JPS6339979B2 - - Google Patents
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- JPS6339979B2 JPS6339979B2 JP55114464A JP11446480A JPS6339979B2 JP S6339979 B2 JPS6339979 B2 JP S6339979B2 JP 55114464 A JP55114464 A JP 55114464A JP 11446480 A JP11446480 A JP 11446480A JP S6339979 B2 JPS6339979 B2 JP S6339979B2
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- prism
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 58
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 40
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 29
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 12
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 11
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000005236 sound signal Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/02—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
- G02B7/04—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses with mechanism for focusing or varying magnification
- G02B7/08—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses with mechanism for focusing or varying magnification adapted to co-operate with a remote control mechanism
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
-
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- G11B7/0917—Focus-error methods other than those covered by G11B7/0909 - G11B7/0916
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- G—PHYSICS
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- G11B2007/0919—Critical angle methods
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、例えば記録媒体上に螺旋或いは同心
円状に記録された情報トラツクに対物レンズを経
て読み取り光スポツトを集束して情報を読み取る
装置において、対物レンズの記録媒体に対する焦
点はずれを検出する焦点検出方法およびかかる方
法を実施する装置に関するものである。
円状に記録された情報トラツクに対物レンズを経
て読み取り光スポツトを集束して情報を読み取る
装置において、対物レンズの記録媒体に対する焦
点はずれを検出する焦点検出方法およびかかる方
法を実施する装置に関するものである。
上述した情報読み取り装置は従来より既知であ
り、情報トラツクを有する記録媒体には、例えば
ビデオデイスクと呼ばれているものがある。この
ビデオデイスクには情報トラツクに符号化された
ビデオ信号や音声信号が、光学的透過特性、反射
特性、位相特性などの光学的情報として記録され
ている。ビデオデイスクに記録された情報は、こ
れを高速で回転させながらレーザ光源から放射さ
れるレーザ光を対物レンズを経て情報トラツク上
に集束させ、情報トラツクによつて変調された透
過光または反射光を検出して読み取つている。こ
のような記録媒体の特長の一つは、情報の記録密
度が非常に高いことであり、そのため各情報トラ
ツクの幅が極めて狭いと共に、順次の情報トラツ
ク間の間隔も非常に狭くなつている。このように
幅もピツチも狭い情報トラツクから元の情報を正
確に読み取るためには、対物レンズをビデオデイ
スク面に対して常に合焦状態となるようにして、
デイスク面上での光スポツトの径を小さくする必
要がある。このためかかる光学的読み取り装置に
おいては、対物レンズのデイスク面に対する焦点
はずれを検出し、この焦点はずれ信号に基づいて
対物レンズをその光軸方向に変位させるフオーカ
ツシング制御が行われている。
り、情報トラツクを有する記録媒体には、例えば
ビデオデイスクと呼ばれているものがある。この
ビデオデイスクには情報トラツクに符号化された
ビデオ信号や音声信号が、光学的透過特性、反射
特性、位相特性などの光学的情報として記録され
ている。ビデオデイスクに記録された情報は、こ
れを高速で回転させながらレーザ光源から放射さ
れるレーザ光を対物レンズを経て情報トラツク上
に集束させ、情報トラツクによつて変調された透
過光または反射光を検出して読み取つている。こ
のような記録媒体の特長の一つは、情報の記録密
度が非常に高いことであり、そのため各情報トラ
ツクの幅が極めて狭いと共に、順次の情報トラツ
ク間の間隔も非常に狭くなつている。このように
幅もピツチも狭い情報トラツクから元の情報を正
確に読み取るためには、対物レンズをビデオデイ
スク面に対して常に合焦状態となるようにして、
デイスク面上での光スポツトの径を小さくする必
要がある。このためかかる光学的読み取り装置に
おいては、対物レンズのデイスク面に対する焦点
はずれを検出し、この焦点はずれ信号に基づいて
対物レンズをその光軸方向に変位させるフオーカ
ツシング制御が行われている。
第１図は従来の光学的読み取り装置における焦
点検出方式を説明するための線図である。レーザ
光源１から放射された光（紙面内に直線偏光して
いる）はコリメートレンズ２によつて平行光とさ
れ、偏光膜を有する偏光プリズム３，1/4波長板
