JPS636775A - 薄膜el素子の製造方法 - Google Patents
薄膜el素子の製造方法Info
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- JPS636775A JPS636775A JP61149033A JP14903386A JPS636775A JP S636775 A JPS636775 A JP S636775A JP 61149033 A JP61149033 A JP 61149033A JP 14903386 A JP14903386 A JP 14903386A JP S636775 A JPS636775 A JP S636775A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔J!要〕
−)膜EL素子の製造方法の改良であり、薄膜EL素子
の発光効率・輝度特性を向上する改良である。
の発光効率・輝度特性を向上する改良である。
母材をなす硫化亜鉛中に発光中心として添加される希土
類元素とハロゲン元素との組成比を制御することにより
、硫化亜鉛を母材とし希土類元素のハロゲン化物を発光
中心とする薄膜EL素子の発光効率・輝度を制御しうる
、という新たに発見された性質を利用して、希土類元素
と/Xロゲン元素との組成比を化学量論的組成比に比し
希土類元素の1組成比を大きく11発光効率・輝度特性
を向上する薄膜EL素子を製造する方法の改良であり、
F&化亜鉛と、希土類元素の硫化物例えば硫化テルビュ
ウムと、亜鉛のハロゲン化物例えばフッ化亜鉛とを、独
立のソースとしてなすスパッタリング法または真空蒸若
法を使用してEL膜を形成することを特徴とする薄膜E
L素子の製造方法である。
類元素とハロゲン元素との組成比を制御することにより
、硫化亜鉛を母材とし希土類元素のハロゲン化物を発光
中心とする薄膜EL素子の発光効率・輝度を制御しうる
、という新たに発見された性質を利用して、希土類元素
と/Xロゲン元素との組成比を化学量論的組成比に比し
希土類元素の1組成比を大きく11発光効率・輝度特性
を向上する薄膜EL素子を製造する方法の改良であり、
F&化亜鉛と、希土類元素の硫化物例えば硫化テルビュ
ウムと、亜鉛のハロゲン化物例えばフッ化亜鉛とを、独
立のソースとしてなすスパッタリング法または真空蒸若
法を使用してEL膜を形成することを特徴とする薄膜E
L素子の製造方法である。
本発明は、薄膜EL素子の発光効率・輝度特性を向上す
ることを可1敵にする薄膜EL素子の製造方法の改良に
関する。特に、希土類元素とノ\ロゲン元素との組成比
を化学量論的組成比に比し冷土類元素の組成比を大きく
シ1発光効率番輝度特性を向上する薄膜EL素子の製造
方法の改良に関する。
ることを可1敵にする薄膜EL素子の製造方法の改良に
関する。特に、希土類元素とノ\ロゲン元素との組成比
を化学量論的組成比に比し冷土類元素の組成比を大きく
シ1発光効率番輝度特性を向上する薄膜EL素子の製造
方法の改良に関する。
薄膜EL素子は発光中心としてa脂する希土類元素例え
ばテルビュウム、サマリュウム、ツリュウム、プラセオ
ジュウム等とl\ロゲン元素例えばフッ素、塩素等とを
含有する硫化亜鉛等のけい光体の多結晶薄膜に電界を印
加し、エレクトロルミネッセンス現象にもとづいて発光
させる発光素子であり、従来第2図に示すような直流駆
動型と第3図に示すような交流駆動型とが知られている
。
ばテルビュウム、サマリュウム、ツリュウム、プラセオ
ジュウム等とl\ロゲン元素例えばフッ素、塩素等とを
含有する硫化亜鉛等のけい光体の多結晶薄膜に電界を印
加し、エレクトロルミネッセンス現象にもとづいて発光
させる発光素子であり、従来第2図に示すような直流駆
動型と第3図に示すような交流駆動型とが知られている
。
第2図参照
直流駆動型の薄膜EL素子にあっては、ガラス基板等l
上に、ITO等よりなり厚さが約2,000人の透11
電極2が形成され、その上に発光中心として機能する希
土類元素例えばテルビニウムとハロゲン元素例えばフッ
素とを含有する硫化亜鉛等よりなるEL膜4が形成され
、さらGこ、その上にアルミニュウム等よりなる対向電
極6が形成されている。
