JPH0372965B2 - - Google Patents
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- JPH0372965B2 JPH0372965B2 JP55114462A JP11446280A JPH0372965B2 JP H0372965 B2 JPH0372965 B2 JP H0372965B2 JP 55114462 A JP55114462 A JP 55114462A JP 11446280 A JP11446280 A JP 11446280A JP H0372965 B2 JPH0372965 B2 JP H0372965B2
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
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- G11B7/0917—Focus-error methods other than those covered by G11B7/0909 - G11B7/0916
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- G11B7/0917—Focus-error methods other than those covered by G11B7/0909 - G11B7/0916
- G11B2007/0919—Critical angle methods
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、例えば記録媒体上に螺旋或いは同心
円状に記録された情報トラツクに対物レンズを経
て読み取り光スポツトを集束して情報を読み取る
装置において、対物レンズの記録媒体に対する焦
点はずれを検出する焦点検出方法における改良に
関するものである。
円状に記録された情報トラツクに対物レンズを経
て読み取り光スポツトを集束して情報を読み取る
装置において、対物レンズの記録媒体に対する焦
点はずれを検出する焦点検出方法における改良に
関するものである。
上述した情報読み取り装置は従来より既知であ
り、情報トラツクを有する記録媒体には、例えば
ビデオデイスクと呼ばれているものがある。この
ビデオデイスクには情報トラツクに符号化された
ビデオ信号や音声信号が、光学的透過特性、反射
特性、位相特性などの光学的情報として記録され
ている。ビデオデイスクに記録された情報は、こ
れを高速で回転させながらレーザ光源から放射さ
れるレーザ光を対物レンズを経て情報トラツク上
に集束させ、情報トラツクによつて変調された透
過光または反射光を検出して読み取つている。こ
のような記録媒体の特長の一つは、情報の記録密
度が非常に高いことであり、そのため各情報トラ
ツクの幅が極めて狭いと共に、順次の情報トラツ
ク間の間隔も非常に狭くなつている。このように
幅もピツチも狭い情報トラツクから元の情報を正
確に読み取るためには、対物レンズをビデオデイ
スク面に対して常に合焦状態となるようにして、
デイスク面上での光スポツトの径を小さくする必
要がある。このためかかる光学的読み取り装置に
おいては、対物レンズのデイスク面に対する焦点
はずれを検出し、この焦点はずれ信号に基づいて
対物レンズをその光軸方向に変化させるフオーカ
ツシング制御が行なわれている。
り、情報トラツクを有する記録媒体には、例えば
ビデオデイスクと呼ばれているものがある。この
ビデオデイスクには情報トラツクに符号化された
ビデオ信号や音声信号が、光学的透過特性、反射
特性、位相特性などの光学的情報として記録され
ている。ビデオデイスクに記録された情報は、こ
れを高速で回転させながらレーザ光源から放射さ
れるレーザ光を対物レンズを経て情報トラツク上
に集束させ、情報トラツクによつて変調された透
過光または反射光を検出して読み取つている。こ
のような記録媒体の特長の一つは、情報の記録密
度が非常に高いことであり、そのため各情報トラ
ツクの幅が極めて狭いと共に、順次の情報トラツ
ク間の間隔も非常に狭くなつている。このように
幅もピツチも狭い情報トラツクから元の情報を正
確に読み取るためには、対物レンズをビデオデイ
スク面に対して常に合焦状態となるようにして、
デイスク面上での光スポツトの径を小さくする必
要がある。このためかかる光学的読み取り装置に
おいては、対物レンズのデイスク面に対する焦点
はずれを検出し、この焦点はずれ信号に基づいて
対物レンズをその光軸方向に変化させるフオーカ
ツシング制御が行なわれている。
第1図は従来の光学的読み取り装置における焦
点検出方式を説明するための線図である。レーザ
光源1から放射された光(紙面内に直線偏光して
いる)はコリメートレンズ2によつて平行光とさ
れ、偏光膜を有する偏光プリズム3,1/4波長板
4および対物レンズ5を経て情報トラツクを含む
デイスク6上に集束される。この光束は凹凸のピ
ツト形状を持つ情報トラツクにより反射され、対
物レンズ5および1/4波長板4を経て偏光プリズ
ム3に入射する。偏光プリズム3に入射する反射
光は、1/4波長板4の作用により紙面に対し垂直
方向に偏光されているから、この光は偏光プリズ
ム3で反射される。この偏光プリズムで反射され
た光束を集光レンズ7および円筒レンズ8により
集束させる。ここで円筒レンズ8は一軸方向にの
み集束作用を持つから、集光レンズ7および円筒
レンズ8による集束ビームの形状は、デイスク6
の位置が上下にずれると、情報トラツクに正しく
