JPH01271925A - 記録担体の光学読取装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は放射線反射型情報構体を有する記録担体走査用
光学読取装置に関する。この光学読取装置はトラック状
に配置した反射型情報構体を有する記録担体および前記
読取装置の相対運動期間中に記録担体の走査を行うもの
であり、この読取装置は読取ビームを情報構体上に集束
させる対物レンズ系および読取ビームを供給すると共に
情報構体からの反射読取ビームを受光ししかも特性が続
出情報に依存して変化する半導体ダイオードレーザを含
む放射源兼検出装置を具えるものである。

光学読取装置とは、読取ビームを形成し、このビームを
情報構体上で所望の寸法の読取スポットとして集束させ
、しかも反射読取ビームを電気信号へと変換させる各動
作を確実に行わせる手段の組合せから成る装置と解する
。

また、「トラック状に配置した」情報構体とは、情報細
部を同心円トラックまたは一つの連続したスパイラル状
トラックを形成する重量心円トラックに従って配置した
構造を意味するものと解する。

ダイオードの「特性」は特定電流時におけるダイオード
レーザの印加電圧およびこのレーザを経て流れる電流の
商すなわちダイオードレーザの電気抵抗と称せられる量
および特定電流時におけるダイオードレーザから放射さ
れる放射強度である。

カラーテレビジョンプログラムの如き情報を記録担体中
のトラック状情報構体に記録することができる。この場
合、トラックは多数の領域と中間領域とが交互に配置さ
れたものから成る。情報はどの領域の空間周波数および
この領域の長さで符号化することができる。この領域は
中間領域とは光学的性質を異にするものであり、例えば
異なる吸収係数または異なる位相の深さを有する。

この点、情報構体が反射型構体すなわち領域が放射線吸
収型および中間領域が放射線反射型である場合、あるい
は領域および中間領域が共に反射型であるが記録担体中
において異なる深さに位置する場合に有益である。この
場合には、放射源から放出される変調されていない読取
ビームおよび情報構体から反射されて変調された読取ビ
ームは実質的に同一光学通路を経るので、共通放射線通
路中に含まれている光学的素子の相対的変化は読出し信
号には実質的に何ら影響を及ぼさない。

放射線反射型記録担体をガスレーザ例えばヘリウムネオ
ンレーザで読取る場合には、変調された読取ビームを共
通放射線通路外に位置する放射線感知検出器に向ける必
要がある。この目的のため、例えば共通放射線中に半透
鏡を含ませることができる。しかしながら、その場合に
は光路中での吸収および反射損失は別として、放射源か
ら放出された放射線の例えば２５％が読出しに利用され
るにすぎない。さらに、ガスレーザを使用する場合には
、変調された放射線をレーザに帰還させることができな
い点に留意する必要がある。その理由は、その場合には
、レーザビームのコヒーレンス長が著しく大であるため
、読取ビーム中に不所望な変動が生じてしまうからであ
る。このため、追加の処置を講じる必要がある。例えば
、半透鏡を使用する代わりに、高価な偏光感知分割プリ
ズムを使用し、このプリズムと記録担体との間にλ／４
板を設ける必要がある。

ドイツ特許出願公告第２２４４１１９号公報において、
記録担体を半導体ダイオードレーザを用いて読取ること
が提案されている。これに開示されている技術では、゛
ダイオードレーザから放出された放射ビームを記録担体
によってダイオードレーザへと反射させると、放出レー
ザビーム強度およびダイオードレーザの電気抵抗が増大
するという事実を使用するものである。記録担体をこの
ようなレーザビームで走査する場合には、前記強度およ
び電気抵抗は当該トラック中の領域および中間領域の順
序に従って変化する。従って、記録担体を個別検出器を
使用せずに読取ることができる。この場合には、ビーム
スプリッタを最早必要としないので、読取装置の構造を
簡単にすることができる。

著しく微小の例えば１μｍ程度の情報細部の読取を可能
とするために、読取ビームを情報構体上に著しく厳密に
集束させる必要がある。さらに、読取スポットの中心を
読取られるべきトラックの中心と常に一致させるように
注意する必要がある。

先のドイツ公報に開示されている装置においては、この
目的のために、ダイオードレーザを記録担体中に押圧形
成した溝を介して引張られるスケート上に取付ける。か
かる機械的案内部は記録担体が摩耗する欠点がある。さ
らに、先のドイツ公報の装置によれば、読取スポットの
直径を十分に小さくできないので、μｍ程度の読取情報
細部の解像度を十分高めることができない欠点がある。

本発明の目的は上述した欠点を有しないでしかも特に正
確な読出しが可能であり、構造が小型かつ簡単でありし
かも軽量であるために容易に高速度で動かし得るように
した上述した如き型の装置すなわち読取ペンを提供せん
とするにある。本発明光学的読取装置によれば、放射源
兼検出装置は読取スポット位置の読取られるべきトラッ
クに対するずれおよびまたは対物レンズ系のフォーカシ
ングの面の所望位置と実際の位置との間のずれを検出す
るオプトエレクトロニック手段を含むことを特徴とする
。

放射源兼検出器から供給されるこのずれを表示する信号
を処理して制御信号を形成し、この信号により既知方法
により読取られるべきトラックに対する読取スポットの
位置または対物レンズ系のフォーカシングの面を夫々補
正することができる。

記録担体の読取期間中、読取ヘッドは情報構体と接触し
ない。この場合、この構体を透明の保護層の下側に位置
させることができるので、読取り操作がほこり粒子、指
紋および傷等により影響されることがない。

ガスレーザを放射源として使用する読取装置に関しては
本願人は既に読取るべきトラックに対する読取スポット
の位置誤差検出方法（例えば特願昭４８−５２４６９号
）およびフォーカシングの面の所望位置と実際の位置と
の間のずれ検出方法（例えば特願昭４８−５２４６８号
）等種々の方法を提案してきている。これら方法に従っ
て導出した制御信号は変調された読取ビームを放射源に
帰還させることによって生ずべき読取ビームの方向およ
び強度の各変化により影響を受けること明かである。こ
れら光学的変化の周波数は所望の制御信号の周波数に近
い。好適な制御信号を得るためには、帰還を阻止すべき
処置を講じる必要がある。本発明装置によれば、情報読
出しおよび制御信号導出のためにダイオードレーザに帰
還する放射線を使用するものである。この場合、上述し
た光学的変動の問題が生じない。

