JPH0215925B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0215925B2
JPH0215925B2 JP14267380A JP14267380A JPH0215925B2 JP H0215925 B2 JPH0215925 B2 JP H0215925B2 JP 14267380 A JP14267380 A JP 14267380A JP 14267380 A JP14267380 A JP 14267380A JP H0215925 B2 JPH0215925 B2 JP H0215925B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
focus
reflective surface
lens
objective lens
Prior art date
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Expired
Application number
JP14267380A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5766535A (en
Inventor
Kiichi Kato
Tooru Musha
Kenichi Ito
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP14267380A priority Critical patent/JPS5766535A/ja
Publication of JPS5766535A publication Critical patent/JPS5766535A/ja
Publication of JPH0215925B2 publication Critical patent/JPH0215925B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/0908Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only

Landscapes

  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、例えば記録媒体上に螺旋あるいは同
心円状に記録された情報トラツクに対物レンズを
経て読み取り光スポツトを集束して情報を読み取
る装置において、対物レンズの記録媒体に対する
焦点はずれを検出する焦点検出装置に関するもの
である。
上述した情報読み取り装置は従来より既知であ
り、情報トラツクを有する記録媒体には、例えば
ビデオデイスクと呼ばれているものがある。この
ビデオデイスクには情報トラツクに符号化された
ビデオ信号や音声信号が、光学的透過特性、反射
特性、位相特性などの光学的情報として記録され
ている。ビデオデイスクに記録された情報は、こ
れを高速で回転させながらレーザ光源から放射さ
れるレーザ光を対物レンズを経て情報トラツク上
に集束させ、情報トラツクによつて変調された透
過光または反射光を検出して読み取つている。こ
のような記録媒体の特長の一つは、情報の記録密
度が非常に高いことであり、そのため各情報トラ
ツクの幅が極めて狭いと共に、順次の情報トラツ
クの間隔も非常に狭くなつている。このように幅
もピツチも狭い情報トラツクから元の情報を正確
に読み取るためには、対物レンズをビデオデイス
ク面に対して常に合焦状態となるようにして、デ
イスク面上での光スポツトの径を小さくする必要
がある。このためかかる光学的読み取り装置にお
いては、対物レンズのデイスク面に対する焦点は
ずれを検出し、この焦点はずれ信号に基いて対物
レンズをその光軸方向に変位させるフオーカツシ
ング制御が行なわれている。
第1図は従来の光学的読み取り装置における焦
点検出方式を説明するための線図である。レーザ
光源1から放射された光(紙面内に直線偏光して
いる)はリレーレンズ2を経て平行光とされ、偏
光膜を有する偏光プリズム3、1/4波長板4およ
び対物レンズ5を経て情報トラツクを含むデイス
ク6上に集束される。この光束は凹凸のピツト形
状を持つ情報トラツクにより反射され、対物レン
ズ5および1/4波長板4を経て偏光プリズム3に
入射する。偏光プリズム3に入射する反射光は、
1/4波長板4の作用により紙面に対し垂直方向に
偏光されているから、この光は偏光プリズム3で
反射される。この偏光プリズム3で反射された光
束を集光レンズ7および円筒レンズ8により集束
させる。ここで円筒レンズ8は一軸方向にのみ集
束作用を持つから、集光レンズ7および円筒レン
ズ8による集束ビームの形状は、デイスク6の位
置が合焦位置からaおよびb方向にずれると、情
報トラツクに正しく集束された状態(合焦位置)
を境として直交した方向に変形する。従来は、こ
の形状変化を四分割した光検出器9により受光
し、この光検出器9の対角線同志の出力の和の差
を差動増幅器10で検出して第2図に示すような
焦点誤差信号を得、この信号により差動増幅器1
0の出力が零となるようにフオーカツシング制御
を行なつている。
しかし、上述した従来の焦点検出方式において
は、第2図から明らかなように、差動増幅器10
の出力が零となる合焦点付近で、焦点誤差信号が
急激に変化するが、合焦状態から離れ過ぎると信
号が得られないため、検出可能範囲が狭い欠点が
ある。
このような欠点を除去するため、第3図に示す
ような焦点検出方式も提案された。この焦点検出
装置は、偏光プリズム3と集光レンズ7との間
に、デイスクからの戻り光束のほぼ半分をカツト
するナイフエツジ11を配置すると共に、集光レ
ンズ7の焦点面に二分割した光検出器12を配置
し、この光検出器12のそれぞれの出力の差を差