上に、ITO等よりなり厚さが約2,000人の透11
電極2が形成され、その上に発光中心として機能する希
土類元素例えばテルビニウムとハロゲン元素例えばフッ
素とを含有する硫化亜鉛等よりなるEL膜4が形成され
、さらGこ、その上にアルミニュウム等よりなる対向電
極6が形成されている。
第3図参照
交流駆動型の薄膜EL素子にあっては、上記の第2図に
示す層構成に加えて、EL膜4を挟んで酸窒化シリコン
、酸化アルミニュウム、酸化イ7トリュウム等よりなり
厚さが約 2.000人のmlの絶縁膜3と第2の絶縁
膜5とが形成されている。
示す層構成に加えて、EL膜4を挟んで酸窒化シリコン
、酸化アルミニュウム、酸化イ7トリュウム等よりなり
厚さが約 2.000人のmlの絶縁膜3と第2の絶縁
膜5とが形成されている。
ところで、発光中心としてntmする希土類元素のうち
、テルビニウムは緑色を、サマリュウムは赤色を、ツリ
ュウムは9色を、プラセオジュウムは白色を、それぞれ
発光するが、その発光効率−輝度は、テルビニウムを除
き、いづれも満足すべきものではない、最もすぐれてい
るテルビニウムにおいても1発光効率は0.1−0.2
ルーメン/Wであり、また、輝度は30フートラン八−
トであり、いづれも十分満足すべきものとは言い難く、
しかも、再現性が悪い。
、テルビニウムは緑色を、サマリュウムは赤色を、ツリ
ュウムは9色を、プラセオジュウムは白色を、それぞれ
発光するが、その発光効率−輝度は、テルビニウムを除
き、いづれも満足すべきものではない、最もすぐれてい
るテルビニウムにおいても1発光効率は0.1−0.2
ルーメン/Wであり、また、輝度は30フートラン八−
トであり、いづれも十分満足すべきものとは言い難く、
しかも、再現性が悪い。
この問題を解決する手段として1本発明の発Ij′1者
は、EL膜に含まれる希土類元素とl\ロゲン元素との
組成比と発光効率・輝度特性との間に相関関係があり、
希土類元素の原子数とノ\ロゲン元素の原子数とが同一
の場合、最もすぐれた発光効率・輝度を実現することが
でき、EL脱膜中含有される希土類元素とハロゲン元素
との組成比を少なくとも化学量論的組成比に比べて希土
類元素の組成比を大きくしておくことが有効であること
を発見して、発光効率・輝度特性のすぐれた薄膜EL素
子を製造する方法の発明を完成した。
は、EL膜に含まれる希土類元素とl\ロゲン元素との
組成比と発光効率・輝度特性との間に相関関係があり、
希土類元素の原子数とノ\ロゲン元素の原子数とが同一
の場合、最もすぐれた発光効率・輝度を実現することが
でき、EL脱膜中含有される希土類元素とハロゲン元素
との組成比を少なくとも化学量論的組成比に比べて希土
類元素の組成比を大きくしておくことが有効であること
を発見して、発光効率・輝度特性のすぐれた薄膜EL素
子を製造する方法の発明を完成した。
上記せる発明に係る薄膜EL素子の製造方法の一つとし
て、亜鉛と硫黄と希土類元素とノ\ロゲン元素とを所望
の混合比に有する複合ターゲットを使用してなすスパッ
タ法を使用しうる0例えば、硫化亜鉛とテルビニウムと
二フッ化亜鉛とを100: 3 : 1重量比に含有す
る複合ターゲットを使用してなすスパッタ法を使用しう
る。
て、亜鉛と硫黄と希土類元素とノ\ロゲン元素とを所望
の混合比に有する複合ターゲットを使用してなすスパッ
タ法を使用しうる0例えば、硫化亜鉛とテルビニウムと
二フッ化亜鉛とを100: 3 : 1重量比に含有す
る複合ターゲットを使用してなすスパッタ法を使用しう
る。
この製造方法をもっても、希土類元素とI\ロゲン元素
との組成比が同一ですぐれた発光効率・輝度特性を有す
る薄膜EL素子の製造は可能であるが、上記せる複合タ
ーゲット(亜鉛と硫黄と希土類元素とハロゲン元−とを
所望の混合比に有する複合ターグー2ト)を製造するこ
とは煩雑であり、また、容易でもないうえ、硫化亜鉛の
スパッタレートと希土類元素のスパッタレートとハロゲ
ン元素のスパッタレートとが大幅に相違するため、EL
膜に含まれる硫化亜鉛、希土類元素、ハロゲン元素の組
成比がHさ方向に不均一になり、要すれば、十分な厚さ
のELMを再現性よく製造することが容易でなく、また
1発光効率・輝度が予期したほど向上しない場合もある
という欠点がある。