集束された状態(合焦位置)を境として直交した
方向に変形する。従来は、この形状変化を例えば
四分割した光検出器(図示せず)により検出して
焦点誤差信号を得、この信号によりフオーカツシ
ング制御を行なつている。
点検出方式を説明するための線図である。レーザ
光源1から放射された光(紙面内に直線偏光して
いる)はコリメートレンズ2によつて平行光とさ
れ、偏光膜を有する偏光プリズム3,1/4波長板
4および対物レンズ5を経て情報トラツクを含む
デイスク6上に集束される。この光束は凹凸のピ
ツト形状を持つ情報トラツクにより反射され、対
物レンズ5および1/4波長板4を経て偏光プリズ
ム3に入射する。偏光プリズム3に入射する反射
光は、1/4波長板4の作用により紙面に対し垂直
方向に偏光されているから、この光は偏光プリズ
ム3で反射される。この偏光プリズムで反射され
た光束を集光レンズ7および円筒レンズ8により
集束させる。ここで円筒レンズ8は一軸方向にの
み集束作用を持つから、集光レンズ7および円筒
レンズ8による集束ビームの形状は、デイスク6
の位置が上下にずれると、情報トラツクに正しく
集束された状態(合焦位置)を境として直交した
方向に変形する。従来は、この形状変化を例えば
四分割した光検出器(図示せず)により検出して
焦点誤差信号を得、この信号によりフオーカツシ
ング制御を行なつている。
しかし、上述の従来の焦点検出方式において
は、集光ビームの形状変化による誤差信号が得ら
れる領域が狭いため、合焦状態から離れ過ぎると
信号が得られない欠点がある。
は、集光ビームの形状変化による誤差信号が得ら
れる領域が狭いため、合焦状態から離れ過ぎると
信号が得られない欠点がある。
一方本願人は前述と異なる焦点検出方法を既に
提案した。これは光源から射出された光を対物レ
ンズにより被照射物体上に集束させ、その反射光
の少く共一部を、該反射光束中の一つの光線に対
してほぼ臨界角となるように設定した反射面を有
する光学部材に入射させ、この光学部材の反射面
で反射させた反射光の光量分布の変化、或いは該
反射面で反射された反射光と屈折された透過光と
の光量変化を検出することにより、前記対物レン
ズの前記被照射物体に対する焦点誤差信号を得る
ようにしたものである。
提案した。これは光源から射出された光を対物レ
ンズにより被照射物体上に集束させ、その反射光
の少く共一部を、該反射光束中の一つの光線に対
してほぼ臨界角となるように設定した反射面を有
する光学部材に入射させ、この光学部材の反射面
で反射させた反射光の光量分布の変化、或いは該
反射面で反射された反射光と屈折された透過光と
の光量変化を検出することにより、前記対物レン
ズの前記被照射物体に対する焦点誤差信号を得る
ようにしたものである。
第2図は本願人が既に開発した焦点検出方法を
実施する光学的読み取り装置の一例の要部の構成
を示す線図である。本例に示す光学的読み取り装
置は、デイスク6の反射光を偏光プリズム3で反
射させる迄は第1図に示す光学的読み取り装置と
同じ構成なので、第1図に示す符号と同一符号は
同一光学部材を表わす。本例では偏光プリズム3
で反射した光束を検出プリズム10に入射し、そ
の反射面11により反射される光束を検出器12
で受光する。反射面11は、合焦状態での入射光
源(平行光束)に対してほぼ臨界角となるように
設定する。もし臨界角に丁度設定されれば、合焦
状態では偏光プリズム3で反射された全光線は反
射面11で全反射され、デイスク6が合焦状態か
らa方向にずれると偏光プリズム3で反射された
光束に反射面11に対して最外側の光線をai1〜
ai2で示す傾き成分を持つ光線束となる。またデ
イスク6が合焦状態からb方向にずれると、反射
面11への入射光線は最外側の光線をbi1〜bi2で
示す傾き成分を持つ光線束となる。すなわち、デ
イスク6が合焦状態からずれると、反射面11へ
の入射光線は光軸上の中心光線(一点鎖線)を除
いて臨界角の前後で連続的に変化する。したがつ
て、デイスク6がaおよびb方向に変位して合焦
状態からずれると、反射面11での反射強度は中
心光線を含む紙面に対し垂直な面を境として明暗
の状態がそれぞれ逆になる。これに対し、合焦状
態では、一様に全反射されるから、このような明
暗は現われない。光検出器12は、このような反
射面11からの反射光の光量分布を検出するもの
で、第2図中に平面図をも示すように、中心光線
(光軸)を境に二分割した二つの受光領域12A,
12Bをもつて構成し、これら受光領域の出力の
差を差動増幅器13で求めることにより焦点誤差
信号を得ることができる。またデイスク6の情報
信号は加算器14から得ることができる。
実施する光学的読み取り装置の一例の要部の構成
を示す線図である。本例に示す光学的読み取り装
置は、デイスク6の反射光を偏光プリズム3で反
射させる迄は第1図に示す光学的読み取り装置と
同じ構成なので、第1図に示す符号と同一符号は
同一光学部材を表わす。本例では偏光プリズム3
で反射した光束を検出プリズム10に入射し、そ
の反射面11により反射される光束を検出器12
で受光する。反射面11は、合焦状態での入射光
源(平行光束)に対してほぼ臨界角となるように
設定する。もし臨界角に丁度設定されれば、合焦
状態では偏光プリズム3で反射された全光線は反
射面11で全反射され、デイスク6が合焦状態か
らa方向にずれると偏光プリズム3で反射された
光束に反射面11に対して最外側の光線をai1〜
ai2で示す傾き成分を持つ光線束となる。またデ
イスク6が合焦状態からb方向にずれると、反射
面11への入射光線は最外側の光線をbi1〜bi2で
