JPS62105393A - El素子 - Google Patents
El素子Info
- Publication number
- JPS62105393A JPS62105393A JP60244406A JP24440685A JPS62105393A JP S62105393 A JPS62105393 A JP S62105393A JP 60244406 A JP60244406 A JP 60244406A JP 24440685 A JP24440685 A JP 24440685A JP S62105393 A JPS62105393 A JP S62105393A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sulfur
- film
- insulating film
- oxide
- composition
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
EL素子の発光効率・輝度特性を向上する改良である。
EL素子の製造工程においては、硫化亜鉛を母材とする
EL膜の熱処理が必須であるが、この熱処理工程におい
て、硫化亜鉛中の硫黄が蒸発して空孔となり、EL素子
の発光効率拳輝度特性を劣化する欠点があるから、この
欠点を解消するため、EL@と対向電極との間の絶縁膜
(第2の絶縁膜)を硫黄を含む化合物または硫黄との組
成物としておき、第2の絶縁膜形成後のEL膜の熱処理
中、あるいは素子化後のエージング中に硫黄を補給し、
母材たる硫化亜鉛中に空孔が発生したりすることを防止
するものである。
EL膜の熱処理が必須であるが、この熱処理工程におい
て、硫化亜鉛中の硫黄が蒸発して空孔となり、EL素子
の発光効率拳輝度特性を劣化する欠点があるから、この
欠点を解消するため、EL@と対向電極との間の絶縁膜
(第2の絶縁膜)を硫黄を含む化合物または硫黄との組
成物としておき、第2の絶縁膜形成後のEL膜の熱処理
中、あるいは素子化後のエージング中に硫黄を補給し、
母材たる硫化亜鉛中に空孔が発生したりすることを防止
するものである。
本発明は、EL素子の改良に関する。特に、EL膜の熱
処理中にEL模膜中空孔が発生したり、EL膜が汚染さ
れたりすることを防止し、EL素子の発光効率・輝度特
性を向上する改良に関する。
処理中にEL模膜中空孔が発生したり、EL膜が汚染さ
れたりすることを防止し、EL素子の発光効率・輝度特
性を向上する改良に関する。
EL膜を製造するには、第2図に云すように、透光性基
板l上に透光性電極2を形成し、この透光性電極2上に
第1の絶縁膜3を形成し、この第1の絶縁Il!3上に
硫化亜鉛と希土類元素またはマンガンとの組成物よりな
るELL12形成し、このEL膜4上に第2の絶縁W1
5を形成し、この第2の絶縁膜5上に対向電極6を形成
するものであ、るが、EL膜膜形後後いずれかの工程に
おいてELL12熱処理をなすことが必須である。
板l上に透光性電極2を形成し、この透光性電極2上に
第1の絶縁膜3を形成し、この第1の絶縁Il!3上に
硫化亜鉛と希土類元素またはマンガンとの組成物よりな
るELL12形成し、このEL膜4上に第2の絶縁W1
5を形成し、この第2の絶縁膜5上に対向電極6を形成
するものであ、るが、EL膜膜形後後いずれかの工程に
おいてELL12熱処理をなすことが必須である。
この熱処理は、ELL12形成した直後になしても第2
の絶縁膜5を形成した後になしてもよいが、前者におい
ては、硫化亜鉛中の硫黄が蒸発してここに空孔が発生し
、また、後者においては、硫黄が酸素等の原子によって
置換され、いずれにせよELL12組成比が変化して、
EL素子の発光効率・輝度特性を低下するという欠点が
ある。
の絶縁膜5を形成した後になしてもよいが、前者におい
ては、硫化亜鉛中の硫黄が蒸発してここに空孔が発生し
、また、後者においては、硫黄が酸素等の原子によって
置換され、いずれにせよELL12組成比が変化して、
EL素子の発光効率・輝度特性を低下するという欠点が
ある。
上記の目的を達成するために本発明が採った手段は、E
LL12対向電極6との間の絶縁膜(第2の絶縁膜5)
を硫黄を含む化合物または硫黄との組成物51としてお
き、ELL12熱処理中あるいはエージング中に硫黄を
補給し、母材たる硫化亜鉛中に空孔が発生したり、硫黄
が酸素等の原子によって置換されることを防止するもの
である。
LL12対向電極6との間の絶縁膜(第2の絶縁膜5)
を硫黄を含む化合物または硫黄との組成物51としてお
き、ELL12熱処理中あるいはエージング中に硫黄を
補給し、母材たる硫化亜鉛中に空孔が発生したり、硫黄
が酸素等の原子によって置換されることを防止するもの
である。
この第2の絶縁膜5はスパッタ法を使用して形成するこ
とが一般であるから、ターゲットを硫黄と硫黄以外の物
質よりなる1源ターゲットとしておき、コスバッタをな
せば、上記の硫黄を含む化合物の硫黄濃度はある程度制
御可使であるから、)、記の硫黄を含む化合物または硫
黄との組成物の硫黄濃度をELL12の界面近傍におい
て大きくすることができるにのようにしておくと。
