JPS6364313A - 軟磁性薄膜 - Google Patents
軟磁性薄膜Info
- Publication number
- JPS6364313A JPS6364313A JP20870586A JP20870586A JPS6364313A JP S6364313 A JPS6364313 A JP S6364313A JP 20870586 A JP20870586 A JP 20870586A JP 20870586 A JP20870586 A JP 20870586A JP S6364313 A JPS6364313 A JP S6364313A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- soft magnetic
- magnetically soft
- soft thin
- head
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 34
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 19
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims abstract description 12
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 12
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 11
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 claims abstract description 11
- 229910052702 rhenium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 11
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims abstract description 11
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims abstract description 11
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 11
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 7
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 6
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 abstract description 8
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 18
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 9
- 239000011162 core material Substances 0.000 description 8
- 239000010408 film Substances 0.000 description 8
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N iron Substances [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 7
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 6
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 5
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 3
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 3
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910000702 sendust Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910000889 permalloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- 101100095224 Bacillus subtilis (strain 168) sdhA gene Proteins 0.000 description 1
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 206010016275 Fear Diseases 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000005422 blasting Methods 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 101150063573 citF gene Proteins 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000006247 magnetic powder Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000011120 plywood Substances 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000001552 radio frequency sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000700 radioactive tracer Substances 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、良好な軟磁気特性を示し、高保磁力磁気記録
