JPS6336534B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6336534B2
JPS6336534B2 JP58202295A JP20229583A JPS6336534B2 JP S6336534 B2 JPS6336534 B2 JP S6336534B2 JP 58202295 A JP58202295 A JP 58202295A JP 20229583 A JP20229583 A JP 20229583A JP S6336534 B2 JPS6336534 B2 JP S6336534B2
Authority
JP
Japan
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stage
register
flip
scan
registers
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP58202295A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6095643A (ja
Inventor
Toshiro Nakazuru
Shigeru Nagasawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP58202295A priority Critical patent/JPS6095643A/ja
Publication of JPS6095643A publication Critical patent/JPS6095643A/ja
Publication of JPS6336534B2 publication Critical patent/JPS6336534B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2236Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 発明の技術分野 本発明はデータ処理装置に係り、特に多段演算
パイプラインの障害検出を効率良く行える診断機
能に関する。
(b) 技術の背景 通常のデータ処理装置における診断機能とし
て、データ処理装置を構成するレジスタ、フリツ
プフロツプ群等に1対1対応でスキヤンアドレス
を与え、指定したアドレスに対応するレジスタ、
フリツプフロツプ群等にデータをスキヤンインし
て、通常のクロツクを印加した後、上記スキヤン
アドレスとは別のスキヤンアドレスに対応するレ
ジスタ、フリツプフロツプ群等をスキヤンアウト
して、予測値と比較し、スキヤンインしたステー
ジとスキヤンアウトしたステージ間に存在する論
理回路の障害を調べるスキヤンイン、アウト機能
がある。
本発明は、多段ステージからなる演算パイプラ
インであつて、その総て又は幾つかのステージが
上記スキヤンイン、アウト可能なレジスタ又はフ
リツプフロツプ群から構成されている場合の効果
的なスキヤンイン、アウト機能を構成しようとす
るものである。
(c) 従来技術と問題点 通常スキヤンイン、アウト機能による多段ステ
ージからなる演算パイプラインの障害検出は、上
記多段テージの内の特定のステージに、データを
スキヤンインして、通常のクロツクを印加した
後、後段のステージよりデータをスキヤンアウト
して、予測値と比較してステージ間に存在する論
理ブロツクの障害を調べるものである。
この場合、通常のクロツクを印加した後は、上
記特定のステージのデータは、上記スキヤンイン
したデータとは同一ではなくなる為、通常クロツ
クを印加する場合には、スキヤンアウトするステ
ージ迄のフリツプフロツプ段数、及び論理機能を
正確に知つておく必要がある。
又、同じスキヤンインデータで繰り返しテスト
する場合には、再度同じデータをスキヤンインし
直さなければならない。
更に、フリーラン状態で、測定器等を使用して
チエツクするのは、予測値が不明である為、困難
である等の問題があつた。
(d) 発明の目的 本発明は上記従来の欠点に鑑み、多段ステージ
からなる演算パイプラインにおいて、スキヤンイ
ン、アウト機能を用いて障害検出を行うのに、指
定されたステージのスキヤンレジスタ又はフリツ
プフロツプ群に対する通常クロツクの供給を停止
させることによつて、通常のクロツクが印加され
ている場合でも、スキヤンインしたデータを保持
させることにより、障害検出を効率良く行う方法
を提供することを目的とするものである。
(e) 発明の構成 そしてこの目的は、本発明によれば、多段ステ
ージからなる演算パイプラインであつて、その総
て又は幾つかのステージがスキヤンイン、アウト
可能なレジスタ又はフリツプフロツプ群から構成
されたものにおいて、上記演算パイプラインに、
上記各ステージのレジスタ又はフリツプフロツプ
群のいずれかを選択する手段と、上記選択された
ステージのスキヤンイン、アウトレジスタ又はフ
リツプフロツプ群への通常のクロツクの供給、停
止を指定する手段とを設け、該手段によつて上記
各ステージのレジスタ又はフリツプフロツプ群の
いずれかへの通常のクロツクの供給を制御する方
法を提供することによつて達成され、スキヤンイ
ンデータを、通常のクロツクを印加した後でも、
ステージレジスタに保持させることができるの
で、障害個所の検出が効率良く行える利点があ
る。
(f) 発明の実施例 先ず、本発明の主旨を要約すると、本発明の診
断機能は、多段ステージからなる演算パイプライ
ンにおいて、スキヤン可能な任意のステージに属
するレジスタ又はフリツプフロツプ群全体を指定
するスキヤンアドレスを用い、このアドレスによ
つて生成されるセレクト信号と、本診断機能を有
効とするか否かを指定する信号(マスクイネーブ
ル)とにより、上記多段ステージを構成する各ス
テージのスキヤンレジスタ又はフリツプフロツプ
群への通常のクロツクをゲートすることによつ
て、該ステージのスキヤンレジスタ又はフリツプ
フロツプ群への通常クロツクの供給、停止を行う
ようにしたものである。
以下本発明の実施例を図面によつて詳述する。
図は本発明の一実施例をブロツク図で示した図で
ある。
図面において、1は多段ステージ演算パイプラ
イン、21,22〜2i,2jは本発明の対象と
なるステージレジスタ、31〜3iは各ステージ
間にある論理回路(この部分は、更に幾つかのス
テージから成つていても良い)、41,42〜4
i,4jはアンド回路、5はステージアドレスレ
ジスタ(STAR)、6はデコーダ(DEC)、7は
マスクイネーブルレジスタ(MER)、81,82
〜8i,8jはナンド回路、9は通常のクロツク
線(正極性)を示している。
21,22〜2i,2jのステージレジスタ
と、31〜3iの論理回路は、図の如く接続さ
れ、1つの演算パイプラインを構成している。ク
ロツク線9は41,42〜4i,4jのアンド回
路を介して、21,22〜2i,2jのステージ
レジスタに通常のクロツクを供給する。ステージ
