JPH035892Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH035892Y2 JPH035892Y2 JP11879584U JP11879584U JPH035892Y2 JP H035892 Y2 JPH035892 Y2 JP H035892Y2 JP 11879584 U JP11879584 U JP 11879584U JP 11879584 U JP11879584 U JP 11879584U JP H035892 Y2 JPH035892 Y2 JP H035892Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test piece
- contact
- test
- groove
- displacement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 76
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 17
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical group [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
この考案は、平板状試験片をDT試験（double
torsion test）するDT試験機に関するものであ
り、特にその試験片の変位量を測定するための試
験片変位量測定装置に関するものである。
torsion test）するDT試験機に関するものであ
り、特にその試験片の変位量を測定するための試
験片変位量測定装置に関するものである。
(ロ) 従来技術
最近、セラミツクスなどの塑性材料の強度を試
験する方法として、DT試験法が一般に使用され
ている。第３図に示すように、DT試験法は塑性
材料の平板状試験片T.Pを水平に配置し、その一
面の中央、たとえば下面の中央に長さ方向の溝１
を設ける。そして、試験片T.Pの他面の所定個
所、すなわち上面の所定個所に圧子２を接触さ
せ、この圧子２によつて試験片T.Pに荷重を加え
るようにしたもので、複合ねじり応力に対する試
験片T.Pの強度を試験することができる。
験する方法として、DT試験法が一般に使用され
ている。第３図に示すように、DT試験法は塑性
材料の平板状試験片T.Pを水平に配置し、その一
面の中央、たとえば下面の中央に長さ方向の溝１
を設ける。そして、試験片T.Pの他面の所定個
所、すなわち上面の所定個所に圧子２を接触さ
せ、この圧子２によつて試験片T.Pに荷重を加え
るようにしたもので、複合ねじり応力に対する試
験片T.Pの強度を試験することができる。
この種のDT試験法において、試験片T.Pの変
位量を測定するとき、従来は試験片T.Pの下面側
に棒状の接触子３を設け、この接触子３を試験片
T.Pを直角に配置し、試験片T.Pの下面に接触さ
せる。そして、接触子３を垂直方向、すなわち試
験片T.Pと直角の方向に移動可能に案内してい
た。したがつて、試験片T.Pが変形すると、接触
子３が試験片T.Pに追随し、垂直方向に移動す
る。これによつて試験片T.Pの変位量を取り出
し、測定していた。しかしながら、この装置は試
験片T.Pの中央位置で試験片T.Pの変位量を測定
することはできない。接触子３が試験片T.Pの溝
１に挿入されないよう溝１の一方側で接触子３を
試験片T.Pの下面に接触させる必要がある。した
がつて、試験片T.Pの中央位置ではなく、その一
方側で試験片T.Pの変位量を取り出し、測定する
ことができるだけであり、測定精度が低いという
問題があつた。
位量を測定するとき、従来は試験片T.Pの下面側
に棒状の接触子３を設け、この接触子３を試験片
T.Pを直角に配置し、試験片T.Pの下面に接触さ
せる。そして、接触子３を垂直方向、すなわち試
験片T.Pと直角の方向に移動可能に案内してい
た。したがつて、試験片T.Pが変形すると、接触
子３が試験片T.Pに追随し、垂直方向に移動す
る。これによつて試験片T.Pの変位量を取り出
し、測定していた。しかしながら、この装置は試
験片T.Pの中央位置で試験片T.Pの変位量を測定
することはできない。接触子３が試験片T.Pの溝
１に挿入されないよう溝１の一方側で接触子３を
試験片T.Pの下面に接触させる必要がある。した
がつて、試験片T.Pの中央位置ではなく、その一
方側で試験片T.Pの変位量を取り出し、測定する
ことができるだけであり、測定精度が低いという
問題があつた。
(ハ) 目的
したがつて、この考案は、平板状試験片の一面
の中央に長さ方向の溝を設け、試験片をDT試験
するDT試験機において、試験片の中央位置で試
験片の変位量を取り出し、測定することを目的と
してなされたものである。
の中央に長さ方向の溝を設け、試験片をDT試験
するDT試験機において、試験片の中央位置で試
験片の変位量を取り出し、測定することを目的と