媒体対応磁気ヘッド用コア材料等に好適な軟磁性薄膜に
関するものである。
媒体対応磁気ヘッド用コア材料等に好適な軟磁性薄膜に
関するものである。
本発明は、Fe、Co、ke、Siを主成分とする軟磁
性薄膜にTi、Cr、Mn、Zr、Nb。
性薄膜にTi、Cr、Mn、Zr、Nb。
Mo、Ta、W、Ru、Os、l r、Re、Ni。
Pd、Pt、Hfの少なくとも1種を添加することによ
り、特に耐摩耗性に優れ、高保持力磁気記録媒体対応磁
気ヘッド用コア材等として好適な軟磁性薄膜を提供する
ものである。
り、特に耐摩耗性に優れ、高保持力磁気記録媒体対応磁
気ヘッド用コア材等として好適な軟磁性薄膜を提供する
ものである。
・ 例えばオーディオテープレコーダやVTR(ビデオ
テープレコーダ)等の磁気記録再生装置においては、記
録信号の高富度化や高品質化等が進められており、この
高記録宙度化に対)芯して、EIi気記録媒体として磁
性粉にFe、Co、Ni等の金属あるいは合金からなる
粉末を用いた、いわゆるメタルテープや、強1i1性金
属tオ料を真空薄膜形成技術によりベースフィルム上に
直接被着した、いわゆる蒸着テープ等が開発され、各分
野で実用化されている。
テープレコーダ)等の磁気記録再生装置においては、記
録信号の高富度化や高品質化等が進められており、この
高記録宙度化に対)芯して、EIi気記録媒体として磁
性粉にFe、Co、Ni等の金属あるいは合金からなる
粉末を用いた、いわゆるメタルテープや、強1i1性金
属tオ料を真空薄膜形成技術によりベースフィルム上に
直接被着した、いわゆる蒸着テープ等が開発され、各分
野で実用化されている。
ところで、このような高抗磁力を有する磁気記録媒体の
特性を発揮せしめるためには、磁気ヘッドのコア材料の
特性として、高い飽和磁束密度を有するとともに、同一
の磁気ヘッドで再生を行なおうとする場合においては、
高透磁率を併せて有することが要求される。例えば、従
来磁気ヘッドのコア材料として多用されているフェライ
ト材では飽和磁束密度が低く、また、パーマロイでは耐
、 摩耗性に問題がある。
特性を発揮せしめるためには、磁気ヘッドのコア材料の
特性として、高い飽和磁束密度を有するとともに、同一
の磁気ヘッドで再生を行なおうとする場合においては、
高透磁率を併せて有することが要求される。例えば、従
来磁気ヘッドのコア材料として多用されているフェライ
ト材では飽和磁束密度が低く、また、パーマロイでは耐
、 摩耗性に問題がある。
従来、かかる諸要求を満たすコア材料の一つとして、本
願出願人は先に特願昭60−192903号においてF
e−co−A1−3 i系合金からなる軟磁性薄膜を
提案した。
願出願人は先に特願昭60−192903号においてF
e−co−A1−3 i系合金からなる軟磁性薄膜を
提案した。
ところで現在、何1気ヘッド材に対し高記録密度が要求
されているために、テープと磁気ヘッド間の相対速度が
上昇しつつあるのが現状である。従って、初期の磁気ヘ
ッドの電磁変換特性を長時間に亘って維持するためにコ
ア材に耐摩耗性についての要求が厳しくなっている。
されているために、テープと磁気ヘッド間の相対速度が
上昇しつつあるのが現状である。従って、初期の磁気ヘ
ッドの電磁変換特性を長時間に亘って維持するためにコ
ア材に耐摩耗性についての要求が厳しくなっている。
このような観点から前述のFe−Co−Al−3i系軟
(n性薄膜を見た場合、パーマロイ等に比べれば良好な
耐摩耗性を示すものの、従来ヘッド材として使用されて
きたセンダスト合金と比較すると1〜4割程度摩耗量が
多く、この点でセンダスト合金よりも見劣りするもので
あった。
(n性薄膜を見た場合、パーマロイ等に比べれば良好な
耐摩耗性を示すものの、従来ヘッド材として使用されて
きたセンダスト合金と比較すると1〜4割程度摩耗量が
多く、この点でセンダスト合金よりも見劣りするもので
あった。
したがって、高品質化、高記録密度化を図るための磁気
記録媒体の高抗磁力化の試みも、従来のコア材料を用い
る限りにおいて、摩耗性の限界から自ずと制約を受けて
いる。
記録媒体の高抗磁力化の試みも、従来のコア材料を用い
る限りにおいて、摩耗性の限界から自ずと制約を受けて
いる。
そこで本発明は、上述の従来の実情に鑑みて提案された
ものであって、Fe−co−A(1−5種系合金のより
一層の改善を目的とするものであり、良好な軟磁気特性
(遇1ffi率や抗磁力等)、高飽和磁束密度を有し、
しかも耐摩耗性に優れた軟磁性薄膜を提供することを目
的とする。
ものであって、Fe−co−A(1−5種系合金のより
一層の改善を目的とするものであり、良好な軟磁気特性
(遇1ffi率や抗磁力等)、高飽和磁束密度を有し、
しかも耐摩耗性に優れた軟磁性薄膜を提供することを目
的とする。
c問題点を解決するための手段〕
本発明者等は、上述の目的を達成せんものとIQ期に亘
り鋭嘗研究の結果、特に耐摩耗性の改苫という観点から
、Ti、Cr、Mn、Zr、Nb。
り鋭嘗研究の結果、特に耐摩耗性の改苫という観点から
、Ti、Cr、Mn、Zr、Nb。
MO,Ta、W、Ru、Os、Ir、Re、Ni。
Pd、PL、Hfの少なくとも1種以上の元素を)”