読取るべきトラックに対する読取スポット位置の誤差を
検出するために、本発明装置の実施例においては、放射
源兼検出装置は周期的電気信号を、読取ビームの直径よ
りも小さい振幅と情報構体中の細部の平均空間周波数に
相応する周波数よりも実質的に小さい周波数とにおける
トラック方向を横切る方向の読取スポットの周期的運動
に変換する手段を含み、さらにダイオードレーザから供
給される信号を処理する電子回路中に制御信号へと処理
される低周波信号を抽出するフィルタを含ませ、この制
御信号を読取るべきトラックに対する読取スポットの時
間平均位置を補正する電気機械手段に供給するように構
成することができる。

オランダ国特許出願第６６、０１６６６号（１，ＢｏＭ
１）明細書からも明かなように、ダイオードレーザから
形成される放射ビームを動かすことはこれまでも既知で
ある。しかしながら、その場合には、レーザビームをダ
イオードレーザに帰還させないので、ダイオードレーザ
を検出器としては使用していない。記録担体の読取中、
読取ビームの位置誤差を検出するために、レーザビーム
を動かすことはない。このオランダ国特許出願明細書に
は、ビーム運動の振幅および周波数に関する詳細な説明
については何ら記載されていない。

対物レンズ系のフォーカシングの面の実際の位置と所望
の位置との間のずれを検出するために、本発明装置の好
適実施例においては、情報構体中の細部の平均空間周波
数に相応する周波数よりも実質的に小さな運動周波数お
よび対物レンズ系の焦点深度よりも小さな運動振幅で放
射源兼検出装置を対物レンズ系の光軸方向に周期的に運
動させる電気機械駆動装置を設け、およびダイオードレ
ーザから供給する信号を処理する電子回路中に制御信号
へと処理される低周波信号を導出するフィルタを含ませ
、この制御信号を放射源兼検出装置の光軸方向の時間平
均位置を補正する電気機械手段に供給するように構成す
ることができる。

米国特許第３６７３４１２号明細書からも明かなように
、光学記録担体の読取期間中、読取スポットを光軸に沿
って振動させることは既知である。しかしながら、これ
に開示されている方法では、追加の振動型鏡を光路中に
配置する必要がある。さらに、放射源兼検出装置を使用
するのではなく個別の放射源および個別の検出器を使用
している。さらに、記録担体の反射読取ではなく透過読
取を行っている。

ダイオードレーザから放出した放射ビームを周期的に動
かし放射源兼検出装置の光軸に沿う位置を周期的に変化
させるように構成した本発明装置の好適実施例において
は、変動を表す時間関数をｐ　（ｆ、　　ｔ）およびｐ
　（ｎｆ、　　ｔ＋π／２）で与えることができる。但
しｐは周期関数を示し、ｆは１つの変動が行われる周波
数を示し、およびｎ＝１．２・・・である。

本発明装置の他の実施例においては、放射源兼検出装置
には、読取ビームを供給する主ダイオードレーザに追加
して、互いに等しい強度を有する補助ビームを供給しお
よび情報構体から反射された対応する補助ビームを夫々
受光する２つの補助ダイオードレーザを設けることがで
きる。

これら補助ダイオードレーザを用いて２つの補助スポッ
トを形成し、その一方のスポットを読取スポットの面の
前方に位置決めし、他方のスポットをその面の後方に位
置決めし、さらに、トラックの横方向におけるこれら２
つの補助スポットの位置を同一位置とすることができる
。この場合には、補助ダイ芽−ドレーザから供給される
信号中の低周波成分の差によって対物レンズ系のフォー
カシングを表示することができる。また、補助スポット
を読取スポットと同一面内に位置決めすることも可能で
ある。補助スポットが読取スポットに対してトラックの
横方向に対称的にシフトしている場合には、補助ダイオ
ードレーザが供給する信号の低周波成分の差が読取るべ
きトラックの中心に対する読取スポットの中心位置を表
示する。

読取るべきトラックに対する読取スポットの位置のずれ
およびフォーカシングエラーを検出するために２つの補
助放射線スポットを用いることを本願人は既に提案して
いる（例えば特願昭４８−５２４６９号および特願昭４
９−１１２６７２号）。これら既知装置においては、個
別の放射源を設けるかまたはガスレーザから供給される
放射ビームを副ビームへ分離する素子を設ける必要があ
る。これら副ビームを記録担体で反射させた後に個別の
検出器へと反射させる必要がある。さらに、ここに用い
られる導出制御信号は先に述べた光学的雑音の影響を受
けやすいものである。ダイオードレーザの利点は多数の
このようなレーザを半導体基板上に集積化できるので、
合成レーザを著しく小型化することができることである
。この場合、制御信号は放射源相互間の変動の影響を受
けることがない。

上述した方法を用いて、読取るべきトラックに対する読
取スポットの位置誤差およびフォーカシング誤差を検出
する場合には、光学読取装置を著しく簡単な構造とする
ことができる。本発明装置の好適実施例によれば、この
光学読取装置には内部に放射源兼検出装置および対物レ
ンズ系を収納した中空円筒本体を設け、この本体には、
オプトエレクトロニック手段から供給される制御信号が
与えられこの本体の長平方向およびまたはこの長平方向
と直交する互いに直交する２つの方向のうちの少なくと
も一方の方向における当該本体の位置を補正する電気機
械手段を、その本体の外側から設けることができる。

本発明光学読取装置の対物レンズ系は厳格な要件を充足
する必要がある。このレンズ系の開口数を大きくシシか
もこのレンズ系を満足できるように補正する必要がある
。かかる要請に適合させるため、本発明による読取装置
によれば、対物レンズ系を半対称系としおよび非球面を
有する第１および第２の単レンズを以って構成する。半
対称とは一方のレンズのパラメータ例えばレンズ面の曲
率半径またはレンズ面の非球面度が他方のレンズのパラ
メータとはレンズ系の倍率に等しい因子だけ異なること
を意味するものと解する。

ダイオードレーザの放出面の大きさが読取スポットの所
望の大きさよりも大きくない場合には、これらレンズを
同等のものとすることができるので、レンズ系の製造が
さらに簡単となる。