とが一般であるから、ターゲットを硫黄と硫黄以外の物
質よりなる1源ターゲットとしておき、コスバッタをな
せば、上記の硫黄を含む化合物の硫黄濃度はある程度制
御可使であるから、)、記の硫黄を含む化合物または硫
黄との組成物の硫黄濃度をELL12の界面近傍におい
て大きくすることができるにのようにしておくと。
上記の効果はさらに顕著である。
EL素子の絶縁膜用絶縁物としては、酸化イットリュウ
ム、酸化シリコン、窒化シリコン、酸窒化シリコン、酸
化鉛チタン、酸化バリュウムチクンまたは酸化タンタル
が知られているが、そのいずれも、硫黄との化合物また
は組成物を容易に形成するから、これらの物質のいづれ
も本発明における硫黄を含む化合物または硫黄との組成
物として利用しうる。
ム、酸化シリコン、窒化シリコン、酸窒化シリコン、酸
化鉛チタン、酸化バリュウムチクンまたは酸化タンタル
が知られているが、そのいずれも、硫黄との化合物また
は組成物を容易に形成するから、これらの物質のいづれ
も本発明における硫黄を含む化合物または硫黄との組成
物として利用しうる。
上記の欠点はEL膜の熱処理中に硫化亜鉛中の硫黄が喪
失することにあるから、熱処理あるいはエージング中に
あたり、これを補給すれば、この欠点は防止しうる筈で
ある。そこで、熱処理中にEL膜を硫黄を含む物質をも
ってカバーしておけばよいとの着想にもとづき、この着
想を具体化する手段として、第2の絶縁膜中に硫黄を添
加しておき、この硫黄を含む第2の絶縁膜を上記のカバ
ーとして使用することとしたものである。
失することにあるから、熱処理あるいはエージング中に
あたり、これを補給すれば、この欠点は防止しうる筈で
ある。そこで、熱処理中にEL膜を硫黄を含む物質をも
ってカバーしておけばよいとの着想にもとづき、この着
想を具体化する手段として、第2の絶縁膜中に硫黄を添
加しておき、この硫黄を含む第2の絶縁膜を上記のカバ
ーとして使用することとしたものである。
試作品を製造して、動作試験をなしたところ、発光効率
・輝度とも、従来技術に比して顕著に向上していること
が確認された。また、化学分析法を使用してこのEL素
子のEL膜の組成比を確認したところ、お覧むね化学量
論的組成比であり、本発明の効果が確認された。
・輝度とも、従来技術に比して顕著に向上していること
が確認された。また、化学分析法を使用してこのEL素
子のEL膜の組成比を確認したところ、お覧むね化学量
論的組成比であり、本発明の効果が確認された。
〔実施例〕
以下、図面を参照しつ一1本発明の一実施例に係るEL
素子の製造方法についてさらに説明する。
素子の製造方法についてさらに説明する。
第1図参照
ガラス基板l上に、ITO等よりなり厚さが約2,00
0人の透光性電極2を、スパッタ法を使用して形成する
。
0人の透光性電極2を、スパッタ法を使用して形成する
。
次に、酸化シリコン、窒化シリコン、酸窒化シリコン、
酸化イットリュウム、酸化鉛チタン、酸化バリュウムチ
タン、酸化タンタル等よりなり厚さが約2,000人の
第1の絶縁Ps3をスパッタ法を使用して形成する。
酸化イットリュウム、酸化鉛チタン、酸化バリュウムチ
タン、酸化タンタル等よりなり厚さが約2,000人の
第1の絶縁Ps3をスパッタ法を使用して形成する。
次に、発光中心として機能するマンガンまたは希土類元
素例えば三フッ化テルビュウム、三塩化テルビュウムを
含有する硫化亜鉛よりなるELL12厚さ約5,000
人に形成する。この工程には真空蒸着法またはスパッタ
法が使用しうる。
素例えば三フッ化テルビュウム、三塩化テルビュウムを
含有する硫化亜鉛よりなるELL12厚さ約5,000
人に形成する。この工程には真空蒸着法またはスパッタ
法が使用しうる。
次に、酸化イットリュウム、酸化シリコン、窒化シリコ
ン、酸窒化シリコン、酸化鉛チタン、酸化バリュウムチ
タンまたは酸化タンタルのターゲットと硫黄ターゲット
との1源ターゲットを使用してなすコスパッタ法を使用
して、第2の絶縁膜51を厚さ約2,000人に形成す
る。
ン、酸窒化シリコン、酸化鉛チタン、酸化バリュウムチ
タンまたは酸化タンタルのターゲットと硫黄ターゲット
との1源ターゲットを使用してなすコスパッタ法を使用
して、第2の絶縁膜51を厚さ約2,000人に形成す
る。
その後、約450℃の温度において約1時間熱処理を施
す、この熱処理工程においては、ELL12なす硫化亜
鉛膜は硫黄を含む膜によってカバーされているので、お
−むね化学量論的組成比を保つことができる。
す、この熱処理工程においては、ELL12なす硫化亜
鉛膜は硫黄を含む膜によってカバーされているので、お
−むね化学量論的組成比を保つことができる。
最後に、アルミニュウム等よりなる対向電極6を形成す
る。
る。
以上の工程をもって製造されたEL素子のEL膜はお覧
むね化学量論的組成比を有するので、このEL素子はす
ぐれた発光効率・輝度特性を実現する。
むね化学量論的組成比を有するので、このEL素子はす
ぐれた発光効率・輝度特性を実現する。
以北説明せるとおり、本発明に係るEL素子のEL脱膜
上形成されている第2の絶縁膜は硫黄を含む化合物また