アドレスレジスタ(STAR)5は通常のクロツ
クの供給を停止すべき21,22〜2i,2jの
ステージレジスタのいずれかのアドレスを保持す
るレジスタであり、この内容はデコーダ(DEC)
6に送出される。マスクイネーブルレジスタ
(MER)7の出力はデコーダ(DEC)6の出力
をゲートする為、81,82〜8i,8jのナン
ド回路に接続され、これらナンド回路の出力は、
クロツク線9より21,22〜2i,2jのステ
ージレジスタへ供給される通常のクロツクをゲー
トする為、それぞれ対応する41,42〜4i,
4jのアンド回路に接続されている。
今、マスクイネーブルレジスタ(MER)7の
内容を論理“1”とすると、デコーダ(DEC)
6の出力が接続されている81,82〜8i,8
jのナンド回路の、ステージアドレスレジスタ
(STAR)5の内容に対応するいずれかの出力が
論理“0”となる。
この出力が論理“0”となつたナンド回路に接
続されている41,42〜4i,4jの対応する
アンド回路の出力は常に論理“0”となり、この
アンド回路経由で通常のクロツクが供給されてい
るステージレジスタ(例えば、22)への通常の
クロツクの供給は停止される。
上記ステージレジスタ22にデータをスキヤン
インして、該データを保持させる場合、演算パイ
プライン1をマニユアル状態にして、通常クロツ
クを停止し、該ステージレジスタ22にデータを
スキヤンインし、そのステージアドレスレジスタ
(STAR)5に該ステージレジスタ22のアドレ
スを設定し、マスクイネーブルレジスタ(MER)
7に論理“1”を設定する。
こうすると、上記に説明した論理に従つて、ナ
ンド回路82が論理“0”となり、アンド回路4
2を閉塞して、ステージレジスタ22に対する通
常のクロツクの供給を停止することになる。
この後、通常のクロツクをマニユアル状態で印
加しても、マニユアル状態を解除してフリーラン
状態にしても、上記ステージレジスタ22への通
常のクロツクの印加は抑止されるので、上記ステ
ージレジスタ22はスキヤンインしたデータを常
に保持していることになる。
この結果、後段のステージレジスタ(例えば、
2i)に対する入力データを固定することがで
き、ステージレジスタ22とステージレジスタ2
iとの間にある論理回路に対する障害検出が効率
的に行えるようになる。
(g) 発明の効果 以上、詳細に説明したように、本発明の多段演
算パイプラインは、該回路を構成するステージレ
ジスタのいずれかにスキヤンインしたデータを、
通常のクロツクを印加した後も、該ステージレジ
スタに保持させることができるので、例えば繰り
返しテストを行う場合、上記スキヤンインデータ
を再設定する必要がなくなり、又後段のステージ
レジスタの内容を、印加クロツク数に応じて容易
に予測でき、更にフリーラン状態においても、後
段のステージレジスタの内容が予測可能となる場
合が多く、測定器を使用して行うチエツクが容易
になり、障害個所の検出が効率良く行えるという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例をブロツク図で示した図
である。 図面において、1は多段演算パイプライン、2
1,22〜2i,2jはステージレジスタ、31
〜3iは論理回路、41,42〜4i,4jはア
ンド回路、5はステージアドレスレジスタ
(STAR)、6はデコーダ(DEC)、7はマスクイ
ネーブルレジスタ(MER)、81,82〜8i,
8jはナンド回路、9はクロツク線、をそれぞれ
示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 多段ステージからなる演算パイプラインであ
    つて、その総て又は幾つかのステージがスキヤン
    イン、アウト可能なレジスタ又はフリツプフロツ
    プ群から構成されたものにおいて、上記演算パイ
    プラインに、上記各ステージのレジスタ又はフリ
    ツプフロツプ群のいずれかを選択する手段と、上
    記選択されたステージのスキヤンイン、アウトレ
    ジスタ又はフリツプフロツプ群への通常のクロツ
    クの供給、停止を指定する手段とを設け、該手段
    によつて上記各ステージのレジスタ又はフリツプ
    フロツプ群のいずれかへの、通常のクロツクの供
    給を制御することを特徴とする多段演算パイプラ
    イン診断方式。
JP58202295A 1983-10-28 1983-10-28 多段演算パイプライン診断方式 Granted JPS6095643A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58202295A JPS6095643A (ja) 1983-10-28 1983-10-28 多段演算パイプライン診断方式

Applications Claiming Priority (1)

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JP58202295A JPS6095643A (ja) 1983-10-28 1983-10-28 多段演算パイプライン診断方式

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Publication Number Publication Date
JPS6095643A JPS6095643A (ja) 1985-05-29
JPS6336534B2 true JPS6336534B2 (ja) 1988-07-20

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ID=16455174

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JP58202295A Granted JPS6095643A (ja) 1983-10-28 1983-10-28 多段演算パイプライン診断方式

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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0711787B2 (ja) * 1987-03-02 1995-02-08 日本電気株式会社 デ−タ処理装置
JP2636695B2 (ja) * 1993-08-03 1997-07-30 日本電気株式会社 パイプライン処理回路
FR2789247B1 (fr) * 1999-01-28 2004-10-15 St Microelectronics Sa Circuit electronique modulaire a synchronisation amelioree
JP5234957B2 (ja) * 2008-12-16 2013-07-10 国立大学法人 東京大学 半導体集積回路

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