動増幅器13で検出して焦点誤差信号を得るもの
である。この焦点検出方式によれば、第1図のも
のよりも焦点検出範囲を広くすることができる
が、デイスクからの戻り光束のほぼ半分が常にナ
イフエツジ11でけられるため効率が悪い欠点が
ある。
本発明の目的は、上述した種々の欠点を除去
し、効率良くしかも常に正確に合焦状態を検出で
きるよう適切に構成した焦点検出装置を提供しよ
うとするものである。
本発明の焦点検出装置は、光源から射出された
光を光学的に情報が記録された記録媒体に集束さ
せる対物レンズと、前記記録媒体からの反射光束
の光軸に対して臨界角または臨界角近傍に設定し
た反射面を有する光学部材と、合焦位置にあると
きに前記記録媒体からの反射光束を前記光学部材
の反射面に結像させる手段と、前記光学部材の反
射面での反射光を受光するように配置され、該反
射面での反射光の光軸と直交する平面で、前記反
射面における入射面と直交する方向を境に2分割
した受光領域を有する受光素子とを具え、前記2
個の受光領域の出力を比較して前記対物レンズの
前記記録媒体に対する焦点誤差信号を得るように
したことを特徴とするものである。
以下図面を参照して本発明を詳細に説明する。
第4図は本発明の焦点検出装置の一例の構成を
示す線図であり、光学式デイスクの再生装置に適
用したものである。レーザ光源21(例えばガス
レーザ)から放射された光(P偏光)をリレーレ
ンズ22を経て平行光束とし、偏光膜を有する偏
光プリズム23、1/4波長板24および対物レン
ズ25を経て情報トラツクを含むデイスク26上
に集束させる。デイスク26での反射光は対物レ
ンズ25および1/4波長板24を経て偏光プリズ
ム23に入射させ、該偏光プリズム23によりレ
ーザ光源21とは異なる方向に出射させる。この
偏光プリズム23から出射されるデイスク26か
らの戻り光束(S偏光)を集光レンズ27を経て
プリズム28に入射させる。プリズム28は本例
ではデイスク26からの戻り光束の光軸に対して
臨界角に設定した反射面28aをもつて構成する
と共に、対物レンズ25がデイスク26に対して
合焦位置にあるときに集光レンズ27に入射する
戻り光束(平行光束)が反射面28a上に集束す
るよう配置する。すなわち、集光レンズ27の光
軸と反射面28aとの交点28bが、集光レンズ
27の焦点位置となるようにプリズム28を配置
する。本例ではプリズム28の反射面28aで反
射された光束を、レンズ29を経て2分割された
受光領域30Aおよび30Bを有する光検出器3
0で受光し、受光領域30Aおよび30Bの出力
の差を差動増幅器31で検出して焦点誤差信号を
得る。なお、光検出器30はレンズ29に関して
反射面28aの交点28bと光学的に共役な位置
に配置すると共に、レンズ29の光軸と直交する
平面で、光軸を通りかつ反射面28aの入射面と
直交する方向を境として受光領域30A,30B
を配置する。
このように、プリズム28の反射面28aを集
光レンズ27の光軸に対して臨界角に設定する
と、反射面28aでの反射光の強度は第5図に示
すように、入射光線の光軸に対する傾き角度が、
反射面28aに対して臨界角以上では全反射さ
れ、逆の場合には反射強度が急激に減少すること
になる。
第4図において、デイスク26が合焦位置から
a方向にずれて対物レンズ25に近づくと、対物
レンズ25、1/4波長板24および偏光プリズム
23を経て集光レンズ27に入射するデイスク2
6からの戻り光束は拡散光となり、したがつて、
プリズム28の反射面28aに入射する光束は第
6図Aに示すように収束光となる。この場合に
は、光軸よりも図において下側の光束は臨界角よ
りも大きく、したがつてこの部分の光は全反射さ
れるが、光軸よりも図において上側の光束は臨界
角よりも小さくなるため、この部分では透過光が
存在し、反射光の強度は第5図から明らかなよう
に極端に減少する。したがつて、光検出器30上
では、受光領域30Aが明るく、受光領域30B
は暗くなる。これに対し、デイスク26が合焦位
置からb方向にずれて対物レンズ25から遠ざか
ると、集光レンズ27の入射光束は収束光とな
り、したがつてプリズム28の反射面28aに入
射する光束は第6図Bに示すように拡散光とな
る。この場合には、第6図Aの場合とは逆に、光
軸よりも上側の光束が全反射され、下側の光束は
反射面28aを屈折透過するため、その反射光強
度は極端に減少する。したがつて、光検出器30
上では、受光領域30Aが暗く、受光領域30B
が明るくなる。一方、デイスク26が対物レンズ
25の焦点位置にある合焦状態では、集光レンズ
27に入射する光束は平行光束となり、第6図C
に示すようにプリズム28の交点28bに焦点を
結び、その反射光はレンズ29により光検出器3
0上に集束される。ここで前記集束光が受光領域
30Aおよび30Bに等しく入射する様にすれ
ば、受光領域30Aおよび30Bからの出力は等
しくなる。
上述した光検出器30の受光領域30Aおよび
30Bの明暗の関係は、デイスク26が合焦位置
から広範囲に亘つてずれても同様に現われる。し
たがつて、受光領域30Aおよび30Bの出力の
差を検出する差動増幅器31からは、第7図に示
すように極めて広範囲に亘つて焦点ずれを表わす
焦点誤差信号を得ることができると共に、デイス
ク26からの戻り光束を第3図に示したようにナ
イフエツジでけることがないから、光の利用効率
したがつて光検出器30における検出感度も良
い。また、合焦点附近での焦点誤差信号の変化が
急峻になるから、信号のS/Nも大きくなる。な
お、合焦点附近での焦点誤差信号の変化は、集光
レンズ27のN・Aを大きくする程大きくするこ
とができる。
第8図は本発明の焦点検出装置の他の例の構成
を示す線図である。本例では光源として半導体レ
ーザ41を使用し、この半導体レーザ41から射