４および対物レンズ５を経て情報トラツクを含む
デイスク６上に集束される。この光束は凹凸のピ
ツト形状を持つ情報トラツクにより反射され、対
物レンズ５および1/4波長板４を経て偏光プリズ
ム３に入射する。偏光プリズム３に入射する反射
光は、1/4波長板４の作用により紙面に対し垂直
方向に偏光されているから、この光は偏光プリズ
ム３で反射される。この偏光プリズム３で反射さ
れた光束を集光レンズ５および円筒レンズ８によ
り集束させる。ここで円筒レンズ８は一軸方向に
のみ集束作用を持つから、集光レンズ７および円
筒レンズ８による集束ビームの形状は、デイスク
６の位置が上下にずれると、情報トラツクに正し
く集束された状態（合焦位置）を境として直交し
た方向に変形する。従来は、この形状変化を例え
ば四分割した光検出器（図示せず）により検出し
て焦点誤差信号を得、この信号によりフオーカツ
シング制御を行つている。
点検出方式を説明するための線図である。レーザ
光源１から放射された光（紙面内に直線偏光して
いる）はコリメートレンズ２によつて平行光とさ
れ、偏光膜を有する偏光プリズム３，1/4波長板
４および対物レンズ５を経て情報トラツクを含む
デイスク６上に集束される。この光束は凹凸のピ
ツト形状を持つ情報トラツクにより反射され、対
物レンズ５および1/4波長板４を経て偏光プリズ
ム３に入射する。偏光プリズム３に入射する反射
光は、1/4波長板４の作用により紙面に対し垂直
方向に偏光されているから、この光は偏光プリズ
ム３で反射される。この偏光プリズム３で反射さ
れた光束を集光レンズ５および円筒レンズ８によ
り集束させる。ここで円筒レンズ８は一軸方向に
のみ集束作用を持つから、集光レンズ７および円
筒レンズ８による集束ビームの形状は、デイスク
６の位置が上下にずれると、情報トラツクに正し
く集束された状態（合焦位置）を境として直交し
た方向に変形する。従来は、この形状変化を例え
ば四分割した光検出器（図示せず）により検出し
て焦点誤差信号を得、この信号によりフオーカツ
シング制御を行つている。
しかし、上述した従来の焦点検出方式において
は、偏光プリズム３を反射した後に焦点を結ばせ
るため大きな光路長を必要とするため、光学系が
大形になる欠点がある。また焦点誤差信号を得る
光検出器は、光軸方向とこれと直交する平面内で
の方向との二軸方向に正確に配置する必要がある
ため、その位置調整が難しい欠点がある。更に、
集光ビームの形状変化による誤差信号が得られる
領域が狭いため、合焦状態から離れ過ぎると信号
が得られない欠点がある。
は、偏光プリズム３を反射した後に焦点を結ばせ
るため大きな光路長を必要とするため、光学系が
大形になる欠点がある。また焦点誤差信号を得る
光検出器は、光軸方向とこれと直交する平面内で
の方向との二軸方向に正確に配置する必要がある
ため、その位置調整が難しい欠点がある。更に、
集光ビームの形状変化による誤差信号が得られる
領域が狭いため、合焦状態から離れ過ぎると信号
が得られない欠点がある。
本願人は、上述した欠点を除去し、光学系を小
形に構成できると共に、焦点誤差信号を得る光学
検出器の配置が容易で、しかも常に正確に焦点状
態を検出できる焦点検出方法および装置を既に提
案している。
形に構成できると共に、焦点誤差信号を得る光学
検出器の配置が容易で、しかも常に正確に焦点状
態を検出できる焦点検出方法および装置を既に提
案している。
本願人が開発した焦点検出方法は、光源から射
出された光を対物レンズにより被照射物体上に集
束させ、その反射光束を、該反射光束光軸上の光
線に対してほぼ臨界角となるように設定した面を
有する光学部材に入射させ、この光学部材の前記
面で反射された反射光の光量分布の変化、或いは
前記面で屈折された透過光の光量変化、または前
記面で屈折された透過光と反射光との光量変化を
光軸を境として二分割した光検出器または２個の
光検出器で検出することにより、前記対物レンズ
の前記被照射物体に対する焦点誤差信号を得るよ
うにしたものである。
出された光を対物レンズにより被照射物体上に集
束させ、その反射光束を、該反射光束光軸上の光
線に対してほぼ臨界角となるように設定した面を
有する光学部材に入射させ、この光学部材の前記
面で反射された反射光の光量分布の変化、或いは
前記面で屈折された透過光の光量変化、または前
記面で屈折された透過光と反射光との光量変化を
光軸を境として二分割した光検出器または２個の
光検出器で検出することにより、前記対物レンズ
の前記被照射物体に対する焦点誤差信号を得るよ
うにしたものである。
第２図は本願人が開発した焦点検出方法を実施
する光学的読み取り装置の一例の要部の構成を示
す線図である。本例に示す光学的読み取り装置
は、デイスク６の反射光を偏光プリズム３で反射
させる迄は第１図に示す光学的読み取り装置と同
じ構成なので、第１図に示す符号と同一符号は同
一光学部材を表わす。本例では偏光プリズム３で
反射した光束を検出プリズム１０に入射し、その
面１１により反射される光束を検出器１２で受光
する。面１１は、合焦状態での入射光線（平行光
束）に対してほぼ臨界角となるように設定する。
もし臨界角に丁度設定されれば、合焦状態では偏
光プリズム３で反射された全光線は面１１で全反
射され（実際には面の状態が完全ではないので図
示ｎ方向に幾分の光が透過する）、デイスク６が
合焦状態からａ方向にずれると偏光プリズム３で
反射された光束は面１１に対して最外側の光線を
ai1〜ai2で示す傾き成分を持つ光線束となる。ま
たデイスク６が合焦状態からｂ方向にずれると、
面１１への入射光線は最外側の光線をbi1〜bi2で
示す傾き成分を持つ光線束となる。すなわち、デ
イスク６が合焦状態からずれると、面１１への入
射光線は光軸上の中心光線（一点鎖線）を除いて
臨界角の前後で連続的に変化する。したがつて、
デイスク６がａおよびｂ方向に変位して合焦状態
からずれると、面１１での反射強度が第３図に示
すように臨界角近傍では僅かな入射角の変化だ急
激に変化するから、中心光線を含む紙面に対し垂
直な面を境として明暗の状態がそれぞれ逆にな
る。これに対し、合焦状態では、一様に全反射さ
れるから、このような明暗は現われない。光検出
器１２は、このような面１１からの反射光の光量
分布を検出するもので、第２図中に平面図をも示
すように、中心光線（光軸）を境に二分割した二
つの受光領域１２Ａ，１２Ｂをもつて構成する。
なお、第３図は検出プリズム１０の屈折率が1.50
で、Ｐ偏光およびＳ偏光におけるそれぞれの反射
強度RpおよびRsを示したものである。なお偏光
していない光に対する反射強度は、これらの中間
（Rp＋Rs）／２となる。
する光学的読み取り装置の一例の要部の構成を示
す線図である。本例に示す光学的読み取り装置
