JPS6383281A - 無電解めつき浴 - Google Patents

無電解めつき浴

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JPS6383281A
JPS6383281A JP22765486A JP22765486A JPS6383281A JP S6383281 A JPS6383281 A JP S6383281A JP 22765486 A JP22765486 A JP 22765486A JP 22765486 A JP22765486 A JP 22765486A JP S6383281 A JPS6383281 A JP S6383281A
Authority
JP
Japan
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bath
plating bath
mol
magnetic
plating
Prior art date
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Pending
Application number
JP22765486A
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English (en)
Inventor
Fumio Goto
文男 後藤
Takehiko Yamamoto
山本 武彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Publication of JPS6383281A publication Critical patent/JPS6383281A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/31Coating with metals
    • C23C18/32Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron
    • C23C18/34Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron using reducing agents

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は磁気ディスク等の磁気記録体に用いられる磁気
記録媒体(磁性膜)を作製するための無電解めっき浴に
関するものである。
(従来の技術) 近年、高密度磁気記録媒体として、記憶媒体がめつき法
により作製されためつき磁気ディスク、めっき磁気ドラ
ム等が用いられ始めた。これらの磁気記録体の記憶媒体
に要求される基本的特性は保磁力(He)、残留磁束密
度(Br)、角形成(Br/BsBsは飽和磁束密度)
等の磁気特性及び膜厚(δ)である。これらの値は、磁
気記録体が用いられる磁気記録装置の種類により決まり
、記録密度及び出力との間にはおよそ次の様な関係があ
る。
(記録密度)−(Hc/Br−δ)1/2     −
(1)(出力)−(Br−δ、HC)1/2     
   − (2)従って、記録密度及び出力を増大させ
て磁性膜の高性能化をはかるにはHeを増大させ磁性膜
の減磁を減少させる必要がある。
ところで、これまで磁気記録体としては、酸化鉄磁性粉
と有機樹脂バインダーの混合物を基体上に塗布した塗布
型媒体が広く用いられてきた。塗布型媒体では磁性粉が
酸化物であるため化学的に安定であるという特長があっ
゛た。これに対し、めっき法による金属磁性膜は外部環
境等によっては腐食を生じる可能性がある。このため磁
性膜の表面に保護膜が形成されるが、十分な防食効果を
得るため保護膜厚を増加した場合には高密度磁気記録体
として適さなくなる。従って磁性膜自身の耐食性を向上
させることが望まれている。
磁性膜を製造するための無電解めっき浴種としては従来
、酒石酸あるいはクエン酸を錯化剤として用いた無電解
めっき浴が検討されてきた。これらは、一般にコバルト
塩、還元剤、酒石酸あるいはクエン酸の錯化剤のほか各
種添加剤を含むめっき液を、アンモニア水または苛性ア
ルカリ溶液を用いてpH調節した浴である。代表的な浴
として、錯化剤およびpH調節剤の種類により、アンモ
ニアアルカリ酒石酸浴(以下A−T浴とよぷ゛)、アン
モニアアルカリクエン酸浴(以下A−C浴とよぶ)、苛
性アルカリ酒石酸浴(以下C−T浴とよぷ゛)およびア
ルカリクエン酸浴(以下C−C浴とよぶ)の4種が知ら
れている。
(金属表面技術、第23巻、第7号、p406〜415
゜1972年) (発明が解決しようどする問題点) 酒石酸を錯化剤とするA−T浴またはC−T浴では、高
保磁力の磁性膜が比較的得られ易いが、酒石酸の錯化力
が弱いためにめっき浴が分解しやすく、浴の長期安定性
に問題があった。
クエン酸を錯化剤とA−C浴またはC−C浴では、錯化
力の強いクエン酸を用いているため浴の安定性に優れて
いるが、高保磁力で角形性の良好な磁性膜を得ることが
困難であった。A−C浴、C−C浴で高保磁力膜が得ら
れることもあるが、クエン酸の錯化力が非常に強いため
浴中にクエン酸を少量しか加えることができず、このた
め得られる磁気特性の再現性は極めて乏しかった。
一方、これら磁性膜の耐食性に関する報告は殆どなされ
ていないが、磁気記録体に適用した場合いずれも耐食性
が不十分であり、実用上の耐候性を満足するためには高
記録密度特性を損なう程度の厚い保護膜を要するのが実
情であった。
本発明の目的は、従来の問題を改善して、高保磁力で耐
食性の良好な磁性膜を安定に作製し得る無電解めっき浴
を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明による無電解めっき浴は、金属イオンとして少な
くともコバルトイオンを含み、添加剤として少なくとも
前記金属イオンの還元剤を含む水溶液に前記金属イオン
の錯化剤として少なくとも酒石酸基およびマロン酸基を
含むことを特徴としている。
本発明による無電解めっき浴の主要成分としては、金属
イオンとして少なくともコバルトイオン還元剤としての
次亜リン酸塩、水素化ホウ素化合物等、錯化剤として少
なくとも酒石酸基およびマロン酸基を含むが、本発明の
目的、効果を損なわない範囲において、pH緩衝剤、光
沢剤、平滑剤、励起剤、ピンホール防止剤、界面活性剤
等の添加剤が用いられることがある。
コバルトイオンは、コバルトの硫酸塩、塩化塩、酢酸塩
などの可溶性塩を無電解めっき浴中に溶解することによ
って供給される。コバルトイオンの濃度は、0.005
〜1mol/1の範囲が用いられるが、好ましくは0.
