JPH0227736B2 - - Google Patents
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- JPH0227736B2 JPH0227736B2 JP58146365A JP14636583A JPH0227736B2 JP H0227736 B2 JPH0227736 B2 JP H0227736B2 JP 58146365 A JP58146365 A JP 58146365A JP 14636583 A JP14636583 A JP 14636583A JP H0227736 B2 JPH0227736 B2 JP H0227736B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
〔発明の利用分野〕
本発明は光学式ビデオデイスク、光学式情報フ
アイル等における光学式記録担体の記録及び再生
等に用いる光学ヘツドに係り、特にトラツキング
及びフオーカス誤差信号を得るのに好適な誤差信
号検出方式に関するものである。 〔発明の背景〕 光学式記録担体（以下、デイスクと略す）の記
録及び再生に用いる光学ヘツドは、レーザ光を微
小なスポツトに絞り込み、デイスクの情報トラツ
ク上に正確に集光する必要がある。このため、光
学ヘツドにはフオーカス及びトラツキング誤差検
出装置が備えられている。 第１図は従来の誤差信号検出方式を示す模式図
である。 第１図において、１は半導体レーザ、２はコリ
メートレンズ、３は発散光、４は平行光、５はビ
ームスプリツタ、５ａは偏光反射面、６は４分の
１波長板、７は対物レンズ、８はデイスク、９は
情報トラツク、９ａは案内溝、１０は反射光、１
１は平行光、１２は凸レンズ、１３はミラー、１
４は凹レンズ、１５，１６は２分割受光素子、１
７はフオーカス誤差信号、１８，１９は２分割受
光素子、２０はトラツキング誤差信号、である。 光源である半導体レーザ１から出射された発散
光３はコリメートレンズ２により平行光４とな
る。平行光４は偏向ビームスプリツタ５、４分の
１波長板６を通過した後対物レンズ７により絞り
込まれて、デイスク８の情報トラツク９上に照射
される。デイスク８からの反射光１０は対物レン
ズ７により再び平行光１１に変換され、４分の１
波長板６を通過後、偏光ビームスプリツタ５の偏
光反射面５ａで反射される。この平行光１１は凸
レンズ１２を通過後、ミラー１３により光束を２
分割され、一方は凹レンズ１４を通過して２分割
受光素子１５，１６に入射する。２分割受光素子
１５，１６の出力信号の差からフオーカス誤差信
号１７が得られる。またミラー１３により２分割
された光束の他方は２分割受光素子１８，１９に
入射して、その出力信号の差からトラツキング誤
差信号２０が得られる。この誤差信号１７，２０
は、対物レンズ７を光軸方向であるｘ方向と、デ
イスク８の半径方向であるｙ方向に正確に駆動す
るための制御信号として用いられる。 ところで、再生専用のビデオデイスク等に用い
られるフオーカス誤差信号検出方式としては、円
柱レンズを用いる非点収差方式が知られている。
この方式は反射光のフアーフイールド像の形状の
変化を利用してフオーカス誤差信号を得るもので
あり、検出感度が高いという特徴がある。ところ
が、記録も可能なデイスクに一般に用いられてい
る深さλ/8（λはレーザ光の波長）案内溝９ａに
よつて、デイスクからの反射光は一次元方向の回
折を受けるため、この回折の影響がフオーカス誤
差信号に外乱として混入して検出精度を低下さ
せ、その結果、トラツキング誤差信号の品質も悪
くなり、トラツキングの引込み時や検索時に対物
レンズの制御系が不安定となる。前述した非点収
差方式の様な反射光のフアーフイールド像からフ
オーカス誤差信号を得る方式では、この様な案内
溝による回折の影響が極めて大きいという欠点が
ある。 一方、第１図に示す様なフオーカス誤差信号検
出方式は一般にウエツジ方式と呼ばれるものであ
り、この方式においては、凸レンズ１２と凹レン
ズ１４とによる反射光の結像位置に２分割受光素
子１５，１６を設け、その出力信号の差からフオ
ーカス誤差信号１７を得ており、反射光の結像位
置においてデイスク８上の像に対して共役な像が
できるため、案内溝９ａによる回折の影響は軽減
されてフオーカス誤差信号１７の検出精度を高め
ることができる。 次に、トラツキング誤差信号の検出方式につい
て述べる。 第２図は、対物レンズ７により微小なスポツト