は、デイスク６の反射光を偏光プリズム３で反射
させる迄は第１図に示す光学的読み取り装置と同
じ構成なので、第１図に示す符号と同一符号は同
一光学部材を表わす。本例では偏光プリズム３で
反射した光束を検出プリズム１０に入射し、その
面１１により反射される光束を検出器１２で受光
する。面１１は、合焦状態での入射光線（平行光
束）に対してほぼ臨界角となるように設定する。
もし臨界角に丁度設定されれば、合焦状態では偏
光プリズム３で反射された全光線は面１１で全反
射され（実際には面の状態が完全ではないので図
示ｎ方向に幾分の光が透過する）、デイスク６が
合焦状態からａ方向にずれると偏光プリズム３で
反射された光束は面１１に対して最外側の光線を
ai1〜ai2で示す傾き成分を持つ光線束となる。ま
たデイスク６が合焦状態からｂ方向にずれると、
面１１への入射光線は最外側の光線をbi1〜bi2で
示す傾き成分を持つ光線束となる。すなわち、デ
イスク６が合焦状態からずれると、面１１への入
射光線は光軸上の中心光線（一点鎖線）を除いて
臨界角の前後で連続的に変化する。したがつて、
デイスク６がａおよびｂ方向に変位して合焦状態
からずれると、面１１での反射強度が第３図に示
すように臨界角近傍では僅かな入射角の変化だ急
激に変化するから、中心光線を含む紙面に対し垂
直な面を境として明暗の状態がそれぞれ逆にな
る。これに対し、合焦状態では、一様に全反射さ
れるから、このような明暗は現われない。光検出
器１２は、このような面１１からの反射光の光量
分布を検出するもので、第２図中に平面図をも示
すように、中心光線（光軸）を境に二分割した二
つの受光領域１２Ａ，１２Ｂをもつて構成する。
なお、第３図は検出プリズム１０の屈折率が1.50
で、Ｐ偏光およびＳ偏光におけるそれぞれの反射
強度RpおよびRsを示したものである。なお偏光
していない光に対する反射強度は、これらの中間
（Rp＋Rs）／２となる。
第２図において、デイスク６がａ方向に変位し
たときは、面１１に入射する光のうち中心光線よ
り図において下側の光束は、一番外側の入射光線
ai1を筆頭としてすべての入射光線の入射角は臨
界角よりも小さくなる。したがつて、この部分で
は透過光が存在し、一番外側の透過光線at1から
ｎ迄を含む光線束が透過する。この透過した分だ
け、一番外側の反射光線ar1から中心光線迄を含
む反射光線束の強度は弱められる。面１１に入射
する光のうち、中心光線より図において上側の光
束は、一番外側の入射光線ai2を筆頭としてすべ
ての入射光線の入射角は臨界角よりも大きくな
る。したがつて、この部分では透過光が存在せ
ず、入射した全ての光線が、一番外側の反射光線
ar2から中心光線迄を含む光束に含まれて反射す
る。したがつて、この場合には、光検出器１２上
での光量分布は、受光領域１２Ａが暗くなり、受
光領域１２Ｂは明るいまま変化しない。
たときは、面１１に入射する光のうち中心光線よ
り図において下側の光束は、一番外側の入射光線
ai1を筆頭としてすべての入射光線の入射角は臨
界角よりも小さくなる。したがつて、この部分で
は透過光が存在し、一番外側の透過光線at1から
ｎ迄を含む光線束が透過する。この透過した分だ
け、一番外側の反射光線ar1から中心光線迄を含
む反射光線束の強度は弱められる。面１１に入射
する光のうち、中心光線より図において上側の光
束は、一番外側の入射光線ai2を筆頭としてすべ
ての入射光線の入射角は臨界角よりも大きくな
る。したがつて、この部分では透過光が存在せ
ず、入射した全ての光線が、一番外側の反射光線
ar2から中心光線迄を含む光束に含まれて反射す
る。したがつて、この場合には、光検出器１２上
での光量分布は、受光領域１２Ａが暗くなり、受
光領域１２Ｂは明るいまま変化しない。
これに対し、デイスク６がｂ方向に変位したと
きは、面１１への入射光線の傾きの関係が上述し
たａ方向の場合と逆になり、したがつて光検出器
１２の領域１２Ａ，１２Ｂの明暗の関係が逆にな
り、受光領域１２Ａは明るいまま変化しなが、受
光領域１２Ｂは暗くなる。この場合面１１におけ
る反射光および透過光をそれぞれ符号br1，br2お
よびbt2で示す。
きは、面１１への入射光線の傾きの関係が上述し
たａ方向の場合と逆になり、したがつて光検出器
１２の領域１２Ａ，１２Ｂの明暗の関係が逆にな
り、受光領域１２Ａは明るいまま変化しなが、受
光領域１２Ｂは暗くなる。この場合面１１におけ
る反射光および透過光をそれぞれ符号br1，br2お
よびbt2で示す。
なお、合焦状態では光検出器１２の受光領域１
２Ａ，１２Ｂへの入射光量はそれぞれ等しくな
る。
２Ａ，１２Ｂへの入射光量はそれぞれ等しくな
る。
したがつて、各受光領域１２Ａ，１２Ｂの出力
の差を差動増幅器１３で検出することより、その
量および極性からずれの量および方向を表わす焦
点誤差信号を得ることができ、この信号に基づい
て対物レンズ５を光軸方向に移動制御するフオー
カツシング制御を行うことができると共に、受光
領域１２Ａ，１２Ｂの出力の和を加算器１４で求
めることによりデイスク６に記録されたピツトに
対応する情報信号を検出することができる。しか
も合焦状態では面１１での透過成分が殆どないか
ら、光量の損失が極めて少ないと共に、合焦から
外れた場合には、中心光線を境にいずれか一方の
側の光束が全反射され、他方の側の光束の反射強
度が極端に減少するから受光領域１２Ａ，１２Ｂ
における光量差が著しくなる。したがつて、十分
正確に焦点検出を行うことかできる。
の差を差動増幅器１３で検出することより、その
量および極性からずれの量および方向を表わす焦
点誤差信号を得ることができ、この信号に基づい
て対物レンズ５を光軸方向に移動制御するフオー
カツシング制御を行うことができると共に、受光
領域１２Ａ，１２Ｂの出力の和を加算器１４で求
めることによりデイスク６に記録されたピツトに
対応する情報信号を検出することができる。しか
も合焦状態では面１１での透過成分が殆どないか
ら、光量の損失が極めて少ないと共に、合焦から
外れた場合には、中心光線を境にいずれか一方の
側の光束が全反射され、他方の側の光束の反射強
度が極端に減少するから受光領域１２Ａ，１２Ｂ
における光量差が著しくなる。したがつて、十分
正確に焦点検出を行うことかできる。
第２図に示した例では面１１での反射光を二分
割した受光領域１２Ａ，１２Ｂを有する光検出器
１２で受光するようにしたが、面１１で屈折され
る透過光を２個の光検出器で受光したり、反射光
と透過光を２個の光検出器で受光することによつ
ても焦点誤差信号を得ることができる。
割した受光領域１２Ａ，１２Ｂを有する光検出器
１２で受光するようにしたが、面１１で屈折され
る透過光を２個の光検出器で受光したり、反射光
と透過光を２個の光検出器で受光することによつ
