JPS6032213B2 - 論理装置の診断方式 - Google Patents
論理装置の診断方式Info
- Publication number
- JPS6032213B2 JPS6032213B2 JP53156396A JP15639678A JPS6032213B2 JP S6032213 B2 JPS6032213 B2 JP S6032213B2 JP 53156396 A JP53156396 A JP 53156396A JP 15639678 A JP15639678 A JP 15639678A JP S6032213 B2 JPS6032213 B2 JP S6032213B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diagnosed
- scan
- parts
- logical
- data
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、電子計算機システムを構成する論理装置の診
断方式に関するものであり、詳しくは、主記憶制御装置
と主記憶装置、チャネル処理装置とチャネル装置、入出
力制御装置と入出力装置、あるいは端末制御装置と端末
装置等の関係において見られる様に、１台の論理装置に
対して複数台の同一な論理構造を有する論理装置あるい
は論理モジュールを接続して成る広い意味での論理装置
（サブ・システムと称することもある）の診断方式に関
する。
断方式に関するものであり、詳しくは、主記憶制御装置
と主記憶装置、チャネル処理装置とチャネル装置、入出
力制御装置と入出力装置、あるいは端末制御装置と端末
装置等の関係において見られる様に、１台の論理装置に
対して複数台の同一な論理構造を有する論理装置あるい
は論理モジュールを接続して成る広い意味での論理装置
（サブ・システムと称することもある）の診断方式に関
する。
従釆、上記の如き論理装置における論理動作の正常性を
調べる方法として、診断データのスキャンインノスキヤ
ンアウトを主体としたマイクロ・プログラムないしこれ
に類似した手法による診断方式があり、マイクロ・ダイ
アグノースティク・テスト（ＭＤＴ）あるいはフオール
ト・ロケーティング・テスト（ＦＬＴ）と称されている
。
調べる方法として、診断データのスキャンインノスキヤ
ンアウトを主体としたマイクロ・プログラムないしこれ
に類似した手法による診断方式があり、マイクロ・ダイ
アグノースティク・テスト（ＭＤＴ）あるいはフオール
ト・ロケーティング・テスト（ＦＬＴ）と称されている
。
これらの場合、診断のためのマイクロ・プログラムある
いはフオールト・ロケーテイング・プログラム（ＦＬＰ
）は、被診断装置それ自体の制御記憶（コントロール・
ストーレツジ）に格納されて実行されるか、または上位
の論理装置あるいは診断専用の論理装置（サービス処理
装置と称すこともある）の制御記憶に格納されて実行さ
れる。ところで、被診断装置それ自体の制御記憶に格納
して実行する場合には、制御記憶およびその周辺回路は
診断対象にならないことが多く、より完壁な診断を必要
とする場合には後者の別装置からの診断方法を採用する
ことが多い。第１図は後者における従来の診断方式を示
したもので、診断制御の主体となる診断制御部（あるい
は診断装置）１に複数の被診断部（あるいは被診断装置
）２０＾〜２０Ｎが接続されている。
いはフオールト・ロケーテイング・プログラム（ＦＬＰ
）は、被診断装置それ自体の制御記憶（コントロール・
ストーレツジ）に格納されて実行されるか、または上位
の論理装置あるいは診断専用の論理装置（サービス処理
装置と称すこともある）の制御記憶に格納されて実行さ
れる。ところで、被診断装置それ自体の制御記憶に格納
して実行する場合には、制御記憶およびその周辺回路は
