JPS6345842A - プラスチツク・パツケ−ジ - Google Patents
プラスチツク・パツケ−ジInfo
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- JPS6345842A JPS6345842A JP18990986A JP18990986A JPS6345842A JP S6345842 A JPS6345842 A JP S6345842A JP 18990986 A JP18990986 A JP 18990986A JP 18990986 A JP18990986 A JP 18990986A JP S6345842 A JPS6345842 A JP S6345842A
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- plastic
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- lead
- moisture
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- Pending
Links
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
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- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
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- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体装置のプラスチック・ノくツケージの材
料構成に関する。
料構成に関する。
従来、半導体装置のプラスチックe/<ツケージは、エ
ポキシ樹脂にてリード・フレーム等のモールドを行なう
のが通例であった。
ポキシ樹脂にてリード・フレーム等のモールドを行なう
のが通例であった。
しかし、上記従来技術によると、リード・フレームと、
エポキシ樹脂との界面から水分の侵入があシ、耐湿性に
劣るという問題点があった。
エポキシ樹脂との界面から水分の侵入があシ、耐湿性に
劣るという問題点があった。
本発明は、かかる従来技術の問題点をなくし、耐湿性の
すぐれたプラスチック・パッケージを提供する事を目的
とする。
すぐれたプラスチック・パッケージを提供する事を目的
とする。
上記問題点を解決するために、本発明はプラスチック・
パッケージに於て、リード・フレームにはポリイミド膜
を形成する手段をとる。
パッケージに於て、リード・フレームにはポリイミド膜
を形成する手段をとる。
以下、実施例により本発明を詳述する。
第1図は本発明の一実施例を示すプラスチック・パンケ
ージの断面図である。すなわち、銅合金あるいは鉄−ニ
ッケル合金等から成る金属製リードフレーム1にはIC
(集積回路〕チップ2が金あるいはアルミニウム等から
成るリード?rR3と共に組立て配線されると共に、前
記リード・フレームの少くともエポキシ樹脂5に接触す
る部分で且つ、ハンダ付は及びICチップ組立及びリー
ド線接続部を除く部分にポリイミド@4が形成されて成
る。
ージの断面図である。すなわち、銅合金あるいは鉄−ニ
ッケル合金等から成る金属製リードフレーム1にはIC
(集積回路〕チップ2が金あるいはアルミニウム等から
成るリード?rR3と共に組立て配線されると共に、前
記リード・フレームの少くともエポキシ樹脂5に接触す
る部分で且つ、ハンダ付は及びICチップ組立及びリー
ド線接続部を除く部分にポリイミド@4が形成されて成
る。
第2図は本発明の他の実施例を示すプラスチック・パッ
ケージ断面図である。すなわち、リードフレーム11に
は、固体イメージ・センサー12がリード線13と共に
組立て配線され、前記リードeフレーム11の一部にポ
リイミド膜14が被覆されて、該ポリイミド膜を含むリ
ード・フレーム11はプラスチック15によりプラスチ
ックもパンケージを形成し、且つガラス窓17が前記プ
ラスチック150表面にて、エポキシ樹脂等から成る接
着剤16にて接着されてなる。
ケージ断面図である。すなわち、リードフレーム11に
は、固体イメージ・センサー12がリード線13と共に
組立て配線され、前記リードeフレーム11の一部にポ
リイミド膜14が被覆されて、該ポリイミド膜を含むリ
ード・フレーム11はプラスチック15によりプラスチ
ックもパンケージを形成し、且つガラス窓17が前記プ
ラスチック150表面にて、エポキシ樹脂等から成る接
着剤16にて接着されてなる。
本発明の如く、リードeフレームとプラスチック間にポ
リイミド膜管形成する事により、リード・フレームとプ
ラスチックとの界面からの湿気の侵入を防止できる効果
がある。
リイミド膜管形成する事により、リード・フレームとプ
ラスチックとの界面からの湿気の侵入を防止できる効果
がある。
第1図及び第2図は、本発明の実施例を示すプラスチッ
ク・パッケージ断面図である。 1、11・・・・・・IJ −)”eフレーム2・・・
・・・・・・・・・・・・工Cチップ12・・・・・・
固体イメージ・センサー3.13・・・・・・リード線 4.14・・・・・・ポリイミド膜 5・・・・・・・・・・・・・・・エポキシ樹脂15・
・・・・・プラスチック 16・・・・・・接着剤 17・・・・・・ガラス窓 以 上
ク・パッケージ断面図である。 1、11・・・・・・IJ −)”eフレーム2・・・
・・・・・・・・・・・・工Cチップ12・・・・・・
固体イメージ・センサー3.13・・・・・・リード線 4.14・・・・・・ポリイミド膜 5・・・・・・・・・・・・・・・エポキシ樹脂15・
・・・・・プラスチック 16・・・・・・接着剤 17・・・・・・ガラス窓 以 上
Claims (1)
- リード・フレームにはポリイミド膜が形成された事を特
徴とするプラスチック・パッケージ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18990986A JPS6345842A (ja) | 1986-08-13 | 1986-08-13 | プラスチツク・パツケ−ジ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18990986A JPS6345842A (ja) | 1986-08-13 | 1986-08-13 | プラスチツク・パツケ−ジ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6345842A true JPS6345842A (ja) | 1988-02-26 |
Family
ID=16249233
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18990986A Pending JPS6345842A (ja) | 1986-08-13 | 1986-08-13 | プラスチツク・パツケ−ジ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6345842A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01146541U (ja) * | 1988-03-31 | 1989-10-09 | ||
JPH0243758A (ja) * | 1988-08-03 | 1990-02-14 | Fuji Electric Co Ltd | 樹脂封止型半導体素子 |
JP2012156450A (ja) * | 2011-01-28 | 2012-08-16 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置および半導体装置の製造方法 |
-
1986
- 1986-08-13 JP JP18990986A patent/JPS6345842A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01146541U (ja) * | 1988-03-31 | 1989-10-09 | ||
JPH0243758A (ja) * | 1988-08-03 | 1990-02-14 | Fuji Electric Co Ltd | 樹脂封止型半導体素子 |
JP2012156450A (ja) * | 2011-01-28 | 2012-08-16 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置および半導体装置の製造方法 |
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