01〜0.18mol/lの範囲である。
本発明において用いられる金属イオンとしては、Coを
主成分とするが、少量のFe、Ni、Mg、Al、Ru
Si、Ti、Vρr、Cu、Zn、Ga、Ge、Mo、
Rh、Mn、Pd、Ag、Au、Pt、Sn。
Te、Ba、Ce、Pr、Sm、Re、W、Os、Pb
、Bi等のイオンが含まれていてもよく、これらのイオ
ンはそれぞれの可溶性塩によって供給される。めっき膜
11月こはこれらの金属のほか、還元剤の種類によって
P、Bなど添加剤の種類によってはC,N、O,S、A
s等の非金属が含有されることがある。
還元剤としては、次亜リン酸塩、水素化はう素 。
化合物、ヒドラジン、ジメチルアミンボランおよびこれ
らの誘導体の1種または2種以」二が、0.01〜0.
8m、ol/1、好ましくは0.05〜0.3 mol
/1の範囲で用いられる。
錯化剤として少なくとも酒石酸基およびマロン酸基が使
用される。酒石酸基は、酒石酸または酒石酸の可溶性塩
が0.001〜3.0mol/Iの範囲で用いられるが
、0.1〜1.0mol/1の範囲が好ましく、またマ
ロン酸基はマロン酸またはマロン酸の可溶性塩が0.0
02〜4.Omo1/1の範囲で用いられるが、0.1
〜2.5mol/lの範囲が好ましい。
pH緩衝剤としてはアンモニウム塩、炭酸塩、有機酸塩
などが使用され、硫酸アンモニウム、塩化アンモニウム
、ホウ酸等を用いることが好ましい。濃度範囲は0.0
1〜3mol/l、好ましくは0.03−1mol/]
が用いられる。
pH調節剤としては、アンモニアまたは苛性アルカリと
してNaOH,LiOH,KOH,RbOH。
CsOH,Fr(OH)、Be(OH)2.Mg(OH
)2.Ca(OH)2.Sr(OH)2゜Ba(OH)
2.Ra(OH)2等の金属の水酸化物が、1種または
2種以」二を組み合わせて用いられる。
通常、pH調節剤を加えない建浴前のめつき液はほぼ中
性ないし酸性域にあり、前記pH調節剤を加えてアルカ
リ性にpH調節される。所要のpHを上回った場合、p
H降下には、塩酸、硫酸、硝酸、酢酸等の酸が用いられ
る。pH範囲は4〜14.5、好ましくは8.5〜11
.5の間で゛用いられる。
磁性膜厚は、0.005〜5pmの範囲が用いられるが
、高密度記録用には0.2pm以下が好ましい。
磁性膜を形成する基板としては通常金属基板が用いられ
るが、適当な活性化処理により非金属基板にも適用でき
る。
(作用) 無電解めっき浴において錯化剤の果たす役割は重要であ
る。錯化剤の錯化力が弱すぎるとめっき浴は自己分解し
易く、浴寿命を長く保つことができない。また、錯化剤
の錯化力が強すぎると金属イオンの還元析出が困難とな
り、めっき反応を進行させることができなくなる。無電
解めっき浴において錯化剤を用いる本来の目的は、適度
の錯化力の錯化剤を用いてめっき浴の安定化を図ること
にあるが、析出皮膜の磁気特性、電気特性、耐食性等の
緒特性にも影響することが明らかになりつつある。そこ
で発明者等は広範囲に各種錯化剤の検討を行なった結果
、本発明において用いている酒石酸基およびマロン酸基
の組み合わせにより適度な錯化力が得られ、高保磁力で
耐食性の良好な磁性膜を安定に作製し得ることが見いだ
された。
錯化剤と磁気特性、耐食性の関係は現在のところ理論的
に明らかになっていないが、本発明において得られる効
果は次のことによると考えられる。
先ず、めっき浴中に酒石酸基を含むことにより高保磁力
の磁性膜が得られるが、浴の安定性が十分でないことが
見いだされた。めっき浴中にマロン酸基を含むと浴の安
定性が向」ニすることが分かった。そこで、めっき浴l
:1月こ酒石酸基およびマロン酸基を加えたところ、こ
れらの効果に加えて耐食性も向」ニする相乗効果のある
ことが見いだされた。本発明は、このような知見を得た
ことによりもたらされただものである。
次に具体的に実施例および比較例により本発明を説明す
る。
(比較例1) アルミ合金基板上に非磁性N1−P層をめっきし、表面
を鏡面研磨した後その上に下記のめつき浴およびめっき
条件にて膜厚0.1pmのCo−P合金磁性膜を形成し
た。
めっき浴 硫酸コバルト        0.06 mol/1次
亜リン酸ナトリウム    0.29 mol−/1酒
石酸ナトリウム   0.05〜0.8 mol/1硫
酸アンモニウム      0.4 mol/1めっき