ても焦点誤差信号を得ることができる。
このような焦点検出装置においては焦点がずれ
た場合にプリズム面に入射する光の入射角が変化
することを利用しているが、この入射角の変化の
大きさは光軸を含む中心部においては少なく、周
辺部においては大きい。したがつて受光領域に入
射する光の光量変化も中心部においては少なく、
周辺部においては大きくなる。
た場合にプリズム面に入射する光の入射角が変化
することを利用しているが、この入射角の変化の
大きさは光軸を含む中心部においては少なく、周
辺部においては大きい。したがつて受光領域に入
射する光の光量変化も中心部においては少なく、
周辺部においては大きくなる。
一方、上述した光学的読み取り装置において
は、ビームスポツトが情報トラツクから外れる所
謂トラツキング誤差も生ずるが、このトラツキン
グ誤差があるとデイスク６からの反射光の光量が
変化し、これが受光領域で検知されると焦点誤差
信号中にノイズとなつて混入し、Ｓ／Ｎが劣化す
る欠点がある。特に反射光束の中心部分では上述
したように焦点外れによる情報は少ないのでこの
トラツキングずれの影響が相対的に大きくなり、
焦点誤差の検出精度が低下してしまう欠点があ
る。
は、ビームスポツトが情報トラツクから外れる所
謂トラツキング誤差も生ずるが、このトラツキン
グ誤差があるとデイスク６からの反射光の光量が
変化し、これが受光領域で検知されると焦点誤差
信号中にノイズとなつて混入し、Ｓ／Ｎが劣化す
る欠点がある。特に反射光束の中心部分では上述
したように焦点外れによる情報は少ないのでこの
トラツキングずれの影響が相対的に大きくなり、
焦点誤差の検出精度が低下してしまう欠点があ
る。
さらにデイスク６に記録された情報も光検出器
１２で再生するようにしていたため、焦点ずれの
影響が情報信号中にノイズとして現われ、情報信
号のＳ／Ｎが悪くなる欠点がある。
１２で再生するようにしていたため、焦点ずれの
影響が情報信号中にノイズとして現われ、情報信
号のＳ／Ｎが悪くなる欠点がある。
本発明の目的は上述した臨界角に基づく全反射
を利用した焦点検出方法の種々の利点を維持した
まま上述した欠点を除去し、ノイズに影響されな
い焦点誤差信号をきわめて高い感度を以つて得る
ことができるようにした焦点検出方法および装置
を提供しようとするものである。
を利用した焦点検出方法の種々の利点を維持した
まま上述した欠点を除去し、ノイズに影響されな
い焦点誤差信号をきわめて高い感度を以つて得る
ことができるようにした焦点検出方法および装置
を提供しようとするものである。
本発明の焦点検出方法は、光源から射出された
光を対物レンズにより被照射物体上に集束させ、
その反射光の少なく共一部を、該反射光束中の一
つの光線に対してほぼ臨界角となるように設定し
た面を有するプリズムに入射させ、このプリズム
の前記面で反射された反射光の光量分布の変化、
或いは前記面で屈折された透過光の光量分布の変
化、または反射光と透過光の光量分布の変化を光
検出器で検出することにより、前記対物レンズの
前記被照射物体に対する焦点誤差信号を得る焦点
検出方法において、前記被照射物体で反射された
光束の周辺光束のみを前記面を介して光検出器に
入射させることを特徴とするものである。
光を対物レンズにより被照射物体上に集束させ、
その反射光の少なく共一部を、該反射光束中の一
つの光線に対してほぼ臨界角となるように設定し
た面を有するプリズムに入射させ、このプリズム
の前記面で反射された反射光の光量分布の変化、
或いは前記面で屈折された透過光の光量分布の変
化、または反射光と透過光の光量分布の変化を光
検出器で検出することにより、前記対物レンズの
前記被照射物体に対する焦点誤差信号を得る焦点
検出方法において、前記被照射物体で反射された
光束の周辺光束のみを前記面を介して光検出器に
入射させることを特徴とするものである。
さらに本発明の焦点検出装置は、光源から放射
された光を集束させて被照射物体に照射する対物
レンズと、前記被照射物体で反射され、この対物
レンズで集光された反射光束中の周辺部の二つの
光線に対してそれぞれほぼ臨界角となるように設
定した面を有するプリズムと、このプリズムの前
記面で反射された反射光の光量分布の変化、或い
は前記面で反射された反射光と屈折された透過光
との光量分布の変化、または前記面で屈折された
透過光の光量分布の変化を検出する光検出器とを
具え、この光検出器の出力から前記対物レンズの
前記被照射物体に対する焦点誤差信号を得るよう
に構成したことを特徴とするものである。
された光を集束させて被照射物体に照射する対物
レンズと、前記被照射物体で反射され、この対物
レンズで集光された反射光束中の周辺部の二つの
光線に対してそれぞれほぼ臨界角となるように設
定した面を有するプリズムと、このプリズムの前
記面で反射された反射光の光量分布の変化、或い
は前記面で反射された反射光と屈折された透過光
との光量分布の変化、または前記面で屈折された
透過光の光量分布の変化を検出する光検出器とを
具え、この光検出器の出力から前記対物レンズの
前記被照射物体に対する焦点誤差信号を得るよう
に構成したことを特徴とするものである。
第４図は本発明による焦点検出方法を実施する
装置の一実施例の構成を示す線図である。レーザ
光源２１から放射されるＰ偏光ビームをコリメー
タレンズ２２で集光して平行光束とし、偏光プリ
ズム２３，1/4波長板２４および対物レンズ２５
を介してデイスク２６上にスポツトとして投射す
る。デイスク２６で反射された光を対物レンズ２
５で集光し、1/4波長板２４を経てＳ偏光とし、
偏光プリズム２３で反射させ、検出プリズム２７
に入射させる。この検出プリズム２７の面２７ａ
は合焦時の平行光束に対してほぼ臨界角となるよ
うに設定されている。本例ではこの面２７ａで反
射される光束の内、周辺部の光束を互いに離間し
て配置した受光領域２８Ａおよび２８Ｂを有する
光検出器２８で受光する。第２図につき上述した
原理と同様にこれら受光領域２８Ａ，２８Ｂの出
力の差を差動増幅器２９で求めることにより焦点
誤差信号を得ることができる。
装置の一実施例の構成を示す線図である。レーザ
光源２１から放射されるＰ偏光ビームをコリメー
タレンズ２２で集光して平行光束とし、偏光プリ
ズム２３，1/4波長板２４および対物レンズ２５
を介してデイスク２６上にスポツトとして投射す
る。デイスク２６で反射された光を対物レンズ２
５で集光し、1/4波長板２４を経てＳ偏光とし、
偏光プリズム２３で反射させ、検出プリズム２７
に入射させる。この検出プリズム２７の面２７ａ
は合焦時の平行光束に対してほぼ臨界角となるよ
うに設定されている。本例ではこの面２７ａで反
射される光束の内、周辺部の光束を互いに離間し