との組成比が同一ですぐれた発光効率・輝度特性を有す
る薄膜EL素子の製造は可能であるが、上記せる複合タ
ーゲット(亜鉛と硫黄と希土類元素とハロゲン元−とを
所望の混合比に有する複合ターグー2ト)を製造するこ
とは煩雑であり、また、容易でもないうえ、硫化亜鉛の
スパッタレートと希土類元素のスパッタレートとハロゲ
ン元素のスパッタレートとが大幅に相違するため、EL
膜に含まれる硫化亜鉛、希土類元素、ハロゲン元素の組
成比がHさ方向に不均一になり、要すれば、十分な厚さ
のELMを再現性よく製造することが容易でなく、また
1発光効率・輝度が予期したほど向上しない場合もある
という欠点がある。
本発明はこれらの欠点を解消するものであり、その目的
は、特殊なソースを使用する必要が全くなく1発光効率
−輝度特性がすぐれており、しかも、再現性よく十分な
厚さく駆動電圧を十分大きくすれば輝度を極めて大Sく
するに十分な厚さ)のEL膜を製造することができるt
iIMEL素子の製造方法を提供することにある。
は、特殊なソースを使用する必要が全くなく1発光効率
−輝度特性がすぐれており、しかも、再現性よく十分な
厚さく駆動電圧を十分大きくすれば輝度を極めて大Sく
するに十分な厚さ)のEL膜を製造することができるt
iIMEL素子の製造方法を提供することにある。
上記の目的を達成するために本発明が採った手段は、硫
化亜鉛と、希土類元素の硫化物と。
化亜鉛と、希土類元素の硫化物と。
亜鉛のハロゲン化物との3種の物質を独立の3個のソー
スとして使用してなす堆積法を使用し。
スとして使用してなす堆積法を使用し。
これら3個のソースの堆積レートを独立に制御して、E
L膜を形成することにある。堆積法としては、真空蒸着
法またはスパッタリング法が適当である。換言すれば、
最も容易に入手しうる3種の物質、すなわち、硫化亜鉛
と、希土類元素の硫化物例えば三硫化二テルビュウムと
、亜鉛のハロゲン化物例えば二フッ化亜鉛とを、3個の
独立したソースとして使用し、各ソースに印加するパワ
ーを制御する等して各ソースの堆積レートを独立に制御
し、さらに、必要とあれば、各ソースと被堆積基板との
間にスリット等飛行物体j!蔽手段を設けて堆積レート
の微細制御をoT能として、各ソースの構成物質が所望
の量だけ堆積するようにしてEL模膜中含まれる希土類
元素の原子数とハロゲン元素の原子数とを同一にするも
のである。
L膜を形成することにある。堆積法としては、真空蒸着
法またはスパッタリング法が適当である。換言すれば、
最も容易に入手しうる3種の物質、すなわち、硫化亜鉛
と、希土類元素の硫化物例えば三硫化二テルビュウムと
、亜鉛のハロゲン化物例えば二フッ化亜鉛とを、3個の
独立したソースとして使用し、各ソースに印加するパワ
ーを制御する等して各ソースの堆積レートを独立に制御
し、さらに、必要とあれば、各ソースと被堆積基板との
間にスリット等飛行物体j!蔽手段を設けて堆積レート
の微細制御をoT能として、各ソースの構成物質が所望
の量だけ堆積するようにしてEL模膜中含まれる希土類
元素の原子数とハロゲン元素の原子数とを同一にするも
のである。
本発明は、EL膜4が上下の絶縁M3.5によって挟ま
れていない直流駆動型の薄膜EL素子にも、また、EL
II!I4が上下の絶縁M3,5によって挟まれている
交流駆動型の薄膜EL素子にも実現可能である。
れていない直流駆動型の薄膜EL素子にも、また、EL
II!I4が上下の絶縁M3,5によって挟まれている
交流駆動型の薄膜EL素子にも実現可能である。
〔作用〕 。
本発明の基本的思想は、硫化亜鉛を母材とし。
希土類元素とハロゲン元素とが発光中心として添加され
てなるEL膜に含まれる希土類元素とハロゲン元素との
組成比を1:lにすることにある。
てなるEL膜に含まれる希土類元素とハロゲン元素との
組成比を1:lにすることにある。
希土類元素とハロゲン元素の組成比をl=1に制御する
には、それぞれが独立に制御しうろことが有効であるこ
とは明らかである。しかも、 MM分が過小になりやす
いという欠点もあるから。
には、それぞれが独立に制御しうろことが有効であるこ
とは明らかである。しかも、 MM分が過小になりやす
いという欠点もあるから。
希土類元素の硫化物とハロゲン元素と亜鉛との化合物と