に集光された光がデイスク８の案内溝９ａを横切
つた時のフアーフイールド像の変化を示す模式図
である。同図において、２１はフアーフイールド
像である。 案内溝９ａの深さは、半導体レーザ１が出射す
るレーザ光の波長をλとすると、λ/8の光学的距
離であり、情報トラツク９と案内溝９ａからの反
射光にはπ/2の位相差がある。ここで第２図に示
すように、対物レンズ７により絞り込まれた光ス
ポツトが情報トラツク９の中心線からずれて情報
トラツク９と案内溝９ａとの境に照射されると、
反射光のフアーフイールド像２１では、光スポツ
トのずれた方向に光強度の強い場所が移る。従つ
てこの光強度の変化を２分割受光素子１８，１９
で検出してその出力信号の差からトラツキング誤
差信号２０を得ることができる。 第１図に示した様な従来の誤差信号検出方式で
は、案内溝を有するデイスクの記録、再生には有
利であるが、光束をミラー１３で２分割するため
に、フオーカス誤差信号を得るための２分割受光
素子１５，１６及びトラツキング誤差信号を得る
ための２分割受光素子１８，１９を別々の位置に
配置しなければならず、そのため各々に調整機構
を設ける必要があり、光学ヘツドが大形化すると
ともに複雑、高価になるという欠点がある。 〔発明の目的〕 本発明の目的は、上記の従来技術の欠点を除去
し、フオーカス誤差信号を得るための２分割受光
素子と、トラツキング誤差信号を得るための２分
割受光素子とを同一平面上に一体化し、受光素子
の調整機構を簡略化して、光学ヘツドの小形化、
低価格化を実現し得る誤差信号検出方式を提供す
ることにある。 〔発明の概要〕 上記の目的は本発明によれば、デイスクからの
反射光束の半分を、互いに出射角度の異なるプリ
ズムにより２分割して第１の２分割受光素子に導
き、残りの半分の光束を前記プリズムを通ること
なく直進させて第２の２分割受光素子に導くよ
う、前記光束、プリズム及び第１、第２の２分割
受光素子の相対的位置決めを行なうと共に、更に
前記第１および第２の２分割受光素子を略同一平
面上に一体化して形成し、前記第１の２分割受光
素子の出力からトラツキング誤差信号を、前記第
２の２分割受光素子の出力からフオーカス誤差信
号をそれぞれ得るようにして達成される。 〔発明の実施例〕 以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に説
明する。 第３図は本発明の第１の実施例を示す斜視図で
ある。 第３図において、半導体レーザ１から出射され
た発散光３がデイスク８の情報トラツク９に入射
して、デイスク８による反射光１０が偏光ビーム
スプリツタ５の偏光反射面５ａにより反射するま
での構成は、第１図に示した従来の誤差信号検出
方式と同一な構成であり、第１図に示す符号と同
一な符号は同一な光学部品を示している。また、
３０は平行な光束、３１はプリズム、３２は凸レ
ンズ、３４は受光素子である。 偏光反射面５ａにより反射された平行な光束３
０は、稜線３１ａが光束３０の光軸に垂直な二等
辺三角形柱のプリズム３１に入射する。稜線３１
ａの方向は、光束３０に情報信号として含まれる
情報トラツク９の方向と一致している。ここでプ
リズム３１は光束３０のｘ方向の上半分がプリズ
ム３１の入射面３１ｂ，３１ｃに入射するよう配
置されており、光束３０のｘ方向の下半分はその
まま直進して、凸レンズ３２に入射して集束光３
３となる。入射面３１ｂ，３１ｃに入射した光束
３０の上半分は、入射面３１ｂ，３１ｃが光束３
０の光軸に対し対称に斜交しているため、プリズ
ム３１によつて２方向に偏光され、凸レンズ３２
に入射してそれぞれ集束光３３ｂ，３３ｃとな
る。集束光３３ａは受光素子３４の２分割領域３
４ａ，３４ｂに入射して、前記した従来例と同様
な原理により２分割領域３４ａ，３４ｂの出力信
号の差からフオーカス誤差信号を得る。一方、集
束光３３ｂ，３３ｃはそれぞれ受光素子３４の２
分割領域３４ｄ，３４ｅに入射して、前記した従
来例と同様な原理により２分割領域３４ｄ，３４
ｅの出力信号の差からトラツキング誤差信号を得
る。 本実施例によれば、フオーカス誤差信号検出用
の２分割領域３４ａ，３４ｂと、トラツキング誤
差信号検出用の２分割領域３４ｄ，３４ｅとは第
３図に示すように同一平面上に近接して配置でき
るため一体化することができる。さらに、受光素
子３４の調整は２分割領域３４ａ，３４ｂの境界
線３４ｃが光束３０の中心と一致すべく微調整す