診断対象にならないことが多く、より完壁な診断を必要
とする場合には後者の別装置からの診断方法を採用する
ことが多い。第１図は後者における従来の診断方式を示
したもので、診断制御の主体となる診断制御部（あるい
は診断装置）１に複数の被診断部（あるいは被診断装置
）２０＾〜２０Ｎが接続されている。
被診断部２０＾〜２０Ｎの論理構造は全て同じであり、
診断は次の様にして行われる。先ず、診断制御部１は、
スキャン・アドレス上位レジスタ２（以下ＳＵＡＲと略
す）に診断を行おうとする被診断部のアドレスを設定す
る。被診断部２０ハ〜２０Ｎはそれぞれ予め固有のアド
レスが付加されており、ＳＵＡＲ２に設定されたアドレ
スをスキャン・アドレス・デコーダ７でデコードして唯
一の被診断部（２０＾とする）へのみスキャン・ィネー
ブル信号（ＳＮＥＮと略す）３０＾を送出する。ＳＮＥ
Ｎ３０＾は、被診断部２０＾のスキャン・アドレス・デ
コーダ２１を活性化し、ＳＮＥＮ３０Ａが送出された被
診断部２０＾のみのスキャン・ィンおよびスキャン・ア
ウトを活性化する。各被診断部内のレジスタ群２２の選
択に用いるアドレスは、診断制御部１のスキャン・アド
レス下位レジスタ３（ＳＬＡＲと略す）に設定されて、
スキャン・アドレス・バス３１（ＳＮＡＢと略す）を介
して全被診断部２０Ａ〜２０Ｎへ送出され、スキャン・
アドレス・デコーダ２１でヂコードされる。スキヤンイ
ンデータは、スキヤン・イン・データ・レジスタ４（Ｓ
ｍＲと略す）に設定されて、スキャンデータ・バス３２
（ＳｍＢ）を介して全被診断部２０＾〜２０Ｎへ送出さ
れる。従って、いまの場合、ＳＮＥＮ３０＾でスキャン
アウトが活性化されると、被診断部２０＾は、レジスタ
群２２の内からＳＬＡＲ３で指定されたレジスタを選択
し、アンド・ゲート２３でゲートしてスキャンアウトデ
ータ・バス３３＾（ＳＯＤＢと略す）へ送出する。ＳＯ
ＤＢ３３＾へ送出されたスキャンアウトデータは診断制
御部１のオア・ゲート５を介してスキヤン・アウト・デ
ータ・レジスタ６（ＳＯＤＲと略す）に設定される。又
、スキャンインが活性化された場合には、ＳＩＤＲ４に
設定された内容が、被診断部２０＾のレジスタ群２２の
ＳＬＡＲ２で指定されたレジスタに設定される。被診断
制御部へのスキャンィンおよびスキャンアウトは以上の
様にして行われるが、ＦＬＰではこのスキャンイン、ス
キャンアウトを利用して次のようにして診断を行う。■
ＳＵＡＲ２で特定の被診断部を指定する。
診断は次の様にして行われる。先ず、診断制御部１は、
スキャン・アドレス上位レジスタ２（以下ＳＵＡＲと略
す）に診断を行おうとする被診断部のアドレスを設定す
る。被診断部２０ハ〜２０Ｎはそれぞれ予め固有のアド
レスが付加されており、ＳＵＡＲ２に設定されたアドレ
スをスキャン・アドレス・デコーダ７でデコードして唯
一の被診断部（２０＾とする）へのみスキャン・ィネー
ブル信号（ＳＮＥＮと略す）３０＾を送出する。ＳＮＥ
Ｎ３０＾は、被診断部２０＾のスキャン・アドレス・デ
コーダ２１を活性化し、ＳＮＥＮ３０Ａが送出された被
診断部２０＾のみのスキャン・ィンおよびスキャン・ア
ウトを活性化する。各被診断部内のレジスタ群２２の選
択に用いるアドレスは、診断制御部１のスキャン・アド
レス下位レジスタ３（ＳＬＡＲと略す）に設定されて、
スキャン・アドレス・バス３１（ＳＮＡＢと略す）を介
して全被診断部２０Ａ〜２０Ｎへ送出され、スキャン・
アドレス・デコーダ２１でヂコードされる。スキヤンイ
ンデータは、スキヤン・イン・データ・レジスタ４（Ｓ
ｍＲと略す）に設定されて、スキャンデータ・バス３２
（ＳｍＢ）を介して全被診断部２０＾〜２０Ｎへ送出さ
れる。従って、いまの場合、ＳＮＥＮ３０＾でスキャン
アウトが活性化されると、被診断部２０＾は、レジスタ
群２２の内からＳＬＡＲ３で指定されたレジスタを選択