示す傾き成分を持つ光線束となる。すなわち、デ
イスク6が合焦状態からずれると、反射面11へ
の入射光線は光軸上の中心光線(一点鎖線)を除
いて臨界角の前後で連続的に変化する。したがつ
て、デイスク6がaおよびb方向に変位して合焦
状態からずれると、反射面11での反射強度は中
心光線を含む紙面に対し垂直な面を境として明暗
の状態がそれぞれ逆になる。これに対し、合焦状
態では、一様に全反射されるから、このような明
暗は現われない。光検出器12は、このような反
射面11からの反射光の光量分布を検出するもの
で、第2図中に平面図をも示すように、中心光線
(光軸)を境に二分割した二つの受光領域12A,
12Bをもつて構成し、これら受光領域の出力の
差を差動増幅器13で求めることにより焦点誤差
信号を得ることができる。またデイスク6の情報
信号は加算器14から得ることができる。
第2図において、デイスク6がa方向に変位し
たときは、反射面11に入射する光のうち中心光
線より図において下側の光束は、一番外側の入射
光線ai1を筆頭としてすべての入射光線の入射角
は臨界角よりも小さくなる。したがつて、この部
分では透過光が存在し、一番外側の透過光線at1
からn迄を含む光線束が透過する。この透過した
分だけ、一番外側の反射光線ar1から中心光線迄
を含む反射光線束の強度は弱められる。反射面1
1に入射する光のうち、中心光線より図において
上側の光束は、一番外側の入射光線ai2を筆頭と
してすべての入射光線の入射角は臨界角よりも大
きくなる。したがつて、この部分では透過光が存
在せず、入射した全ての光線が、一番外側の反射
光線ar2から中心光線迄を含む光束に含まれて反
射する。したがつて、この場合には、光検出器1
2上での光量分布は、受光領域12Aが暗くな
り、受光領域12Bは明るいまま変化しない。
たときは、反射面11に入射する光のうち中心光
線より図において下側の光束は、一番外側の入射
光線ai1を筆頭としてすべての入射光線の入射角
は臨界角よりも小さくなる。したがつて、この部
分では透過光が存在し、一番外側の透過光線at1
からn迄を含む光線束が透過する。この透過した
分だけ、一番外側の反射光線ar1から中心光線迄
を含む反射光線束の強度は弱められる。反射面1
1に入射する光のうち、中心光線より図において
上側の光束は、一番外側の入射光線ai2を筆頭と
してすべての入射光線の入射角は臨界角よりも大
きくなる。したがつて、この部分では透過光が存
在せず、入射した全ての光線が、一番外側の反射
光線ar2から中心光線迄を含む光束に含まれて反
射する。したがつて、この場合には、光検出器1
2上での光量分布は、受光領域12Aが暗くな
り、受光領域12Bは明るいまま変化しない。
これに対し、デイスク6がb方向に変位したと
きは、反射面11への入射光線の傾きの関係が上
述したa方向の場合と逆になり、したがつて光検
出器12の領域12A,12Bの明暗の関係が逆
になる。この場合の反射面11における反射光お
よび透過化をそれぞれ符号br1,br2およびbt2で示
す。
きは、反射面11への入射光線の傾きの関係が上
述したa方向の場合と逆になり、したがつて光検
出器12の領域12A,12Bの明暗の関係が逆
になる。この場合の反射面11における反射光お
よび透過化をそれぞれ符号br1,br2およびbt2で示
す。
なお、合焦状態では光検出器12の受光領域1
2A,12Bへの入射光量はそれぞれ等しくな
る。
2A,12Bへの入射光量はそれぞれ等しくな
る。
したがつて、各受光領域12A,12Bの出力
の差を検出することにより、その量および極性か
らずれの量および方向を表わす焦点誤差信号を得
ることができ、この信号に基いて対物レンズ5を
光軸方向に移動制御するフオーカツシング制御を
行なうことができると共に、受光領域12A,1
2Bの出力の和からデイスク6に記録されたピツ
ト対応信号を検出することができる。しかも合焦
状態では反射面11での透過成分が殆んどないか
ら、光量の損失が極めて少ないと共に、合焦から
外れた場合には、中心光線を境にいずれか一方の
側の光束が全反射され、他方の側の光束の反射強
度が極端に減少するから受光領域12A,12B
における光量差が著しくなる。したがつて、十分
正確に焦点検査を行なうことができる。
の差を検出することにより、その量および極性か
らずれの量および方向を表わす焦点誤差信号を得
ることができ、この信号に基いて対物レンズ5を
光軸方向に移動制御するフオーカツシング制御を
行なうことができると共に、受光領域12A,1
2Bの出力の和からデイスク6に記録されたピツ
ト対応信号を検出することができる。しかも合焦
状態では反射面11での透過成分が殆んどないか
ら、光量の損失が極めて少ないと共に、合焦から
外れた場合には、中心光線を境にいずれか一方の
側の光束が全反射され、他方の側の光束の反射強
度が極端に減少するから受光領域12A,12B
における光量差が著しくなる。したがつて、十分
正確に焦点検査を行なうことができる。
以上説明した2つの焦点検出方法では、焦点誤
差信号が得られる領域が狭いため、デイスクの振
れが大き過ぎて対物レンズが合焦位置から離れ過
ぎるともはや合焦位置に対物レンズを引き込むこ
とができなくなる欠点がある。かかる理由を前述
の臨界角による焦点検出法に基づき説明する。デ
イスク6から検出プリズム10までの光路長が非
常に長いとデイスク6が合焦位置から大きくずれ
たときに検出プリズム10に入る集束光が光軸に
近くなり、それがほぼ臨界角に設定した反射面で