e−Co−Ae−3i系合金に添加することが有効であ
ることを見出した。
e−Co−Ae−3i系合金に添加することが有効であ
ることを見出した。
そこで、本発明の軟磁性薄膜は、F e * Co、
b A 1 eS i aMa (ただしa、b、c、
d、eはそれぞれ組成比を原子%として表し、N4はT
i、Cr、Mn。
b A 1 eS i aMa (ただしa、b、c、
d、eはそれぞれ組成比を原子%として表し、N4はT
i、Cr、Mn。
Zr、Nb、Mo、Ta、W、Ru、Os、I r。
Re、Ni、Pd、Pt、Hfの少なくとも1種を表す
。)なる組成式で示され、その組成範囲が5≦b≦15 2≦C≦13 6≦d≦17 0.5≦e≦6 a+b+c+d+e=100 なる関係を満足することを特徴とした。
。)なる組成式で示され、その組成範囲が5≦b≦15 2≦C≦13 6≦d≦17 0.5≦e≦6 a+b+c+d+e=100 なる関係を満足することを特徴とした。
すなわち、本発明の軟磁性薄膜は、Fe、Co。
Aff、5it−5本組成とする合金にTi、Cr。
〜in、Zr、Nb、Mo、T、a、W、Ru、Os。
Ir、Re、Ni、Pd、Pt、Hrの少なくとも1種
を添加してなるものであって、耐摩耗性や軟磁気特性に
優れ、高飽和磁束密度Bsを有するものである。
を添加してなるものであって、耐摩耗性や軟磁気特性に
優れ、高飽和磁束密度Bsを有するものである。
本発明の軟磁性薄膜においては、各成分元素の組成比を
所定の範囲内に設定することが好ましく、特に、基本合
金については、co:5〜15原子%、AJ:4〜12
原子%、Si:8〜15原子%の範囲にすることにより
低保持力化、高飽和磁束密度化、高i3磁率化が達せら
れる。しがし、上述の範囲を外れると磁歪が大きくなり
、(は気持性が劣化する。また、基本合金に添加する添
加元素(Ti、Cr、Mn、Zr、Nb、Mo、Ta。
所定の範囲内に設定することが好ましく、特に、基本合
金については、co:5〜15原子%、AJ:4〜12
原子%、Si:8〜15原子%の範囲にすることにより
低保持力化、高飽和磁束密度化、高i3磁率化が達せら
れる。しがし、上述の範囲を外れると磁歪が大きくなり
、(は気持性が劣化する。また、基本合金に添加する添
加元素(Ti、Cr、Mn、Zr、Nb、Mo、Ta。
W、Ru、Os、Tr、Re、Ni、Pd、Pt、H「
の少なくとも一種類)の添加■については、0.5原子
%より少ない場合には目的とする耐摩耗性の改善効果が
得られず、6原子%より多い場合には磁気特性の劣化を
招いてしまう。但し、jj’n 、’j1元素を2種以
上使用する場合には、各添Jjl1元−シの添加量はそ
れぞれ0〜5原子%の範囲内とするのが好ましい。
の少なくとも一種類)の添加■については、0.5原子
%より少ない場合には目的とする耐摩耗性の改善効果が
得られず、6原子%より多い場合には磁気特性の劣化を
招いてしまう。但し、jj’n 、’j1元素を2種以
上使用する場合には、各添Jjl1元−シの添加量はそ
れぞれ0〜5原子%の範囲内とするのが好ましい。
上記軟磁性薄膜の製造方法としては種々の方法が考えら
れるが、なかでも真空薄膜形成技術によるのが良い。
れるが、なかでも真空薄膜形成技術によるのが良い。
この真空3膜形成技術の手法としては、スパッタリング
やイオンブレーティング、真空蒸着法。
やイオンブレーティング、真空蒸着法。
クラスター・イオンビーム法等が挙げられる。
また、上記真空薄膜形成技術により軟磁性薄膜を作製す
る際に各成分元素の組成を調節する方法としては、 I)各成分元素を所定の割合となるように秤■し、これ
らをあらかじめ例えば高周波溶Mj炉等で溶解して合金
インゴットを形成しておき、この合金インゴ7)を蒸発
源として使用する方法、ii )各成分の単独元素の澤
発源を用、なし、これら蒸発源の数で組成を制御する方
法、 山)各成分の単独元素の蒸発源を用意し、これら蒸発源