以下、図面により本発明の詳細な説明する。

尚図において、ＸＹＺ座標系を用いて読取装置または個
別素子の配置を明確にしている。

第１図は例えば円形ディスク状の記録担体１の半径方向
の断面である。第２図はこの記録担体の底面図である。

情報はスパイラル状トラックに含ませることができる。

このトラックは記録担体の１回転に相当する部分に沿っ
て夫々延在する多数の重量心円副トラック３から成る。

各副トラツクは中間領域ｔと交互に配置した多数の領域
ｇを含む。情報は領域および中間領域の長さの中に含ま
せることができる。これら領域は中間領域とは異なる効
果を読取ビームに与える。情報をトラックに記録する方
法は本発明の要旨ではないので、これについての説明を
省略する。トラック面２を第１２図に示すように記録担
体の前面に位置させることができる。しかしながら第１
図に示すように、記録担体中の後側に位置させることも
できるので、この場合には記録担体を保護層として用い
ることができる。記録情報の種類は本発明の要旨ではな
いし、この情報をカラーテレビジョンプログラムあるい
は他の情報とすることもできる。

記録担体の読取を半導体ダイオードレーザ６からの放射
ビームｂで行う。図示の便宜のため単レンズ７として示
した対物レンズを用いて、ビームｂを情報構体上に読取
スポットＶとして集束させる。情報構体から反射した放
射ビームは対物レンズ系を経てダイオードレーザに入射
する。この対物レンズ系を選定して読取スポットをトラ
ック幅よりも大きくすることができる。読取装置におけ
る光学損失は別として読取ビームを領域上に入射させる
場合には、このビームは対物レンズ系のアパーチャの範
囲を越えて部分的に偏向するので、ダイオードレーザに
戻る放射ビーム強度は実質的に減少する。読取スポット
が情報構体上の領域外に当たる場合には、読取ビームの
大部分がダイオードレーザに戻る。記録担体１が中央開
口部４を貫通するスピンドル５の周囲を回転する場合に
は、反射読取ビームは読取られべきトラック中の順次の
領域台よび中間領域に応じて強度変調を受ける。

この反射読取ビームはダイオードレーザのある特性に影
響を及ぼす。

第３図はこのようなダイオードレーザを示す。

レーザは例えば混晶ＡｌＧａＡｓの２つの層１０．１１
からなり、層１０をｐ型とし、層１１をｎ型とする。中
間層１２を例えば純粋な結晶ＧａＡｓとする。層１０．
１１上には電極１４．１５を夫々設ける。電流源１８か
らの電流■は層１０．１２．１１を流れる。層ｌＯおよ
び１２の境界において、中間層１２に電子が注入される
。この中間層において、電子と正孔とが再結合して約９
００ｎｍの波長の放射線が放出される。端面１６．１７
は好適な反射係数を有する。放射線はこれら端面間で繰
返し反射された後、増幅されてこれら端面１６゜１７か
ら矢印１９．２０で夫々示すようにレーザ放射線を放出
する。

既に説明した通り、記録担体からの反射放射線はダイオ
ードレーザに戻る。ある条件を与えると、この帰還放射
線はさらに放射線の放出を誘導するので、矢印１９．２
０の方向に同時に放出される放射線を記録担体上の情報
によって定めることができる。本発明装置の実施に当た
り、ダイオードレーザを流れる電流■を閾値よりも例え
ばわずかに大とすると、レーザビームを記録担体上の領
域外に入射させた場合の放出レーザビームの強度はレー
ザビームが領域上に入射した場合の強度の約２倍大とな
ることが判った。帰還読取を行うための基本的要件は情
報構体とダイオードレーザとの間の距離を特定の最小値
よりも大きくすることである。

その場合には、光学帰還によりダイオードレーザから放
出される放射線に変化をもたらすことができる。

レーザビームの強度変化を変換するために、第１図に示
すように例えばフォトダイオードの如き放射線感知検出
器８をダイオードレーザの記録担体とは反対側に設置す
ることができる。この検出器よりの信号Ｓを既知電子回
路９において処理符号化して情報信号Ｓｉに変換する。

尚、この既知電子回路については、例えば、［フィリッ
プステクニカルレビュー、３３巻、ｋ７、頁１８１−１
８５　Ｊに開示されている。ＴＶプログラムを記録担体
上に記録しである場合には、この信号を普通のテレビジ
ョン受像機２１で再生できる。

第１図では、フォトダイオードを個別素子として示して
いるが、このフォトダイオードをダイオードレーザと一
体に形成することもできる。さらに、ダイオードレーザ
を第３図の矢印２０で示すように後部から放射線を放出
させるようにすることは必ずしも必要ではない。また、
方向１９に対してこれを横切る方向またはこれと傾いた
方向に放射線を放出させるようにすることもできる。こ
の場合には、フォトダイオード８をダイオードレーザの
後方ではな（横側に配設する必要がある。

第４図に示す例は、放射線感知検出器を用いないで記録
担体の読取を行う場合を示す。この場合には、定電流Ｉ
においてダイオードレーザの両端子間型圧の変動を測定
する方法である。本発明装置の実施例においては、レー
ザビームを情報構体上のある領域外に入射させた場合と
レーザビームを領域上に入射させた場合とにおいて生ず
るダイオード電圧の差は約０．１■であった。この電圧
を結合コンデンサ２２を介して電子回路９に供給するこ
とができる。電流源と直列に接続したコイル２３は続出
信号に対しては高インピーダンスを呈する。

記録担体を読出す場合に、読取スポットを読取るべきト
ラックに対して常に正しく位置決めするように注意する
必要がある。このため、読取るべきトラックに対する読
取スポットの位置決め誤差を検出する手段を設ける必要
がある。本発明ではこの位置決め誤差を、読取スポット
をトラック方向に対して横切る方向に周期的に運動させ
ることによって動的に検出することができる。この周期
運動の振幅をトラック幅よりも小さくするので、読取ビ
ームはトラックの十分大なる部分を常に照射する。

読取スポットを動かすために、先のオランダ国特許出願
第６６、０１６６６号および米国特許第３４３６６７９
号明細書に開示されている原理を利用することができる
。この原理によれば、電極の１つを２個以上の副電極に
分割してこれら副電極に適切な電流を流す。ダイオード
レーザの場合には、各副電極を流れる電流とこの副電極
の長さとの債の各電極に対する和が特定の閾値に達した
場合のみレーザ作用が得られるので、ダイオードレーザ
からレーザビームが放出する箇所を電極を通じる電流を
変化させることによって変化させることができる。