は硫黄との組成物とされているので、EL膜の熱処理中
あるいはエージング中にEL膜をなす硫化亜鉛中に硫黄
が補給され、EL膜をなす硫化亜鉛は化学量論的組成比
が保持されるため、発光効率会輝度特性が向上する。
上形成されている第2の絶縁膜は硫黄を含む化合物また
は硫黄との組成物とされているので、EL膜の熱処理中
あるいはエージング中にEL膜をなす硫化亜鉛中に硫黄
が補給され、EL膜をなす硫化亜鉛は化学量論的組成比
が保持されるため、発光効率会輝度特性が向上する。
第1図は、本発明の一実施例に係るEL素子の断面図で
ある。 第2図は、従来技術に係るEL素子の断面図である。 1φΦ・ガラス基板、 2・−・透光性電極。 30・第1の絶縁膜、 4・・・EL膜、5・φ11第
2の絶縁膜、 51会・・発明の要旨に係る硫黄を含有
する絶縁物よりなる第2の絶縁膜、 6φ・・対向電
極。 本発明 第1rM 径禾芸で]i !2閃
ある。 第2図は、従来技術に係るEL素子の断面図である。 1φΦ・ガラス基板、 2・−・透光性電極。 30・第1の絶縁膜、 4・・・EL膜、5・φ11第
2の絶縁膜、 51会・・発明の要旨に係る硫黄を含有
する絶縁物よりなる第2の絶縁膜、 6φ・・対向電
極。 本発明 第1rM 径禾芸で]i !2閃
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 [1]透光性基板(1)上に透光性電極(2)が形成さ
れ、 該透光性電極(2)上に第1の絶縁膜(3)が形成され
、 該第1の絶縁膜(3)上に硫化亜鉛と希土類元素または
マンガンとの組成物よりなるEL膜(4)が形成され、 該EL膜(4)上に第2の絶縁膜(5)が形成され、 該第2の絶縁膜(5)上に対向電極(6)が形成されて
なるEL素子において、 前記第2の絶縁膜(5)は、硫黄を含む化合物または硫
黄との組成物(51)であることを特徴とするEL素子
。 [2]前記硫黄を含む化合物または硫黄との組成物(5
1)の硫黄濃度は、前記EL膜(4)との近傍において
、大きいことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
EL素子。 [3]前記硫黄を含む化合物(51)は、硫黄を含む酸
化イットリュウム、酸化シリコン、窒化シリコン、酸窒
化シリコン、酸化鉛チタン、酸化バリュウムチタンまた
は酸化タンタルであることを特徴とする特許請求の範囲
第1項または第2項記載のEL素子。 [4]前記硫黄との組成物(51)は、硫黄と酸化イッ
トリュウム、酸化シリコン、窒化シリコン、酸窒化シリ
コン、酸化鉛チタン、酸化バリュウムチタンまたは酸化
タンタルとの混合物であることを特徴とする特許請求の
範囲第1項または第2項記載のEL素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60244406A JPS62105393A (ja) | 1985-10-31 | 1985-10-31 | El素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60244406A JPS62105393A (ja) | 1985-10-31 | 1985-10-31 | El素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62105393A true JPS62105393A (ja) | 1987-05-15 |
Family
ID=17118189
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60244406A Pending JPS62105393A (ja) | 1985-10-31 | 1985-10-31 | El素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62105393A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS636778A (ja) * | 1986-06-25 | 1988-01-12 | 新技術事業団 | 薄膜el素子及びその製造方法 |
JP2009021543A (ja) * | 2007-06-11 | 2009-01-29 | Canon Inc | 化合物半導体膜、発光膜およびその製造方法 |
-
1985
- 1985-10-31 JP JP60244406A patent/JPS62105393A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS636778A (ja) * | 1986-06-25 | 1988-01-12 | 新技術事業団 | 薄膜el素子及びその製造方法 |
JP2009021543A (ja) * | 2007-06-11 | 2009-01-29 | Canon Inc | 化合物半導体膜、発光膜およびその製造方法 |
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