JP2599148Y2 - 厚さ計 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本考案は、上下測寸圧子で試験片
を挾み込んでその厚さを測定する厚さ計に関する。

【０００２】

【従来の技術】一対の試験片受け具に載置され支持され
た試験片を上下の測寸圧子で挾み込み、上下測寸圧子の
間隔を検出して試験片の厚さを測定する厚さ計が知られ
ている。この種の厚さ測定においては、一般に試験片の
中心部と両端部の合計３点の厚さを測定するようにして
おり、このため上下測寸圧子は、一対の受け具間で試験
片長手方向に移動可能とされる。また本出願人は先に、
下部測寸圧子を左右一対の受け具と同一高さに保持する
とともに、下部測寸圧子と一対の受け具とを一体に昇降
させて上下測寸圧子に試験片を挾み込むようにした試験
片支持装置を提案した（実願平４−７３４４号明細
書）。これによれば、下部測寸圧子と一対の受け具とに
より試験片が３点で支持されるから、厚さ測定時に試験
片が受け具から浮き上がったり、バランスを崩して傾く
ことがなく、測定誤差の発生を回避できる。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の試験片支持装置にあっては、例えば図５に示すよう
に試験片ＴＰが湾曲している場合には、試験片両端部を
受け具に支持させたときに下部測寸圧子が試験片に当接
しない。このため一対の受け具とともに下部測寸圧子を
上昇させて上下測寸圧子間で試験片ＴＰを挾み込むと、
試験片ＴＰの反力が上下測寸圧子に作用し、正確な測定
結果を得ることができない。試験片の反り具合や材質に
よっては上下測寸圧子で試験片を挾み込むことができな
いこともある。

【０００４】本考案の目的は、簡単な構成で湾曲した試
験片でも正確な測定結果が得られる厚さ計を提供するこ
とにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本考案は、試験片の両端
部を載置して支持する一対の試験片受け具と、これらの
一対の受け具間で受け具に対して試験片長手方向に相対
移動可能とされ、上下方向から試験片を挾み込む上下測
寸圧子とを備え、これらの上下測寸圧子の間隔を検出し
て試験片の厚さを測定する厚さ計に適用される。そし
て、下部測寸圧子と一対の受け具とを一体に上部測寸圧
子に対して相対的に昇降せしめる昇降機構と、一対の受
け具に設けられ、試験片が保持されるとともにその試験
片に加わる押圧力に応じて撓む弾性体とを具備し、これ
により上記問題点を解決する。

【０００６】

【作用】一対の受け具に設けられた弾性体の頂部に試験
片を載置し、昇降機構により下部測寸圧子と一対の受け
具とを上部測寸圧子に対して相対的に上昇させる。この
とき、例えば試験片が図５のように湾曲している場合に
は、上部測寸圧子が先に試験片の上面に当接して試験片
を下方に押圧する。この押圧力により弾性体が撓んで試
験片が受け具に対して下降し、試験片の下面が下部測寸
圧子と当接する。すなわち試験片を上下測寸圧子により
正確に挾み込むことができる。

【０００７】

【実施例】図１〜図５により本考案の一実施例を説明す
る。図１〜図３は本考案に係る厚さ計のそれぞれ正面
図、平面図、右側面図である。図３に示す基台１には、
上下支持部２ａ，２ｂを有する左右一対のＵ字型ブラケ
ット２が螺着され、ブラケット２の上方支持部２ａの下
面にリニアベアリング３がそれぞれ固着されている。各
リニアベアリング３には、ガイド軸４がそれぞれ上下方
向に摺動可能に貫通され、各ガイド軸４の下端部に支持
棒５の両端部がそれぞれ固着される。

【０００８】支持棒５の中央部には、リニアベアリング
６が左右に摺動可能に貫通されるとともに、その両端部
には一対のコ字状の試験片受け具７がそれぞれ取付けら
れている。試験片受け具７には図３に示すような上下方
向の長孔７ａが形成される一方、支持棒５には止めねじ
８を介して一対の取付部材９が貫通固定され、各取付部
材９のねじ部９ａに受け具７の長孔７ａが挿通された
後、ねじ部９ａにナット１０が螺合される。これにより
受け具７は取付部材９の頭部とナット１０とに挾まれて
支持棒５に対してその軸方向の移動は阻止されるが、上
記長孔７ａの分だけ支持棒５に対して昇降可能とされ
る。なお取付部材９は、止めねじ８を緩めることにより
支持棒５に沿って移動可能となり、これにより受け具７
の取付位置が適宜変更可能である。