その場合、読取装置には例えば機械駆動される振動鏡の
如き追加の光学素子を設ける必要はない。

本発明装置においては、読取スポットを平均位置の周り
に周期運動させる必要があり、その運動の振幅を例えば
約０，１　μｍとする。この目的のため、例えば、第５
図の右側部分に示すダイオードレーザを使用することが
できる。第６図はこのダイオードレーザの底面を見た図
である。副電極１５′および１５′に直流電源１８から
電流■を供給する。

この電源と電極１５′との間に第２電源２４を設け、２
π この電源からは例えば電流Ｉ’　　（ｓｉｎ　　−ｔ）
を供給する。第６図に示す電極形状の場合には、レーザ
作用は、ｔ−０の瞬時においては線１１に沿沿って発生
する。周期運動の振幅（、！１２）は比１’　／Ｉで定
まる。この比を例えば０．２　とする。

記録担体を回転する場合に、トラック方向を横切る方向
の読取スポットの周期運動に基因して、読取ビームは、
トラック中の順次の領域および中間領域に基因する高周
波変調に加えて、低周波変調を受ける。第７図はこのよ
うな追加の変調を示すもので、これは正弦波的であると
する。低周波読取すなわち個々の領域を別々に読取らな
い場合には、ビットから成るトラックは記録担体中の溝
として作用して放射線を部分的に対物レンズ系の外側へ
と偏向させてしまう。読取スポットを横方向（ｒ）に振
動させない場合の、読取スポットの位置関数としての信
号変化を曲線４０で表す。位置ｒｏをあるトラックの中
心とし、位置ｒ１およびｒ２を隣接トラックの中心とし
、ｒ３＋　ｒ４を２つのトラック間の中間位置とする。

第７図において、読取スポットの周期運動を曲線４１で
表すことができる。

尚、軸ｔは時間軸である。

読取スポットが位置ｒ５の周りで振動する場合、すなわ
ち、読取スポットの平均位置が読取られるべきトラック
の中心に対して右側に偏移している場合には、ダイオー
ドレーザの出力信号は低周波信号４２で変調される。読
取スポットが位置ｒ６の周りで振動する場合には、出力
信号は低周波信号４３で変調される。信号４２および４
３の周波数は読取スポットの振動周波数と等しい。読取
スポットの平均位置が読取るべきトラックの中心と一致
する（第７図のｒ。）場合には、ダイオードレーザの出
力信号は信号４４で変調され、この場合、信号４２゜４
３の振幅よりも小さくおよび周波数は２倍となる。

ダイオードレーザの出力信号が読取スポットの振動周波
数と等しい周波数成分を含む場合には、読取スポットは
読取るべきトラックに対して正しく位置決めされていな
いこととなる。低周波成分の位相と読取スポットを振動
させる制御信号の位相とを比較することによって、偏移
方向を定めることができる。

第５図の左側部分に信号処理方法を示す。ダイオードレ
ーザの出力信号Ｓを高域通過フィルタ２５および低域通
過フィルタ２６に供給する。高域通過フィルタ２５を電
子回路９に接続しこの電子回路で信号処理して情報信号
Ｓｉに変換する。低域通過フィルタ２６を位相感知回路
２７に接続して信号Ｓの低周波成分を電源２４からの信
号の位相と比較し、制御信号Ｓ「を形成し、この信号に
よって読取るべきトラックの中心からの読取スポットの
位置ずれを補正する。

この補正を行うため、ダイオードレーザを例えば第８図
に示すような磁界中に設けたコイルを用いて駆動するこ
とができる。第８図において、レーザビームｂを読取部
に向ける。ダイオードレーザ６を駆動コイル４６を具え
る保持部４５に取付ける。

第５図に示す信号Ｓｒを駆動コイル４６に供給する。

その結果、保持部４５従ってダイオードレーザ６を２方
向にある特定距離にわたり運動させるがＸまたはＹ方向
の運動についてはスプリングによって実質的に阻止する
。

ダイオードレーザは小型で軽量な素子であるので、第り
図に示す駆動手段も小型で軽量とすることができる。第
５図の回路配置も著しく小型とすることができると共に
ダイオードレーザと一体に形成することができる。

また、ダイオードレーザ自体をＺ方向に振動させること
によって、トラックを横切る方向に読取スポットを周期
運動させることができる。この運動を、第８図の装置の
駆動コイル４６に周期信号を供給することによって保持
部４５をその共振周波数で運動させることによって得る
ことができる。読取るべきトラックの中心に対する読取
スポットの位置誤差を定めるために、出力信号Ｓの低周
波成分の位相を読取スポットの周期運動の位相と比較す
る。

固定ダイオードレーザの場合には、ダイオードレーザを
運動させる代わりに、ダイオードレーザおよび対物レン
ズ系間の放射線通路中に追加の鏡を含ませることによっ
て読取スポット位置を補正することができる。この場合
、鏡を読取るべきトラック部分の方向と実質的に平行な
軸の周りを回動できるように構成する。このような回動
鏡については、「フィリップス　テクニカル　レビュー
第３３巻、Ｎα７、頁１８６〜１８９」に開示されてい
る。

しかしながら、構造上の点から、可動ダイオードレーザ
を用いる実施例の方が好適である。

読取スポットをトラックを横切る方向に振動させるかま
たは読取るべきトラックに対する読取スポットの位置補
正を行うために、電磁素子を使用する代わりに電歪素子
を使用することができる。

記録担体を正しく読取るための他の要件は、読取ビーム
ｂを情報構体の面に常に鋭く集束またはフォーカシング
させる必要がある。そうでなければ、読取高周波信号の
変調深度が減少し隣接トラック間でのクロストークが生
じてしまう。本発明によれば、放射線源兼検出装置は集
束の程度を表示する信号を導出するオプトエレクトロニ
ック手段を含むので、この信号を用いて集束または焦点
またはフォーカシング補正を行うことができる。

読取るべきトラックの中心に対する読取スポットの位置
誤差を検出する上述した方法と同様に、集束（またはフ
ォーカシング）面（または、焦点面）を周期的に動かし
て焦点誤差を検出することができる。この場合、運動周
波数例えば５０ｋＨｚを記録担体上の情報の平均空間周
波数に相応する周波数例えば１０６　　・ｍ−１よりも
実質的に小さくし、運動振幅例えば０．１　μｍを対物
レンズ系の焦点深度よりも小さくする。