に加える出力(印加電圧)を1.’I御して薄膜スピー
ドをコントロールし組成を制御する方法、 iv)合金を蒸発源として薄着しながら他の元素を打ち
込む方法、 等が挙げられる。
る際に各成分元素の組成を調節する方法としては、 I)各成分元素を所定の割合となるように秤■し、これ
らをあらかじめ例えば高周波溶Mj炉等で溶解して合金
インゴットを形成しておき、この合金インゴ7)を蒸発
源として使用する方法、ii )各成分の単独元素の澤
発源を用、なし、これら蒸発源の数で組成を制御する方
法、 山)各成分の単独元素の蒸発源を用意し、これら蒸発源
に加える出力(印加電圧)を1.’I御して薄膜スピー
ドをコントロールし組成を制御する方法、 iv)合金を蒸発源として薄着しながら他の元素を打ち
込む方法、 等が挙げられる。
なお、上述の真空薄膜形成技術等により膜付けされた軟
磁性薄膜は、そのままの状態では保磁力は若干高い値を
示し良好な軟(/11気特性が得られないので、熱処理
を施して膜の歪を除去し、軟磁気特性を改善することが
好ましい。
磁性薄膜は、そのままの状態では保磁力は若干高い値を
示し良好な軟(/11気特性が得られないので、熱処理
を施して膜の歪を除去し、軟磁気特性を改善することが
好ましい。
このように、軟磁性3膜の構成元素としてl?e。
Co、Aj!、Siを基本組成とする合金にT j +
Cr、Mn、Zr、Nb、Mo、Ta、W、RunOs
、!r、Re、Ni、Pd、PL、Hfの少なくとも1
種を選び添加し、これらの組成比を所定の範囲内に設定
することにより、耐摩耗性に非常に優れた軟(■性薄膜
となる。
Cr、Mn、Zr、Nb、Mo、Ta、W、RunOs
、!r、Re、Ni、Pd、PL、Hfの少なくとも1
種を選び添加し、これらの組成比を所定の範囲内に設定
することにより、耐摩耗性に非常に優れた軟(■性薄膜
となる。
以下、本発明の具体的な実施例について説明するが、本
発明がこの実施例に限定されるものではないことは言う
までもない。
発明がこの実施例に限定されるものではないことは言う
までもない。
先ず、99.9%以上の純度を有するTL解鉄、電解コ
バルト、99.99%以上の純度を有するアルミニウム
、99.999%以上の純度を有するシリコン及び99
.0〜99.9χの純度を有するTi、Cr、Mn、Z
r。
バルト、99.99%以上の純度を有するアルミニウム
、99.999%以上の純度を有するシリコン及び99
.0〜99.9χの純度を有するTi、Cr、Mn、Z
r。
Nb、Mo、Ta、W、Ru、Os、I r、Re。
Ni、Pd、PL、I(f(7)少なくとも1種の添J
ju元素をそれぞれ所定の組成比となるように秤量し、
アルゴン雰囲気中で高周波誘与加熱炉を用いて)電解・
鋳造後、さらにn械加工を行って直径105 ms。
ju元素をそれぞれ所定の組成比となるように秤量し、
アルゴン雰囲気中で高周波誘与加熱炉を用いて)電解・
鋳造後、さらにn械加工を行って直径105 ms。
厚み41鵬のスパッタリング用合金ターゲットを作製し
た。
た。
次に、この合金ターゲットを用いて、プレーナー・マグ
ネトロン型RFスパッタリング装置により、到達ガス圧
8. OX 10−’Torr、アルゴンガス分圧4.
OX 10−’Torr、予備スパフタ1時間、スパ
ック時間45分、投入電力300Wの条件でスパックリ
ングを行い、水冷した結晶化ガラス基板(商品名 PE
G3130CHOYA社製)上に膜厚約2μmのa膜を
得た。
ネトロン型RFスパッタリング装置により、到達ガス圧
8. OX 10−’Torr、アルゴンガス分圧4.
OX 10−’Torr、予備スパフタ1時間、スパ
ック時間45分、投入電力300Wの条件でスパックリ
ングを行い、水冷した結晶化ガラス基板(商品名 PE
G3130CHOYA社製)上に膜厚約2μmのa膜を
得た。
さらに、このfmlaを、I X 10−I′Torr
以下の真空下でtなる温度で1時間焼鈍し、徐冷して軟
磁性薄膜を得た。