条件 浴温80°C めっき浴のpH9,0(室温にてNH4QHでpH調節
)得られた磁性膜のHeと耐食性を振動試料式磁力計を
用いて測定した。ここで耐食性は、磁性めっきした試料
を純水中に20時間浸漬し、浸漬後の飽和磁束密度(B
s)の浸漬前に対する割合耐食性=Bs(浸漬後)/B
s(浸漬前)で比較した。
浴中の酒石酸ナトリウム濃度とHeおよび耐食性の関係
を第4図に示す。Hcは酒石酸ナトリウム濃度0.05
mol/1で2100eであるが濃度増加とともに増大
し、0.5mol/1では8400eとなりその後減少
した。耐食性は、酒石酸ナトリウム濃度にそれほど依存
せず0,6以下の低い値であった。
本比較例で用いためっき浴は、浴の安定性に問題があっ
た。pH調節しためっき浴を80°Cに昇温すると、約
20分後がちめっき容器壁面がらも析出を生じ始め、時
間経過とともにそれが増加し、加温数時間でめっき浴の
自己分解に至った。
本比較例のように酒石酸を錯化剤としためっき浴では磁
性膜を安定に再現性良く得ることが困難であった。
(比較例2) 比較例と同様の手順で磁性薄膜のめっきを行なったが、
本実施例では下記のめっき浴およびめっき条件を用いた
めっき浴 硫酸コバルト        0.08 mol/1次
亜リン酸ナトリウム    0.25 mol/1マロ
ン酸ナトリウム   0.1〜1.5  mol/1硫
酸アンモニウム      0.5 mo+1/1めっ
き条件 浴温85°C めっき浴ノpH9,1(室温にてNH40H1”pH調
節)こうして得られる磁性膜のHeと耐食性を比較例1
と同様にして調べた結果を第5図に示す。Heはマロン
酸ナトリウム濃度0.1mol/1で1100eであり
、濃度増加とともに増大するが、1.1mol/lで最
大値3800eをとるにすぎなかった。耐食性は、マロ
ン酸ナトリウム濃度にそれほど依存せず0.63以下の
低い値であった。
本実施例で用いたマロン酸ナトリウム濃度0.5mol
/1以上のめっき浴は、比較例1に比べて浴の安定性が
向上していた。pH調節しためっき浴を80’Cに昇温
し、10時間経過してもめっき容器壁面がら析出を生し
ることはなく、25時間加温後もめっき浴が自己分解す
ることはなかった。
本比較例のようにマロン酸を錯化剤とした浴では、めっ
き浴の安定性は比較的良いが、Heの値が小さかった。
(実施例1) 比較例と同様の手順で磁性膜のめっきを行なったが、本
実施例では下記のめっき浴およびめっき条件を用いた。
めっき浴 硫酸コバルト        0.07 mol/1次
亜リン酸ナトリウム    0.15 mol/1酒石
酸ナトリウム   0.05〜1.Omol/1マロン
酸ナトリウム     0.7 mol/1硫酸アンモ
ニウム      0.5 mol/1めっき条件 浴温80°C めっき浴のpH9,5(室温にてNH4OHでpH調節
)こうして得られる磁性膜のHeと耐食性を比較例1と
同様にして調べた結果を第1図に示す。Heは酒石酸ナ
トリウム濃度0.05mol/1で4500eであるが
、濃度増加とともに増大するが、0.5mol/1では
7900eとなった。耐食性は、酒石酸ナトリウム濃度
にそれほど依存しないが、0.87以上の高い値であっ
た。
本実施例で用いためっき浴は、比較例1に比べて浴の安
定性が向」ニしてい、た。pH調節しためっき浴を80
°Cに昇温し、20時間経過してもめっき容器壁面から
析出を生じることはなく、50時間加温後もめっき浴が
自己分解することはなかった。
また、本実施例のめっき浴は得られる磁性膜の再現性に
も優れ、1日8時間繰り返し20日間以上の使用が可能
であった。
(実施例2) 比較例と同様の手順で磁性膜のめっきを行なったが、本
実施例では下記のめっき浴およびめっき条件を用いた。
めっき浴 硫酸コバルト        0.05 mol/1次
亜リン酸ナトリウム    0.20 mol/1酒石
酸ナトリウム      0.5 mo1月マロン酸ナ
トリウム   0.1〜2.0 mol/1硫酸アンモ
ニウム      0.4 mol/1めっき条件 浴温80°C めっき浴(7)pH9,5(室温1.:てNH4OHで
pH調節)こうして得られる磁性膜のHeと耐食性を比
較例1と同様にして調べた結果を第2図に示す。Heは
マロン酸ナトリウム濃度0.1mol/lで6100e