【０００９】各試験片受け具７の上面には、図４に示す
ようなスポンジ１１が例えば両面テープにより固着され
るとともに、このスポンジ１１の周囲を覆う囲い１２が
螺着されている。スポンジ１１の上部は屋根型とされる
とともにその頂部は面取りされ、これら一対のスポンジ
１１の頂部に試験片ＴＰ（ＴＰ１またはＴＰ２）の両端
が載置され支持される。載置された試験片ＴＰに下方の
押圧力が作用するとスポンジ１１が撓み、試験片ＴＰが
受け具７に対して下降する。

【００１０】一方、支持棒５を貫通するリニアベアリン
グ６は、取付部材２１（図２）を介してフレーム２２に
固定されている。フレーム２２は、不図示の横移動用ア
クチュエータにより横軸２８に沿って左右方向に移動可
能とされるとともに、不図示の昇降用アクチュエータに
よりレール２３に沿って昇降可能とされる。リニアベア
リング６にはボルト軸２４（図１）が立設され、その先
端に下部測寸圧子２５が螺合されている。図１のように
支持棒５が受け具７の長孔７ａの最上部に位置している
とき、下部測寸圧子２５の上面は上記スポンジ１１の頂
面と同一高さとなっている。

【００１１】ここで、上記フレーム２２が左右方向に移
動されると、リニアベアリング６が支持棒５を摺動する
ことにより下部測寸圧子２５が一体に左右に移動する。
またフレーム２２が昇降すると、リニアベアリング６を
介して下部測寸圧子２５が一体に昇降し、このとき支持
棒５を介して試験片受け具７も一体に上昇する。２６
は、上記一対のブラケット２の下支持部２ｂにそれぞれ
固着されたストッパであり、試験片受け具７の下降位置
を規制する。

【００１２】図１の符号２７は、下部測寸圧子２５と同
軸で対向配置された上部測寸圧子であり、この上部測寸
圧子２７は、上述した昇降用アクチュエータにより、下
部測寸圧子２５の上昇に同期して下降し、また下部測寸
圧子２５の下降に同期して上昇する。そして、スポンジ
１１上に載置された試験片ＴＰが上下測寸圧子２５，２
７に挾み込まれたときの両圧子２５，２７の間隔を、不
図示の検出器（例えば、磁気スケール）で検出して試験
片ＴＰの厚さを測定する。また上部測寸圧子２７は、下
部測寸圧子２５と一体に左右方向に移動する。

【００１３】次に、図５参照して実施例の動作を説明す
る。試験片ＴＰの厚さ測定を行うに当り、上下測寸圧子
２５，２７を支持棒５の中央部に位置させるとともに、
下部測寸圧子２５を最下端に下降させておく。このと
き、一対の試験片受け具７の下面はストッパ２６に当接
し、また支持棒５は受け具７の長孔７ａの最下端部に位
置している。したがって下部測寸圧子２５の上面はスポ
ンジ１１の頂面より低くなっている。

【００１４】試験片受け具７に固着された一対のスポン
ジ１１上に試験片ＴＰの両端部を載置し、不図示の昇降
アクチュエータによりフレーム２２を上昇させる。これ
により取付部材２１およびリニアベアリング６を介して
下部測寸圧子２５が一体に上昇するとともに、上部測寸
圧子２７が下降する。また、上記リニアベアリング６の
上昇に伴って支持棒５も一体に上昇する。なお支持棒５
の上昇は、リニアベアリング３内を摺動するガイド軸４
により案内される。このとき、支持棒５は受け具７の長
孔７ａ内を上昇し、図１の如く取付部材９が長孔７ａの
上端部に当接すると、それ以降は支持棒５に保持されて
受け具７も一体に上昇し、スポンジ１１上に載置された
試験片ＴＰも上昇する。

【００１５】ここで、上記取付部材９が長孔７ａの上端
部に当接したとき、下部測寸圧子２５の上面は一対のス
ポンジ１１の頂面と同一高さになる。したがって、図１
に示すように湾曲していない試験片ＴＰの場合には、下
部測寸圧子２５が試験片ＴＰの下面に当接し、それ以降
は下部測寸圧子２５と一対のスポンジ１１により試験片
ＴＰが３点支持されて上昇することになる。試験片ＴＰ
が所定量上昇すると上下測寸圧子２５，２７により試験
片ＴＰが挾み込まれ、この状態で両圧子２５，２７の間
隔を不図示の検出器で検出して試験片ＴＰの厚さが測定
される。