以下の真空下でtなる温度で1時間焼鈍し、徐冷して軟
磁性薄膜を得た。
上述の方法に従い、軟磁性薄膜が形成された基板を50
0℃で1時間真空アニールを行い、室温にて作製した軟
磁性薄膜の各サンプルについて、軟;1性薄膜の膜組成
を分析し、飽和磁束密度BS。
0℃で1時間真空アニールを行い、室温にて作製した軟
磁性薄膜の各サンプルについて、軟;1性薄膜の膜組成
を分析し、飽和磁束密度BS。
抗磁力Hc、透るd率peff (I MHzにおけ
る値)。
る値)。
耐摩耗性について調べた。
ここで、飽和74を束密度Bsは試料振動(f束計(7
3M)、抗磁力HcはB −Hループトレーサ、透el
率μは8の字コイル型透磁率計で測定した。
3M)、抗磁力HcはB −Hループトレーサ、透el
率μは8の字コイル型透磁率計で測定した。
また、citF;?耗性は次のようにしてJ1定した。
つまり、第10に示すようにダミーヘッド(1)のテ−
プ摺動面上に先ず、Cr下地層として0,2〜0゜4μ
mのCr FHH!i (2)を基板加熱71度200
〜300’c、到達ガス圧6. OX 10−’Tor
r、アルゴンガス分圧4. OX 10−3Torr、
予備スパッタ1111間、スパッタ時間10分、投入電
力200Wの条件で付着させた。その際ダミーヘッドを
200〜300℃に加熱し10分間逆スパツタを行った
。
プ摺動面上に先ず、Cr下地層として0,2〜0゜4μ
mのCr FHH!i (2)を基板加熱71度200
〜300’c、到達ガス圧6. OX 10−’Tor
r、アルゴンガス分圧4. OX 10−3Torr、
予備スパッタ1111間、スパッタ時間10分、投入電
力200Wの条件で付着させた。その際ダミーヘッドを
200〜300℃に加熱し10分間逆スパツタを行った
。
その後、所定の組成を持つ軟Eil性薄膜(3)(各サ
ンプル)を膜厚約10μmとなるように基板加熱温度2
00〜300℃、到達ガス圧6. OX 10−’T。
ンプル)を膜厚約10μmとなるように基板加熱温度2
00〜300℃、到達ガス圧6. OX 10−’T。
rr、アルゴンガス分圧4− OX 10−”Torr
、予備スパッタ1時間、スパッタ時間3時間、投入電力
300Wの条件で付着させたその際にもダミーヘッドを
200〜300℃に加熱し10分間逆スパツタを行った
。
、予備スパッタ1時間、スパッタ時間3時間、投入電力
300Wの条件で付着させたその際にもダミーヘッドを
200〜300℃に加熱し10分間逆スパツタを行った
。
ダミーヘッド摺動面上に軟磁性7ji膜(3)を上述の
ようにしてスパッタリングにて形成させた後、第2図に
示すようにヘッド台板(4)に接着剤(5)を用いて接
着した。接着剤(5)が充分硬化した後、1インチVT
R(ソニー社製、商品名B V H−1O00)用ヘッ
ドドラムに合板(4)ごと装着した。その際、ダミーヘ
ッド(1)の突出星が80:5μmとなるように調整し
た。
ようにしてスパッタリングにて形成させた後、第2図に
示すようにヘッド台板(4)に接着剤(5)を用いて接
着した。接着剤(5)が充分硬化した後、1インチVT
R(ソニー社製、商品名B V H−1O00)用ヘッ
ドドラムに合板(4)ごと装着した。その際、ダミーヘ
ッド(1)の突出星が80:5μmとなるように調整し
た。
上記ダミーヘッド(1)を装着した1インチVTR(ソ
ニー社製、商品名 BVH−1000)にセントし、γ
−Fears系テープ(ソニー社製。
ニー社製、商品名 BVH−1000)にセントし、γ
−Fears系テープ(ソニー社製。
商品名 V−16−64A)を用いて摩耗性のテストを
行った。その時のテープとダミーヘッドの相対スピード
は25.59 m/seeである。ダミーヘッドはテー
プ走行時間5時間毎にドラムより取り外し、顕微鏡(倍
率X400)を用いてテープ摺動面からマーカー(6)
までの距離をJ、lI定した。
行った。その時のテープとダミーヘッドの相対スピード