て配置した受光領域２８Ａおよび２８Ｂを有する
光検出器２８で受光する。第２図につき上述した
原理と同様にこれら受光領域２８Ａ，２８Ｂの出
力の差を差動増幅器２９で求めることにより焦点
誤差信号を得ることができる。
今、丁度面２７ａが合焦時の平行光束に対して
臨界角に設定されているとすると、第５図Ａは面
２７ａに入射するビームスポツトＰを示し、デイ
スク２６がずれるときの各位置Ａ，Ｂ，B′，Ｃ，
C′における反射光量の変化を第５図Ｂに示す。第
５図Ｂの実線はデイスクがａ方向にずれたときの
受光領域２８Ａ，２８Ｂへの入射光量を示し、点
線はｂ方向へずれたときの入射光量を示すもので
ある。これから明らかなように点Ａで示す光軸上
の入射光量はデイスク２６がどちらの方向へぶれ
ても変化せず、常に一定である。これに対し、光
軸から外れた点Ｂ，B′においてはデイスクのず
れに応じて光量の低下が見られるが、光軸からさ
らに離れた点Ｃ，C′においては光量の低下はさら
に大きなものとなる。本発明はこのような事実に
着目し、周辺部の光束のみを受光領域２８Ａ，２
８Ｂに入射させるようにすることにより、感度お
よび精度がきわめて高い焦点誤差検出を行うこと
かできるようにしたものである。
臨界角に設定されているとすると、第５図Ａは面
２７ａに入射するビームスポツトＰを示し、デイ
スク２６がずれるときの各位置Ａ，Ｂ，B′，Ｃ，
C′における反射光量の変化を第５図Ｂに示す。第
５図Ｂの実線はデイスクがａ方向にずれたときの
受光領域２８Ａ，２８Ｂへの入射光量を示し、点
線はｂ方向へずれたときの入射光量を示すもので
ある。これから明らかなように点Ａで示す光軸上
の入射光量はデイスク２６がどちらの方向へぶれ
ても変化せず、常に一定である。これに対し、光
軸から外れた点Ｂ，B′においてはデイスクのず
れに応じて光量の低下が見られるが、光軸からさ
らに離れた点Ｃ，C′においては光量の低下はさら
に大きなものとなる。本発明はこのような事実に
着目し、周辺部の光束のみを受光領域２８Ａ，２
８Ｂに入射させるようにすることにより、感度お
よび精度がきわめて高い焦点誤差検出を行うこと
かできるようにしたものである。
第６図は本発明による焦点検出装置の他の例を
示すものであり、焦点検出については前例と全く
同じである。本例では面２７ａで反射される光軸
を中心とする中央部分の光束を集光レンズ３１で
集光し、その焦点面に二分割した受光領域３０Ａ
および３０Ｂを有する第２の光検出器３０を設け
る。この第２光検出器３０の受光領域の分割方向
はデイスク３６の情報トラツクの接線方向に延在
し、光軸を含む平面を境界とするものである。こ
のように構成すると、トラツキング誤差信号を得
ることができる。
示すものであり、焦点検出については前例と全く
同じである。本例では面２７ａで反射される光軸
を中心とする中央部分の光束を集光レンズ３１で
集光し、その焦点面に二分割した受光領域３０Ａ
および３０Ｂを有する第２の光検出器３０を設け
る。この第２光検出器３０の受光領域の分割方向
はデイスク３６の情報トラツクの接線方向に延在
し、光軸を含む平面を境界とするものである。こ
のように構成すると、トラツキング誤差信号を得
ることができる。
第７図は光検出器２８および３０からの出力を
処理する回路の一例を示すものである。本例では
第１の光検出器の受光領域２８Ａおよび２８Ｂの
出力の差を差動増幅器２９で求めることにより焦
点誤差信号を得ることができ、第２の光検出器の
受光領域３０Ａおよび３０Ｂの出力の差を差動増
幅器３２で求めることによりトラツキング誤差信
号を得ることができ、両者の和を加算器３３で求
めることにより情報信号を得ることができる。第
６図から明らかなように第１光検出器２８には周
辺光束を入射させているので、トラツキングずれ
による影響が少ない焦点誤差信号を得ることがで
きると共に第２光検出器３０には中央光束を入射
させているので焦点ずれに影響されないトラツキ
ング誤差信号および情報信号を得ることができ
る。
処理する回路の一例を示すものである。本例では
第１の光検出器の受光領域２８Ａおよび２８Ｂの
出力の差を差動増幅器２９で求めることにより焦
点誤差信号を得ることができ、第２の光検出器の
受光領域３０Ａおよび３０Ｂの出力の差を差動増
幅器３２で求めることによりトラツキング誤差信
号を得ることができ、両者の和を加算器３３で求
めることにより情報信号を得ることができる。第
６図から明らかなように第１光検出器２８には周
辺光束を入射させているので、トラツキングずれ
による影響が少ない焦点誤差信号を得ることがで
きると共に第２光検出器３０には中央光束を入射
させているので焦点ずれに影響されないトラツキ
ング誤差信号および情報信号を得ることができ
る。
第８図は第６図に示す例の変形例を示し、第６
図では第１および第２の光検出器２８および３０
を同一平面に配置したが、本例では集光レンズ３
１および第２光検出器３０を第１光検出器２８よ
りも後方に配置する。
図では第１および第２の光検出器２８および３０
を同一平面に配置したが、本例では集光レンズ３
１および第２光検出器３０を第１光検出器２８よ
りも後方に配置する。
第９図は本発明による焦点検出装置のさらに他
の例を示すものである。本例では偏光プリズム３
４として、周辺部にのみ偏光膜３４Ａおよび３４
Ｂを有するものを用いる。この偏光膜で反射され
た周辺光束は面２７ａで反射され、第１光検出器
の受光領域２８Ａおよび２８Ｂに入射する。一
方、偏光プリズム３４の中央部を透過する中央光
束はレンズ２２を経て光源２１に入射する。本例
ではこの光源を半導体レーザ光源を以つて構成す
る。この半導体レーザ光源２１に入射する光の量
はデイスク２６の情報トラツクに記録されている
情報にしたがつて変化するので、レーザの端子電
圧は自己結合効果により対応して変化することに
なる。したがつてこの端子電圧の変化を処理回路
３５で検出することにより情報信号を得ることが
できる。
の例を示すものである。本例では偏光プリズム３
４として、周辺部にのみ偏光膜３４Ａおよび３４
Ｂを有するものを用いる。この偏光膜で反射され
た周辺光束は面２７ａで反射され、第１光検出器
の受光領域２８Ａおよび２８Ｂに入射する。一
方、偏光プリズム３４の中央部を透過する中央光
束はレンズ２２を経て光源２１に入射する。本例
ではこの光源を半導体レーザ光源を以つて構成す
る。この半導体レーザ光源２１に入射する光の量
はデイスク２６の情報トラツクに記録されている
情報にしたがつて変化するので、レーザの端子電
圧は自己結合効果により対応して変化することに
なる。したがつてこの端子電圧の変化を処理回路
３５で検出することにより情報信号を得ることが
できる。
第１０図は本発明による焦点検出装置のさらに
他の例を示すものである。本例においてもデイス