反射されたとき、反射光は光軸を含む境界面を横
切つて光検出器12に入射するため明暗の関係が
上述したところとは反対となつてしまう。この状
況を第3図に示す。第3図はデイスク6がa方向
に大きくずれ、発散された光束が検出プリズムの
反射面11に入射する場合を示すものであり、光
軸を含み、第3図の平面に垂直な境界面の上側の
光束は臨界角よりも大きな角度を以つて反射面1
1に入射するため反射面で全反射される。一方境
界面の下側の光束は臨界角よりも小さな角度で入
射するため反射面11を透過し、屈折される。第
3図において斜線で示すように反射面11で反射
された光束は光軸を横切つて受光領域12Aに入
射する。したがつて受光領域12Aは明るくな
り、受光領域12Bは暗くなる。上述したように
このような明暗関係は本来デイスク6がb方向に
変位し、集束光が入射面11に入射するときに得
られるものであるから、適正なフオーカシング制
御を行なうことはできない。第3図から明らかな
ように、このように明暗の関係が逆になることは
光検出器12を対物レンズ5に接近させることに
より或る程度は防ぐことができるが、これらの間
には光分割素子3,1/4波長板4,検出プリズム
10が挿入されるから、余り接近させることはで
きない。
差信号が得られる領域が狭いため、デイスクの振
れが大き過ぎて対物レンズが合焦位置から離れ過
ぎるともはや合焦位置に対物レンズを引き込むこ
とができなくなる欠点がある。かかる理由を前述
の臨界角による焦点検出法に基づき説明する。デ
イスク6から検出プリズム10までの光路長が非
常に長いとデイスク6が合焦位置から大きくずれ
たときに検出プリズム10に入る集束光が光軸に
近くなり、それがほぼ臨界角に設定した反射面で
反射されたとき、反射光は光軸を含む境界面を横
切つて光検出器12に入射するため明暗の関係が
上述したところとは反対となつてしまう。この状
況を第3図に示す。第3図はデイスク6がa方向
に大きくずれ、発散された光束が検出プリズムの
反射面11に入射する場合を示すものであり、光
軸を含み、第3図の平面に垂直な境界面の上側の
光束は臨界角よりも大きな角度を以つて反射面1
1に入射するため反射面で全反射される。一方境
界面の下側の光束は臨界角よりも小さな角度で入
射するため反射面11を透過し、屈折される。第
3図において斜線で示すように反射面11で反射
された光束は光軸を横切つて受光領域12Aに入
射する。したがつて受光領域12Aは明るくな
り、受光領域12Bは暗くなる。上述したように
このような明暗関係は本来デイスク6がb方向に
変位し、集束光が入射面11に入射するときに得
られるものであるから、適正なフオーカシング制
御を行なうことはできない。第3図から明らかな
ように、このように明暗の関係が逆になることは
光検出器12を対物レンズ5に接近させることに
より或る程度は防ぐことができるが、これらの間
には光分割素子3,1/4波長板4,検出プリズム
10が挿入されるから、余り接近させることはで
きない。
また、特開昭53−19805号公報には本願発明と
同じ目的である焦点誤差信号の検出範囲を拡げる
技術が説明されている。かかる先行技術は対物レ
ンズと一方向性光学素子とをある特定の条件式を
満たすように配置することにより焦点誤差信号の
検出範囲を拡げようとするものである。しかし、
この解決手段は対物レンズ並びに一方向性素子の
配置等種々の制約が課せられることになり設計の
自由度が小となる欠点がある。
同じ目的である焦点誤差信号の検出範囲を拡げる
技術が説明されている。かかる先行技術は対物レ
ンズと一方向性光学素子とをある特定の条件式を
満たすように配置することにより焦点誤差信号の
検出範囲を拡げようとするものである。しかし、
この解決手段は対物レンズ並びに一方向性素子の
配置等種々の制約が課せられることになり設計の
自由度が小となる欠点がある。
本発明の目的は、上記欠点を除去した焦点誤差
検出方法を提供することを目的とするものであ
り、デイスク等の被照射物体の振れが大であつて
も、対物レンズを合焦位置に引き込めるように、
焦点誤差信号の検出範囲を大にして、被照射物体
に対する対物レンズの位置検出範囲を拡げること
を目的とするものである。
検出方法を提供することを目的とするものであ
り、デイスク等の被照射物体の振れが大であつて
も、対物レンズを合焦位置に引き込めるように、
焦点誤差信号の検出範囲を大にして、被照射物体
に対する対物レンズの位置検出範囲を拡げること
を目的とするものである。
本発明は、かかる目的を達成するために光源か
ら射出された光を対物レンズにより被照射物体上
に集束させ、その反射光の少なく共一部を、反射
光束中の一つの光線に対してほぼ臨界角となるよ
うに設定した反射面を有する焦点検出用の光学部
材へ入射させ、この反射面で反射された反射光束
の光量分布の変化を少なく共2つに分割された光
検出器により検出して、前記対物レンズの前記被
照射物体に対する焦点誤差信号を得るに当たり、
前記光学部材と前記光検出器との間にリレーレン
ズを配置して焦点検出範囲を拡大したことを特徴
とするものである。
ら射出された光を対物レンズにより被照射物体上
に集束させ、その反射光の少なく共一部を、反射
光束中の一つの光線に対してほぼ臨界角となるよ
うに設定した反射面を有する焦点検出用の光学部
材へ入射させ、この反射面で反射された反射光束
の光量分布の変化を少なく共2つに分割された光
検出器により検出して、前記対物レンズの前記被
照射物体に対する焦点誤差信号を得るに当たり、
前記光学部材と前記光検出器との間にリレーレン