集束面の周期運動に基因してダイオードレーザから供給
された信号Ｓの変調深度は低周波数で周期的に変化する
。周期的変動が無い場合には、集束の関数としての信号
Ｓを第９図に曲線５０で示す。

点Ｆ。は読取ビームが平均してトラック上に鋭く集束す
る場合を示す。点Ｆ１は情報構体面の後方に集束する場
合を示し、点Ｆ２は情報構体面の前面に集束する場合を
示す。曲線５１は集束の周期的変動を示す。また軸ｔは
時間軸を示す。フォーカシングの周期的変動により、ダ
イオードレーザの出力信号Ｓの低周波成分が変化する。

この成分を第９図に曲線５２．５３および５４で示す。

Ｔ１はフォーカシング変動の周期を示す。読取ビームを
時間平均で正しく集束させる場合に生じる曲線５４に従
う信号成分は集束が変化する周波数の２倍の周波数を有
する。曲線５２および５３に従う信号成分は集束変動の
周波数と同一の周波数を夫々有するが、それらの位相は
互いに１８０°偏移している。

読取スポットの位置誤差の検出について説明した同様に
、位相感知検出器を用いて、読取ビームを平均的に正し
く集束させるかどうかおよびいずれの方向に誤差が生じ
ているかを検出することができる。このため、第５図の
装置と同様な回路配置を使用することができる。回路２
７において、信号Ｓの低周波成分の位相をフォーカシン
グの周期的変動の位相と比較する。次いで回路２７の出
力端子に信号Ｓｒを形成しこの信号でフォーカシングの
補正を行うことができる。

フォーカシングの周期的変動をダイオードレーザを光軸
方向に振動させることにより得ることができる。この目
的のため、第１０図に断面図として示す磁石系を使用す
ることができる。第１０図に示す実施例では、レーザビ
ームを矢印１９で示す方向に発光させる。素子５５．５
６．５７．５８および５９は第８図の素子４５．４６．
４７．４８および４９に夫々対応するものである。本例
においては駆動コイルを例えば５ＱｋＨｚの振幅の小さ
い交流電流で附勢して読取ビームを集束させる面をＸ一
方向に１０分の数μｍ程度にわたり運動させる。

信号Ｓｒを用いてフォーカシング面の平均位置を補正す
るために、対物レンズ系の焦点距離を再調整するかまた
は対物レンズ系を磁石系を用いて運動させる゛ことがで
きる。しかしながら、第１０図に示す構成と同様な構成
中の附勢コイル５６にＳｒに比例する電流を供給するこ
とによって、光軸方向のダイオードレーザの位置を補正
することによって、フォーカシング面の平均位置を調整
することが好適である。

電磁素子を使用する代わりに、電歪素子を用いることに
よって読取ビームのフォーカシングを周期的に変化させ
たりまたはフォーカシング面の平均位置を補正すること
ができる。

読取スポットの位置およびフォーカシング面の位置の上
述した検出方法を１つの読取装置として結合する場合に
は、ダイオードレーザの出力信号には２つの低周波成分
が生じる。これら成分を相互に十分に識別できるように
するために、トラック面内およびこのトラック面と垂直
な方向での読取ビーム振動周波数を夫々異なる値に選定
して信号が互いに高調波を含まないようにすることがで
きる。このことは制御信号の周波数を高くする必要があ
ることを意味する。さらに、この場合、２つの信号発生
器が必要となる。しかしながら、本発明によれば、両売
振器の周波数を同一とすることができる。

実際には、読取るべきトラックの中心に対する読取スポ
ットの位置誤差の検出およびフォーカシング誤差の検出
のために、ダイオードレーザの出力信号Ｓの低周波成分
を基準信号と比較する必要がある。この基準信号を光軸
方向のダイオードレーザの運動またはトラックを横切る
方向の読取スポットの運動で定めることができる。この
低周波成分の位相は関連する基準信号と同相または逆相
のいずれかとすることができる。両基準信号が互いに９
０°移相している場合には、低周波成分は十分に相違し
、基準信号は同一周波数を有することができる。この場
合、基準信号を１個の信号発生器から供給することがで
きる。また一方の基準信号の位相を他方の基準信号の位
相に対して９０°移相させている。

本発明の他の要旨によれば、読取るべきトラックの中心
に対する読取スポットの位置誤差を決定するために、本
出願人の先の特願昭第４８−５２４６９号明細書（特公
昭５３−１３１２３号、特許第９３６．８３４号）に開
示した原理を利用することができる。この原理によれば
読取ビームに追加して２つの補助ビームを情報構体上に
投光させる。これら補助ビームを個別のガスレーザから
放出させることもできるしまたは読取ビームから導出す
ることもできる。

補助ビームを情報構体と接触させた後にこれら補助ビー
ムを個別の補助検出器に向ける必要がある。

既知装置では、放射線量が実質的に失われ、放射線通路
が相当複雑化ししかも装置の安定性の面で厳しい要件を
充足しなければならないという欠点がある。さらに、ガ
スレーザからのビームの不所望変動のために、導出した
制御信号が影響を受けてしまう。

本発明にふいては、３個のダイオードレーザを容易に集
積化または一体化することができるという事実を利用す
るものである。その場合には、ビームまたは放射線源を
互いに位置決めする必要はない。記録担体からの反射レ
ーザビームをダイオードレーザでさえ゛ぎるので、追加
の検出器を用いる必要はない。読取装置を第１２図に示
すように著しく簡単な構造とすることができる。

第１１図は３個のダイオードレーザを含む合成ダイオー
ドレーザ６０の一例を示す図である。このダイオードレ
ーザはｎ型の共通層６２を具え、その上に共通電極６１
を形成する。ｐ型層を３つの部分６６゜６７および６８
に分割してこれらを個別の電極６９．７０および７１を
経て電流源１８に接続する。レーザ作用が発生す本能動
領域を６３．６４および６５で示す。第１１図において
レーザビームを読取装置に向ける。