であるが、濃度増加とともに増大するが、1.2mol
/lでは8300eとなった。耐食性は、マロン酸ナト
リウム濃度にそれほど依存しないが、0.88以上の高
い値であった。
本実施例で用いためっき浴は、比較例1に比べて浴の安
定性が向上していた。pH調節しためっき浴を80°C
に昇温し、18時間経過してもめっき容器壁面から析出
を生じることはなく、45時間加温後もめっき浴が自己
分解することはなかった。
また、本実施例のめっき浴は得られる磁性膜の再現性に
も優れ、1日8時間繰り返し20日間以」二の使用が可
能であった。
(実施例3) 比較例と同様の手順で磁性膜のめっきを行なったが、本
実施例では下記のめっき浴およびめっき条件を用いた。
めっき浴 硫酸コバルト        0.04 mol/1次
亜リン酸ナトリウム    0.28 mol/1酒石
酸ナトリウム    0.3〜1.5  molΔマロ
ン酸ナトリウム     0.9 mol/1硫酸アン
モニウム      0.6 mol/1めっき条件 浴温80°C めっき浴のpH9,0(室温にてNH4OHでpH調節
)こうして得られる磁性膜のHeと耐食性を比較例1と
同様にして調べた結果を第3図に示す。Heは酒石酸ナ
トリウム濃度0.3mol/1で6500eであるが、
濃度増加とともに増大するが、0.6mol/1ではほ
ぼ7000e前後の値となった。耐食性は、酒石酸ナト
リウム濃度にそれほど依存しないが、0.91以上の高
い値であった。
本実施例で用いためっき浴は、比較例1に比べて浴の安
定性が向上していた。pH調節しためっき浴を80°C
に昇温し、25時間経過してもめっき容器壁面から析出
を生じることはなく、60時間加温後も。
めっき浴が自己分解することはなかった。
また、本実施例のめっき浴は得られる磁性膜の再現性に
も優れ、1日8時間繰り返し20日間以上の使用が可能
であった。
(発明の効果) 以上、比較例および実施例で示されたように、本発明に
よれば、金属イオンとして少なくともコバルトイオン、
添加剤として少なくともこれら金属イオンの還元剤を含
む水溶液に前記金属イオンの還元剤として少なくとも酒
石酸基およびマロン酸基を添加することにより、高保磁
力で耐食性の良好な磁性膜を安定に作製し得る無電解め
っき浴が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図および第3図は、それぞれ実施例1.2
および3において、本発明の無電解めっき浴より得られ
る磁性膜のHeと耐食性が錯化剤濃度とともに変化して
いく様子を示す図である。第4図および第5図は、それ
ぞれ比較例1および2において用い(1’f3>7’ 第1図 酒石酸ナトリウム (mol/l) 第  2  図 マロン酸ナトリウム (mol/ l )第  3  
図 酒石酸ナトリウム (mol / l )第  4  
図 0  0.5  1.0 酒石酸ナトリウム (mol / l )第  5  

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 金属イオンとして少なくともコバルトイオンを含み、添
    加剤として少なくともこれら金属イオンの還元剤を含む
    水溶液に前記金属イオンの錯化剤として少なくとも酒石
    酸基及びマロン酸基を含むことを特徴とする無電解めっ
    き浴。
JP22765486A 1986-09-25 1986-09-25 無電解めつき浴 Pending JPS6383281A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04143282A (ja) * 1990-10-05 1992-05-18 Univ Waseda 無電解めっき浴
US8230566B2 (en) 2008-06-18 2012-07-31 Kuritakoki Co., Ltd. Sleeve puller

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04143282A (ja) * 1990-10-05 1992-05-18 Univ Waseda 無電解めっき浴
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