JPS634440A - ディスク検査装置 - Google Patents

ディスク検査装置

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JPS634440A
JPS634440A JP14785286A JP14785286A JPS634440A JP S634440 A JPS634440 A JP S634440A JP 14785286 A JP14785286 A JP 14785286A JP 14785286 A JP14785286 A JP 14785286A JP S634440 A JPS634440 A JP S634440A
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JP
Japan
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disk
detector
air
spindle
slide
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JP14785286A
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English (en)
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JPH044664B2 (ja
Inventor
Shunichi Nagashima
長嶋 俊一
Toshiki Shojima
庄嶋 敏樹
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Idemitsu Petrochemical Co Ltd
Original Assignee
Idemitsu Petrochemical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、光ディスク等の情報記憶用ディスクのそりや
面振れを検査するための装置に関するものである。
[従来の技術] 光ディスク等の情報記憶用ディスクにおいては、ディス
クの形状精度が非常に重要となる0例えば、光ディスク
に一定以上の大きさの面振れ(円周方向の変位)やそり
(径方向の変位)があると、ディスク装置の光学ピック
アップの追従性が悪くなり、記録再生ができなくなると
いった問題がある。
このため、ディスクの面振れやそりを検査し、ディスク
の形状精度が光学ピックアップの追従性に!!形ツを与
えない範囲となるような生産管理が行なわれている。こ
の場合、従来は、測2精度の高さあるいは測定範囲の広
さ等の見地から検査装置の検出器として、光学式のもの
が多く使われている(例えば、特開昭61−71903
号)。
[解決すべき問題点] 上述した光学式の検出器を用いたディスク検査装置にお
いては、ある−定レベルの測定精度は得られるものの、
それ以上の高い測定精度を得るには限界があった。この
限界は検出器自体の精度に起因するものではなく、被検
査体を支持し回転させるスピンドル、あるいは検出器を
ディスクとの間で移動させるスライド等の機械的部分の
精度に起因するものであった。
しかし、従来のディスク検査装置においては、検出器自
体の精度向上については種々研究がなされているものの
、機械的な部分の精度向上については余り研究がなされ
ていなかった。そのため、従来のディスク検査装置では
、ディスクの十分な生産管理を行なう上で必要な、高精
度の検査を行なうことができないという問題があった。
本発明は上記の問題点にかんがみてなされたもので、検
出器のみならず、ディスクを支持するスピンドルおよび
ディスクと検出器を相対移動させるスライド等の機械的
部分の精度を向上させることにより、装置自体の測定精
度を大幅に向上させたディスク検査装置の提供を目的と
する。
[問題点の解決手段] 上記目的を達成するため本発明のディスク検査装置は、
ディスクを基準面に支持する支持部材と、この支持部材
を先端に有するエアースピンドルと、前記ディスクの表
面を走査する検出器と、この検出器と前記ディスクとを
相対的に移動させるエアースライドとで構成してあり、
このうち、例えばエアースライドが、検出器を支持しデ
ィスクとの間を移動するような構成としである。
[実施例] 以下、本発明の一実施例について図面を参照しつつ説明
する。
第1図は実施個装この正面図、第2図はエアースライド
の要部断面図、第3図は検出器の概略構成図を示す。
これら図面において、10はエアースピンドルであり、
スピンドル11と、このスピンドル11をエアーによる
静圧軸受等で回転自在に支承する軸台1zとからなって
いる。このエアースピンドル10は、基台1の適所に垂
直に?C着配置してあり、そのスピンドル11の下端は
モータ13と連接している。また、スピンドル11の上
部にはターンテーブル等の支持部材14が水平に装着し
である。また、被検査体であるディスク2は、ターンテ
ーブル等の支持部材14に、例えば真空吸着手段によっ
て取り付けられ、常に基準面に支持されるようになって
いる。
20はエアースライド (air 5lide)  で
あり、ターンテーブル14の径方向延長線上に配置した
ガイドレール21と、このガイドレール21の四周を囲
むようにしてガイドレール21に装着した移動台22、
および移動台22をガイドレールに沿って移動させる駆
!hf−段23とからなっている。移動台22は縦断面
が口字状になっており、その内周面にそれぞれ給気ポケ
ッ)22aを設け、この給気ポケット22aよりエアー
を吹き出すことによって移動台22を浮揚させている。
また、移動台22を移動させる駆動手段23としては、
移動台22のナラ)22bと螺合するボールスクリュ2
3a等をモータ23bによって回転させるねじ!%!!
+式、あるいはりニアモータを用いたりニアモータ駆動
式等(図示せず)の種々の駆動手段を採用することがで
きる。
なお、エアースピンドル10およびエアースライド20
に供給する圧縮空気は、図示してないが、通常、基台1
もしくは基台1の近傍に設けられたコンプレフサより供
給される。
30はディスク2の表面を走査する検出:であり、保持
部材31によって移動台22に、ディスク2の表面との
間に所定の間隙dがあくように取り付けである0本実施
例の場合、検出器30としてレーザビームスポット位置
検出器を用いている。なお、レーザビームスポット位置
検出器としては、測定範囲が±150ル以上と比較的広
く、しかも測定精度が±0.5.以下を満足するものが
望ましい。
このレーザビームスポット位置検出器は、半導体レーザ
30aからのビームを照明レンズ30bを通して細く絞
った上でディスク2の表面に照射するとともに、ディス
ク2の表面から反射、散乱してきた光の一部奢結像レン
ズ30cを介して光検出素子30dの受光面に投影する
。光検出素子30dは、光束が受光面上のどの位置に入
射しているかを電気出力として演算回路30eに出力す
る。したがって、ディスク2に面振れあるいはそりがあ
ると、面振れ、そり量に応じて光検出素子30dから演
算回路30eに送られる電気出力が変化する。