、硫化亜鉛とを、3種の独立のソースとし、これらのそ
れぞれの堆積レート(印加電圧)を独立に制御すること
としたものである。さらに、希土類元素の硫化物は例え
ば三硫化二テルビュウムのようにT&黄分が多く、−方
、ハロゲン元素と亜鉛との化合物は例えば二フッ化亜鉛
のように亜鉛分が少ないので、硫黄分が過小になる欠点
も防止することができ、これらが総合的に機能して、希
土類元素とハロゲン元素との組成比がl:1であり、良
好な膜質のEL膜を製造することができる。
、硫化亜鉛とを、3種の独立のソースとし、これらのそ
れぞれの堆積レート(印加電圧)を独立に制御すること
としたものである。さらに、希土類元素の硫化物は例え
ば三硫化二テルビュウムのようにT&黄分が多く、−方
、ハロゲン元素と亜鉛との化合物は例えば二フッ化亜鉛
のように亜鉛分が少ないので、硫黄分が過小になる欠点
も防止することができ、これらが総合的に機能して、希
土類元素とハロゲン元素との組成比がl:1であり、良
好な膜質のEL膜を製造することができる。
本発明に係る薄膜EL素子の製造方法を使用して、製造
した薄膜ELJ子の輝度(1KH2で駆動するとき発光
しきい電圧を30V超過する電圧に対する輝度)は、第
4図及び第5図に示すように、従来技術の約5倍に向上
して、約200フートランバートとなっている。
した薄膜ELJ子の輝度(1KH2で駆動するとき発光
しきい電圧を30V超過する電圧に対する輝度)は、第
4図及び第5図に示すように、従来技術の約5倍に向上
して、約200フートランバートとなっている。
以下、図面を参照しつ一1本発明の二つの実施例に係る
薄11QEL素子の製造方法についてさらに説明する。
薄11QEL素子の製造方法についてさらに説明する。
追」−例
硫化亜鉛と、三酸化二テルビュウムと、二フフ化亜鉛と
の3種の物質を3個の独立のソースとする真空蒸着法を
使用してEL膜を形成する。交流駆動型薄膜EL素子の
製造方法について述べる。
の3種の物質を3個の独立のソースとする真空蒸着法を
使用してEL膜を形成する。交流駆動型薄膜EL素子の
製造方法について述べる。
第1a図参照
スパッタ法を使用して、ガラス基板l上に厚さ約2,0
00人のITO膜よりなる透光性電極2と酸化アルミニ
ュウムよりなり厚さ約2,0OOAの第1の絶縁膜3と
を形成する。
00人のITO膜よりなる透光性電極2と酸化アルミニ
ュウムよりなり厚さ約2,0OOAの第1の絶縁膜3と
を形成する。
つづいて、上記のソースを使用して厚さが約 s、oo
o人の膜を真空ノに着する。このとき、各ソースに印加
するパワーを制御して、EL脱膜中導入されるテルビュ
ウムの原子数とフッ素の原子数とが同一になるように、
それぞれの堆積レートを制御する。すなわち、例えば、
硫化亜鉛の堆積レートは300人/分、三酸化二テルビ
ュウムの堆積レートは5人/分、ニフッ化亜鉛の堆積レ
ートは3人/分とする。基板温度は約230”Cが適昌
である。その後、約450’0において約1時間熱処理
をなしEL膜4を形成する。
o人の膜を真空ノに着する。このとき、各ソースに印加
するパワーを制御して、EL脱膜中導入されるテルビュ
ウムの原子数とフッ素の原子数とが同一になるように、
それぞれの堆積レートを制御する。すなわち、例えば、
硫化亜鉛の堆積レートは300人/分、三酸化二テルビ
ュウムの堆積レートは5人/分、ニフッ化亜鉛の堆積レ
ートは3人/分とする。基板温度は約230”Cが適昌
である。その後、約450’0において約1時間熱処理
をなしEL膜4を形成する。
次に、@子ビーム蒸着法を使用して、酸化イットリュウ
ムよりなり厚さが約2,000人の第2の絶縁膜5を形
成し、さらに、蒸着法またはスパッタ法を使用してアル
ミニュウムよりなる対向電極(背面電極)6を形成する
。
ムよりなり厚さが約2,000人の第2の絶縁膜5を形
成し、さらに、蒸着法またはスパッタ法を使用してアル
ミニュウムよりなる対向電極(背面電極)6を形成する
。
以上の工程をもって製造した薄膜EL素子のE L f
J’J 4に含まれるテルビュウムの原子数とフッ素の
原子数とは、お−むね同一である。その輝度(1KHz
で駆動するとき発光しきい電圧を30V超過する電圧に
対する輝度)は、第4図(本実施例を実施して製造した