第１２図において、レーザビームをす、、　ｂ、および
す、で示す。ビームｂ、は読取ビームであって、このビ
ームを対物レンズ系７で集束させて情報構体面上に読取
スポットｖ１を形成する。ビームｂ２およびす、を補助
ビームとし、これら補助ビームは互いに同一強度を有す
るものとする。しかしこの強度はビームｂ、の強度より
も弱くすることができる。ビームｂ２およびす、を補助
スポットｖ２およびＶ、として集束させる。補助スポッ
トの中心を読取スポットの中心に対して反対方向にトラ
ックの横方向における例えばトラック幅の１７４に等し
い距離にわたりシフトさせる。対物レンズ系の光軸の周
りに合成ダイオードレーザをわずかに傾斜させることに
より、補助スポットをトラックの長手方向において読取
スポットに対して反対方向にわずかにシフトさせる。

第１１図は個々のダイオードレーザ出力信号の処理方法
を示す図である。読取ダイオードからの信号を高域通過
フィルタ７２を経て前に説明した回路９に供給し、この
回路の出力端子に高周波情報信号Ｓ、を形成する。補助
ダイオードレーザの出力信号を低域通過フィルタ７３．
７４を経て電子回路７５に供給し、この回路で信号の比
較を行って制御信号Ｓｒを発生させる。例えば第８図に
示す装置により、この制御信号を用いて、補助放射線ス
ポットの位置を補正して信号Ｓｒを零にする。この場合
、読取スポットの位置を自動的に補正することができる
。

３個の個別のレーザを有する合成ダイオードレーザを使
用してフォーカシング誤差を検出する。

この目的のため、レーザダイオードからのレーザビーム
発光面を対物レンズ系の光軸に対して斜めに配設する必
要がある。第１３図はかかる状態を示す図である。レー
ザ源を対物レンズ系から異なる位置に配設するので、こ
の対物レンズ系で形成されるレーザ源の像Ｖ、、　Ｖ、
およびＶ、は異なる面に形成される。この場合、補助ビ
ームｂ２およびす、は同一強度を有し、ν、はｖ２がｖ
Ｉの後側に離れて位置する距離と同じ距離だけｖｌから
離れて位置し、またＶｌｌ−Ｖ２．　Ｖｓは同一半径方
向の位置を有する。

第１３図に示すように、読取ビームをトラック面上に正
確に集束させる場合には、読取ダイオードが受光する放
射線強度は最大となる。尚、この場合、情報細部に基因
して変調を受ける。この場合、補助ビームｂ２およびす
、の焦点が外れているので、補助ダイオードが受ける放
射線強度は低いが、この強度は２つの補助ダイオードに
対して同一強度である。トラック面を右側にシフトさせ
ると、反射ビームｂ２０強度は反射ビームｂ３０強度よ
りも大である。トラック面を左側にシフトさせる場合に
は、反射ビームｂ、の強度は反射ビームｂ２０強度より
も大である。補助ダイオードの出力信号の低周波成分を
比較することによって、フォーカシング誤差の大きさと
方向を検出することができる。この検出を第１１図に示
す回路配置と同様の回路配置をもって達成することがで
きる。この場合、回路７５はフォーカシング補正用の制
御信号Ｓｒを供給する。

すでに説明した通り、帰還続出の利点は光学読取装置が
著しく簡単な構造となることすなわちこの装置は本質的
には唯一個の放射源兼検出装置および対物レンズ系から
成るということである。これまで説明した制御信号導出
方法を採用することによって、読取装置に追加の光学素
子を設ける必要がない。この場合、光学読取装置全体は
長さが例えば６０＋ｎｍおよび直径が例えば２０碓の小
型の管から成る。この管は高周波情報信号および制御信
号の両者を供給することができる。

円形ディスク状記録担体の１トラツクの読取に際して、
この記録担体を中心の周りに回転させる。

全トラックを順次読取る場合には、この管を記録担体に
対して半径方向に移動させることができる。

この目的のため、この管を移動自在に取付ける保持具を
「フィリップス　テクニカル　レビュー第３３巻、Ｎα
７、頁１７８〜１８０」に開示されているような駆動手
段に接続する。読取るべきトラックに対する読取スポッ
トの位置の微調整および読取ビームのフォーカシングの
調整を保持部の管を長手方向を横切る方向右よび長手方
向の両方向に移動させることによっ−て達成することが
できる。この場合、フォーカシングを例えば０．５μｍ
の精度まで高めることができると共に位置決めを０．１
　μｍの精度まで高めることができる。この目的のため
、管の外部に電気機械駆動手段を設ける。第１６図は本
発明による管の一実施例を示す断面図である。

管をその長手方向に移動させるために、この管を第１０
図の磁石系と同様な磁石系内に配設する。

管１００を第１０図のダイオードレーザ６の位置に配設
する。コイル５６には信号Ｓ、を供給する。横方向への
管の運動を第８図の磁石系と同様な磁石系を用いて達成
することができる。この場合、管１００をダイオードレ
ーザ６の位置に配設しコイル４６に信号Ｓｒを供給する
。

特願昭箱５２−５２７２３号（特公昭５８−３６４１４
号、特許第１．３８５．７３８号）において提案したと
同様な方法で、読取るべきトラックに対する読取スポッ
トの位置を管を軸周回動させることによって補正するこ
とができる。第１４図および第１５図は管の回動および
軸方向運動を行わせる駆動手段を示す図である。

第１４図において１００は管状光学読取装置を示す。

永久磁石回路は中央開口部８１および２つの軸端に夫々
設けた２つの軟鉄端板８２および８３を具える補助磁化
用永久磁石８０を有する。中空の軟鉄製の鉄芯８４に中
央開口８１を配設する。鉄芯８５の周りに同軸に配置し
た円筒状コイル構体８５を管１００に固定する。この構
体８５は端板８２とコア８４との間の環状空隙８６およ
び端板８３とコア８４との間の第２環状空隙８７中を軸
方向に移動できる。フォーカシング用支承手役を管１０
０と平行案内を形成するために面支承とし、これら支承
手段はフレームに接続した第１支承ブツシユ８８および
対物レンズに接続した第２支承ブツシユ８９から成る。

この第２支承ブツシユは支承ブツシュ８８に対して軸方
向に移動可能である。支承ブツシュ８８を２個の支承ビ
ン９０を用いてコア８４に堅固に接続する。これら支承
ピンをコア８４に堅固に取付け、さらに、支承ブツシュ
８８に堅固に取付けた２個の支承ブツシュ９１をピンの
位置で回動できるようにする。本発明の実施例において
は、すでに説明したように、支承ブツシュ８９を管１０
０に堅固に接続しこれを支承ブツシュ８８内で運動でき
るように構成する。もちろん管１００の外壁を面支承構
造の一部分として使用することができる。

