CN220195409U - 一种固晶机及其可测高的点胶机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及固晶技术领域，更具体地说，它涉及一种固晶机及其可测高的点胶机构，点胶机构包括升降座、点胶头和光栅尺；所述光栅尺包括标尺光栅和光栅读数头，所述光栅读数头与所述升降座相对固定，所述标尺光栅与所述点胶头相对固定；所述点胶头可沿所述升降座升降，所述点胶头的端部用于受推动带动光栅读数头相对所述标尺光栅上升。根据本实用新型的技术方案，相对于现有技术中的触点方式测高，用一段时间后触点表面容易氧化造成接触不良，现在改为高分辨率光栅读数头反馈方式，测高精准、灵敏，无接触不良的情况。

Description

一种固晶机及其可测高的点胶机构

技术领域

本实用新型涉及固晶技术领域，特别涉及一种固晶机及其可测高的点胶机构。

背景技术

固晶机包括点胶机构，固晶机通过点胶机构在引线框架上点胶，以方便将晶片固定在引线框架上的点胶区域。其中，点胶机构一般通过触点的方式测量点胶高度，然而触点用过一段时间后表面容易氧化造成接触不良，故急需针对这种情况进行改进。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提供一种芯片测试机及其可测高的点胶机构，主要所要解决的技术问题是：如何克服现有技术中触点测高方式容易接触不良的现象。

为达到上述目的，本实用新型主要提供如下技术方案：

一方面，本实用新型的实施例提供一种包括升降座、点胶头和光栅尺；

所述光栅尺包括标尺光栅和光栅读数头，所述光栅读数头与所述升降座相对固定，所述标尺光栅与所述点胶头相对固定；

所述点胶头可沿所述升降座升降，所述点胶头的端部用于受推动带动光栅读数头相对所述标尺光栅上升。

可选的，所述的可测高的点胶机构还包括导向机构，所述导向机构用于对点胶头的升降导向。

可选的，所述的可测高的点胶机构还包括第一弹性件，所述第一弹性件用于提供所述点胶头相对升降座下降的力。

可选的，所述的可测高的点胶机构还包括连接座，所述点胶头设置在所述连接座上，以通过连接座相对升降座升降。

可选的，所述连接座上设有供点胶头穿过的第一卡孔，所述第一卡孔的孔径可调。

可选的，所述第一卡孔在侧面具有断口，且在断口处形成相对的第一连接块和第二连接块；所述点胶机构还包括调节结构，所述调节结构用于调节第一连接块与第二连接块之间的距离，使第一卡孔的孔径发生变化。

可选的，所述的可测高的点胶机构还包括胶筒，所述点胶头设置在胶筒的一端；所述连接座上还设有供胶筒穿过的第二卡孔，所述第二卡孔的孔径可调。

可选的，所述的可测高的点胶机构还包括锁头，所述锁头与所述连接座相对、且在两者之间形成所述的第二卡孔；其中，所述锁头可相对靠近或远离所述连接座，以调节所述第二卡孔的孔径。

可选的，所述的可测高的点胶机构还包括调节杆和第二弹性件，所述调节杆的一端具有卡台，所述调节杆的另一端穿过所述连接座、且与锁头固定连接；所述第二弹性件设置在所述卡台与连接座之间。

另一方面，本实用新型的实施例还提供一种固晶机，其可以包括上述任一种所述的可测高的点胶机构。

借由上述技术方案，本实用新型芯片测试机及其可测高的点胶机构至少具有以下有益效果：

在本实用新型提供的技术方案中，相对于现有技术中的触点方式测高，用一段时间后触点表面容易氧化造成接触不良，现在改为高分辨率光栅读数头反馈方式，测高精准、灵敏，无接触不良的情况。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

图1是本实用新型的一实施例提供的一种可测高的点胶机构的结构示意图；

图2是点胶机构的另一视角的结构示意图；

图3是点胶机构的半剖视图；

图4是反映锁头与连接座连接的示意图。

附图标记：1、升降座；2、点胶头；3、胶筒；4、光栅尺；5、连接座；6、调节螺栓；7、锁头；8、调节杆；9、交叉导轨；10、第一弹性件；11、第二弹性件；12、固定螺丝；41、标尺光栅；42、光栅读数头；51、第一卡孔；52、第二卡孔；81、卡台；82、平面；501、第一连接块；502、第二连接块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，若本实用新型实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本实用新型实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

如图1所示，本实用新型的一个实施例提出的一种可测高的点胶机构，其包括升降座1、点胶头2和光栅尺4。光栅尺4包括标尺光栅41和光栅读数头42。光栅尺4的具体结构为现有技术，在此不在赘述。