【００１６】一方、試験片ＴＰが図５（ａ）に示すよう
に湾曲している場合には、下部測寸圧子２５がスポンジ
１１と同一高さまで上昇しても下部測寸圧子２５は試験
片ＴＰに当接せず、試験片ＴＰは２点支持のまま上昇す
る。所定量上昇すると上部測寸圧子２７が試験片ＴＰの
上面に当接してこれを下方に押圧し、この押圧力により
スポンジ１１が図５（ｂ）に示すように撓んで試験片Ｔ
Ｐが受け具７に対して下降する。これにより試験片ＴＰ
が湾曲していてもその下面が下部測寸圧子２５に当接
し、試験片ＴＰは上下測寸圧子２５，２７により挾み込
まれるから、上述と同様に両圧子２５，２７の間隔を検
出して試験片ＴＰの厚さが測定できる。またこのとき、
試験片ＴＰの反りを修正する作用はなく、両圧子２５，
２７に不所望な荷重が働くこともない。

【００１７】以上の手順により試験片中心部の厚さ測定
が終了したら、不図示の横方向アクチュエータによりフ
レーム２２、すなわち上下測寸圧子２５，２７を図２に
ＰＬ，ＰＲで示す位置に順次移動し、各位置で上述と同
様の要領で試験片両端部の厚さ測定を行う。なお、図６
に示すように試験片ＴＰが厚く重量が大きい場合には、
試験片ＴＰをスポンジ１１上に載置した際にスポンジ１
１が撓み、試験片ＴＰがスポンジ１１の囲い１２により
支持され、この状態で厚さ測定が行われる。

【００１８】以上の実施例の構成において、リニアベア
リング６、支持棒５、ガイド軸４およびリニアベアリン
グ３が昇降機構を、スポンジ１１が弾性体をそれぞれ構
成する。

【００１９】なお以上では、弾性体としてスポンジ１１
を用いた例を示したが、例えば図７に示すような弾性体
を一対の試験片受け具に取り付けて用いてもよい。これ
は、一端が試験片受け具の上面に固定されたコイルばね
５１の他端に屋根型に折り曲げた板部材５２を取付けた
もので、この板部材５２の頂部に試験片が載置される。
また弾性体をゴムにより構成してもよい。

【００２０】さらに以上では、試験片の両端が下向きに
反った形状について説明したが、上に反った試験片の場
合にもスポンジ１１などの弾性体を撓ませて上下の圧子
間に試験片を挾み込むことにより、正確な厚さ測定が可
能となる。また、一対の受け具７間で下部測寸圧子２５
を試験片長手方向に移動させる例を示したが、下部測寸
圧子２５は固定し、試験片ＴＰが載置された一対の受け
具７を試験片長手方向に移動させて試験片ＴＰの厚さ測
定位置を変更するように構成してもよい。さらにまた、
下部測寸圧子２５の上昇に同期して上部測寸圧子２７を
下降させるようにしたが、上部測寸圧子２７は固定して
下部測寸圧子２５のみを上昇させたり、あるいは逆に下
部測寸圧子２５を固定して上部測寸圧子のみを下降させ
るよう構成してもよい。また、試験片受け具や昇降機構
の構成も実施例に限定されない。

【００２１】

【考案の効果】本考案によれば、頂部が下部測寸圧子の
上面と同一高さの弾性体を試験片受け具に設け、その頂
部に支持された試験片に加わる下方の押圧力に応じて弾
性体が撓むよう構成したので、簡単な構成で湾曲した試
験片でも上下測寸圧子により挾み込んで厚さ測定するこ
とが可能となり、正確な測定結果を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る厚さ計の一実施例を示す正面図で
ある。

【図２】上記厚さ計の平面図である。

【図３】上記厚さ計の右側面図である。

【図４】受け具に取付けられるスポンジとその囲いを示
す斜視図である。

【図５】湾曲した試験片を厚さ測定する際の動作を説明
する図である。

【図６】重量の大きい試験片を厚さ測定する際の動作を
説明する図である。

【図７】弾性体の変形例を示す斜視図である。

【符号の説明】

２ Ｕ字型ブラケット ３，６ リニアベアリング ４ ガイド軸 ５ 支持棒 ７ 試験片受け具 １１ スポンジ １２ 囲い ２２ フレーム ２５ 下部測寸圧子 ２６ ストッパ ２７ 上部測寸圧子 ＴＰ 試験片

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 試験片の両端部を載置して支持する一対
   の試験片受け具と、これらの一対の受け具間で受け具に
   対して試験片長手方向に相対移動可能とされ、上下方向
   から試験片を挾み込む上下測寸圧子とを備え、これらの
   上下測寸圧子の間隔を検出して試験片の厚さを測定する
   厚さ計において、前記下部測寸圧子と前記一対の受け具
   とを一体に前記上部測寸圧子に対して相対的に昇降せし
   める昇降機構と、前記一対の受け具に設けられ、前記試
   験片が保持されるとともにその試験片に加わる押圧力に
   応じて撓む弾性体とを具備することを特徴とする厚さ
   計。