るだけで良いため、調整機構は従来と比較して大
幅に簡略化される。 第３図の実施例で用いた受光素子３４を第４図
に示す。この受光素子３４は、非点収差方式によ
るフオーカス誤差検出とツイン・ビーム方式によ
るトラツキング誤差検出に用いられる受光素子で
あり、再生専用のビデオデイスクプレーヤや
DADプレーヤに広く使用されており、入手が容
易である。中央に位置する２分割領域３４a1，３
４a2，３４b1，３４b2のうち３４a1と３４b2およ
び３４b1と３４b2を短絡して２分割領域３４ａ，
３４ｂとして用い、この出力信号の差からフオー
カス誤差信号を得ることができる。また両側に位
置する２分割領域３４ｄ，３４ｅの出力信号から
トラツキング誤差信号を得ることができる。 従来より、種々の誤差信号検出方式が新たに考
案されているものの、それらの実現に際して従来
ある受光素子を用いることができないために、新
たに受光素子を試作する必要があるなどの障害が
あつた。これに比べて、本発明においては上述し
たように一般に広く使用されている受光素子を用
いることができるために、本発明の実用化はきわ
めて容易である。 本実施例の具体的な設計は以下のように行な
う。第５図は、第３図において偏光ビームスプリ
ツタ５の偏光反射面５ａにより反射してからの構
成を示す上面図と平面図である。実際には、凸レ
ンズ３２は収差の点から、左に凸の構成とすべき
であるが、プリズム３１、凸レンズ３２が薄肉の
場合には収差は問題とならず、また本発明の本質
とは無関係であるので、説明の簡単のために右側
に凸の構成とした。 プリズム３１の頂角をα、凸レンズ３２の集点
距離をｆ、プリズム３１と凸レンズ３２との距離
をd1、凸レンズ３２と受光素子３４との距離を
d2、プリズム３１の屈折率をｎとすると、プリズ
ム３１の稜線３１ａで偏光された光線の角度β
は、 β＝sin-1（ｎ sinα）−α となる。また、αが小さい時には、 β≒（ｎ−１）α と近似できる。 次に受光素子３４上の集束光３３ａと集束光３
３ｂおよび集束光３３ａと集束光３３ｃとの距離
をｐとすると、ｐは ｐ＝d2tanβ ≒d2tan｛（ｎ−１）α｝ ≒d2（ｎ−１）α と近似できる。また、本実施例では、 d2＝ｆ としているので ｐ≒ｆ（ｎ−１）α となる。 第４図に示した受光素子３４を用いてｐ＝0.65
mm、ｎ＝1.5の場合の、プリズム３１の頂角αと
凸レンズ３２の焦点距離ｆとの関係を以下の表に
示す。
アイル等における光学式記録担体の記録及び再生
等に用いる光学ヘツドに係り、特にトラツキング
及びフオーカス誤差信号を得るのに好適な誤差信
号検出方式に関するものである。 〔発明の背景〕 光学式記録担体（以下、デイスクと略す）の記
録及び再生に用いる光学ヘツドは、レーザ光を微
小なスポツトに絞り込み、デイスクの情報トラツ
ク上に正確に集光する必要がある。このため、光
学ヘツドにはフオーカス及びトラツキング誤差検
出装置が備えられている。 第１図は従来の誤差信号検出方式を示す模式図
である。 第１図において、１は半導体レーザ、２はコリ
メートレンズ、３は発散光、４は平行光、５はビ
ームスプリツタ、５ａは偏光反射面、６は４分の
１波長板、７は対物レンズ、８はデイスク、９は
情報トラツク、９ａは案内溝、１０は反射光、１
１は平行光、１２は凸レンズ、１３はミラー、１
４は凹レンズ、１５，１６は２分割受光素子、１
７はフオーカス誤差信号、１８，１９は２分割受
光素子、２０はトラツキング誤差信号、である。 光源である半導体レーザ１から出射された発散
光３はコリメートレンズ２により平行光４とな
る。平行光４は偏向ビームスプリツタ５、４分の
１波長板６を通過した後対物レンズ７により絞り
込まれて、デイスク８の情報トラツク９上に照射
される。デイスク８からの反射光１０は対物レン
ズ７により再び平行光１１に変換され、４分の１
波長板６を通過後、偏光ビームスプリツタ５の偏
光反射面５ａで反射される。この平行光１１は凸
レンズ１２を通過後、ミラー１３により光束を２
分割され、一方は凹レンズ１４を通過して２分割
受光素子１５，１６に入射する。２分割受光素子
１５，１６の出力信号の差からフオーカス誤差信
号１７が得られる。またミラー１３により２分割
された光束の他方は２分割受光素子１８，１９に
入射して、その出力信号の差からトラツキング誤
差信号２０が得られる。この誤差信号１７，２０
は、対物レンズ７を光軸方向であるｘ方向と、デ
イスク８の半径方向であるｙ方向に正確に駆動す