ズを配置して焦点検出範囲を拡大したことを特徴
とするものである。
以下図面を参照して本発明を詳細に説明する。
第4図は本発明の焦点検出方法を実施する装置
の一例の構成を示す構図である。光源21から放
射される偏光ビームをコリメータレンズ22によ
り平行光束とし、これを偏光プリズム23,1/4
波長板24および対物レンズ25を介してデイス
ク26上にスポツトとして照射する。デイスク2
6からの反射光を対物レンズ25で集光し、1/4
波長板24および偏光プリズム23を介して検出
プリズム27に入射させる。焦点誤差に関連して
光検出器に入射する光束に変化を与える焦点検出
用の光学部材、例えば検出プリズム27の反射面
27aは合焦時の平行入射光束に対してほぼ臨界
角に設定されている。反射面27aで反射される
光をリレーレンズ28を介して光検出器29に入
射させる。本発明でもこの光検出器29は二分割
した受光領域29Aおよび29Bを有している。
これら受光領域28A,28Bの出力の差を差動
増幅器30で求めることにより出力端子には焦点
誤差信号が得られることになる。
の一例の構成を示す構図である。光源21から放
射される偏光ビームをコリメータレンズ22によ
り平行光束とし、これを偏光プリズム23,1/4
波長板24および対物レンズ25を介してデイス
ク26上にスポツトとして照射する。デイスク2
6からの反射光を対物レンズ25で集光し、1/4
波長板24および偏光プリズム23を介して検出
プリズム27に入射させる。焦点誤差に関連して
光検出器に入射する光束に変化を与える焦点検出
用の光学部材、例えば検出プリズム27の反射面
27aは合焦時の平行入射光束に対してほぼ臨界
角に設定されている。反射面27aで反射される
光をリレーレンズ28を介して光検出器29に入
射させる。本発明でもこの光検出器29は二分割
した受光領域29Aおよび29Bを有している。
これら受光領域28A,28Bの出力の差を差動
増幅器30で求めることにより出力端子には焦点
誤差信号が得られることになる。
本例装置の動作を第5図をも参照して説明す
る。第5図Aは合焦状態を示し、対物レンズから
の射出光は平行光束となつて検出プリズムに入射
する。リレーレンズ28はこの平行光束を受け
る。リレーレンズ28は点31の像を光検出器2
9上に結像する。合焦時は反射面27aは全反射
するので受光領域29Aおよび29Bには等しく
光が入射し、差動増幅器の出力はない。
る。第5図Aは合焦状態を示し、対物レンズから
の射出光は平行光束となつて検出プリズムに入射
する。リレーレンズ28はこの平行光束を受け
る。リレーレンズ28は点31の像を光検出器2
9上に結像する。合焦時は反射面27aは全反射
するので受光領域29Aおよび29Bには等しく
光が入射し、差動増幅器の出力はない。
第5図Bはデイスク26がa方向に変位した場
合を示し、このときは、検出プリズム27の入射
光束の内左側の半分は検出プリズムを透過する
が、右側の半分は反射面27aで反射され、この
反射光はリレーレンズ28を経て一方の受光領域
29Bに選択的に入射する。他方の受光領域29
Aには光が入射しないので差動増幅器30の出力
は負となる。第5図においては欠けた光束を斜線
で示している。
合を示し、このときは、検出プリズム27の入射
光束の内左側の半分は検出プリズムを透過する
が、右側の半分は反射面27aで反射され、この
反射光はリレーレンズ28を経て一方の受光領域
29Bに選択的に入射する。他方の受光領域29
Aには光が入射しないので差動増幅器30の出力
は負となる。第5図においては欠けた光束を斜線
で示している。
第5図Cはデイスク26がb方向に変位する場
合を示し、この場合には受光領域29Aに光が選
択的に入射するので差動増幅器30の出力は正と
なる。
合を示し、この場合には受光領域29Aに光が選
択的に入射するので差動増幅器30の出力は正と
なる。
第5図Dはデイスク26がb方向にさらに変位
し、対物レンズ25から遠去つた場合を示す。こ
の場合にはリレーレンズ28の出射光束は反転し
ないので受光領域29Bにのみ光が入射し、した
がつて差動増幅器30の出力は正となり、正しい
焦点誤差信号が得られる。第5図Dから明らかな
ように、明暗の関係は対物レンズからの光束の焦
束点32がリレーレンズ28の物体面31よりも
対物レンズ側になるまでは逆転しないので、広い
範囲に亘つて正しい焦点誤差信号が得られること
になる。
し、対物レンズ25から遠去つた場合を示す。こ
の場合にはリレーレンズ28の出射光束は反転し
ないので受光領域29Bにのみ光が入射し、した
がつて差動増幅器30の出力は正となり、正しい
焦点誤差信号が得られる。第5図Dから明らかな
ように、明暗の関係は対物レンズからの光束の焦
束点32がリレーレンズ28の物体面31よりも
対物レンズ側になるまでは逆転しないので、広い
範囲に亘つて正しい焦点誤差信号が得られること
になる。
第6図の実線Aは本発明におけるデイスク26
のずれ量と差動増幅器30の出力との関係を示す
ものである。また破線Bは第2図に示す焦点検出
装置の差動増幅器13の出力を示すものである。
これら二つの曲線から明らかなように本願発明で
は広範囲のずれに対して正しい焦点誤差信号が得
られることがわかる。また、本発明では点32に
おいて特異点があるが、これは検出プリズム27
の反射面上で対物レンズ25からの光束が集束す
る場合であり、このときは光検出器29上には均
一な光が入射し、差動増幅器30の出力は零とな
る。しかしこれは検出プリズム27の反射面27
aが集束光の焦点深度内に入つた場合だけであ