し、アンド・ゲート２３でゲートしてスキャンアウトデ
ータ・バス３３＾（ＳＯＤＢと略す）へ送出する。ＳＯ
ＤＢ３３＾へ送出されたスキャンアウトデータは診断制
御部１のオア・ゲート５を介してスキヤン・アウト・デ
ータ・レジスタ６（ＳＯＤＲと略す）に設定される。又
、スキャンインが活性化された場合には、ＳＩＤＲ４に
設定された内容が、被診断部２０＾のレジスタ群２２の
ＳＬＡＲ２で指定されたレジスタに設定される。被診断
制御部へのスキャンィンおよびスキャンアウトは以上の
様にして行われるが、ＦＬＰではこのスキャンイン、ス
キャンアウトを利用して次のようにして診断を行う。■
ＳＵＡＲ２で特定の被診断部を指定する。
■ レジスタ群２２に対してスキャンインを行つｏ■
被診断部のクロツクを進相する。
被診断部のクロツクを進相する。
■ レジスタ群２２をスキャンアウトする。
■ ＳＯＤＲ６の内容とＦＬＰで保持している正常値（
あるいは期待値）と比較する。■ 一致していれば■〜
■を必要な回数実行する。
あるいは期待値）と比較する。■ 一致していれば■〜
■を必要な回数実行する。
一致していなければスキャンアドレス、スキヤンインデ
ータおよびスキャンアウトデータとの関係から故障箇所
を算出指摘する。以上が別に設けた診断制御部により診
断する従来方式の概略であるが、診断制御部１の接続さ
れている全ての被診断部２０＾〜２０Ｎを診断しようと
する場合、診断制御部１はまず唯一の被診断部（例えば
２０Ａ）を選択してＦＬＰを実行し、同様にして順次す
べての被診断部に対して同じＦＬＰを被診断部の数と同
じ回数実行する必要があった。
ータおよびスキャンアウトデータとの関係から故障箇所
を算出指摘する。以上が別に設けた診断制御部により診
断する従来方式の概略であるが、診断制御部１の接続さ
れている全ての被診断部２０＾〜２０Ｎを診断しようと
する場合、診断制御部１はまず唯一の被診断部（例えば
２０Ａ）を選択してＦＬＰを実行し、同様にして順次す
べての被診断部に対して同じＦＬＰを被診断部の数と同
じ回数実行する必要があった。
このため、ＦＬＰＩ回の実行に要する時間が長いと、全
体の診断に要する時間は長時間になり、例えば速かな回
復が要求されるオンライン・システムの修復あるいはシ
ステム使用時前のメンテナンス等の限られた時間内での
動作確認において支障をきたすことがあった。本発明は
上述の如き従来方式の問題点を除去し、同一論理構造を
有する被診断部または被診断論理モジュールに対し、被
数合同時に診断を可能にする同時診断方式を提供するこ
とにある。
体の診断に要する時間は長時間になり、例えば速かな回
復が要求されるオンライン・システムの修復あるいはシ
ステム使用時前のメンテナンス等の限られた時間内での
動作確認において支障をきたすことがあった。本発明は
上述の如き従来方式の問題点を除去し、同一論理構造を
有する被診断部または被診断論理モジュールに対し、被
数合同時に診断を可能にする同時診断方式を提供するこ
とにある。
第２図は本発明の一実施例を示したもので、第１図と比
べて診断制御部１が異っている。即ち、第１図における
ＳＵＡＲ２に対して本実施例ではモジュール指定レジス
タ２′（ＭＯＤＲと略す）が設けられる。このＭＯＤＲ
２′は、ＳＵＡＲ２が唯一の被診断部を選択する目的を
持って設けられたのに対し、任意の１台以上の被診断部
を選択する目的で設けられる点が根本的に異なり、被診
断部２０＾〜２０Ｎの各々に対してＭＯＤＲ２′の各ビ
ットが対応し、複数台の被診断部の選択が可能である。
このことから明らかな様に、本実施例における診断制御
部１は任意の１台は勿論のこと、複数台の被診断制御部
に対しても同時にスキャン・インおよびスキャン・アウ
トが可能であり、複数台の被診断制御部に対し、同時に
ＦＬＰを実行することができる。更に、本実施例が第１