してなされたものである。
(ニ) 構成
この考案は、試験片の一面側に一定長さの接触
子を設け、この接触子を実質上試験片と平行に、
かつ試験片の溝と交叉するよう配置する。さら
に、接触子を実質上試験片と直角の方向に移動可
能に案内する。そして、試験片が変形したとき、
その溝のエツジを接触子に接触させ、接触子によ
つて試験片の変位量を取り出すようにしたことを
特徴とするものである。
子を設け、この接触子を実質上試験片と平行に、
かつ試験片の溝と交叉するよう配置する。さら
に、接触子を実質上試験片と直角の方向に移動可
能に案内する。そして、試験片が変形したとき、
その溝のエツジを接触子に接触させ、接触子によ
つて試験片の変位量を取り出すようにしたことを
特徴とするものである。
(ホ) 実施例
以下、この考案の実施例を説明する。第１図は
この考案の一実施例を示す。試験片T.Pは水平に
配置され、一対の支点ローラ４間にかけ渡されて
いる。各支点ローラ４はフレーム５の一対のロー
ラ受６に係合されている。そして、試験片T.Pの
下面中央に溝１が設けられ、試験片T.Pの上面の
所定個所に圧子２が押し付けられ、接触してい
る。これは第３図と同様である。
この考案の一実施例を示す。試験片T.Pは水平に
配置され、一対の支点ローラ４間にかけ渡されて
いる。各支点ローラ４はフレーム５の一対のロー
ラ受６に係合されている。そして、試験片T.Pの
下面中央に溝１が設けられ、試験片T.Pの上面の
所定個所に圧子２が押し付けられ、接触してい
る。これは第３図と同様である。
接触子７は試験片T.Pの下面側に設けられてい
る。第２図に示すように、接触子７は一定長さの
三角柱状のもので、その頂稜８が試験片T.Pの下
面と対向するよう配置され、試験片T.Pと平行
に、かつその溝１と交叉するよう配置されてい
る。
る。第２図に示すように、接触子７は一定長さの
三角柱状のもので、その頂稜８が試験片T.Pの下
面と対向するよう配置され、試験片T.Pと平行
に、かつその溝１と交叉するよう配置されてい
る。
また、この実施例では差動トランス９が接触子
７の下方に配置されている。周知のように、差動
トランス９はコイル１０と鉄心１１からなり、鉄
心１１はロツド１２に固定されている。さらに、
スプリングによつて鉄心１１およびロツド１２が
弾性支持され、鉄心１１はコイル１０に対し相対
的に移動するよう案内されている。また、コイル
１０はフレーム５に固定され、鉄心１１およびロ
ツド１２は垂直に配置されている。そして、接触
子７がロツド１２に取り付けられている。これに
よつて接触子７が垂直方向、すなわち試験片T.P
と直角の方向に移動可能に案内され、支持されて
いる。さらに、差動トランス９のスプリングによ
つて接触子７が試験片T.Pに押し付けられてい
る。また、フレーム５のブラケツト１３にガイド
溝１４が設けられ、差動トランス９のロツド１２
にガイド部材１５が取り付けられている。ガイド
部材１５はベアリング１６を有し、ベアリング１
６はブラケツト１３のガイド溝１４に挿入され、
垂直方向に移動可能に案内されている。これによ
つて接触子７およびロツド１２が回転しないよう
案内されている。
７の下方に配置されている。周知のように、差動
トランス９はコイル１０と鉄心１１からなり、鉄
心１１はロツド１２に固定されている。さらに、
スプリングによつて鉄心１１およびロツド１２が
弾性支持され、鉄心１１はコイル１０に対し相対
的に移動するよう案内されている。また、コイル
１０はフレーム５に固定され、鉄心１１およびロ
ツド１２は垂直に配置されている。そして、接触
子７がロツド１２に取り付けられている。これに
よつて接触子７が垂直方向、すなわち試験片T.P
と直角の方向に移動可能に案内され、支持されて
いる。さらに、差動トランス９のスプリングによ
つて接触子７が試験片T.Pに押し付けられてい
る。また、フレーム５のブラケツト１３にガイド
溝１４が設けられ、差動トランス９のロツド１２
にガイド部材１５が取り付けられている。ガイド
部材１５はベアリング１６を有し、ベアリング１
６はブラケツト１３のガイド溝１４に挿入され、
垂直方向に移動可能に案内されている。これによ
つて接触子７およびロツド１２が回転しないよう
案内されている。
前記のように構成された装置において、圧子２
によつて試験片T.Pに荷重を加えると、試験片T.
Pに複合ねじり応力が生じ、支点ローラ４間で試
験片T.Pが変形する。これによつて試験片T.Pが
DT試験される。また、試験片T.Pが変形すると、
接触子７が試験片T.Pに追随し、差動トランス９
のロツド１２および鉄心１１によつて案内され、
垂直方向に移動する。これによつて試験片T.Pの
変位量が取り出される。さらに、接触子７が差動
トランス９の鉄心１１と一体的に移動し、鉄心１
１はコイル１０に対し相対的に移動する。したが
つて、コイル１０の電圧が変化する。これによつ
て試験片T.Pの変位量が測定される。
によつて試験片T.Pに荷重を加えると、試験片T.