は25.59 m/seeである。ダミーヘッドはテー
プ走行時間5時間毎にドラムより取り外し、顕微鏡(倍
率X400)を用いてテープ摺動面からマーカー(6)
までの距離をJ、lI定した。
一つの試料につき6個のダミーヘッドを作り、それらの
測定値の平均値をもって摩耗度とした。テープ走行時間
は、合計15時間である。耐摩耗1生は、テープ走行時
間と摩耗■の関係を最小自乗法により算出したときの直
線の1項きである。
測定値の平均値をもって摩耗度とした。テープ走行時間
は、合計15時間である。耐摩耗1生は、テープ走行時
間と摩耗■の関係を最小自乗法により算出したときの直
線の1項きである。
各サンプルの組成と各々についての測定結果を第1表〜
第4表に示す。
第4表に示す。
上記第1表〜第4表より、Fe、Co、An。
Siを基本組成とする合金にTi、Cr、Mn。
Zr、Nb、Mo、Ta、W、Ru、Os、E r。
Re、Ni、Pd、Pt、Hfの少なくとも1種の添加
元素を添加することによって耐摩耗性について非常に優
れた軟磁性薄膜となることがわかった。
元素を添加することによって耐摩耗性について非常に優
れた軟磁性薄膜となることがわかった。
上述の説明からも明らかなように、本発明においては、
軟磁性薄膜の主たる成分元素としてFe。
軟磁性薄膜の主たる成分元素としてFe。
Co、A1.Siを選び、さらにこの合金中にTi。
Cr、Mn、Zr、Nb、Mo、Ta、W、Ru。
Os、Ir、Re、Ni、Pd、Pt、Hfの少なくと
も1種の添加元素を添加し、これらの組成比を所定の値
に設定しているので、従来の軟磁性薄膜より優れた耐摩
耗性を確保することが可能になった。
も1種の添加元素を添加し、これらの組成比を所定の値
に設定しているので、従来の軟磁性薄膜より優れた耐摩
耗性を確保することが可能になった。
また、センダスト合金を凌ぐ飽和磁束密度Bsも達成す
ることができ、軟磁気特性にも優れている軟磁性薄膜と
することが可能となった。
ることができ、軟磁気特性にも優れている軟磁性薄膜と
することが可能となった。
したがって、この軟磁性gi膜を例えば磁気ヘッドのコ
ア材料として用いることにより、磁気記録媒体の高抗磁
力化に充分対処することができ、高品質化や高記録密度
化等記録、再生特性の良好な磁気ヘッドとすることがで
きる。
ア材料として用いることにより、磁気記録媒体の高抗磁
力化に充分対処することができ、高品質化や高記録密度
化等記録、再生特性の良好な磁気ヘッドとすることがで
きる。
第1図は耐摩耗性を測定するためのダミーヘッドの構成
を示す斜視図であり、第2図は軟lQ性薄膜を付着した
ダミーヘッドのヘッド台板への取り付は状態を示す模式
的な平面図である。 1・・・ダミーヘッド 2・・・軟磁性薄膜 4・・・ヘッド台板
を示す斜視図であり、第2図は軟lQ性薄膜を付着した
ダミーヘッドのヘッド台板への取り付は状態を示す模式
的な平面図である。 1・・・ダミーヘッド 2・・・軟磁性薄膜 4・・・ヘッド台板
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 Fe_aCo_bAl_cSi_dM_e(ただしa、
b、c、d、eはそれぞれ組成比を原子%として表し、
MはTi、Cr、Mn、Zr、Nb、Mo、Ta、W、
Ru、Os、Ir、Re、Ni、Pd、Pt、Hfの少
なくとも1種を表す、)なる組成式で示され、その組成
範囲が 5≦b≦15 2≦c≦13 6≦d≦17 0.5≦e≦6 a+b+c+d+e=100 なる関係を満足することを特徴とする軟磁性薄膜。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20870586A JPS6364313A (ja) | 1986-09-04 | 1986-09-04 | 軟磁性薄膜 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20870586A JPS6364313A (ja) | 1986-09-04 | 1986-09-04 | 軟磁性薄膜 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6364313A true JPS6364313A (ja) | 1988-03-22 |
