JPS6342528Y2 - - Google Patents

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JPS6342528Y2
JPS6342528Y2 JP1982106031U JP10603182U JPS6342528Y2 JP S6342528 Y2 JPS6342528 Y2 JP S6342528Y2 JP 1982106031 U JP1982106031 U JP 1982106031U JP 10603182 U JP10603182 U JP 10603182U JP S6342528 Y2 JPS6342528 Y2 JP S6342528Y2
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JP
Japan
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wafer
heating
photoresist
section
semiconductor wafer
Prior art date
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JP1982106031U
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English (en)
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JPS5911439U (ja
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  • Reciprocating Conveyors (AREA)
  • Drying Of Solid Materials (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は半導体ウエフアに塗つたフオトレジ
スト等を乾燥させるための半導体ウエフアの加熱
装置に関するものである。
例えば、トランジスタやLSI等の半導体装置を
製造する過程において、フオトエツチングの技術
が駆使されているが、その前提としてウエフアに
対しフオトレジストを塗布する工程がある。
このフオトレジストの状態はフオトエツチング
の精度に影響し結果として半導体装置の良否を決
定するので、塗布後に乾燥させて安定化を計る必
要がある。
ところが、従来の乾燥装置はフオトレジストを
傷めないために移送に当りゴムのような弾力性材
料よりなるベルトを用いていたが、このようなベ
ルトではウエフアが加熱部を通過する際ゴムが加
熱により軟化し、一方最近ではウエフアを活用す
るため両面にフオトレジストを塗布することが行
なわれウエフアの下面に比較的軟化した状態のフ
オトレジスト層がある場合が多いので両者が互に
付着し易くこのため折角の配慮にもかかわらずフ
オトレジストが剥げて著しく精度を低下させる欠
点があつた。
この考案は上記の事情に基づきなされたもの
で、ウエフアの移送に上面が平坦であるかもしく
は凹部を形成した金属製のビームを用いこれをウ
エフアの進行方向に前後進させるとともに加熱部
に対して上下動させる構成をとることにより、フ
オトレジスト等の表面を傷めることなく効率的な
加熱が可能でありしたがつて良質の半導体装置を
得ることができる半導体ウエフアの加熱装置を提
供しようとするものである。
以下図面を参照してこの考案の一実施例を説明
する。
第1図および第2図において、1は例えばテー
ブルよりなるウエフアの供給手段であり、2は例
えばエアーシリンダよりなるウエフアの排出手段
である。
供給手段1および排出手段2の間に加熱部3
a,3bを設ける。供給手段1,加熱部3a,3
b、および排出手段2にかけて基台4を設け、こ
の基台4上に鉄またはステンレス等の金属よりな
る上面の平坦なビーム5a,5bを設け、ビーム
5a,5bの両端部間にワイヤー6を張設し、こ
れらを連結体7により無端状に連結する。なお、
ビーム5a,5bは加熱時に加熱部3a,3bに
設けられた細溝3a′,3b′中に収容される構成が
採られている。8aおよび8bはワイヤー6を張
設するための大小のローラーである。基台4の側
方に前後進用の前後進駆動機構としてシリンダ9
を設け、そのピストン部を連結体7と連結杆10
により一体化する。連結体7は中央部に貫通孔7
aを備え、この貫通孔7aに嵌合して設けられか
つ両端部にストツパ部11a,11bを有する軸
11を案内として前後進(図の左右方向)する。
7bは軸受部を示している。
また基体4を加熱部3a,3bに対して上下動
させるため上下方向駆動機構としてシリンダ12
を設ける。13a,13bは基体4の両端部に設
けられたガイド用の突出軸であり、14a,14
bは突出軸13a,13bを支承する軸受体であ
る。
なお、ビーム5a,5bはそのままでもよい
が、さらにウエフアを傷めないために第3図a,
bに示すように上面を含む上部にテフロン加工を
施しテフロン層15を形成したものを用いるのが
適当である。また、図中Wは半導体ウエフアを示
している。
この装置は以上の構成を備えているので、まず
フオトレジストを塗布した半導体ウエフアWを供
給手段1であるテーブルによりビーム5a,5b
の始端に供給し、シリンダ12により基台4した
がつてビーム5a,5bを上昇させた後、シリン
ダ9によりこれを加熱部3a上に移動させ、再び
シリンダ12により下降させ半導体ウエフアWを
加熱部3aに接近させて効率的な乾燥が行なわれ
るようにする。
半導体ウエフアWはシリンダ12により上昇さ
せ、さらにシリンダ9により加熱部3bの位置に
移動される。ここで再び基台4を下降させて半導
体ウエフアWを加熱部3bに接近させ充分な加熱
が行なわれる。この実施例は乾燥のための加熱を
2回行なう構成のものである。
乾燥の終つた半導体ウエフアWはシリンダ12
の作用により上昇され、さらにシリンダ9により
ビーム5a,5bを排出手段2の方向に移動さ
せ、排出手段2上に送出する。
かくして排出手段2はこの半導体ウエフアWを
次段の工程に移動させる。この基台4を後退さ
せ、さらに下降させることによりビーム5a,5
bを元の位置に復帰させる。
この装置は半導体ウエフアWをビーム5a,5
bを用いて移送させるものであるから、比較的軟
化した状態にあるフオトレジスト等を傷めること
なく容易にこれを移送させることができる。しか
もテフロン加工を施したものは一層フオトレジス
ト等の状態を保護することができるので、フオト
レジスト等を良好な状態に保ち、良質の半導体装
置を製造することができる。
さらにこの装置は移送のために金属製のビーム