ク２６の反射光束を検出プリズム２７に入射させ
るまでの構成は第４図に示した例と全く同じであ
る。本例では面２７ａの反射光を受光するのでは
なく、この面で屈折された透過光を受光領域３６
Ａおよび３６Ｂを有する第１の光検出器３６で受
光する。したがつてこれら受光領域の出力の差を
求めることにより焦点誤差信号を得ることができ
る。一方、面２７ａの中央部分で反射される中央
部の光束を集光レンズ３１で集光して二分割した
受光領域３０Ａ，３０Ｂを有する第２の光検出器
３０に入射させ、上述したようにしてトラツキン
グ誤差信号と情報信号とを得ることができる。
他の例を示すものである。本例においてもデイス
ク２６の反射光束を検出プリズム２７に入射させ
るまでの構成は第４図に示した例と全く同じであ
る。本例では面２７ａの反射光を受光するのでは
なく、この面で屈折された透過光を受光領域３６
Ａおよび３６Ｂを有する第１の光検出器３６で受
光する。したがつてこれら受光領域の出力の差を
求めることにより焦点誤差信号を得ることができ
る。一方、面２７ａの中央部分で反射される中央
部の光束を集光レンズ３１で集光して二分割した
受光領域３０Ａ，３０Ｂを有する第２の光検出器
３０に入射させ、上述したようにしてトラツキン
グ誤差信号と情報信号とを得ることができる。
第１１図Ａ，Ｂは第５図Ａ，Ｂと同様にデイス
ク２６がａ方向にずれた場合のビームの位置によ
る透過光の光量の変化を示すものであり、光軸上
の点Ａから遠い点Ｂ，Ｃでは変化が大きいことが
わかる。第１光検出器３６ではこの変化の大きい
周辺光束を受光するようにしているので感度の高
い焦点誤差検出ができる。なお、第１光検出器３
６の中央部３６Ｃは遮光部である。
ク２６がａ方向にずれた場合のビームの位置によ
る透過光の光量の変化を示すものであり、光軸上
の点Ａから遠い点Ｂ，Ｃでは変化が大きいことが
わかる。第１光検出器３６ではこの変化の大きい
周辺光束を受光するようにしているので感度の高
い焦点誤差検出ができる。なお、第１光検出器３
６の中央部３６Ｃは遮光部である。
第１２図は本発明による焦点検出装置のさらに
他の例を示すものである。本例では検出プリズム
３７として長尺ものを用い、その互いに対向する
面３７ａおよび３７ｂをほぼ臨界角に設定する。
半導体レーザ光源２１からの出力はコリメータレ
ンズ２２により平行光束となり検出プリズム３７
で複数回全反射されて対物レンズ２５によりデイ
スク２６上に集束される。デイスクからの反射光
は対物レンズ２５で集光され検出プリズム３７に
入射する。面３７ａで反射された光は面３７ａと
３７ｂとの間で複数回全反射されてコリメータレ
ンズ２２を経て半導体レーザ光源２１に入射す
る。一方デイスク２６からの反射光束の内の周辺
光束は面３７ａおよび３７ｂで屈折されて透過
し、受光領域３８Ａ，３８Ｂ，…，３８Ｈにより
受光される。このように複数回全反射させると、
反射される光量は変化しないのに対し、透過する
光量は指数函数的になるから検出感度はさらに高
くなる。したがつて受光領域３８Ａ〜３８Ｄの出
力の和を加算器３９Ａで求め、受光領域３８Ｅ〜
３８Ｈの出力の和を加算器３９Ｂで求め、これら
の和の差を差動増幅器４０で求めることにより焦
点誤差信号を得ることができる。
他の例を示すものである。本例では検出プリズム
３７として長尺ものを用い、その互いに対向する
面３７ａおよび３７ｂをほぼ臨界角に設定する。
半導体レーザ光源２１からの出力はコリメータレ
ンズ２２により平行光束となり検出プリズム３７
で複数回全反射されて対物レンズ２５によりデイ
スク２６上に集束される。デイスクからの反射光
は対物レンズ２５で集光され検出プリズム３７に
入射する。面３７ａで反射された光は面３７ａと
３７ｂとの間で複数回全反射されてコリメータレ
ンズ２２を経て半導体レーザ光源２１に入射す
る。一方デイスク２６からの反射光束の内の周辺
光束は面３７ａおよび３７ｂで屈折されて透過
し、受光領域３８Ａ，３８Ｂ，…，３８Ｈにより
受光される。このように複数回全反射させると、
反射される光量は変化しないのに対し、透過する
光量は指数函数的になるから検出感度はさらに高
くなる。したがつて受光領域３８Ａ〜３８Ｄの出
力の和を加算器３９Ａで求め、受光領域３８Ｅ〜
３８Ｈの出力の和を加算器３９Ｂで求め、これら
の和の差を差動増幅器４０で求めることにより焦
点誤差信号を得ることができる。
第１３図は本発明による焦点検出装置のさらに
他の例を示すものである。本例では検出プリズム
２７の面２７ａを部分的に全反射面としてほぼ臨
界角に設定し、中央部分を反射鏡２７ｂとして構
成し、この反射鏡２７ｂで反射された中央部の光
束を第２光検出器４１で受光することにより焦点
ずれに全く影響されない情報信号を得ることがで
きる。
他の例を示すものである。本例では検出プリズム
２７の面２７ａを部分的に全反射面としてほぼ臨
界角に設定し、中央部分を反射鏡２７ｂとして構
成し、この反射鏡２７ｂで反射された中央部の光
束を第２光検出器４１で受光することにより焦点
ずれに全く影響されない情報信号を得ることがで
きる。
上述した実施例では面２７ａに入射する光は合
焦時に平行光束となる場合について説明してきた
が、合焦時回転デイスク２６から反射され、対物
レンズ２５と光分割素子２３を通つて出てきた光
束が発散光または集束光となつた時には、前記実
施例の光分割素子２３と検出プリズム２７の間に
発散光の時には第１４図Ａに示す凸レンズ４２
を、また集束光の時には第１４Ｂ図に示す凹レン
ズ４３、または凹レンズ、凸レンズを部分的に切
つたレンズを介在させて発散光または集束光を平
行光束となし、前述せる実施例と同じ平行光束を
検出プリズム２７に入れて検出プリズムの面２７
ａをほぼ臨界角に設定し、前述せる実施例と同じ
く光検出器２８を設置して同様な方法で合焦検出
することができる。また上述した実施例では検出
プリズム２３の一側面で面２７ａを構成したが、
これに限定されるものではなく、臨界角に設定で
きる光学部材なら例えば平板状ガラス板でもよ
い。
焦時に平行光束となる場合について説明してきた
が、合焦時回転デイスク２６から反射され、対物
レンズ２５と光分割素子２３を通つて出てきた光
束が発散光または集束光となつた時には、前記実
施例の光分割素子２３と検出プリズム２７の間に
発散光の時には第１４図Ａに示す凸レンズ４２
を、また集束光の時には第１４Ｂ図に示す凹レン
ズ４３、または凹レンズ、凸レンズを部分的に切
つたレンズを介在させて発散光または集束光を平
行光束となし、前述せる実施例と同じ平行光束を
検出プリズム２７に入れて検出プリズムの面２７
ａをほぼ臨界角に設定し、前述せる実施例と同じ
く光検出器２８を設置して同様な方法で合焦検出
することができる。また上述した実施例では検出
