JPS6050632A - 光学ヘッド - Google Patents

光学ヘッド

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JPS6050632A
JPS6050632A JP58156253A JP15625383A JPS6050632A JP S6050632 A JPS6050632 A JP S6050632A JP 58156253 A JP58156253 A JP 58156253A JP 15625383 A JP15625383 A JP 15625383A JP S6050632 A JPS6050632 A JP S6050632A
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JP
Japan
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light
error signal
prism
reflected
areas
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Pending
Application number
JP58156253A
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English (en)
Inventor
Masayuki Inoue
雅之 井上
Yoshihiro Katase
片瀬 順弘
Toshihiko Nakajima
中島 敏彦
Toshihiko Goto
敏彦 後藤
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6050632A publication Critical patent/JPS6050632A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は光学式ビデオディスク、光学式情報ファイル等
の光学式記録担体の記録、再生に用いる光学へ、ドに関
する。
〔発明の背景〕
光学式記録担体(以下、ディスクと略す)の記録、再生
に用いる光学ヘッドは、レーザ光を微小なスポットに絞
9込み、ディスクの情報トラック上に正確に集光する必
要がある。このため、光学ヘッドには7メーカス及びト
ラッキング誤差検出装置が備えられ゛ている。
第1図は従来のフォーカス及びl・う、キイグ誤差検出
装置を用いた光学ヘッドの乎面図である。光源である半
導体レーザ■から出射された発散光3けコリメートレン
ズ2により平行光4となる。平行光4は偏向ビームスプ
リッタ5.4分の1波長板6を通過した後対物レンズ7
にょシ絞シ込まれて、ディスク8の情報l・ラック9上
に照射される。ディスク8からの反射光1oは対物レン
ズ7により再び平行光11に変換され、4分の1波長板
6を通過後、偏光ビームスブリック5の偏光反射面5α
で反射される。この平行光11は凸レンズ12を通過後
、ミラー13により光束を2分割され、一方は凹レンズ
14を通過して2分割受光素子1516に入射する。2
分割受光素子15.16の出力信号の差からフォーカス
誤差信号17か得られる。ミラー13によシ2分割さh
た光束の他方は2分割受光素子18.19に入射して、
その出力信号の差からトラッキング誤差信号20が得ら
れる。これらの誤差信号17.20は、対物レンズ7を
光軸方向であるX方向と、ディスク8の半径方向である
y方向に駆動するための制御信号として用いられる。
−2方専用のビデオディスク等に用いられるフォーカス
誤差検出方式としては、円柱レンズを用いる非点収差方
式が知られている。この方式は反射光のファーフィール
ド像の形状の変化を利用してフォーカス誤差信号を得る
ものであり0、検出感度が高いという特徴がある。とこ
ろが、記録も可能なディスクに一般に用いられている深
さΔ(入はレーザ光の波長)の案内溝によって、ディス
クからの反射光が一次元方向の回折を受けるために、こ
の回折の影響がフォーカス誤差信号に外乱として混入し
て検出精度が低下して、結果としてトラッキング誤差信
号の品質が悪くなシ、トラッキングの引込み時や胸索時
に対物レンズの制御系が不安定となる。
この案内溝による回折の影響は、非点収差方式のように
反射光のファーフィールド1象からフォーカス誤差信号
を得る方式の方が太きい。
第1図に示しだ光学ヘッドのフォーカス誤差検出方式U
、一般にウェッジ方式と呼ばれろものであり凸レンズ1
2と凹レンズ14とによる反射光の結像位置に2分割受
光素子1516を設け、その出力信号の差からフォーカ
ス誤差信号17を得ている。反射光の結像位置に、にい
てはディスク8上の像に対して共役な像ができるために
、案内溝2aによる回折の影卿はil減さhてフォーカ
ス誤差信号17の検出精度を簡めることができる。
次に、トラ、キング誤差信号の検出方式について述べる
。第2図は、対物レンズ7により微少なスポットに集光
された光がディスク8の案内溝9αを横切った時のファ
ーフィールド像の変化を示すものである。案内溝9αの
深さは、半導体レーザ1が出射するレーザ光の波長を入
がある。ここで第2図に示すように、対物レンズ7によ
り絞り込捷れた光スポットが、情報トラック9の中心か
らずれて、情報トランク9と案内溝9 ’aとの境に照
射されると、反射光のファーフィールド像21では、光
スポットのずれだ方向に光強度の強い場所が移る。従っ
てこの光強度の変化を2分割受光素子1819で検出し
てその出力信号の差からトラッキング誤差信号20を得
ることができる。
第1図に示した従来の光学ヘッドは、案内溝を有するデ
ィスクの記録、再生には有利な方式でけあるものの、光
束をミラー16で2分割するために、フォーカス誤差信
号を得るだめの2分割受光素子15.16とトラッキン
グ誤差信号を得るだめの2分割受光素子1819とを別
々の位置に配置し、かつ各々に調整機構を設ける必要が
あるために、光学1ツドが大形化するとともに複雑、高
価になるという欠点がある。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点を除き、フォ
ーカス誤差信号を得るだめの分割受光素子と、l・ラッ
キング誤差信号を得るだめの分割受光素子とを同一平面
内に近接、配置1r1′しで一体化することによシ、受
光素子の調整機構を簡略化して小形で安価な光学ヘッド
を提供することにある。
〔発明の概捗〕
上記した目的を達するだめに、本発明による光学ヘッド
においては、ディスクからの反射光の光束の半分を、そ
の入射面と出射面とが平行な平板状のプリズムにより偏
向し、プリズムによシ偏向された光束を、2分割領域を