り、それから少しでもずれれば正しい差出力が得
られるので実用上問題はない。
のずれ量と差動増幅器30の出力との関係を示す
ものである。また破線Bは第2図に示す焦点検出
装置の差動増幅器13の出力を示すものである。
これら二つの曲線から明らかなように本願発明で
は広範囲のずれに対して正しい焦点誤差信号が得
られることがわかる。また、本発明では点32に
おいて特異点があるが、これは検出プリズム27
の反射面上で対物レンズ25からの光束が集束す
る場合であり、このときは光検出器29上には均
一な光が入射し、差動増幅器30の出力は零とな
る。しかしこれは検出プリズム27の反射面27
aが集束光の焦点深度内に入つた場合だけであ
り、それから少しでもずれれば正しい差出力が得
られるので実用上問題はない。
第7図は本発明による焦点検出装置の変形例を
示すものである。第4図に示す例において焦点誤
差信号の特異点32は検出プリズム27の反射面
27aと対物レンズ25との距離で決定されるか
ら、光検出器29上に結像される像を反射面31
から対物レンズ25の瞳面の間のものとすれば特
異点32による影響を除くことができる。第7図
に示す例においては、リレーレンズ28により対
物レンズ25の瞳面の像を光検出器29上に結像
されるように構成する。
示すものである。第4図に示す例において焦点誤
差信号の特異点32は検出プリズム27の反射面
27aと対物レンズ25との距離で決定されるか
ら、光検出器29上に結像される像を反射面31
から対物レンズ25の瞳面の間のものとすれば特
異点32による影響を除くことができる。第7図
に示す例においては、リレーレンズ28により対
物レンズ25の瞳面の像を光検出器29上に結像
されるように構成する。
デイスク26が位相形でかつピツトの深さが
λ/4以外の場合には、対物レンズ25の瞳面の光
強度分布はピツトとビームスポツトとの相対的位
置関係により非対称に変化する。したがつて第7
図に示す例にように対物レンズ25の瞳面の像を
光検出器29上に結像するようにした場合には、
第8図に示すように検出プリズム27の反射面2
7aへの入射面の方向およびこれと直交するトラ
ツクに垂直な方向に四分割した受光領域34A〜
34Dを有する光検出器34を用いることにより
焦点誤差信号と同時にトラツキング誤差信号を得
ることができる。すなわち、受光領域34Aと3
4Bの出力の和を加算器35Aで求め、受光領域
34Cと34Dの出力の和を加算器35Bで求
め、これらの和の差を差動増幅器36Aで求める
ことにより焦点誤差信号を得ることができる。ま
た、受光領域34Bと34Dの出力の和を加算器
35Cで求め、受光領域34Aと34Cの出力の
和を加算器35Dで求め、これらの和の差を差動
増幅器36Bで求めることによりトラツキング誤
差信号を得ることができる。
λ/4以外の場合には、対物レンズ25の瞳面の光
強度分布はピツトとビームスポツトとの相対的位
置関係により非対称に変化する。したがつて第7
図に示す例にように対物レンズ25の瞳面の像を
光検出器29上に結像するようにした場合には、
第8図に示すように検出プリズム27の反射面2
7aへの入射面の方向およびこれと直交するトラ
ツクに垂直な方向に四分割した受光領域34A〜
34Dを有する光検出器34を用いることにより
焦点誤差信号と同時にトラツキング誤差信号を得
ることができる。すなわち、受光領域34Aと3
4Bの出力の和を加算器35Aで求め、受光領域
34Cと34Dの出力の和を加算器35Bで求
め、これらの和の差を差動増幅器36Aで求める
ことにより焦点誤差信号を得ることができる。ま
た、受光領域34Bと34Dの出力の和を加算器
35Cで求め、受光領域34Aと34Cの出力の
和を加算器35Dで求め、これらの和の差を差動
増幅器36Bで求めることによりトラツキング誤
差信号を得ることができる。
第9図では、リレーレンズ28と光検出器29
との間にハーフミラー37を配置して光束を分
け、ハーフミラー37を透過した光を光検出器2
9に入射させて差動増幅器30から焦点誤差信号
を得ると共にハーフミラー37で反射される光束
の焦点位置に二分割した受光領域38A,38B
を有する光検出器38を配置し、これら受光領域
の出力の差を差動増幅器39で求めることにより
トラツキング誤差信号を得る実施例を示したもの
である。
との間にハーフミラー37を配置して光束を分
け、ハーフミラー37を透過した光を光検出器2
9に入射させて差動増幅器30から焦点誤差信号
を得ると共にハーフミラー37で反射される光束
の焦点位置に二分割した受光領域38A,38B
を有する光検出器38を配置し、これら受光領域
の出力の差を差動増幅器39で求めることにより
トラツキング誤差信号を得る実施例を示したもの
である。
なお、上述した例では検出プリズムの屈折率を
√2として、反射光線を入射光線に対して90°方
向を変えるようにしたが、これよりも大きい屈折
率をもつ材料を使えば、方向の変化を90°よりも
小さくすることができる。
√2として、反射光線を入射光線に対して90°方
向を変えるようにしたが、これよりも大きい屈折
率をもつ材料を使えば、方向の変化を90°よりも
小さくすることができる。
なお、本発明は上述した例にのみ限定されるも
のではなく、幾多の変形または変更が可能であ
る。例えば、第4図においては検出プリズム27
の反射面27aにS偏光を入射させるようにした
が、偏光プリズム23と検出プリズム27との間
に90°回転子を介在させて、検出プリズム23へ
の入射光束をP偏光とすることができる。このよ