プリズム２３の一側面で面２７ａを構成したが、
これに限定されるものではなく、臨界角に設定で
きる光学部材なら例えば平板状ガラス板でもよ
い。
更にまた、上述した例では検出プリズムの屈折
率を便宜上√２として例示したが、これは臨界角
近辺に設定すればよいのでその条件さえ満たせば
任意の屈折率のものを使用することができる。例
えば√２以上の材料を用いるときに、ほぼ臨界角
に設定された面で反射された光がすべてプリズム
の同一の面から出射するようにするために、第１
５図に示すように検出プリズム４４の頂点を切り
取つて面４４ｂを形成し、この面の寸法ｌを適当
に選択することもできる。第１５図においてはさ
らに出射面４４ｃから垂直に反射光が出射するよ
うに面４４ｃと入射面４４ｄの角度αをα＝135゜
−2θc（ただしθcは臨界角）に設定する。このよう
に構成すると光検出器の位置合わせが容易とな
る。
率を便宜上√２として例示したが、これは臨界角
近辺に設定すればよいのでその条件さえ満たせば
任意の屈折率のものを使用することができる。例
えば√２以上の材料を用いるときに、ほぼ臨界角
に設定された面で反射された光がすべてプリズム
の同一の面から出射するようにするために、第１
５図に示すように検出プリズム４４の頂点を切り
取つて面４４ｂを形成し、この面の寸法ｌを適当
に選択することもできる。第１５図においてはさ
らに出射面４４ｃから垂直に反射光が出射するよ
うに面４４ｃと入射面４４ｄの角度αをα＝135゜
−2θc（ただしθcは臨界角）に設定する。このよう
に構成すると光検出器の位置合わせが容易とな
る。
第１６図は第１２図に示す複数回の全反射を行
う長尺の検出プリズム３７を用いる例の変形を示
すものであり、本例では1/4波長板２４を通り、
偏光プリズム２３で反射された光束を検出プリズ
ム３７に入射させ、その面３７ａ，３７ｂで複数
回全反射された反射光の周辺光束を受光領域２８
Ａおよび２８Ｂで受光するようにしたものであ
る。このように反射光を受光する場合には検出感
度はさらに高いものとなる。
う長尺の検出プリズム３７を用いる例の変形を示
すものであり、本例では1/4波長板２４を通り、
偏光プリズム２３で反射された光束を検出プリズ
ム３７に入射させ、その面３７ａ，３７ｂで複数
回全反射された反射光の周辺光束を受光領域２８
Ａおよび２８Ｂで受光するようにしたものであ
る。このように反射光を受光する場合には検出感
度はさらに高いものとなる。
第１７図は複数回全反射を行う検出プリズムの
他の例を示すものであり。本例の検出プリズム４
５は√２以上の屈折率を有する材料で構成されて
おり、その面４５ａおよび４５ｂはほぼ臨界角に
設定されている。本例でも反射光束の周辺光束を
受光領域２８Ａ，２８Ｂで受光するようにしてい
る。
他の例を示すものであり。本例の検出プリズム４
５は√２以上の屈折率を有する材料で構成されて
おり、その面４５ａおよび４５ｂはほぼ臨界角に
設定されている。本例でも反射光束の周辺光束を
受光領域２８Ａ，２８Ｂで受光するようにしてい
る。
更にまた上述した例では偏光している光を使用
するものについて説明したが、偏光していない光
を使用する場合でも本発明を有効に適用すること
ができる。更にまた、第４図においては、面２７
ａは検出プリズム２７に入射する反射光線のうち
の１つの光線に対して臨界角、もしくはこれより
もやや小さめとなればよいから、その入射光線は
平行光束に限らず、集束または発散光束でもよ
い。更にまた、上述した例では、いずれも偏光プ
リズム２３を用いたがハーフミラーを用いること
もできる。第３図に示すグラフから明らかなよう
にプリズム面に入射する光はＰ偏光の方が変化が
急峻であるからＰ偏光をプリズムの面に入射させ
ることもでき、この場合には検出感度はさらに高
くなる。更にまた、本発明は上述したビデオデイ
スクにおける光学的読み取り装置の他、種々の光
学機器の焦点検出に適用することかできる。
するものについて説明したが、偏光していない光
を使用する場合でも本発明を有効に適用すること
ができる。更にまた、第４図においては、面２７
ａは検出プリズム２７に入射する反射光線のうち
の１つの光線に対して臨界角、もしくはこれより
もやや小さめとなればよいから、その入射光線は
平行光束に限らず、集束または発散光束でもよ
い。更にまた、上述した例では、いずれも偏光プ
リズム２３を用いたがハーフミラーを用いること
もできる。第３図に示すグラフから明らかなよう
にプリズム面に入射する光はＰ偏光の方が変化が
急峻であるからＰ偏光をプリズムの面に入射させ
ることもでき、この場合には検出感度はさらに高
くなる。更にまた、本発明は上述したビデオデイ
スクにおける光学的読み取り装置の他、種々の光
学機器の焦点検出に適用することかできる。
第１図は従来の焦点検出方式を適用する光学的
読み取り装置の構成を示す線図、第２図は本願人
が開発した焦点検出方法を実施する光学的読み取
り装置の要部の一例の構成を示す線図、第３図は
臨界角近傍での反射強度の一例を示す線図、第４
図は本発明による焦点検出方法を実施する光学的
読み取り装置の一例の要部の構成を示す線図、第
５図は同じくその動作を説明するための図、第６
図は本発明による焦点検出装置の変形例を示す線
図、第７図は同じくその信号処理回路を示す回路
図、第８図、第９図、第１０図はそれぞれ本発明
による焦点検出方法を実施する光学的読み取り装
置の更に他の例の要部またはその一部の構成を示
す線図、第１１図は第１０図に示す装置の動作を
説明するための図、第１２図、第１３図、第１４
図、第１５図、第１６図および第１７図は本発明
による焦点検出装置の他の例の要部の構成を示す
線図である。 ２１…レーザ光源、２２…コリメータレンズ、
２３…偏光プリズム、２４…1/4波長板、２５…
対物レンズ、２６…デイスク、２７，３７，４４
…検出プリズム、２７ａ，３７ａ，３７ｂ，４４
ａ…面、２８，３０…光検出器、３１…集光レン
ズ。
読み取り装置の構成を示す線図、第２図は本願人
が開発した焦点検出方法を実施する光学的読み取
り装置の要部の一例の構成を示す線図、第３図は
臨界角近傍での反射強度の一例を示す線図、第４
図は本発明による焦点検出方法を実施する光学的
読み取り装置の一例の要部の構成を示す線図、第
５図は同じくその動作を説明するための図、第６
図は本発明による焦点検出装置の変形例を示す線
図、第７図は同じくその信号処理回路を示す回路
図、第８図、第９図、第１０図はそれぞれ本発明
による焦点検出方法を実施する光学的読み取り装
置の更に他の例の要部またはその一部の構成を示
す線図、第１１図は第１０図に示す装置の動作を
説明するための図、第１２図、第１３図、第１４
図、第１５図、第１６図および第１７図は本発明
による焦点検出装置の他の例の要部の構成を示す
