生じることはない。製造
許容誤差の観点からすれば、レンズ１０６および
１０８間のレーザビームを第１６図に示すように
コリメートしたビームとすることができるという
利点がある。
ダイオードレーザを使用する場合に生ずる問題
はレーザ放射線が非点収差的となることである。
この非点収差は製造の際におけるダイオードレー
ザまたはダイオードレーザの導波特性の不完全性
に基因すると考えられる。この場合、球面波頭を
有する放射線の代わりに、トロイダル波頭を有す
る放射線を放出する。この非点収差は補正レンズ
１０７を用いて減少させることができるので、こ
の収差は最早顕著でなくなる。レンズ１０７を円
筒レンズとすることができるので、円筒軸方向を
ダイオードレーザの非点収差によつて決めること
ができる。このレンズ１０７をいわゆる「零レン
ズ」と称することもできる。このようなレンズは
光学的には近軸領域で零の屈折力を有する。レン
ズ面の曲率半径を選定してレンズ全体として屈折
作用を呈しないようにする。このレンズを特定の
角度だけ傾向けることによつてレンズの光軸をレ
ンズ１０６および１０８が形成するレンズ系の光
軸と一定の角度をなすようにすることにより、レ
ンズは非点収差を呈する。ダイオードレーザの非
点収差がある拡がりを呈することが予想される場
合には、特に零レンズを用いることができる。こ
の拡がりの主点を実験的に決定することができ、
零レンズの対応する傾斜角を計算することができ
るので、光学読取装置を大量生産する場合には、
零レンズの平均傾斜角を使用するかまたはこの傾
斜角のわずかな補正のみが必要となる。
本発明は上述した実施例のみに限定されるもの
ではなく、多くの変形または変更をなし得ること
明らかである。
【図面の簡単な説明】
第１図はダイオードレーザを放射源として用い
た既知読取装置を示す線図、第２図は既知形態の
記録担体を示す線図、第３図は既知形態のダイオ
ードレーザを示す線図、第４図はダイオードレー
ザの変動を測定する方法を示す図、第５図は本発
明装置の一実施例を示す部分的略線図、第６図は
本発明装置に用いるダイオードレーザの電極を示
す線図、第７図は第５図の装置の原理の説明に供
する図、第８図はダイオードレーザの位置をトラ
ツク方向を横切る方向において補正する手段の一
実施例を示す一部を断面とする図、第９図は本発
明装置の第２実施例の原理の説明に供する図、第
１０図はダイオードレーザを軸方向に運動させる
手段の一実施例を示す図、第１１図は合成ダイオ
ードレーザおよびこれに関連する信号処理回路を
示す線図、第１２図は第１１図の合成ダイオード
レーザを利用する読取装置を示す線図、第１３図
は本発明装置の第４実施例を示す線図、第１４図
および第１５図は光学読取装置を軸方向および横
方法に運動させる装置を示す一部を断面とする
図、第１６図は本発明光学読取装置を示す断面図
である。 １……記録担体、２……トラツク面、３……副
トラツク、４……中央開口部、５……スピンド
ル、６……半導体ダイオードレーザ、７……単レ
ンズ、８……放射線感知検出器、９……フオトダ
イオード又は電子回路、１０，１１……層、１２
……中間層、１４，１５，１５′，１５″……電
極、１６，１７……端面、１８，２４……電源、
２２……結合コンデンサ、２３……コイル、２
５，７２……高域通過フイルタ、２６，７３，７
４……低域通過フイルタ、４５，５５……保持
部、４５，５６……駆動コイル、４７，５７……
永久磁石、４８，４９，５８，５９……スプリン
グ、６０……合成ダイオードレーザ、６１……共
通電極、６２……共通層、７５……電子回路、ｇ
……領域、ｔ……中間領域、ｂ……放射ビーム、
Ｖ……読取スポツト。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １ 光学的に検出可能な形態で情報が、記憶され
    ている複数個のほぼ平行なトラツク３で形成され
    る放射線反射型情報構体を有する記録担体１より
    情報を読取る光学読取装置であつて、該光学読取
    装置は、共振レーザ空胴を画定する２つの相対向
    する反射性端面１６，１７を有する半導体ダイオ
    ードレーザ６を有し、読取装置と記録担体１とが
    相対移動する際このダイオードレーザ６より前記
    トラツク３を走査する放射線読取ビームｂを形成
    し、さらにこの読取ビームを情報構体上に読取ス
    ポツトＶとして焦点を結ばせる焦点形成装置７を
    有し、これによつて該読取ビームｂを記憶情報に
    応じて変調する如くし、該焦点形成装置７は、情
    報構体によつて反射された変調放射線がダイオー
    ドレーザ６に戻るように指向される如く配置し、
    これによつてダイオードレーザ６の検出可能な特
    性内に前記反射放射線の変調に応じた変化を生ぜ
    しめる如くした記録担体１の光学読取装置におい