Pに複合ねじり応力が生じ、支点ローラ４間で試
験片T.Pが変形する。これによつて試験片T.Pが
DT試験される。また、試験片T.Pが変形すると、
接触子７が試験片T.Pに追随し、差動トランス９
のロツド１２および鉄心１１によつて案内され、
垂直方向に移動する。これによつて試験片T.Pの
変位量が取り出される。さらに、接触子７が差動
トランス９の鉄心１１と一体的に移動し、鉄心１
１はコイル１０に対し相対的に移動する。したが
つて、コイル１０の電圧が変化する。これによつ
て試験片T.Pの変位量が測定される。
また、この装置は試験片T.Pの中央位置で試験
片T.Pの変位量を測定することができる。試験片
T.Pが変形すると、それに従つてその下面の中央
溝１が開かれるが、ガイド部材１５のベアリング
１６がブラケツト１３の溝１４に沿つて移動し、
接触子７は回転しないよう案内され、試験片T.P
の溝１と交叉した状態に保たれる。したがつて、
試験片T.Pが変形したとき、溝１のエツジが接触
子７に接触する。溝１のエツジは接触子７の頂稜
８と点接触し、接触子７は溝１のエツジに追随す
る。したがつて、溝１の位置、すなわち試験片
T.Pの中央位置で試験片T.Pの変位量が取り出さ
れ、測定される。その測定精度は高い。また、試
験片T.Pが変形しても、溝１のエツジが接触子７
の頂稜８に沿てスライドし、接触子３に横方向の
荷重は加えられない。したがつて、支障なく試験
片T.Pの中央位置で試験片T.Pの変位量を取り出
すことができる。
片T.Pの変位量を測定することができる。試験片
T.Pが変形すると、それに従つてその下面の中央
溝１が開かれるが、ガイド部材１５のベアリング
１６がブラケツト１３の溝１４に沿つて移動し、
接触子７は回転しないよう案内され、試験片T.P
の溝１と交叉した状態に保たれる。したがつて、
試験片T.Pが変形したとき、溝１のエツジが接触
子７に接触する。溝１のエツジは接触子７の頂稜
８と点接触し、接触子７は溝１のエツジに追随す
る。したがつて、溝１の位置、すなわち試験片
T.Pの中央位置で試験片T.Pの変位量が取り出さ
れ、測定される。その測定精度は高い。また、試
験片T.Pが変形しても、溝１のエツジが接触子７
の頂稜８に沿てスライドし、接触子３に横方向の
荷重は加えられない。したがつて、支障なく試験
片T.Pの中央位置で試験片T.Pの変位量を取り出
すことができる。
(ヘ) 効果
以上説明したように、この考案は、試験片の中
央位置で試験片の変位量を取り出し、測定するこ
とができる。したがつて、測定精度を高くするこ
とができ、所期の目的を達成することができるも
のである。
央位置で試験片の変位量を取り出し、測定するこ
とができる。したがつて、測定精度を高くするこ
とができ、所期の目的を達成することができるも
のである。
第１図はこの考案の一実施例を示す説明図、第
２図は第１図の接触子の斜視図、第３図は従来の
試験片変位量測定装置を示す説明図である。 T.P……試験片、１……溝、２……圧子、７…
…接触子、９……差動トランス。
２図は第１図の接触子の斜視図、第３図は従来の
試験片変位量測定装置を示す説明図である。 T.P……試験片、１……溝、２……圧子、７…
…接触子、９……差動トランス。
Claims (1)
- 平板状試験片の一面の中央に長さ方向の溝を設
け、前記試験片の他面の所定個所に圧子を接触さ
せ、前記圧子によつて前記試験片に荷重を加え、
前記試験片をDT試験するようにした試験機にお
いて、前記試験片の一面側に一定長さの接触子を
設け、前記接触子を実質上前記試験片と平行に、
かつその溝と交叉するよう配置し、さらに前記接
触子を実質上前記試験片と直角の方向に移動可能
に案内し、前記試験片が変形したとき前記溝のエ
ツジを前記接触子に接触させ、前記接触子によつ
て前記試験片の変位量を取り出すようにしたこと
を特徴とするDT試験機の試験片変位量測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11879584U JPS6134458U (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | Ｄｔ試験機の試験片変位量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11879584U JPS6134458U (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | Ｄｔ試験機の試験片変位量測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6134458U JPS6134458U (ja) | 1986-03-03 |
| JPH035892Y2 true JPH035892Y2 (ja) | 1991-02-14 |
Family
ID=30677672
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11879584U Granted JPS6134458U (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | Ｄｔ試験機の試験片変位量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6134458U (ja) |
-
1984
- 1984-07-31 JP JP11879584U patent/JPS6134458U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6134458U (ja) | 1986-03-03 |
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