前述的光栅读数头42与升降座1相对固定，光栅读数头42可以通过螺丝等固定在升降座1上。前述的标尺光栅41与点胶头2相对固定。点胶头2可沿升降座1升降，点胶头2的端部用于受推动带动标尺光栅41相对光栅读数头42上升。

在上述示例中，在测高时，升降座1带动点胶头2下降，点胶头2下压触碰点胶底板，点胶头2受到点胶底板的反向作用力，点胶头2带动标尺光栅41相对光栅读数头42上升，光栅读数头42上的数据发生变化，光栅读数头42可以读出标尺光栅41上升的高度，该高度即为点胶高度。相对于现有技术中的触点方式测高，用一段时间后触点表面容易氧化造成接触不良，现在改为高分辨率光栅读数头42反馈方式，测高精准、灵敏，无接触不良的情况。

在一个具体的应用示例中，如图1所示，点胶机构可以还包括连接座5。点胶头2设置在连接座5上，以通过连接座5相对升降座1升降。其中，连接座5可以通过螺丝等固定在升降座1上。前述的标尺光栅41固定在连接座5上，以通过连接座5与点胶头2保持相对固定。

在本示例中，通过设置的连接座5，具有方便将点胶头2固定在升降座1上的优点。

前述的点胶机构还可以包括导向机构，导向机构用于对点胶头2的升降导向。在一个具体的应用示例中，导向机构可以包括导轨，以通过导轨对点胶头2的升降导向。其中，如图2所示，导轨可以为交叉导轨9，交叉导轨9具有固定部和活动部，交叉导轨9的固定部固定在升降座1上，活动部与连接座5固定，活动部通过连接座5与点胶头2连接。

在上述示例中，导向机构比如交叉导轨9的设置可以提高点胶头2的运动精度。

如图3所示，前述的点胶机构还可以包括第一弹性件10，第一弹性件10用于提供点胶头2相对升降座1下降的力，以使点胶头2可以自动复位，有利于点胶头2下一次的测高。在一个具体的应用示例中，第一弹性件10为弹簧，弹簧设置在升降座1与连接座5之间。第一弹性件10通过连接座5推动点胶头2相对升降座1下降。

在一个具体的应用示例中，如图1所示，前述的连接座5上可以设有供点胶头2穿过的第一卡孔51，第一卡孔51的孔径可调，以便适配点胶头2的大小，有利于对点胶头2进行固定。

为了实现前述第一卡孔51可调的效果，如图1所示，第一卡孔51在侧面具有断口，且在断口处形成相对的第一连接块501和第二连接块502。点胶机构还包括调节结构，调节结构用于调节第一连接块501与第二连接块502之间的距离，使第一卡孔51的孔径发生变化，从而使第一卡孔51的孔径可调。在一个具体的应用示例中，调节结构可以包括调节螺栓6，调节螺栓6用于穿过第一连接块501和第二连接块502上的过孔。拧紧调节螺栓6时，第一连接块501和第二连接块502相对靠近，使第一卡孔51的孔径变小；拧松调节螺栓6时，第一连接块501和第二连接块502两者在自身弹性的作用下相对远离，使第一卡孔51的孔径变大。

如图1所示，前述的点胶机构还可以包括胶筒3，点胶头2设置在胶筒3的一端。连接座5上还设有供胶筒3穿过的第二卡孔52，第二卡孔52的孔径可调，以便适配胶筒3的大小，有利于对胶筒3进行固定。

为了实现前述第二卡孔52可调的效果，如图1所示，点胶机构还可以包括锁头7，锁头7与连接座5相对、且在两者之间形成前述的第二卡孔52。其中，锁头7可相对靠近或远离连接座5，以调节第二卡孔52的孔径。在一个具体的应用示例中，如图4所示，点胶机构还包括调节杆8和第二弹性件11，调节杆8的一端具有卡台81，调节杆8穿过连接座5、且另一端与锁头7固定连接。第二弹性件11设置在卡台81与连接座5之间。弹性件可以为弹簧或柔性塑胶等。

在上述示例中，通过设置的第二弹性件11，使第二卡孔52的孔径可以自适应胶筒3的大小。

为了将调节杆8的另一端固定在锁头7上，如图4所示，锁头7上可以设有供调节杆8的另一端插入的连接孔。连接孔的侧面设有贯穿的螺丝孔，固定螺丝12用于穿过螺丝孔与调节杆8的另一端相抵，以将调节杆8的另一端抵固在连接孔内，从而实现将调节杆8的另一端固定在锁头7上的效果。