    て、 該光学読取装置は、前記焦点形成装置７と記録
    担体１との間の距離を周期的に変化させ読取ビー
    ムに対応の周期的変調を生ぜしめる装置を有し、
    かつ、前記検出可能な特性の変化に応じて記憶情
    報を表わす情報信号Siを第１電子回路２５，９に
    導出し、さらにもう一方の信号、すなわち焦点形
    成装置と、記録担体間の距離が所望値より偏移し
    ている量を表わす信号Srを第２電子回路２６，
    ２７に導出する装置を設けてなることを特徴とす
    る記録担体の光学読取装置。 ２ 光学的に検出可能な形態で情報が、記憶され
    ている複数個のほぼ平行なトラツク３で形成され
    る放射線反射型情報構体を有する記録担体１より
    情報を読取る光学読取装置であつて、該光学読取
    装置は、共振レーザ空胴を画定する２つの相対向
    する反射性端面１６，１７を有する半導体ダイオ
    ードレーザ６を有し、読取装置と記録担体１とが
    相対移動する際このダイオードレーザ６より前記
    トラツク３を走査する放射線読取ビームｂを形成
    し、さらにこの読取ビームを情報構体上に読取ス
    ポツトＶとして焦点を結ばせる焦点形成装置７を
    有し、これによつて該読取ビームｂを記憶情報に
    応じて変調する如くし、該焦点形成装置７は、情
    報構体によつて反射された変調放射線がダイオー
    ドレーザ６に戻るように指向される如く配置し、
    これによつてダイオードレーザ６の検出可能な特
    性内に前記反射放射線の変調に応じた変化を生ぜ
    しめる如くした記録担体１の光学読取装置におい
    て、 該光学読取装置は、前記読取ビームがスポツト
    として焦点を結ぶ位置を前記トラツクに対し横方
    向に周期的に変化させる装置１５′，１５″；２
    ４；４５―４９を有し、これによつて読取ビーム
    に対応の周期的変化を生ぜしめ、さらに前記検出
    可能な特性の変化に応じて記憶情報を表わす情報
    信号Siを第１電子回路２５，９に導出し、さらに
    もう一方の信号、すなわち読取スポツトが所望の
    位置に焦点を結んでいるトラツク上の位置よりト
    ラツクに対しスポツトの変化を表わす信号Srを
    第２電子回路２６，２７に導出する装置を設けて
    なることを特徴とする記録担体の光学読取装置。 ３ 光学的に検出可能な形態で情報が、記憶され
    ている複数個のほぼ平行なトラツク３で形成され
    る放射線反射型情報構体を有する記録担体１より
    情報を読取る光学読取装置であつて、該光学読取
    装置は、共振レーザ空胴を画定する２つの相対向
    する反射性端面１６，１７を有する半導体ダイオ
    ードレーザ６を有し、読取装置と記録担体１とが
    相対移動する際このダイオードレーザ６より前記
    トラツク３を走査する放射線読取ビームｂを形成
    し、さらにこの読取ビームを情報構体上に読取ス
    ポツトＶとして焦点を結ばせる焦点形成装置７を
    有し、これによつて該読取ビームｂを記憶情報に
    応じて変調する如くし、該焦点形成装置７は、情
    報構体によつて反射された変調放射線がダイオー
    ドレーザ６に戻るように指向される如く配置し、
    これによつてダイオードレーザ６の検出可能な特
    性内に前記反射放射線の変調に応じた変化を生ぜ
    しめる如くした記録担体１の光学読取装置におい
    て、 該光学読取装置は、前記読取ビームがスポツト
    として焦点を結ぶ位置を前記トラツクに対し横方
    向に周期的に変化させる装置１５′，１５″；２
    ４；４５―４９を有し、これによつて読取ビーム
    に対応の周期的変化を生ぜしめ、さらに前記検出
    可能な特性の変化に応じて記憶情報を表わす情報
    信号Siを第１電子回路２５，９に導出し、さらに
    もう一方の信号、すなわち読取スポツトが所望の
    位置に焦点を結んでいるトラツク上の位置よりト
    ラツクに対しスポツトの変化を表わす信号Srを
    第２電子回路２６，２７に導出する装置を設けて
    なり、 さらに本装置は、読取ビームがスポツトとして
    焦点を結ぶ位置を前記トラツクに対し横方向に変
    化させる装置に加えて、焦点形成装置と記録担体
    との間の距離を周期的に変化させる装置を有し、
    これによつて前記読取ビームに対応の周期的変化
    を生じさせ、さらに該変化より焦点形成装置と、
    記録担体間の距離が所望値より偏移している量を
    導出する装置を設けてなることを特徴とする記録
    担体の光学読取装置。
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