図と異なる点は、スキャンアウト・アンドデータレジス
タ１ １（ＳＯＡＲと略す）、ＳＯＡＲＩＩの入力に後
続されるノットゲート８、オア・ゲート９、アンド・ゲ
ート１０およびＳＯＡＲＩ Ｉの出力に接続される比較
器１２が追加されている点である。
べて診断制御部１が異っている。即ち、第１図における
ＳＵＡＲ２に対して本実施例ではモジュール指定レジス
タ２′（ＭＯＤＲと略す）が設けられる。このＭＯＤＲ
２′は、ＳＵＡＲ２が唯一の被診断部を選択する目的を
持って設けられたのに対し、任意の１台以上の被診断部
を選択する目的で設けられる点が根本的に異なり、被診
断部２０＾〜２０Ｎの各々に対してＭＯＤＲ２′の各ビ
ットが対応し、複数台の被診断部の選択が可能である。
このことから明らかな様に、本実施例における診断制御
部１は任意の１台は勿論のこと、複数台の被診断制御部
に対しても同時にスキャン・インおよびスキャン・アウ
トが可能であり、複数台の被診断制御部に対し、同時に
ＦＬＰを実行することができる。更に、本実施例が第１
図と異なる点は、スキャンアウト・アンドデータレジス
タ１ １（ＳＯＡＲと略す）、ＳＯＡＲＩＩの入力に後
続されるノットゲート８、オア・ゲート９、アンド・ゲ
ート１０およびＳＯＡＲＩ Ｉの出力に接続される比較
器１２が追加されている点である。
これらの構成要素は次の目的のために設けられている。
すなわち、複数台の被診断部をスキャンアゥトした場合
、各被診断部からＳＯＤＢ３３＾に送出されたデータは
、オア・ゲート５で論理和がとられてＳＯＤＲ６へ設定
される。このとき、いずれかの被診断部に故障があり、
スキャン・アウトデー外こ正常値と異つたスキャンアウ
ト・データが送出されたとすると、ＳＯＤＲ６に設定さ
れるデータは各被診断部から送出されたスキャンアウト
データの論理和であることから、余分な論理“１”を含
むデータをスキャン・アウトしている被診断部が存在す
ることの判別は可能であるが、論理“１”の不足してい
るデータをスキャン・アゥトしている被診断部が存在し
ていることの判別は不可能である。この不具合点を解消
するためには、選択した被診断部からのスキャン・アウ
ト・データの各ビット間で論理積をとれば良いことは明
らかである。ＭＯＤＲ２′で選択された被診断部のスキ
ャン・アウト・データは、ＳＯＤＢ３３Ａ、オア・ゲー
ト９を介して、アンド・ゲート１０‘こ導かれる。ＭＯ
ＤＲ２′で選択されない被診断部はスキャン・アウトが
活性化されないのでスキャン・アウトは行われず、従っ
てＳＯＤＢ３３＾にはスキャン・アウト・データが送出
されない。ノード・ゲート８の出力はＭＯＤＲ２′で選
択されない被診断部からのスキャン・アウト・データに
代ってオア・ゲート９を介してアンド・ゲート１川こ導
かれ、選択された被診断部からのスキャン・アウト・デ
ータ相互間でのみの論理積がとられるように補償する。
以上の様にしてＳＯＡＲＩ１にはスキャン・アウト・デ
ータの論理積が設定されることになる。
すなわち、複数台の被診断部をスキャンアゥトした場合
、各被診断部からＳＯＤＢ３３＾に送出されたデータは
、オア・ゲート５で論理和がとられてＳＯＤＲ６へ設定
される。このとき、いずれかの被診断部に故障があり、
スキャン・アウトデー外こ正常値と異つたスキャンアウ
ト・データが送出されたとすると、ＳＯＤＲ６に設定さ
れるデータは各被診断部から送出されたスキャンアウト
データの論理和であることから、余分な論理“１”を含
むデータをスキャン・アウトしている被診断部が存在す
ることの判別は可能であるが、論理“１”の不足してい
るデータをスキャン・アゥトしている被診断部が存在し
ていることの判別は不可能である。この不具合点を解消
するためには、選択した被診断部からのスキャン・アウ
ト・データの各ビット間で論理積をとれば良いことは明
らかである。ＭＯＤＲ２′で選択された被診断部のスキ