第１４図に示す構成の利点は、管１００がその先軸９２
方向に移動できることおよび読取るべきトラックの中心
に対する読取スポットの位置補正のために単一電磁系の
みによって枢軸９３の軸周を運動できることにある。尚
、この場合、永久磁石８０は二重の作用を達成する。コ
イル構体８５に、第１５図に示すように、枢軸９３のい
ずれかの側に対称的に配置した２つのコイル９４を設け
る。これらコイルは読取スポットのフォーカシングおよ
び位置決め用として供するものである。第１４図に示す
ように、円筒状軟鉄コア８４を取付けた取付板９５を用
いて、端板８２．８３およびコア８４間に環状空隙８６
および８７を形成するように構成する。管１００を軸方
向に運動させると共に回動させる効率の高い電磁手段を
得ることができる。第１５図に示すように、各コイル９
４の巻回部分９６は空隙８７内に延在する。これら部分
９６および９７を枢軸９３の周りに電気的に形成したト
ルクに対し同等の影響を与えるように位置させる。

コイル９４の部分９６および９７に作用する電磁力は軸
方向に向いている。２つのコイルの対応する部分９６お
よび９７を経る電流方向を選定して軸方向の力が同一方
向となりしかも大きさが等しい場合にフォーカシング運
動を達成することができる。これからのずれが生じてい
る場合には、読取るべきトラックに対する読取スポット
の位置決めに使用する管１００の旋回運動を得る。

テレビジョンプログラムが記録された記録担体の読取に
際しては、読取スポットの位置を接線方向すなわち読取
るべきトラックの長平方向において補正する必要がある
。特願昭第４８−１２５０２３号において説明されてい
るように、読取スポットの接線方向のずれまたは偏移を
読取スポットの半径方向の誤差検出に使用すると同一の
補助スポットｖ２およびＶ３　（第１２図参照）を用い
て検出することができる。この場合、補助ダイオードレ
ーザからの制御信号の位相を円板状記録担体の１／４回
転周期に相当する量だけシフトする必要がある。読取ス
ポットの接線位置を補正するために、再び電磁手段を用
いることができる。この場合、第１４図に示すような完
全な装置を例えば記録すべきトラックの長平方向にこの
装置を移動させることができる他の磁石装置に組込むこ
とができる。

記録担体に対して管を軸、半径力よび接線方向に運動さ
せるために、電磁手段の代わりに電歪手段を利用するこ
とができる。

第１６図において光学読取装置を収納した管を１００で
示す。ダイオードレーザおよび関連する回路を素子１０
１に一体構成する。ダイオードレーザにはライン１０２
を経て供給する。高周波情報信号Ｓ、および制御信号Ｓ
、、Ｓ、およびＳ、（接線方向）をライン１０３．１０
４．１０５および１０９を経て供給する。フォーカシン
グ誤差を検出するために、ダイオードレーザには第１３
図につき説明したように３個の個別レーザ源を設けるこ
とができる。読取るべきトラックに対する読取スポット
位置検出のために、例えば読取ビームを供給するレーザ
源の形状を第５図および第６図の如く形成する。勿論、
上述したフォーカシング誤差および読取スポット位置の
検出方法を組合せ使用することもできる。。

ダイオードレーザの放射領域例えば２．５μｍ×０．５
μｍを情報構体上に結像させる必要がある。

ガスレーザ読取装置では放射源を対物レンズ系から比較
的離して配置するが、本発明光学読取装置のダイオード
レーザおよび対物レンズ系間距離は小さい。このため、
対物レンズ系はオブジェクトフィールドの大きさに関す
る厳密な要件を充足する必要がある。ダイオードレーザ
からの放射線の波長（λは例えば８９０ｎｍ　）はヘリ
ウムネオンレーザの出す放射線の波長（λ＝６３３１ｍ
　）よりも長いので、本発明光学読取装置の光学系の開
口数（例えば０．６３）はヘリウムネオンレーザを用い
る読取装置の対物レンズ系の開口数（例えば０．４５）
よりも実質的に大とする必要がある。対物レンズ系が形
成するダイオードレーザの像は高度に平面的である必要
がある。

これらの要件にマツチさせるためには、比較的多数のレ
ンズ素子を有する対物レンズ系を選択するが、本発明に
おいては、対物レンズ系のレンズ素子の個数を２枚に限
定することが出来る。この場合、この対物レンズ系を比
較的簡単に製造することができる。第１６図からも明か
なように、この対物レンズ系を２つの単レンズ１０６お
よび１０８を以って構成する。このレンズ系を半対称的
とするので、この系の倍率Ａが知られている場合には、
レンズ１０６および１０８のパラメータを互いに導出す
ることができる。レンズ１０６および１０ｇの夫々は２
つの非球面を有する。かかるレンズは本願人による特願
昭第５０−５５５５３号に開示されているいわゆるバイ
−スフエリカルレンズと称せられるものである。

ダイオードレーザの放射面の寸法が読取スポットの所望
の寸法よりも大きくない場合には、レンズ１０６および
１０８は１対１の像を形成する必要がある。この場合、
同等のレンズを使用しおよびレンズ系を対称系とするの
で、コマ収差や非点収差の如き非対称誤差を生じること
はない。製造許容誤差の観点からすれば、レンズ１０６
および１０８間のレーザビームを第１６図に示すように
コリメートしたビームとすることができるという利点が
ある。

ダイオードレーザを使用する場合に生ずる問題はレーザ
放射線が非点収差的となることである。

この非点収差は製造の際におけるダイオードレーザまた
はダイオードレーザの導波特性の不完全性に基因すると
考えられる。この場合、球面波頭を有する放射線の代わ
りに、トロイダル波頭を有する放射線を放出する。この
非点収差は補正レンズ１０７を用いて減少させることが
できるので、この収差は最早顕著でなくなる。レンズ１
０７を円筒レンズとすることができるので、円筒軸方向
をダイオードレーザの非点収差によって決めることがで
きる。このレンズ１０７をいわゆる「零レンズ」と称す
ることもできる。このようなレンズは光学的には近軸領
域で零の屈折力を有する。レンズ面の曲率半径を選定し
てレンズ全体として屈折作用を呈しないようにする。こ
のレンズを特定の角度だけ傾斜させることによってレン
ズの光軸をレンズ１０６および１０８が形成するレンズ
系の光軸と一定の角度をなすようにすることにより、レ
ンズは非点収差を呈する。ダイオードレーザの非点収差
がある拡がりを呈することが予想される場合には、特に
零レンズを用いることができる。この拡がりの主点を実
験的に決定することができ、零レンズの対応する傾斜角
を計算することができるので、光学読取装置を大量生産
する場合には、零レンズの平均傾斜角を使用するかまた
はこの傾斜角のわずかな補正のみが必要となる。