線図である。 ２１…レーザ光源、２２…コリメータレンズ、
２３…偏光プリズム、２４…1/4波長板、２５…
対物レンズ、２６…デイスク、２７，３７，４４
…検出プリズム、２７ａ，３７ａ，３７ｂ，４４
ａ…面、２８，３０…光検出器、３１…集光レン
ズ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 光源から射出された光を対物レンズにより被
照射物体上に集束させ、その反射光の少なく共一
部を、該反射光束中の一つの光線に対してほぼ臨
界角となるように設定した面を有するプリズムに
入射させ、このプリズムの前記面で反射された反
射光の光量分布の変化、或いは該面で屈折された
透過光の光量分布の変化、または反射光と透過光
の光量分布の変化を光検出器で検出することによ
り、前記対物レンズの前記被照射物体に対する焦
点誤差信号を得る焦点検出方法において、前記被
照射物体で反射された光束の周辺光束のみを前記
面を介して光検出器に入射させることを特徴とす
る焦点検出方法。 ２ 光源から放射された光を集束させて被照射物
体に照射する対物レンズと、前記被照射物体で反
射され、この対物レンズで集光された反射光束中
の周辺部の二つの光線に対してそれぞれほぼ臨界
角となるように設定した面を有するプリズムと、
このプリズムの前記面で反射された反射光の光量
分布の変化、或いは前記面で反射された反射光と
屈折された透過光との光量分布の変化、または前
記面で屈折された透過光の光量分布の変化を検出
する光検出器とを具え、この光検出器の出力から
前記対物レンズの前記被照射物体に対する焦点誤
差信号を得るように構成したことを特徴とする焦
点検出装置。 ３ 前記被照射物体を同心状または螺旋状に情報
トラツクを記録した光学式デイスクとし、このデ
イスクで反射された反射光束の内、前記光検出器
に入射しない中心部分の光束を集光する集光レン
ズと、この集光レンズの焦点面に配置され、前記
デイスクの情報トラツクの接線方向に対応する方
向に延在し、光軸を含む平面を境界として二分割
した受光領域を有する第２の光検出器とを具え、
この第２光検出器の出力からトラツキング誤差信
号を得ることを特徴とする特許請求の範囲第２項
記載の焦点検出装置。 ４ 前記被照射物体を同心状または螺旋状に情報
トラツクを記録した光学式デイスクとし、このデ
イスクで反射される反射光束の内、前記光検出器
に入射しない中心部分の光束を、前記光源として
作用する半導体レーザに帰還させ、この半導体レ
ーザの自己結合効果により前記デイスクの情報ト
ラツクを再生した情報信号を得るようにしたこと
を特徴とする特許請求の範囲第２項記載の焦点検
出装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55114464A JPS5752006A (en) | 1980-08-19 | 1980-08-19 | Method and device for detecting focus |
| US06/292,929 US4422168A (en) | 1980-08-19 | 1981-08-14 | Method and apparatus for detecting a focussing condition of an objective lens |
| KR1019810003015A KR830006706A (ko) | 1980-08-19 | 1981-08-19 | 대물렌즈의 집속조건 검출용 장치 및 방법 |
| DE3132818A DE3132818C2 (de) | 1980-08-19 | 1981-08-19 | Vorrichtung zum Steuern des Fokussierzustandes eines Objektivs in bezug auf eine Videoplatte |
| KR2019850006215U KR850002997Y1 (ko) | 1980-08-19 | 1985-05-25 | 대물렌즈의 집속 조건 검출장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55114464A JPS5752006A (en) | 1980-08-19 | 1980-08-19 | Method and device for detecting focus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5752006A JPS5752006A (en) | 1982-03-27 |
| JPS6339979B2 true JPS6339979B2 (ja) | 1988-08-09 |
Family
ID=14638387
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55114464A Granted JPS5752006A (en) | 1980-08-19 | 1980-08-19 | Method and device for detecting focus |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4422168A (ja) |
| JP (1) | JPS5752006A (ja) |
| KR (1) | KR830006706A (ja) |
| DE (1) | DE3132818C2 (ja) |
Families Citing this family (31)
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1981
- 1981-08-14 US US06/292,929 patent/US4422168A/en not_active Expired - Lifetime
- 1981-08-19 KR KR1019810003015A patent/KR830006706A/ko unknown
- 1981-08-19 DE DE3132818A patent/DE3132818C2/de not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3132818C2 (de) | 1986-10-09 |
| KR830006706A (ko) | 1983-10-06 |
| DE3132818A1 (de) | 1982-04-29 |
| JPS5752006A (en) | 1982-03-27 |
| US4422168A (en) | 1983-12-20 |
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