ャン・アウト・データは、ＳＯＤＢ３３Ａ、オア・ゲー
ト９を介して、アンド・ゲート１０‘こ導かれる。ＭＯ
ＤＲ２′で選択されない被診断部はスキャン・アウトが
活性化されないのでスキャン・アウトは行われず、従っ
てＳＯＤＢ３３＾にはスキャン・アウト・データが送出
されない。ノード・ゲート８の出力はＭＯＤＲ２′で選
択されない被診断部からのスキャン・アウト・データに
代ってオア・ゲート９を介してアンド・ゲート１川こ導
かれ、選択された被診断部からのスキャン・アウト・デ
ータ相互間でのみの論理積がとられるように補償する。
以上の様にしてＳＯＡＲＩ１にはスキャン・アウト・デ
ータの論理積が設定されることになる。
比較器１２はＦＬＰによる正常値との比較を容易にする
ためのもので、正常値との比較に先立ってＳＯＤＲ６と
ＳＯＡＲＩ Ｉの内容が異っていることを表示する。Ｆ
ＬＰにより正常値と異なるスキャン・アウトを行ってい
る被診断部の存在が認められた場合には、ＭＯＤＲ２′
を用いて従来通り被診断部を順次個別指定することによ
り、スキャン・アウトおよび正常値との比較を行えば、
故障の存在する被診断部の指摘は容易に行える。以上説
明したごと〈、本発明によれば、複数台の被診断部に対
する同時診断が可能であり、診断に要する時間を著しく
短縮することができる。
ためのもので、正常値との比較に先立ってＳＯＤＲ６と
ＳＯＡＲＩ Ｉの内容が異っていることを表示する。Ｆ
ＬＰにより正常値と異なるスキャン・アウトを行ってい
る被診断部の存在が認められた場合には、ＭＯＤＲ２′
を用いて従来通り被診断部を順次個別指定することによ
り、スキャン・アウトおよび正常値との比較を行えば、
故障の存在する被診断部の指摘は容易に行える。以上説
明したごと〈、本発明によれば、複数台の被診断部に対
する同時診断が可能であり、診断に要する時間を著しく
短縮することができる。
また、本発明は従釆技術で製造された被診断部に対する
改造を一切行うことなく実施可能である。本発明の適用
を例えば、プラグィン論理パッケージあるいは類似の論
理モジュールの診断に実施することも容易に想定が可能
であり、その場合にも同様な効果が得られることは明ら
かである。
改造を一切行うことなく実施可能である。本発明の適用
を例えば、プラグィン論理パッケージあるいは類似の論
理モジュールの診断に実施することも容易に想定が可能
であり、その場合にも同様な効果が得られることは明ら
かである。
第１図は従来技術による診断方式のブロック図、第２図
は本発明による診断方式の一実施例のフロツク図である
。 １・・・・・・診断制御部、２…・・・スキャンアドレ
ス上位レジスタ、２・・・・・・モジュール指定レジス
タ、３．．・．．・スキャンアドレス下位レジスタ、４
．．．．．．スキャンインデータレジスタ、５……オア
ゲート、６……スキヤンアウトデータレジスタ、７……
スキヤンアドレスデコーダ、８……ノットゲート、９・
・・…オアゲート、１０……アンドゲート、１１・・・
スキヤンアウトアンドデータレジスタ、１２……比較器
、２０＾〜２０Ｎ・・・・・・被診断部、２１・・・・
・・スキヤンアドレスデコーダ、２２……レジスタ群、
２３……アンドゲート、３０＾〜３０Ｎ……スキャンイ
ネーブル信号、３１・・・・・・スキャンアドレスバス
、３２……スキヤンインデータバス、３３Ａ〜３３Ｎ…
…スキヤンアウトデータバス。 第１図 第２図
は本発明による診断方式の一実施例のフロツク図である
。 １・・・・・・診断制御部、２…・・・スキャンアドレ
ス上位レジスタ、２・・・・・・モジュール指定レジス
タ、３．．・．．・スキャンアドレス下位レジスタ、４
．．．．．．スキャンインデータレジスタ、５……オア
ゲート、６……スキヤンアウトデータレジスタ、７……
スキヤンアドレスデコーダ、８……ノットゲート、９・