本発明は上述した実施例のみに限定されるものではなく
、多くの変形または変更をなし得ること明かである。

【図面の簡単な説明】

第１図はダイオードレーザを放射源として用いた既知読
取装置を示す線図、 第２図は既知形態の記録担体を示す線図、第３図は既知
形態のダイオードレーザを示す線図、 第４図はダイオードレーザの変動を測定する方法を示す
図、 第５図は本発明装置の一実施例を示す部分的路線図、 第６図は本発明装置に用いるダイオードレーザの電極を
示す線図、 第７図は第５図の装置の原理の説明に供する図、第８図
はダイオードレーザの位置をトラック方向を横切る方向
において補正する手段の一実施例を示す一部を断面とす
る図、 第９図は本発明装置の第２実施例の原理の説明に供する
図、 第１０図はダイオードレーザを軸方向に運動させる手段
の一実施例を示す図、 第１１図は合成ダイオードレーザおよびこれに関連する
信号処理回路を示す線図、 第１２図は第１１図の合成ダイオードレーザを利用する
読取装置を示す線図、 第１３図は本発明装置の第４実施例を示す線図、第１４
図および第１５図は光学読取装置を軸方向および横方向
に運動させる装置を示す一部を断面とする図、 第１６図は本発明光学読取装置を示す断面図である。 １・・・記録担体 ２・・・トラック面 ３・・・副トラツク ４・・・中央開口部 ５・・・スピンドル ６・・・半導体ダイオードレーザ ７・・・単レンズ 訃・・放射線感知検出器 ９・・・フォトダイオード又は電子回路１０、１１・・
・層 １２・・・中間層 １４、１５．１５’　、　１５’・・・電極１６、１７
・・・端面 １８、２４・・・電源 ２２・・・結合コンデンサ ２３・・・コイル ２５、７２・・・高域通過フィルタ ２６、７３．７４・・・低域通過フィルタ４５、５５・
・・保持部 ４５、５６・・・駆動コイル ４７、５７・・・永久磁石 ４８、４９．５８．　５９・・・スプリング６０・・・
合成ダイオードレーザ ６１・・・共通電極 ６２・・・共通層 ７５・・・電子回路 ｇ・・・領域 ｔ・・・中間領域 ｂ・・・放射ビーム Ｖ・・・読取スポット 特許出願人　　　エヌ・ベー・フィリップス・フルーイ
ランペンファブリケン 代理人弁理士　　杉　　　村　　　暁　　　秀同弁理士
　杉　　村　　興　　作 Ｆｉｇ、　６ Ｍ７一

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、光学的に検出可能な形態で情報が、記憶されている
   複数個のほぼ平行なトラック（３）で形成される放射線
   反射型情報構体を有する記録担体（１）より情報を読取
   る光学読取装置であって、共振レーザ空胴を画定する２
   つの相対向する反射性端面を有する第１半導体ダイオー
   ドレーザ（６４）を有し、読取装置と記録担体とが相対
   移動する際この第１半導体ダイオードレーザより前記ト
   ラックを走査する放射線読取ビーム（ｂ＿１）を形成し
   、さらに互に強度の等しい１対の補助ビーム（ｂ＿２、
   ｂ＿３）を形成する１対の補助半導体ダイオードレーザ
   （６３、６５）を具え、また前記読取ビームと前記各補
   助ビームとを情報構体上にそれぞれ読取スポット（Ｖ＿
   １）及び１対の補助スポット（Ｖ＿２、Ｖ＿３）として
   それぞれ焦点を形成させる焦点形成手段（７）を有し、
   前記各半導体ダイオードレーザと焦点形成手段とは、前
   記１対の補助ビームが１対の補助スポットとして焦点を
   結ぶ位置が前記読取スポットの中心に関しそれぞれ反対
   方向に離隔する如く配置し、これによって前記相対移動
   が生ずる際、読取ビーム（ｂ＿１）はトラック内に記憶
   されている情報に応じて変調され、かつ両補助ビーム （ｂ＿２、ｂ＿３）は読取スポットの焦点位置の読取る
   べきトラック上の所望の位置よりのずれに応じて変調さ
   れる如くし、また焦点形成手段（７）は情報構体によっ
   て反射される各ビームの変調放射が、対応のレーザダイ
   オードの１つに戻る如く配置し、各反射放射線の変調に
   応じて対応のレーザダイオードの検出可能の特性に変化
   を生ずる如くし、前記第１半導体ダイオードレーザ（６
   ４）に付属する第１手段（７２、９）は前記特性の変化
   より記憶情報を表わす情報信号（Ｓｉ）を導出し、各補
   助ダイオードレーザ（６３、６５）に付属する第２手段
   （７３、７４、７５）はその特性の変化より前記ずれを
   表わす他の信号（Ｓｒ）を導出する如くしたことを特徴
   とする記録担体の光学読取装置。 ２、前記各補助スポット（Ｖ＿２、Ｖ＿３）が形成され
   る位置は、前記読取スポット（Ｖ＿１）の中心より読取
   るべきトラックの横方向に離隔しており、かつ前記他の
   信号は前記読取スポットの中心と、読取るべきトラック
   の中心との間のずれを表わす如く補助ダイオードレーザ
   を第１ダイオードレーザに対し配置したことを特徴とす
   る特許請求の範囲第１項記載の記録担体の光学読取装置
   。 ３、前記各補助ビーム（ｂ＿２、ｂ＿３）が焦点を形成
   する位置（Ｖ＿２、Ｖ＿３）は、前記読取ビーム（ｂ＿
   １）の焦点形成位置（Ｖ＿１）より読取ビームの軸に平
   行な方向に離隔しており、かつ前記他の信号は前記焦点
   形成手段の焦点面の所望位置よりのずれを表わす如く補
   助ダイオードレーザを第１ダイオードレーザに対し配置
   したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の記録
   担体の光学読取装置。