Family
ID=16560711
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20870586A Pending JPS6364313A (ja) | 1986-09-04 | 1986-09-04 | 軟磁性薄膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6364313A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5779143A (en) * | 1980-11-05 | 1982-05-18 | Hitachi Metals Ltd | Magnetic thin film |
JPS60220913A (ja) * | 1984-04-18 | 1985-11-05 | Sony Corp | 磁性薄膜 |
-
1986
- 1986-09-04 JP JP20870586A patent/JPS6364313A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5779143A (en) * | 1980-11-05 | 1982-05-18 | Hitachi Metals Ltd | Magnetic thin film |
JPS60220913A (ja) * | 1984-04-18 | 1985-11-05 | Sony Corp | 磁性薄膜 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2698814B2 (ja) | 軟磁性薄膜 | |
US4707417A (en) | Magnetic composite film | |
US5786103A (en) | Soft magnetic film and magnetic head employing same | |
JP2508462B2 (ja) | 軟磁性薄膜 | |
JPS6364313A (ja) | 軟磁性薄膜 | |
JPS58100412A (ja) | 軟質磁性材料の製法 | |
JP2775770B2 (ja) | 軟磁性薄膜の製造方法 | |
JP3127075B2 (ja) | 軟磁性合金膜と磁気ヘッドおよび軟磁性合金膜の熱膨張係数の調整方法 | |
JPS633406A (ja) | 結晶質軟磁性薄膜 | |
JP3221035B2 (ja) | 磁気ヘッド | |
JPH07111926B2 (ja) | 軟磁性薄膜 | |
JP2979557B2 (ja) | 軟磁性膜 | |
JP2522284B2 (ja) | 軟磁性薄膜 | |
JPH07107885B2 (ja) | 軟磁性薄膜 | |
JPH0483313A (ja) | 軟磁性薄膜並びに磁気ヘッド | |
JPH0789526B2 (ja) | 結晶質軟磁性薄膜 | |
JPH0746656B2 (ja) | 結晶質軟磁性薄膜 | |
JPS644327B2 (ja) | ||
JPH0789527B2 (ja) | 結晶質軟磁性薄膜 | |
JPS6386506A (ja) | 軟磁性薄膜 | |
JPH0789525B2 (ja) | 磁気ヘッド用軟磁性薄膜 | |
JPH0746653B2 (ja) | 結晶質軟磁性薄膜 | |
JPH0746652B2 (ja) | 結晶質軟磁性薄膜 | |
JPH0789524B2 (ja) | 磁気ヘッド用軟磁性薄膜 | |
JPH0789523B2 (ja) | 磁気ヘッド用軟磁性薄膜 |