交流駆動型薄膜EL素子の輝度対電圧関係を従来技術の
輝度対電圧関係とを比較して表すグラフ)に従来技術と
比較して示しであるように、大幅に向上している。なお
1図においてAは木実施例の値を示し、Bは従来技術の
伯を示す0図より明らかなように1発光効率と輝度(1
KHzで駆動するとき発光しきい電圧を30V超過する
電圧に対する輝度)はそれぞれlルーメン/Wと 20
07−トランバートとに向上する。
J’J 4に含まれるテルビュウムの原子数とフッ素の
原子数とは、お−むね同一である。その輝度(1KHz
で駆動するとき発光しきい電圧を30V超過する電圧に
対する輝度)は、第4図(本実施例を実施して製造した
交流駆動型薄膜EL素子の輝度対電圧関係を従来技術の
輝度対電圧関係とを比較して表すグラフ)に従来技術と
比較して示しであるように、大幅に向上している。なお
1図においてAは木実施例の値を示し、Bは従来技術の
伯を示す0図より明らかなように1発光効率と輝度(1
KHzで駆動するとき発光しきい電圧を30V超過する
電圧に対する輝度)はそれぞれlルーメン/Wと 20
07−トランバートとに向上する。
追」し例
硫化亜鉛と、三酸化二テルビュウムと、ニフッ化亜鉛と
の3種の物質を3個の独立のターゲットとするスパッタ
法を使用してELMを形成する。
の3種の物質を3個の独立のターゲットとするスパッタ
法を使用してELMを形成する。
交流駆動型薄膜EL素子を製造する場合について述べる
。
。
第1b図参照
第1例の場合と同様に、スパッタ法を使用して、ガラス
基板1上に厚さ約2,000人のITO膜よりなる透光
性電極2と酸化アルミニュウムよりなり厚さ約2,0O
OAの第1の絶縁膜3とを形成する。
基板1上に厚さ約2,000人のITO膜よりなる透光
性電極2と酸化アルミニュウムよりなり厚さ約2,0O
OAの第1の絶縁膜3とを形成する。
つづいて、上記のターゲットを使用して厚さ約8,00
0人のII!2をスパッタして形成する。このとき、各
ターゲットに印加するパワーを制御して。
0人のII!2をスパッタして形成する。このとき、各
ターゲットに印加するパワーを制御して。
EL脱膜中導入されるテルピュウムの原子数とフッ素の
原子数とが同一になるように、それぞれの堆IAレート
を制御する。すなわち、例えば、硫化亜鉛の堆積レート
は400A/分、三酸化二テルビュウムの堆積レートは
6へ/分、二フフ化亜鉛の堆積レートは4人/分とする
。基板温度は約300℃が適当である。その後、約45
0℃において約1時間熱処理をなしEL膜4を形成する
。
原子数とが同一になるように、それぞれの堆IAレート
を制御する。すなわち、例えば、硫化亜鉛の堆積レート
は400A/分、三酸化二テルビュウムの堆積レートは
6へ/分、二フフ化亜鉛の堆積レートは4人/分とする
。基板温度は約300℃が適当である。その後、約45
0℃において約1時間熱処理をなしEL膜4を形成する
。
次に、第1例の場合と同様に、電子ビーム蒸着法を使用
して、酸化イットリュウムよりなり厚さが約2,0OO
Aの第2の絶縁膜5を形成し、さらに、薄着法またはス
パッタ法を使用してアルミニュウムよりなる対向電極(
背面電極)6を形成する。
して、酸化イットリュウムよりなり厚さが約2,0OO
Aの第2の絶縁膜5を形成し、さらに、薄着法またはス
パッタ法を使用してアルミニュウムよりなる対向電極(
背面電極)6を形成する。
以上の工程をもって製造した薄膜EL素子のEL膜4に
含まれるチルどニウムの原子数とフッ素の原子数とは、
お−むね同一である。その輝度(IKHzで駆動すると
き発光しきい電圧を30V超過する電圧に対する輝度)
は、第5図(木実施例を実施して製造した交流駆動型薄
膜EL素子の輝度対電圧関係を従来技術の輝度対電圧関
係とを比較 。
含まれるチルどニウムの原子数とフッ素の原子数とは、
お−むね同一である。その輝度(IKHzで駆動すると
き発光しきい電圧を30V超過する電圧に対する輝度)
は、第5図(木実施例を実施して製造した交流駆動型薄
膜EL素子の輝度対電圧関係を従来技術の輝度対電圧関
係とを比較 。
して表すグラフ)に従来技術と比較して示しであるよう
に、大幅に向上している。なお1図においてAは本実施
