JPS6334272Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、ICの１本または複数本のリード
の曲りを検出するリード曲り検出装置に関するも
のである。

従来この種の装置として第１図に示すものがあ
つた。図において、１はICを位置決めする位置
決めストツパ、２はこの位置決めストツパ１を前
後させるシリンダー、３はICのリード曲りを検
出する検出ブロツク、４はこの検出ブロツク３に
設けられたICのリードが嵌り込む嵌合穴、５は
検出ブロツク３を固定するプレート、６は検出ブ
ロツク３をプレート５へ固定させるボルト、７は
プレート５を上下させるシリンダー、８は検査対
象となるIC、９はこのIC８の検査するリード、
１０はIC８をガイドするガイドレール、１１は
不良品を検知する検出器である。

次に動作について説明する。IC８が位置決め
ストツパ１に当たるまでガイドレール１０を移動
する（別の駆動源により移動し、またはガイドレ
ール１０を傾斜させることによりIC８が自重落
下する）とシリンダー７が上昇し、第２図のよう
な良品のICの場合は検出ブロツク３にあけられ
た嵌合穴４にリード９が嵌り込み、シリンダー７
が上昇端に達してもIC８を持ち上げることなく、
検出器１１はIC８を検知せず良品と判定する。
その後シリンダー７は下降し、シリンダー２によ
り位置決めストツパ１が後退し、IC８は次工程
へ送られる。第３図のような不良品（リード曲り
品）の場合は嵌合穴４にリード９が全て嵌合せ
ず、IC８がシリンダー７の上昇とともに持ち上
げられ、検出器１１にて検知され異常信号を発生
する。

従来のICリード曲り検出装置は以上のように
構成されているので、位置決めストツパ１と検出
ブロツク３上の嵌合穴４のIC８の端面より端部
リード９までの距離Ｌが変化する毎にボルト６を
緩め、検出ブロツク３を移動調整する必要があつ
た。また、リード９が細いため、嵌合穴４も小径
となり、粉塵等により嵌合穴４が目詰りを起こし
不具合を生じていた。さらに、嵌合穴４が円径の
ため、第４図のようなリード９の曲りについても
同じように不良品と判定し、リード９の曲り方向
が判定できなかつた。また、リード９が曲がつた
不良品はシリンダー７の上昇時に持ち上げられて
姿勢が不安定となり、検出器１１による検知やシ
リンダー７の戻し動作（下降）による元の姿勢へ
の復帰が不安定になるなどの欠点があつた。

この考案は上記のような従来のものの欠点を除
去するためになされたもので、位置決めストツパ
１の構造をIC８のリード９の先端近くに当たる
構造とし、IC８のＬ寸法の相違による検出ブロ
ツク３の移動調整を不用とし、また検出ブロツク
３の構造を小径ピン固着構造とすることにより粉
塵等による目詰りの影響をなくすとともに、第４
図のようなリードの曲りについては検出ないよう
にし、さらに、IC８の上部ガイドを兼ねた検出
プレートを設けることにより検出プレートの同一
基準面で検出器１１による検知ができ、また、リ
ード曲り品が持ち上げられた際、検出プレートを
介して弱いばね圧にて下方へ力を加えることによ
り、傾いて持ち上げられても容易に元の姿勢に復
帰できるようにしたICリード曲り検出装置を提
供することを目的としている。

以下、この考案の一実施例を図について説明す
る。第５図ないし第８図はこの考案の一実施例を
示し、第５図は位置決めストツパとICとの関係
を示す正面図、第６図は検出ブロツクを示す斜視
図、第７図は検出装置を示す正面図、第８図はそ
の側面図である。

図において、第１図ないし第４図と同一符号は
同一または相当部分を示す。位置決めストツパ１
はガイドレール１０に設けられた切欠１０ａを貫
通して前進、後退し、IC８のリード９の先端近
くに当たる構造となつている。１２は検出ブロツ
ク３に水平方向に平行に固着された検出ピンで、
ガイドレール１０の切欠１０ａ内に挿入され、リ
ード９間に嵌り込むように配置されている。１３
は検出ピン１２により持ち上げられるリード曲り
品（不良IC）によつて上方に持ち上げられる検
出プレート、１４は検出プレート１３の可動時の
支点となるピンであり、検出器１１は検出プレー
ト１３の変化（持ち上がり移動）量を検知するよ
うになつている。１５は検出プレート１３の上下
位置を決める特殊ボルト、１６はこの特殊ボルト
１５に固定され、検出プレート１３の下端を決め
るナツト、１７は圧縮ばねで、検出プレート１３
をナツト１６に押し付けている。１８は圧縮ばね
１７のばね圧を調整する特殊ナツトである。