有する第1の受光素子に照射してトラッキング誤差信号
を検出し、プリズムを通らずに直進する光束を、2分割
領域を有する第2の受光素子に照射してフォーカス誤゛
差信号を検出するとともに、上記第1第2の受光素子を
略同一平面内に近接院政して一体化したものである。
〔発明の実施例〕
以下、添付図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明
する。第3図は本発明による光学ヘッドの第1の実施例
を示す斜視図である。
第3図において、半導体レーザ1から出射された発散光
6がディスク8の情報トラック9に入射して、ディスク
8による反射光10が偏光ビームスプリッタ5の偏光反
射面5αにより反射する寸での構成は、第1図に示した
従来の光学ヘッドと同一な構成であり、第1図に示す符
号と同一な符号は同一な光学部品を示している◇偏向反
射面5αによシ反射された平行な光束60は凸レンズ1
2により集束光62となる。集束光32の+2方向の半
分の光束はプリズム31に入射せずに直進して集束光3
2(7となり、集束光32αは受光素子33の2分割領
域33(Z、33bに入射する。
2分割領域33a、 33bの出力信号の差からフォー
カス誤差イど号を行為ことかできる。一方集束光62の
一2方向の半分の光束はプリズム61に入射する。ここ
でプリズム31はその入射面と出射1n1とが平行な平
板であシ、かつ入射面と集束光32の光軸とは斜交して
いるだめに、プリズム31に入射した集束光52の一部
1d、x方向に偏向されて集束光32bとなる。集束光
62])は受光素子63の2分割領域63d、、35e
に入射する。
2分割領域33d、53eの出力信号の差からトラ。
キング誤差信号を得ることができる。
次に第5図に示したプリズムの11さ、イ頃き角、2分
割領域長a153bと33e、 55(Lとの距離につ
いて詳しく説明する。第4図は第6図の検出光学系の平
面図である。第4図において平行な光束30は凸レンズ
31によシ集束光32と々す、集束光32の一部32a
はプリズムろ2に入射せrに1h進し、受光素子33の
一受光面に入射する。、ここで受光素子長の受光面は集
束光32aの結像位置′にあるために、受光面上にはデ
ィスク8上の像に対して共役な像ができる。このためデ
ィスク80案内溝9αによる回折の影響は軽減されてフ
ォーカス誤差信号の検出精度を高めることができる。一
方プリズム31に入射しだ集束光32の一部はプリズム
31によりX方向に偏向されて集束光32bとなシ受光
素子33の受光面に入射する。
ここでプリズム61の材質はガラス、アクリル樹脂等の
透光性物質であるために、その屈折率nは空気の屈折率
に対して略15である。
プリズム61は厚さがtであり、光軸に対して角度θ傾
いているためにプリズム31を遊回した集束光32bは
、集束光32αの結像位置に対してX方向にd、X方向
にJ2Co 、f:θ離れた点で結像する。第4図から
明らかなように、受光素子33の受光面上に、集束光′
52α、32bは完全に分離して入射し、さらに集束光
32bは受光素子33の受光面上では合焦状態ではない
ためにフォーカス、トラッキング誤差信号は独立して検
出することができる。
次に第4図におけるプリズムの厚さtlその傾き角6と
集束光32a、32bの結像位置との関係を第4図、第
5図からめる。第5図は厚さt屈折率ルの平板状のプリ
ズム31に光束40が入射角θで入射した状態を示して
いる。
第5図において、光束40がプリズム31により偏向さ
れて光束41となるが、ここで光束40と光束41との
グリズノ・31の厚さ方向の距離りをめる。
第5図において z= −t−y ・・・・・ ・・・(1)tanθ 
′−−・・・ ・・・ ・・・ (3)(2)式、(3
)式を(0式に代入すると−j[ t−t<1−) (,1) taミル 一部プリズム31の屈折率をルとすると1−’ ; n
 O−’ (5) ル SLルθ ここで入射角θが小さい場合にeま 5irLθ’ ttH1θI sr、n 中 tcLnθ (6) とおけるから(5)式、(6)式を(4)式に代入する
と前記したようにプリズム31の屈折率ルは約1.5で
あるために(7)式よシ t −−−(a) となる。ここで第5図におけるtd、第4図における結
像位置の距離tに相当するために、第4図のtitθと
は関係は d 、、、 tsirLθ elf−−st7tθ (9) となる。−例としてプリズム31の厚さを12聴プリズ
ム31の傾き角を60°とするとく9)式よシd−−2
mmとなる。このことは第3図の2分割領域36α、3
3bと2分割領域33d、、53eとの中心を2wn離
せば良いことを示している。このため上記した2つの2
分割領域は第3図に示したように一体化することができ
第1図に示した従来例に比べて受光素子63の調整機構
は大幅に簡略化→−ることかでき、光学ヘッドを軽量化
、低価格化することができる。更に受光素子長の各2分
割領域の境界線53c、334は直交しているだめに、
受光素子3乙の(nll副調整簡単になるという利点。
もある。
〔発明の効果〕 以上説明したように、従来の光学ヘッドにおいて、非点
収差方式のように反射光のファーフィールド像からフォ
ーカス誤差信号を得る方式においては、ディスクの案内
溝によって反射光が回折を受けて、この回折の影響がフ
ォーカス誤差信号に外乱として混入するという欠点かを
シ、ウェッジ方式によりフォーカス誤差信号を得る場合
は、光束をミラーにより分割するだめに、ツメ−カス、
トラ、キング誤差信号を得るだめの2分割受光素子を別
々の場所に配設して、しかも各々に調整機構を設ける必
侠があるために光学ヘッドが大型化するとともに複雑、
高価になるという欠点があったが、本発明による光学ヘ
ッドにおいては、入射面と出射面とが平行な平板状のプ
リズムを、入射面と光束とが斜文するように光束の半分
寸で挿入配設し、プリズムに入射した光束を偏向させて
その結果フォーカス誤差信号検出用の2分割受光素子と
トラッキング誤差信号検出用の2分割受光素子とを同一
平面上に近接配置して一体化することによシ受光素子の
調整機構を簡略化できるとともに小型な光学ヘッドを実
現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の光学ヘッドを示す平面図、第2図はトラ
ッキング誤差信号の検出方式を示す説明図、第3図、第
4図1はそれぞれ本発明による光学ヘッドの実施例を示
す斜視図、第5図は第4図に示した検出光学系の原理図
である。 1・・・・・・半導体レーザ 8・・・・・・ディスク 12・・・・・・凸レンズ 31・・・・・・プリズム 躬 1 膓 χ 第2困 /り一ローー/δ 第 3臼 尤 曜