例の値を示し、Bは従来技術の値を示す0図より明らか
なように1発光効率と輝〔発明の効果〕 以上説明せるとおり1本発明に係る薄膜EL素子の製造
方法においては、硫化亜鉛と、希土類元素の硫化物と、
亜鉛のハロゲン化物との3!fの物質を独立の3個のソ
ースとして使用してなす堆植法を使用し、これら3個の
ソースの堆請レートを独立に制御して、EL膜を形成す
ることとされているので、ELM中に含有される希土類
元素の原子数とハロゲン元素の原子数とはお−むね同一
とされ、すぐれた発光効率・輝度特性の薄8EL素子を
製造することができる。なお、本発明に係る薄膜EL素
子の製造方法によれば、ELvの発光効率−輝度特性を
、ある程度所望の値に制御しうるので1色彩画像を実現
すために有効である。
に、大幅に向上している。なお1図においてAは本実施
例の値を示し、Bは従来技術の値を示す0図より明らか
なように1発光効率と輝〔発明の効果〕 以上説明せるとおり1本発明に係る薄膜EL素子の製造
方法においては、硫化亜鉛と、希土類元素の硫化物と、
亜鉛のハロゲン化物との3!fの物質を独立の3個のソ
ースとして使用してなす堆植法を使用し、これら3個の
ソースの堆請レートを独立に制御して、EL膜を形成す
ることとされているので、ELM中に含有される希土類
元素の原子数とハロゲン元素の原子数とはお−むね同一
とされ、すぐれた発光効率・輝度特性の薄8EL素子を
製造することができる。なお、本発明に係る薄膜EL素
子の製造方法によれば、ELvの発光効率−輝度特性を
、ある程度所望の値に制御しうるので1色彩画像を実現
すために有効である。
また、特殊なソースを必要とすることもなく、十分な厚
さのEL膜を製造することができる。
さのEL膜を製造することができる。
第1a図は、本発明のmlの実施例に係る+81膜EL
素子の製造方法を使用して製造した交流駆動型薄膜EL
素子の構造図である。 第1b図は、本発明の第2の実施例に係る薄膜EL素子
の製造方法を使用して製造した交流駆動型薄膜EL素子
の構造図である。 第2図は、従来技術に係る直筺駆動型g膜EL素子のW
造図である。 第3図は、従来技術に係る交流駆動型薄膜ELI子の構
造図である。 第4図は1本発明の一実施例に係る薄膜EL素子の製造
方法を実施して製造した交流駆動型薄膜EL素子の輝度
(IKHzで駆動するとき発光しきい電圧を30V、t
fl遇する電圧に対する輝度)対電圧関係を従来技術の
輝度(IKHzで駆動するとき発光しきい電圧を30V
超過する電圧に吋する輝度)対電圧関係とを比較して表
すグラフである。 第5図は1本発明の他の実施例に係る薄膜EL1g子の
製造方法を実施して製造した交流駆動型薄膜EL素子の
輝度(IKHzで駆動するとき発光しきい電圧を30V
Jll過する電圧に対する輝度)対電圧関係を従来技術
の輝度(IKHzで駆動するとき発光しきい電圧を30
V超過する電圧に対する輝度)対電圧関係とを比較して
表すグラフである。 1・・−透光性基板(ガラス基板)。 2・・・透光性電極(ITO電極)。 3拳φΦ第1の絶縁膜(酸化窒化シリコン、酸化アルミ
ニュウム、酸化イットリュウム)。 4−・−EL膜(硫化亜鉛と希土類元素とハロゲン元素
との組成物)。 5・・・第2の絶縁膜(酸化窒化シリコン、酸化アルミ
ニュウム、酸化イットリュウム)。 6・・・対向電極(背面電極)。 第 2 図 従来技術 第3図 従来技術 第1a図 本発明 JEL(V) 第1b 図 本発明 を五(V) 第5図
素子の製造方法を使用して製造した交流駆動型薄膜EL
素子の構造図である。 第1b図は、本発明の第2の実施例に係る薄膜EL素子
の製造方法を使用して製造した交流駆動型薄膜EL素子
の構造図である。 第2図は、従来技術に係る直筺駆動型g膜EL素子のW
造図である。 第3図は、従来技術に係る交流駆動型薄膜ELI子の構
造図である。 第4図は1本発明の一実施例に係る薄膜EL素子の製造
方法を実施して製造した交流駆動型薄膜EL素子の輝度
(IKHzで駆動するとき発光しきい電圧を30V、t
fl遇する電圧に対する輝度)対電圧関係を従来技術の
輝度(IKHzで駆動するとき発光しきい電圧を30V
超過する電圧に吋する輝度)対電圧関係とを比較して表