うにすれば、臨界角近傍において反射強度の変化
が急峻となるから、検出感度を更に高めることが
できる。更にまた、上述した例では検出プリズム
の屈折率を便宜上√2として例示したが、これは
臨界角近辺に設定すればよいのでその条件さえ満
たせば任意の屈折率のものを使用することができ
る。更にまた上述した例では偏光している光を使
用するものについて説明したが、偏光していない
光を使用する場合でも本発明を有効に適用するこ
とができる。更にまた、第4図においては、反射
面27aは検出プリズム27に入射する反射光線
のうちの1つの光線に対して臨界角、もしくはこ
れよりもやゝ小さめとなればよいから、その入射
光線は平行光束に限らず、集束または、発散光束
でもよい。更にまた、上述した例では、いずれも
偏光プリズム23を用いたがハーフミラーを用い
ることもできる。また反射面は検出プリズムの一
面として構成する必要はなく、例えば平板なガラ
ス板を以つて構成することもできる。更にまた、
本発明は上述したビデオデイスクにおける光学的
読み取り装置の他、種々の光学機器の焦点検出に
適用することができる。
のではなく、幾多の変形または変更が可能であ
る。例えば、第4図においては検出プリズム27
の反射面27aにS偏光を入射させるようにした
が、偏光プリズム23と検出プリズム27との間
に90°回転子を介在させて、検出プリズム23へ
の入射光束をP偏光とすることができる。このよ
うにすれば、臨界角近傍において反射強度の変化
が急峻となるから、検出感度を更に高めることが
できる。更にまた、上述した例では検出プリズム
の屈折率を便宜上√2として例示したが、これは
臨界角近辺に設定すればよいのでその条件さえ満
たせば任意の屈折率のものを使用することができ
る。更にまた上述した例では偏光している光を使
用するものについて説明したが、偏光していない
光を使用する場合でも本発明を有効に適用するこ
とができる。更にまた、第4図においては、反射
面27aは検出プリズム27に入射する反射光線
のうちの1つの光線に対して臨界角、もしくはこ
れよりもやゝ小さめとなればよいから、その入射
光線は平行光束に限らず、集束または、発散光束
でもよい。更にまた、上述した例では、いずれも
偏光プリズム23を用いたがハーフミラーを用い
ることもできる。また反射面は検出プリズムの一
面として構成する必要はなく、例えば平板なガラ
ス板を以つて構成することもできる。更にまた、
本発明は上述したビデオデイスクにおける光学的
読み取り装置の他、種々の光学機器の焦点検出に
適用することができる。
以上の様に本発明は、焦点検出用の光学部材と
光検出器間にリレーレンズを配置したから、焦点
誤差信号の検出範囲が大となり、被照射物体に対
する対物レンズの位置検出範囲を拡げる効果が得
られる。
光検出器間にリレーレンズを配置したから、焦点
誤差信号の検出範囲が大となり、被照射物体に対
する対物レンズの位置検出範囲を拡げる効果が得
られる。
第1図は従来の焦点検出方式を適用する光学的
読み取り装置の構成を示す線図、第2図は本願人
が開発した焦点検出方法を実施する光学的読み取
り装置の要部の一例の構成を示す線図、第3図は
同じくその動作を説明するための線図、第4図は
本発明による焦点検出方法を実施する光学的読み
取り装置の一例の要部の構成を示す線図、第5図
は同じくその動作を説明するための線図、第6図
は同じくその出力焦点誤差信号を示す波形図、第
7図、第8図、第9図はそれぞれ本発明による焦
点検出方法を実施する光学的読み取り装置の更に
他の例の要部の構成を示す線図である。 21……レーザ光源、22……コリメータレン
ズ、23……偏光プリズム、24……1/4波長板、
25……対物レンズ、26……デイスク、27…
…検出プリズム、27a……反射面、28……リ
レーレンズ、29,34……光検出器。
読み取り装置の構成を示す線図、第2図は本願人
が開発した焦点検出方法を実施する光学的読み取
り装置の要部の一例の構成を示す線図、第3図は
同じくその動作を説明するための線図、第4図は
本発明による焦点検出方法を実施する光学的読み
取り装置の一例の要部の構成を示す線図、第5図
は同じくその動作を説明するための線図、第6図
は同じくその出力焦点誤差信号を示す波形図、第
7図、第8図、第9図はそれぞれ本発明による焦
点検出方法を実施する光学的読み取り装置の更に
他の例の要部の構成を示す線図である。 21……レーザ光源、22……コリメータレン
ズ、23……偏光プリズム、24……1/4波長板、
25……対物レンズ、26……デイスク、27…
…検出プリズム、27a……反射面、28……リ
レーレンズ、29,34……光検出器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 光源から射出された光を対物レンズにより被
照射物体上に集束させ、その反射光の少なく共一
部を、該反射光束中の一つの光線に対してほぼ臨
界角となるように設定した反射面を有する焦点検
出用の光学部材へ入射させ、前記反射面で反射さ
れた反射光束の光量分布の変化を少なく共2つに
分割された光検出器により検出して前記対物レン
ズの前記被照射物体に対する焦点誤差信号を得る
に当り、前記光学部材と前記光検出器との間にリ
レーレンズを配置して焦点検出範囲を拡大したこ
とを特徴とする焦点検出方法。 2 前記リレーレンズは凸レンズであることを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の焦点検出方