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 レーザ光源と、レーザ光源から出射する光束を光学
    式記録担体の情報記録面上に導く光学手段と、該情報記
    録面からの反射光束を上記光学手段から分離するための
    分離手段と、分離された反射光束を集光する集光手段お
    よび該光束を検出する検出手段゛とを備えたる光学ヘッ
    ドにおいて、上記分離手段から検出手段に至る光路中に
    、反射光束を偏向するだめのプリズムを、反射光束の略
    半分の位置まで挿入配設するとともに、検出手段が、偏
    向を受けない光束に対してその結像位置に境界線を持つ
    2つの領域において受光する第1の受光領域と、偏向を
    受けた光束に対してそ光束の中心に境界線を持つ2つの
    領域において受光する第2の受光領域とを含みかつ上記
    第1・第2の受光領域が略同一平面上に一体化して形成
    されていることを特徴とする光学ヘッド。
JP58156253A 1983-08-29 1983-08-29 光学ヘッド Pending JPS6050632A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58156253A JPS6050632A (ja) 1983-08-29 1983-08-29 光学ヘッド

Applications Claiming Priority (1)

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JP58156253A JPS6050632A (ja) 1983-08-29 1983-08-29 光学ヘッド

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6050632A true JPS6050632A (ja) 1985-03-20

Family

ID=15623739

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58156253A Pending JPS6050632A (ja) 1983-08-29 1983-08-29 光学ヘッド

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JP (1) JPS6050632A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61280033A (ja) * 1985-06-06 1986-12-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 焦点誤差検出装置
JPH0294121A (ja) * 1988-09-30 1990-04-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 焦点誤差検出装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61280033A (ja) * 1985-06-06 1986-12-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 焦点誤差検出装置
JPH0294121A (ja) * 1988-09-30 1990-04-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 焦点誤差検出装置

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