すグラフである。 第5図は1本発明の他の実施例に係る薄膜EL1g子の
製造方法を実施して製造した交流駆動型薄膜EL素子の
輝度(IKHzで駆動するとき発光しきい電圧を30V
Jll過する電圧に対する輝度)対電圧関係を従来技術
の輝度(IKHzで駆動するとき発光しきい電圧を30
V超過する電圧に対する輝度)対電圧関係とを比較して
表すグラフである。 1・・−透光性基板(ガラス基板)。 2・・・透光性電極(ITO電極)。 3拳φΦ第1の絶縁膜(酸化窒化シリコン、酸化アルミ
ニュウム、酸化イットリュウム)。 4−・−EL膜(硫化亜鉛と希土類元素とハロゲン元素
との組成物)。 5・・・第2の絶縁膜(酸化窒化シリコン、酸化アルミ
ニュウム、酸化イットリュウム)。 6・・・対向電極(背面電極)。 第 2 図 従来技術 第3図 従来技術 第1a図 本発明 JEL(V) 第1b 図 本発明 を五(V) 第5図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 [1]透光性基板(1)上に透光性電極(2)を形成し
、 該透光性電極(2)上に、EL膜(4)を形成し、 該EL膜(4)上に対向電極(6)を形成する薄膜EL
素子の製造方法において、 前記EL膜(4)は、硫化亜鉛と、希土類元素の硫化物
と、亜鉛のハロゲン化物とを、独立のソースとしてなす
堆積法を使用して形成することを特徴とする薄膜EL素
子の製造方法。 [2]前記EL膜(4)を挟んで第1の絶縁膜(3)と
第2の絶縁膜(5)とを形成する工程を有することを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の薄膜EL素子の製
造方法。 [3]前記希土類元素の硫化物は三硫化二テルビュウム
であり、前記亜鉛のハロゲン化物は二フッ化亜鉛である
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項または第2項記
載の薄膜EL素子の製造方法。 [4]前記堆積法はスパッタリング法であることを特徴
とする特許請求の範囲第1項、第2項または第3項記載
の薄膜EL素子の製造方法。 [5]前記堆積法は真空蒸着法であることを特徴とする
特許請求の範囲1項、第2項または第3項記載の薄膜E
L素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61149033A JPH077710B2 (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | 薄膜el素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61149033A JPH077710B2 (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | 薄膜el素子の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS636775A true JPS636775A (ja) | 1988-01-12 |
JPH077710B2 JPH077710B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=15466196
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61149033A Expired - Lifetime JPH077710B2 (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | 薄膜el素子の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH077710B2 (ja) |
-
1986
- 1986-06-25 JP JP61149033A patent/JPH077710B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH077710B2 (ja) | 1995-01-30 |
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