・・…オアゲート、１０……アンドゲート、１１・・・
スキヤンアウトアンドデータレジスタ、１２……比較器
、２０＾〜２０Ｎ・・・・・・被診断部、２１・・・・
・・スキヤンアドレスデコーダ、２２……レジスタ群、
２３……アンドゲート、３０＾〜３０Ｎ……スキャンイ
ネーブル信号、３１・・・・・・スキャンアドレスバス
、３２……スキヤンインデータバス、３３Ａ〜３３Ｎ…
…スキヤンアウトデータバス。 第１図 第２図
Claims (1)
- １ 同一論理構造を有する被診断部を複数個接続して成
る論理装置の診断方式であつて、１つ以上の任意の被診
断部を同時に選択する手段と、選択された被診断部内の
レジスタ類を選択する手段と、選択された該レジスタ類
の内容を読出す手段と、選択されなかつた被診断部のデ
ータを補償する手段と、全被診断部と接続され被診断部
から読出されたデータ相互間の論理和をとる手段と、上
記全被診断部と補償手段と接続され、選択されなかつた
被診断部からの入力については選択されなかつた被診断
部の読出出力に代えて補償手段の出力を入力とし、選択
された被診断部からの入力については選択された被診断
部からの読出しデータを入力として論理積をとる手段と
、論理和をとる手段の出力と論理積をとる手段の出力と
を比較する手段とを有する診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53156396A JPS6032213B2 (ja) | 1978-12-20 | 1978-12-20 | 論理装置の診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53156396A JPS6032213B2 (ja) | 1978-12-20 | 1978-12-20 | 論理装置の診断方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5583944A JPS5583944A (en) | 1980-06-24 |
| JPS6032213B2 true JPS6032213B2 (ja) | 1985-07-26 |
Family
ID=15626812
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53156396A Expired JPS6032213B2 (ja) | 1978-12-20 | 1978-12-20 | 論理装置の診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6032213B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4860290A (en) * | 1987-06-02 | 1989-08-22 | Texas Instruments Incorporated | Logic circuit having individually testable logic modules |
| JP2591829B2 (ja) * | 1989-10-12 | 1997-03-19 | 甲府日本電気株式会社 | 診断装置 |
| JPH03228144A (ja) * | 1990-02-02 | 1991-10-09 | Koufu Nippon Denki Kk | 論理回路診断装置 |
-
1978
- 1978-12-20 JP JP53156396A patent/JPS6032213B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5583944A (en) | 1980-06-24 |
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