るための制御信号として用いられる。 ところで、再生専用のビデオデイスク等に用い
られるフオーカス誤差信号検出方式としては、円
柱レンズを用いる非点収差方式が知られている。
この方式は反射光のフアーフイールド像の形状の
変化を利用してフオーカス誤差信号を得るもので
あり、検出感度が高いという特徴がある。ところ
が、記録も可能なデイスクに一般に用いられてい
る深さλ/8（λはレーザ光の波長）案内溝９ａに
よつて、デイスクからの反射光は一次元方向の回
折を受けるため、この回折の影響がフオーカス誤
差信号に外乱として混入して検出精度を低下さ
せ、その結果、トラツキング誤差信号の品質も悪
くなり、トラツキングの引込み時や検索時に対物
レンズの制御系が不安定となる。前述した非点収
差方式の様な反射光のフアーフイールド像からフ
オーカス誤差信号を得る方式では、この様な案内
溝による回折の影響が極めて大きいという欠点が
ある。 一方、第１図に示す様なフオーカス誤差信号検
出方式は一般にウエツジ方式と呼ばれるものであ
り、この方式においては、凸レンズ１２と凹レン
ズ１４とによる反射光の結像位置に２分割受光素
子１５，１６を設け、その出力信号の差からフオ
ーカス誤差信号１７を得ており、反射光の結像位
置においてデイスク８上の像に対して共役な像が
できるため、案内溝９ａによる回折の影響は軽減
されてフオーカス誤差信号１７の検出精度を高め
ることができる。 次に、トラツキング誤差信号の検出方式につい
て述べる。 第２図は、対物レンズ７により微小なスポツト
に集光された光がデイスク８の案内溝９ａを横切
つた時のフアーフイールド像の変化を示す模式図
である。同図において、２１はフアーフイールド
像である。 案内溝９ａの深さは、半導体レーザ１が出射す
るレーザ光の波長をλとすると、λ/8の光学的距
離であり、情報トラツク９と案内溝９ａからの反
射光にはπ/2の位相差がある。ここで第２図に示
すように、対物レンズ７により絞り込まれた光ス
ポツトが情報トラツク９の中心線からずれて情報
トラツク９と案内溝９ａとの境に照射されると、
反射光のフアーフイールド像２１では、光スポツ
トのずれた方向に光強度の強い場所が移る。従つ
てこの光強度の変化を２分割受光素子１８，１９
で検出してその出力信号の差からトラツキング誤
差信号２０を得ることができる。 第１図に示した様な従来の誤差信号検出方式で
は、案内溝を有するデイスクの記録、再生には有
利であるが、光束をミラー１３で２分割するため
に、フオーカス誤差信号を得るための２分割受光
素子１５，１６及びトラツキング誤差信号を得る
ための２分割受光素子１８，１９を別々の位置に
配置しなければならず、そのため各々に調整機構
を設ける必要があり、光学ヘツドが大形化すると
ともに複雑、高価になるという欠点がある。 〔発明の目的〕 本発明の目的は、上記の従来技術の欠点を除去
し、フオーカス誤差信号を得るための２分割受光
素子と、トラツキング誤差信号を得るための２分
割受光素子とを同一平面上に一体化し、受光素子
の調整機構を簡略化して、光学ヘツドの小形化、
低価格化を実現し得る誤差信号検出方式を提供す
ることにある。 〔発明の概要〕 上記の目的は本発明によれば、デイスクからの
反射光束の半分を、互いに出射角度の異なるプリ
ズムにより２分割して第１の２分割受光素子に導
き、残りの半分の光束を前記プリズムを通ること
なく直進させて第２の２分割受光素子に導くよ
う、前記光束、プリズム及び第１、第２の２分割
受光素子の相対的位置決めを行なうと共に、更に
前記第１および第２の２分割受光素子を略同一平
面上に一体化して形成し、前記第１の２分割受光
素子の出力からトラツキング誤差信号を、前記第
２の２分割受光素子の出力からフオーカス誤差信
号をそれぞれ得るようにして達成される。 〔発明の実施例〕 以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に説
明する。 第３図は本発明の第１の実施例を示す斜視図で
ある。 第３図において、半導体レーザ１から出射され
た発散光３がデイスク８の情報トラツク９に入射
して、デイスク８による反射光１０が偏光ビーム
スプリツタ５の偏光反射面５ａにより反射するま
での構成は、第１図に示した従来の誤差信号検出
方式と同一な構成であり、第１図に示す符号と同
一な符号は同一な光学部品を示している。また、
３０は平行な光束、３１はプリズム、３２は凸レ
ンズ、３４は受光素子である。 偏光反射面５ａにより反射された平行な光束３