32は制御手段であり、検出器30にレーザビーム照射
指令等の各!!指令を与えるとともに。
演算回路30eからのデータをもとに、ディスク2の振
れあるいはそり量が許容値に入っているか否か等を判断
し、ディスク2の良、不良を検査する0図示してないが
、この制御手段32は通常基台1もしくは基台lの近傍
に設けられている。
このような構成からなるディスク検査装置においては、
支持部材14の上に被検査体であるディスク2を載せて
位置決めし、その後エアースピンドルlOをモータ13
によって回転させ、ディスク2を所定の速度で回転させ
る。エアースピンドル10は、高速回転を可滝とすると
ともに、スピンドル10の振れをきわめて小さくするこ
とができるので、スピンドル10の振れによって生じる
測定誤差を最小限に抑えられる。
また、エアースライド20は、ガイドレール21に沿っ
て移動台22をディスク2の径方向に移動させることに
より、検出830をディスク2上において径方向に走査
させる。そして、検出器30は、ディスク2の面振れ、
そりによるディスク2と検出器30との間隙dの変化、
すなわち、光検出素子30dの光束受光位置の変化を捉
え、面振れ、そりの量を検出する。エアースライド20
は、移動台22すなわち検出器30の走査時における振
れをきわめて小ざくすることができるので、移動台22
の振れによって生じる測定誤差を最小限に抑えることが
可老となる。
さらに、エアースピンドル10とエアースライド20を
用いることにより、検査装この可動部の摩耗等に起因す
る精度低下もないので、長期間にわたって高精度な状慝
を維持する。
このように、本実施例のディスク検査装置によれば、デ
ィスク2を回転させるスピンドル、および検出器を移動
させるスライドの精度を向上させることにより、検査装
置の測定精度を大幅に向上させることができる。また、
検出器としてレーザビームスポット式検出器を用いてい
るので、ディスクの材質、あるいは含水率9反射率など
に影テされることなく正確な検査を行なえる。さらに。
高精度な検査を短時間のうちに行なうことができる。さ
らにまた、検出器からの信号を処理することによって、
そり1面振れの他に、面振れ加速度、スキュー角等も測
定することができる。
なお1本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
例えば、次のような変形例をも含むものである。
■ 検出器が、ディスクの下面を走査するようにしたも
の。
■ エアースライドをエアースピンドル側に設けるとと
もに、検出:を固定し、エアースピンドルすなわちディ
スクを検出器に対して移動させるようにしたもの。
■ エアースライドをエアースピンドル側にも設け、デ
ィスクおよび検出器を必要に応じて移動させるようにし
たもの。
@ エアースピンドルすなわちディスクの支持部材と、
エアースライドすなわち検出器の配ごをそれぞれ変えた
もの0例えば、エアースピンドルを水玉に配置して、デ
ィスクを垂直基準面に支持するとともに、エアースライ
ドを垂直に配置して、検出:を垂直方向に移動させるよ
うにしたもの。
■ ディスクの支持部材として、ターンテーブル以外の
支持部材1例えば各種のチャック等を用いるようにした
もの。
■ エアースライドにおけるガイドレールおよび移動台
の形状を変えたもの0例えば、ガイドレールを凸状とし
、移動台を回状としたもの、あるいはこの逆としたもの
■ 検出器を8[数台用いるようにしたもの。
■ 光デイスク以外のディスクを検査するようにしたも
の。
■ ディスクの面振れ、そり以外の要素を測定するよう
にしたもの。
[発明の効果] 以上のように、it発明のディスク検査装置によれば、
高精度な検査が回置となり、モ分な生産管理を行なえる
効果がある。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の一実施例を示すもので、第1図は実施例
装置の正面図、第2図はエアースライドの要部断面図、
第3図は検出器の概略構成図を示す。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ディスクを基準面に支持する支持部材と、この支
    持部材を先端に有するエアースピンドルと、前記ディス
    クの表面を走査する検出器と、この検出器と前記ディス
    クとを相対的に移動させるエアースライドとからなるこ
    とを特徴としたディスク検査装置。
  2. (2)エアースライドが、検出器を支持し移動させるこ
    とを特徴とした特許請求の範囲第1項記載のディスク検
    査装置。
  3. (3)エアースピンドルを、ディスクの支持装置を上部
    に位置せしめるとともに、垂直配置としたことを特徴と
    する特許請求の範囲第1項または第2項記載のディスク
    検査装置。(4)検出器が、レーザビームスポット位置
    検出器であることを特徴とした特許請求の範囲第1項、
    第2項または第3項記載のディスク検査装置。
JP14785286A 1986-06-24 1986-06-24 ディスク検査装置 Granted JPS634440A (ja)

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JP14785286A JPS634440A (ja) 1986-06-24 1986-06-24 ディスク検査装置

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JP14785286A JPS634440A (ja) 1986-06-24 1986-06-24 ディスク検査装置

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JPS634440A true JPS634440A (ja) 1988-01-09
JPH044664B2 JPH044664B2 (ja) 1992-01-29

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004064056A1 (ja) * 2003-01-10 2004-07-29 Tdk Corporation 光記録媒体の検査方法

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JPS5869396U (ja) * 1981-11-05 1983-05-11 日本電気株式会社 磁気デイスクモジユ−ル検査装置
JPS58173009U (ja) * 1982-05-13 1983-11-18 ソニー株式会社 レコ−ド盤のマスタ−リング装置
JPS59195352A (ja) * 1983-04-20 1984-11-06 Fujitsu Ltd 光デイスクのプリグル−ブ円板検査装置

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Publication number Publication date
JPH044664B2 (ja) 1992-01-29

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