法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55114462A JPS5752005A (en) | 1980-08-19 | 1980-08-19 | Focus detecting method |
US06/292,930 US4455085A (en) | 1980-08-19 | 1981-08-14 | Method and apparatus for detecting a focussing condition of an objective lens |
DE3132804A DE3132804C2 (de) | 1980-08-19 | 1981-08-19 | Verfahren zum Erzeugen eines Fokussierfehlersignals eines Objektivs sowie eine Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens |
KR1019810003014A KR830006705A (ko) | 1980-08-19 | 1981-08-19 | 대물렌즈의 집속조건 검출방법 및 장치 |
KR2019850006214U KR850001652Y1 (ko) | 1980-08-19 | 1985-05-25 | 대물렌즈의 집속조건 검출장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55114462A JPS5752005A (en) | 1980-08-19 | 1980-08-19 | Focus detecting method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5752005A JPS5752005A (en) | 1982-03-27 |
JPH0372965B2 true JPH0372965B2 (ja) | 1991-11-20 |
Family
ID=14638337
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP55114462A Granted JPS5752005A (en) | 1980-08-19 | 1980-08-19 | Focus detecting method |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4455085A (ja) |
JP (1) | JPS5752005A (ja) |
KR (1) | KR830006705A (ja) |
DE (1) | DE3132804C2 (ja) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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EP0075192B1 (en) * | 1981-09-17 | 1990-03-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | An optical head |
DE3216053A1 (de) * | 1982-04-29 | 1983-11-03 | Karl Mengele & Söhne Maschinenfabrik und Eisengießerei GmbH & Co, 8870 Günzburg | Optoelektronisches messverfahren und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
DE3219503C2 (de) * | 1982-05-25 | 1985-08-08 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Vorrichtung zum selbsttätigen Fokussieren auf in optischen Geräten zu betrachtende Objekte |
US4626679A (en) * | 1982-09-22 | 1986-12-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical head and method of detecting the focus thereof |
JPS5990007A (ja) * | 1982-11-16 | 1984-05-24 | Olympus Optical Co Ltd | 光学式寸度測定装置 |
JPH0782655B2 (ja) * | 1983-04-28 | 1995-09-06 | オリンパス光学工業株式会社 | 光ヘッド |
JPS618744A (ja) * | 1984-06-22 | 1986-01-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光デイスク装置のフオ−カス誤差検出装置 |
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EP0225564A3 (en) * | 1985-11-30 | 1988-07-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical head |
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