０は、稜線３１ａが光束３０の光軸に垂直な二等
辺三角形柱のプリズム３１に入射する。稜線３１
ａの方向は、光束３０に情報信号として含まれる
情報トラツク９の方向と一致している。ここでプ
リズム３１は光束３０のｘ方向の上半分がプリズ
ム３１の入射面３１ｂ，３１ｃに入射するよう配
置されており、光束３０のｘ方向の下半分はその
まま直進して、凸レンズ３２に入射して集束光３
３となる。入射面３１ｂ，３１ｃに入射した光束
３０の上半分は、入射面３１ｂ，３１ｃが光束３
０の光軸に対し対称に斜交しているため、プリズ
ム３１によつて２方向に偏光され、凸レンズ３２
に入射してそれぞれ集束光３３ｂ，３３ｃとな
る。集束光３３ａは受光素子３４の２分割領域３
４ａ，３４ｂに入射して、前記した従来例と同様
な原理により２分割領域３４ａ，３４ｂの出力信
号の差からフオーカス誤差信号を得る。一方、集
束光３３ｂ，３３ｃはそれぞれ受光素子３４の２
分割領域３４ｄ，３４ｅに入射して、前記した従
来例と同様な原理により２分割領域３４ｄ，３４
ｅの出力信号の差からトラツキング誤差信号を得
る。 本実施例によれば、フオーカス誤差信号検出用
の２分割領域３４ａ，３４ｂと、トラツキング誤
差信号検出用の２分割領域３４ｄ，３４ｅとは第
３図に示すように同一平面上に近接して配置でき
るため一体化することができる。さらに、受光素
子３４の調整は２分割領域３４ａ，３４ｂの境界
線３４ｃが光束３０の中心と一致すべく微調整す
るだけで良いため、調整機構は従来と比較して大
幅に簡略化される。 第３図の実施例で用いた受光素子３４を第４図
に示す。この受光素子３４は、非点収差方式によ
るフオーカス誤差検出とツイン・ビーム方式によ
るトラツキング誤差検出に用いられる受光素子で
あり、再生専用のビデオデイスクプレーヤや
DADプレーヤに広く使用されており、入手が容
易である。中央に位置する２分割領域３４a1，３
４a2，３４b1，３４b2のうち３４a1と３４b2およ
び３４b1と３４b2を短絡して２分割領域３４ａ，
３４ｂとして用い、この出力信号の差からフオー
カス誤差信号を得ることができる。また両側に位
置する２分割領域３４ｄ，３４ｅの出力信号から
トラツキング誤差信号を得ることができる。 従来より、種々の誤差信号検出方式が新たに考
案されているものの、それらの実現に際して従来
ある受光素子を用いることができないために、新
たに受光素子を試作する必要があるなどの障害が
あつた。これに比べて、本発明においては上述し
たように一般に広く使用されている受光素子を用
いることができるために、本発明の実用化はきわ
めて容易である。 本実施例の具体的な設計は以下のように行な
う。第５図は、第３図において偏光ビームスプリ
ツタ５の偏光反射面５ａにより反射してからの構
成を示す上面図と平面図である。実際には、凸レ
ンズ３２は収差の点から、左に凸の構成とすべき
であるが、プリズム３１、凸レンズ３２が薄肉の
場合には収差は問題とならず、また本発明の本質
とは無関係であるので、説明の簡単のために右側
に凸の構成とした。 プリズム３１の頂角をα、凸レンズ３２の集点
距離をｆ、プリズム３１と凸レンズ３２との距離
をd1、凸レンズ３２と受光素子３４との距離を
d2、プリズム３１の屈折率をｎとすると、プリズ
ム３１の稜線３１ａで偏光された光線の角度β
は、 β＝sin-1（ｎ sinα）−α となる。また、αが小さい時には、 β≒（ｎ−１）α と近似できる。 次に受光素子３４上の集束光３３ａと集束光３
３ｂおよび集束光３３ａと集束光３３ｃとの距離
をｐとすると、ｐは ｐ＝d2tanβ ≒d2tan｛（ｎ−１）α｝ ≒d2（ｎ−１）α と近似できる。また、本実施例では、 d2＝ｆ としているので ｐ≒ｆ（ｎ−１）α となる。 第４図に示した受光素子３４を用いてｐ＝0.65
mm、ｎ＝1.5の場合の、プリズム３１の頂角αと
凸レンズ３２の焦点距離ｆとの関係を以下の表に
示す。
【表】
以上述べたように、α、ｆはd1とは無関係であ
る。このため、プリズム３１が光軸方向に多少移
動しても影響がなく、プリズム３１の光軸方向の
位置調整が不要であるという利点がある。 また、第６図は、凸レンズ３２の後方にプリズ
ム３１を配置した例である。この場合、収束光中
にプリズム３１が配置されるために、第５図とは
異なつた設計となる。 すなわち、 ｐ＝（d2−d1）tan｛（ｎ−１）α｝ ≒（d2−d1）（ｎ−１）α ≒（ｆ−d1）（ｎ−１）α となる。 ｐ＝0.65mm、ｎ＝1.5、ｆ＝30mmの場合の、プ