次に上記実施例の動作を説明する。IC８が検
出プレート１３を上部ガイドとしてガイドレール
１０上を移動し、リード９が位置決めストツパ１
に当たると、シリンダー７が上昇し、検出ブロツ
ク３とともに検出ピン１２が上昇する。第２図の
ような良品のICの場合は検出ピン１２間にリー
ド９が嵌り込み、シリンダー７が上昇端に達して
もIC８は持ち上がらず、従つて検出プレート１
３は持ち上がらず、検出器１１はIC８を良品と
判定する。その後シリンダー７は下降し、シリン
ダー２により位置決めストツパ１が後退し、IC
８は次工程へ送られる。第３図のような不良品の
場合は検出ピン１２とリード９が嵌り込まず、検
出ピン１２の上昇時IC８は圧縮ばね１７のばね
圧に打ち勝つて検出プレート１３を押し上げる。
検出プレート１３が上方へ移動すると検出器１１
が検出プレート１３を検知し異常信号を発生す
る。その後シリンダー７が下降する際、IC８に
は検出プレート１３を介して圧縮ばね１７のばね
圧が加わつているため、元の姿勢にスムーズに戻
される。

なお、上記実施例では検出ピン１２の形状を小
径の丸ピンとしたが第９図のように三角形あるい
は多角形のピン、または第１０図のような楕円形
のピンとし、リード９との嵌り込みが容易な構造
としてもよい。また上記実施例では、位置決めス
トツパ１および検出ピン１２を機能させるために
ガイドレール１０に切欠１０ａを設けたが、ガイ
ドレール１０を薄くして切欠１０ａを省略しても
よい。さらに検出機構は上記実施例のものに限ら
ず、任意に変更可能である。

以上のように、この考案によれば、位置決めス
トツパ１をIC８の端部リード９に当て、検出ピ
ン１２、検出プレート１３を備えることにより、
ICの異種類による位置決めストツパ１と検出ブ
ロツク３間の位置関係の調整が不用となり、また
粉塵等による弊害もなくなるとともに、第４図の
ようなリード曲りについては検出しないようにな
つて、リード曲り品の検出精度も向上し、さらに
検出後のICの姿勢も安定に保つことができる等、
簡易構造にて安価で精度の高いものが得られる効
果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のICリード曲り検出装置を示す
斜視図、第２図は良品のICの正面図、第３図は
不良品（リード曲り品）のICの正面図、第４図
はリードの曲り方向が異なつた（この考案による
装置では不良品にしない）ICの側面図、第５図
はこの考案の一実施例による位置決めストツパと
ICとの関係を示す正面図、第６図はこの考案の
一実施例による検出ブロツクの斜視図、第７図お
よび第８図はこの考案の一実施例によるICリー
ド曲り検出装置を示す正面図、第８図はその側面
図、第９図および第１０図ａはこの考案の他の実
施例による検出ブロツクの斜視図、第１０図ｂは
第１０図ａの検出ピンの拡大図である。 １……位置決めストツパ、３……検出ブロツ
ク、８……IC、９……リード、１１……検出器、
１２……検出ピン、１３……検出プレート。な
お、各図中、同一符号は同一または相当部分を示
す。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. ICのリードの先端部付近に当たりICを位置決
   めする位置決めストツパと、この位置決めストツ
   パにより位置決めされたICの隣接するリード間
   に嵌り込んでリードの曲りを検出するように水平
   方向に平行に設けられた櫛状の検出ピンを備えた
   検出ブロツクと、不良IC検出の場合に検出ピン
   の移動によつて移動するICにより持ち上げられ
   かつ圧縮ばねにより押圧された検出プレートと、
   この検出プレートの移動量を検知する検出器とを
   備えたことを特徴とするICリード曲り検出装置。