为了提高固定螺丝12的抵固效果，优选的，调节杆8的另一端的侧面可以具有供固定螺丝12抵压的平面82，如此可以增大固定螺丝12与调节杆8之间的接触面积，提高固定螺丝12的抵固效果。

本实用新型的实施例还提出一种固晶机，其可以包括上述任一种所述的点胶机构。由于固晶机采用上述点胶机构的缘故，其可以克服现有技术中触点测高方式容易接触不良的现象。

下面介绍一下本实用新型的工作原理和优选实施例。

本实用新型在于设计一种固晶机及其可测高的点胶机构，点胶机构包括升降座1、点胶头2和光栅尺4。升降座1上设有交叉导轨9，交叉导轨9的活动部上固定有连接座5，点胶头2设置在连接座5上。光栅尺4包括标尺光栅41和光栅读数头42。标尺光栅41固定在连接座5上，以通过连接座5与点胶头2保持相对固定。光栅读数头42固定在升降座1上。连接座5与升降座1之间设有第一弹性件10。在测高时，升降座1带动点胶头2下降，点胶头2下压触碰点胶底板，点胶头2受到点胶底板的反向作用力，点胶头2带动标尺光栅41相对光栅读数头42上升，光栅读数头42上的数据发生变化，光栅读数头42可以读出标尺光栅41上升的高度，该高度即为点胶高度。在测高结束时，第一弹性件10通过连接座5推动点胶头2下降恢复至初始位置，从而有利于点胶头2下一次的测高。

这里需要说明的是：在不冲突的情况下，本领域的技术人员可以根据实际情况将上述各示例中相关的技术特征相互组合，以达到相应的技术效果，具体对于各种组合情况在此不一一赘述。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，本实用新型的保护范围并不仅局限于上述实施例，凡属于本实用新型思路下的技术方案均属于本实用新型的保护范围。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理前提下的若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种可测高的点胶机构，其特征在于，包括升降座(1)、点胶头(2)和光栅尺(4)；

所述光栅尺(4)包括标尺光栅(41)和光栅读数头(42)，所述光栅读数头(42)与所述升降座(1)相对固定，所述标尺光栅(41)与所述点胶头(2)相对固定；

所述点胶头(2)可沿所述升降座(1)升降，所述点胶头(2)的端部用于受推动带动光栅读数头(42)相对所述标尺光栅(41)上升。

2.根据权利要求1所述的可测高的点胶机构，其特征在于，还包括导向机构，所述导向机构用于对点胶头(2)的升降导向。

3.根据权利要求1所述的可测高的点胶机构，其特征在于，还包括第一弹性件(10)，所述第一弹性件(10)用于提供所述点胶头(2)相对升降座(1)下降的力。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的可测高的点胶机构，其特征在于，还包括连接座(5)，所述点胶头(2)设置在所述连接座(5)上，以通过连接座(5)相对升降座(1)升降。

5.根据权利要求4所述的可测高的点胶机构，其特征在于，

所述连接座(5)上设有供点胶头(2)穿过的第一卡孔(51)，所述第一卡孔(51)的孔径可调。

6.根据权利要求5所述的可测高的点胶机构，其特征在于，

所述第一卡孔(51)在侧面具有断口，且在断口处形成相对的第一连接块(501)和第二连接块(502)；所述点胶机构还包括调节结构，所述调节结构用于调节第一连接块(501)与第二连接块(502)之间的距离，使第一卡孔(51)的孔径发生变化。

7.根据权利要求4所述的可测高的点胶机构，其特征在于，还包括胶筒(3)，所述点胶头(2)设置在胶筒(3)的一端；

所述连接座(5)上还设有供胶筒(3)穿过的第二卡孔(52)，所述第二卡孔(52)的孔径可调。

8.根据权利要求7所述的可测高的点胶机构，其特征在于，还包括锁头(7)，所述锁头(7)与所述连接座(5)相对、且在两者之间形成所述的第二卡孔(52)；

其中，所述锁头(7)可相对靠近或远离所述连接座(5)，以调节所述第二卡孔(52)的孔径。

9.根据权利要求8所述的可测高的点胶机构，其特征在于，还包括调节杆(8)和第二弹性件(11)，所述调节杆(8)的一端具有卡台(81)，所述调节杆(8)穿过所述连接座(5)、且另一端与锁头(7)固定连接；所述第二弹性件(11)设置在所述卡台(81)与连接座(5)之间。

10.一种固晶机，其特征在于，包括权利要求1至9中任一项所述的可测高的点胶机构。