リズム３１と凸レンズ３２との距離d1とプリズム
３１の頂角αとの関係を以下の表に示す。
る。このため、プリズム３１が光軸方向に多少移
動しても影響がなく、プリズム３１の光軸方向の
位置調整が不要であるという利点がある。 また、第６図は、凸レンズ３２の後方にプリズ
ム３１を配置した例である。この場合、収束光中
にプリズム３１が配置されるために、第５図とは
異なつた設計となる。 すなわち、 ｐ＝（d2−d1）tan｛（ｎ−１）α｝ ≒（d2−d1）（ｎ−１）α ≒（ｆ−d1）（ｎ−１）α となる。 ｐ＝0.65mm、ｎ＝1.5、ｆ＝30mmの場合の、プ
リズム３１と凸レンズ３２との距離d1とプリズム
３１の頂角αとの関係を以下の表に示す。
以上説明したように、従来の技術において、非
点収差方式のように反射光のフアーフイールド像
からフオーカス誤差信号を得る方式では、デイス
クの案内溝によつて反射光が回折を受けて、この
回折の影響がフオーカス誤差信号に外乱として混
入するという欠点があり、ウエツジ方式によりフ
オーカス誤差信号を得る場合は、光束をミラーに
より分割するために、フオーカス、トラツキング
誤差信号を得るための２分割受光素子を別々の場
所に配設して、しかも各々に調整機構を設ける必
要があるために光学ヘツドが大形化するとともに
複雑、高価になるという欠点があつたが、本発明
によれば、互いに偏向方向の異なるプリズムを光
束の半分まで配設して、プリズムに入射した光束
を２方向に偏向し、その結果フオーカス誤差信号
検出用の２分割受光素子とトラツキング誤差信号
検出用の２分割受光素子とを同一平面上に近接配
置して一体化することにより、受光素子の調整機
構を簡略化できるとともに小形な光学ヘツドを実
現できるため、上記した従来技術の欠点を解決し
たものである。
点収差方式のように反射光のフアーフイールド像
からフオーカス誤差信号を得る方式では、デイス
クの案内溝によつて反射光が回折を受けて、この
回折の影響がフオーカス誤差信号に外乱として混
入するという欠点があり、ウエツジ方式によりフ
オーカス誤差信号を得る場合は、光束をミラーに
より分割するために、フオーカス、トラツキング
誤差信号を得るための２分割受光素子を別々の場
所に配設して、しかも各々に調整機構を設ける必
要があるために光学ヘツドが大形化するとともに
複雑、高価になるという欠点があつたが、本発明
によれば、互いに偏向方向の異なるプリズムを光
束の半分まで配設して、プリズムに入射した光束
を２方向に偏向し、その結果フオーカス誤差信号
検出用の２分割受光素子とトラツキング誤差信号
検出用の２分割受光素子とを同一平面上に近接配
置して一体化することにより、受光素子の調整機
構を簡略化できるとともに小形な光学ヘツドを実
現できるため、上記した従来技術の欠点を解決し
たものである。
第１図は従来の誤差信号検出方式を示す模式
図、第２図はトラツキング誤差信号の検出方式を
説明するための模式図、第３図は本発明の一実施
例を示す斜視図、第４図は第３図の受光素子のパ
ターンを示す図、第５図、第６図は第４図の要部
の説明図、である。 符号説明、１……半導体レーザ、８……デイス
ク、３１，３７，３８……プリズム、３４，３５
……受光素子。
図、第２図はトラツキング誤差信号の検出方式を
説明するための模式図、第３図は本発明の一実施
例を示す斜視図、第４図は第３図の受光素子のパ
ターンを示す図、第５図、第６図は第４図の要部
の説明図、である。 符号説明、１……半導体レーザ、８……デイス
ク、３１，３７，３８……プリズム、３４，３５
……受光素子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ レーザ光を発生するレーザ光源１と、レーザ
光源１から出射されたレーザ光の光束を光学式記
録坦体８の情報トラツク９上に導く光学手段２，
６，７と、情報トラツク９上で反射された反射光
束を上記光学手段２，６，７から分離するための
分離手段５と、分離手段５により分離された反射
光束を受光する受光領域を有する受光素子３４と
を備えた光学ヘツドにおいて、 上記受光素子３４は、上記分離手段５によつて
分離された反射光束が入射される第１の２分割受
光領域３４ａ，３４ｂと、この第１の２分割受光
領域の両側に離れて、第１の２分割受光領域に並
置された第２の２分割受光領域３４ｄ，３４ｅか