5a,5bを用いているため、安心してこれを上
下させ加熱部3a,3bに接近させることができ
るので充分な加熱を行なうことができ一層良好な
フオトレジスト等を得ることができる。
なお、この考案は上記実施例に限定されるもの
ではなく要旨を変更しない範囲において種々変形
して実施することができる。
上記実施例においてはビーム5a,5bに上面
の平坦なものを用いた場合を示したが、これは第
4図a〜cに示すように半導体ウエフアWの周縁
部を支承するための凹部16を形成したものを用
いることができる。
このようにすれば、半導体ウエフアの保持状態
が安定するので一層良質の乾燥を行なうことがで
きるばかりでなく、ウエフア裏面とビーム5a,
5bとの間に間隙ができるので裏面にフオトレジ
スト層がある場合でも、これがビーム5a,5b
に直接触れることがないので、このフオトレジス
ト層を傷めることがないように配慮がなされてい
る。勿論、この場合にビーム5a,5bの上部お
よび側面の少なくとも上部に付着防止用のテフロ
ン層15が設けられていることはフオトレジスト
層の保持を一層適切に行なうことができるもので
ある。
以上の記載は乾燥の対象を主としてフオトレジ
ストの場合について述べたが、この考案はこれに
限らずワツクス、パウダー等の他の塗布物の場合
に適用して差し支えがない。
以上述べたようにこの考案によれば、ウエフア
の移送に上面の平坦であるかもしくは凹部を形成
したビームを用いこれをウエフアの進行方向に前
後進させるとともに加熱部に対して上下動させる
構成をとることにより、フオトレジスト等を傷め
ることなく効率的な加熱が可能であり、したがつ
て良質の半導体装置を得ることができる半導体ウ
エフアの加熱装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例の平面図、第2図
は同実施例の縦断正面図、第3図a,bはビーム
の構成を示すもので、aは正面図、bはa図B−
B′線部分の縦断側面図、第4図a〜cはビーム
の他の例の構成を示すもので、aは正面図、bは
a図B−B′線部分の縦断側面図、cはa図C−
C′線部分の縦断側面図である。 1…供給路、2…排出路、3a,3b…加熱
部、4…基台、5a,5b…ビーム、6…ワイヤ
ー、7…連結体、8a,8b…ローラー、9…シ
リンダ、10…連結杆、11…軸、12…シリン
ダ、13a,13b…突出軸、14a,14b…
軸受体、15…テフロン層、16…凹部、W…半
導体ウエフア。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) ウエフアの供給手段と、ウエフアの排出手段
    と、前記ウエフアの供給手段および前記ウエフ
    アの排出手段の間に設けられた加熱部と、複数
    個の金属製の断面角形をなしたビームのそれぞ
    れ両端部間にワイヤーを張設して無端状に形成
    したウエフア移送機構と、この移送機構をウエ
    フアの移送方向に前後進させる前後進駆動機構
    と、前記ウエフア移送機構の取付けられた基台
    を上下方向に駆動する上下方向駆動機構とを備
    え、前記加熱部の上面には加熱時に前記ビーム
    の挿入される凹溝が形成され前記ビームの上面
    および少くとも側面の上部には付着防止用のテ
    フロンのコーテイングが施されていることを特
    徴とする半導体ウエフアの加熱装置。 (2) 上記金属製ビームは上面に半導体ウエフアの
    周縁部を支承するための縦断面台形状をなした
    凹部が形成されていることを特徴とする実用新
    案登録請求の範囲第1項記載の半導体ウエフア
    の加熱装置。
JP10603182U 1982-07-13 1982-07-13 半導体ウエフアの加熱装置 Granted JPS5911439U (ja)

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JP10603182U JPS5911439U (ja) 1982-07-13 1982-07-13 半導体ウエフアの加熱装置

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JP10603182U JPS5911439U (ja) 1982-07-13 1982-07-13 半導体ウエフアの加熱装置

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Publication Number Publication Date
JPS5911439U JPS5911439U (ja) 1984-01-24
JPS6342528Y2 true JPS6342528Y2 (ja) 1988-11-08

Family

ID=30248294

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JP10603182U Granted JPS5911439U (ja) 1982-07-13 1982-07-13 半導体ウエフアの加熱装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0746678B2 (ja) * 1985-05-10 1995-05-17 株式会社東芝 フォトマスク加熱搬送装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS472738U (ja) * 1971-01-27 1972-08-31
JPS5335906U (ja) * 1976-09-03 1978-03-29
JPS54149471A (en) * 1978-05-16 1979-11-22 Nec Corp Object moving unit

Patent Citations (3)

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JPS472738U (ja) * 1971-01-27 1972-08-31
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JPS54149471A (en) * 1978-05-16 1979-11-22 Nec Corp Object moving unit

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JPS5911439U (ja) 1984-01-24

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