出された光を収差補正ガラス42を経て偏光プリ
ズム23に入射させ、偏光プリズム23の透過光
をコリメートレンズ43、1/4波長板24および
対物レンズ25を経てデイスク26に集束させ、
デイスク26での反射光を対物レンズ25、1/4
波長板24およびコリメートレンズ43を経て偏
光プリズム23に入射させ、この偏光プリズム2
3で反射された光束をプリズム28の反射面28
aに集束させるようにして、第4図と同様に焦点
誤差信号を得るようにしたものである。本例の場
合も、第4図と同様に広範囲に亘つて焦点誤差信
号を効率良く、しかも高感度で検出することがで
きる。
なお、本発明は上述した例にのみ限定されるも
のではなく、幾多の変形または変更が可能であ
る。例えばプリズム28の反射面28aは、入射
光束の光軸に対して臨界角よりも若干大きくある
いは小さく設定しても、同様にして焦点誤差信号
を得ることができる。
また、第4図、第8図においてはプリズム28
の反射面28aにS偏光を入射させるようにした
が、偏光プリズム23とプリズム28との間に
90゜回転子を介在させたり、あるいは偏光プリズ
ム23に対して光源とプリズム28との位置関係
を逆転してプリズム28への入射光束をP偏光と
することができる。このようにすれば、臨界角近
傍における反射強度の変化がさらに急峻となるか
ら、検出感度をさらに高めることができる。さら
に、上述した例では偏光している光を使用するも
のについて説明したが、偏光していない光を使用
する場合でも本発明を有効に適用することができ
る。さらにまた、上述した例では、いずれも偏光
プリズム23を用いたがハーフミラーを用いるこ
ともできる。また反射面はプリズムの一面として
構成する必要はなく、例えば平板なガラス板を以
つて構成することもできる。さらにまた、本発明
は上述したビデオデイスクにおける光学的読み取
り装置の他、種々の光学機器の焦点検出に適用す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の焦点検出方式を適用する光学的
読み取り装置の構成を示す線図、第2図はその焦
点誤差信号を示す線図、第3図は従来の他の焦点
検出方式を説明するための線図、第4図は光学式
デイスク再生装置に適用した本発明の焦点検出装
置の一例の構成を示す線図、第5図は臨界角附近
での反射光の強度の一例を示す線図、第6図A,
BおよびCは本発明の動作を説明するための線
図、第7図は本発明により得られる焦点誤差信号
の一例を示す線図、第8図は本発明の焦点検出装
置の他の例の構成を示す線図である。 21……レーザ光源、22……リレーレンズ、
23……偏光プリズム、24……1/4波長板、2
5……対物レンズ、26……デイスク、27……
集光レンズ、28……プリズム、28a……反射
面、29……レンズ、30……光検出器、30
A,30B……受光領域、31……差動増幅器、
41……半導体レーザ、42……収差補正ガラ
ス、43……コリメートレンズ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光源から射出された光を光学的に情報が記録
    された記録媒体に集束させる対物レンズと、 前記記録媒体からの反射光束の光軸に対して臨
    界角または臨界角近傍に設定した反射面を有する
    光学部材と、 合焦位置にあるときに前記記録媒体からの反射
    光束を前記光学部材の反射面に結像させる手段
    と、 前記光学部材の反射面での反射光を受光するよ
    うに配置され、該反射面での反射光の光軸と直交
    する平面で、前記反射面における入射面と直交す
    る方向を境に2分割した受光領域を有する受光素
    子とを具え、 前記2個の受光領域の出力を比較して前記対物
    レンズの前記記録媒体に対する焦点誤差信号を得
    るようにしたことを特徴とする焦点検出装置。
JP14267380A 1980-10-13 1980-10-13 Focus detector Granted JPS5766535A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14267380A JPS5766535A (en) 1980-10-13 1980-10-13 Focus detector

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14267380A JPS5766535A (en) 1980-10-13 1980-10-13 Focus detector

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Publication Number Publication Date
JPS5766535A JPS5766535A (en) 1982-04-22
JPH0215925B2 true JPH0215925B2 (ja) 1990-04-13

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JP14267380A Granted JPS5766535A (en) 1980-10-13 1980-10-13 Focus detector

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP5179015B2 (ja) * 2005-12-13 2013-04-10 パナソニック株式会社 コンデンサ

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JPS5766535A (en) 1982-04-22

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