らなり、 上記受光素子３４と上記分離手段５の間のレー
ザ光の光束路中には、二等辺三角柱状に形成さ
れ、レーザ光の光束の略半分の光束が入射される
位置に位置するとともに、稜線の方向がレーザ光
の光束に情報信号として含まれる情報トラツクの
方向と略一致し、入射された光束を稜線を境界と
して出射角度が異なる２つの光束に分割し、分割
された一方の光束を上記第２の２分割受光領域３
４ｄ，３４ｅの一方の領域３４ｄ上へ導き、他方
の光束を他方の領域３４ｅ上へ導くプリズム３１
が配置され、 第１の２分割受光領域３４ａ，３４ｂから得ら
れた２つの出力信号の差信号からフオーカス誤差
信号を発生するフオーカス誤差信号発生回路と、 第２の２分割受光領域３４ｄ，３４ｅから得ら
れた２つの信号の差信号からトラツキング誤差信
号を発生するトラツキング誤差信号発生回路 とを備えていることを特徴とする光学ヘツド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14636583A JPS6038742A (ja) | 1983-08-12 | 1983-08-12 | 光学ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14636583A JPS6038742A (ja) | 1983-08-12 | 1983-08-12 | 光学ヘッド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6038742A JPS6038742A (ja) | 1985-02-28 |
| JPH0227736B2 true JPH0227736B2 (ja) | 1990-06-19 |
Family
ID=15406069
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14636583A Granted JPS6038742A (ja) | 1983-08-12 | 1983-08-12 | 光学ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6038742A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0224853B1 (en) * | 1985-11-30 | 1992-02-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical head |
| US4817074A (en) * | 1985-12-19 | 1989-03-28 | Nec Corporation | Method and apparatus for detecting the focusing state and positioning accuracy of a light beam directed onto an optical disk tracking guide in an optical recording system |
| JPH03104773A (ja) * | 1989-09-20 | 1991-05-01 | Hitachi Ltd | 連結器引上げ装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5746334A (en) * | 1980-09-01 | 1982-03-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical information reproducer |
-
1983
- 1983-08-12 JP JP14636583A patent/JPS6038742A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5746334A (en) * | 1980-09-01 | 1982-03-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical information reproducer |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6038742A (ja) | 1985-02-28 |
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