JPS63311457A - 記憶装置のデ−タ読出回路 - Google Patents
記憶装置のデ−タ読出回路Info
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- JPS63311457A JPS63311457A JP62146739A JP14673987A JPS63311457A JP S63311457 A JPS63311457 A JP S63311457A JP 62146739 A JP62146739 A JP 62146739A JP 14673987 A JP14673987 A JP 14673987A JP S63311457 A JPS63311457 A JP S63311457A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は情報処理装置に関する。特に、本発明は情報処
理装置などに使用される記憶装置の故障検出に関する。
理装置などに使用される記憶装置の故障検出に関する。
本発明はメモリアレイから読出されたデータをCPUに
転送する装置として利用する。
転送する装置として利用する。
本発明は情報処理装置に使用されるエラー訂正機能を有
する記憶装置の読出データ回路において、メモリアレイ
からの読出データを保持する二つの読出レジスタのパリ
ティ演算結果を比較することにより、 読出レジスタの故障によるデータ誤りの発生を防止し、
データの信憑性を高めるようにしたものである。
する記憶装置の読出データ回路において、メモリアレイ
からの読出データを保持する二つの読出レジスタのパリ
ティ演算結果を比較することにより、 読出レジスタの故障によるデータ誤りの発生を防止し、
データの信憑性を高めるようにしたものである。
情報処理装置に使用される記憶装置に関してその性能を
示すアクセスタイムの改善には様々な方法が考案されて
いる。その方法としては記憶装置を構成しているメモリ
素子の高速化、ダイナミックRAMからスタティックR
AMへの変更、周辺回路のLSI化、小型化などが行わ
れている。小型装置の記憶装置ではコストを多くかけら
れないことからTTL素子やスタンダードなダイナミッ
クRAMを使用しているために大型機の記憶装置に比べ
、アクセスタイムは遅くなる。従って、アクセスタイム
改善のための方策として回路構成により対処することが
行われる。
示すアクセスタイムの改善には様々な方法が考案されて
いる。その方法としては記憶装置を構成しているメモリ
素子の高速化、ダイナミックRAMからスタティックR
AMへの変更、周辺回路のLSI化、小型化などが行わ
れている。小型装置の記憶装置ではコストを多くかけら
れないことからTTL素子やスタンダードなダイナミッ
クRAMを使用しているために大型機の記憶装置に比べ
、アクセスタイムは遅くなる。従って、アクセスタイム
改善のための方策として回路構成により対処することが
行われる。
第2図は従来の実施例記憶装置の構成を示すブロック図
である。この従来例は、記憶装置の読出しデータ部を示
しており、メモリアレイ100と、読出レジスタA10
1および読出レジスタB102と、パリティ発生回路1
03 と、ECC回路104と、1ビツトエラー訂正の
ための訂正回路105と、データレジスタ106 と、
パリティレジスタ107 と、CPUへのデータ送出の
ための駆動ゲート108〜111と、処理装置(CP
U)112とによって構成される。
である。この従来例は、記憶装置の読出しデータ部を示
しており、メモリアレイ100と、読出レジスタA10
1および読出レジスタB102と、パリティ発生回路1
03 と、ECC回路104と、1ビツトエラー訂正の
ための訂正回路105と、データレジスタ106 と、
パリティレジスタ107 と、CPUへのデータ送出の
ための駆動ゲート108〜111と、処理装置(CP
U)112とによって構成される。
このデータ系回路はメモリアレイ100からの読出レジ
スフの高速アクセスのために、ECC回路104にてチ
ェックする前に読出レジスタAl0I 。
スフの高速アクセスのために、ECC回路104にてチ
ェックする前に読出レジスタAl0I 。
パリティ発生回路103、駆動ゲート108および10
9を介してCP U112にデータを送出するようにな
っている。そのときパス201は駆動ゲート108およ
び109をイネーブルにし、パス202は駆動ゲート1
10および111をディスエーブルにしている。
9を介してCP U112にデータを送出するようにな
っている。そのときパス201は駆動ゲート108およ
び109をイネーブルにし、パス202は駆動ゲート1
10および111をディスエーブルにしている。
従って、ECC回路104によるエラーチェック時間(
一般に1クロック期間)だけアクセスタイムを改善する
ことができる。
一般に1クロック期間)だけアクセスタイムを改善する
ことができる。
ECC回路104にてチェックの結果1ビツトエラーが
あることが判明した場合、パス200のSBE信号を介
してCPUに通知するとともに、訂正回路105にてデ
ータの訂正を行った後データレジスタ106、パリティ
レジスタ107、駆動ゲート110および111を介し
てCP U112に転送する。このときパス201は駆
動ゲート108および109をディスエーブルに、パス
202は駆動ゲート110および111をイネーブルに
している。
あることが判明した場合、パス200のSBE信号を介
してCPUに通知するとともに、訂正回路105にてデ
ータの訂正を行った後データレジスタ106、パリティ
レジスタ107、駆動ゲート110および111を介し
てCP U112に転送する。このときパス201は駆
動ゲート108および109をディスエーブルに、パス
202は駆動ゲート110および111をイネーブルに
している。
このように、従来例記憶装置は読出レジスタB102や
、ECC回路104が故障したときメモリアレイ100
からのデータにエラーがないにもかかわらず、エラーチ
ェック部がエラーを検出してしまう。従って、読出レジ
スタA101により送られたデータが正しいものであっ
てもパス200のSBE信号を介してCPU112はデ
ータレジスタ106、パリティレジスタ107の情報を
取り込み、データ誤りを発生してしまう欠点を有してい
る。
、ECC回路104が故障したときメモリアレイ100
からのデータにエラーがないにもかかわらず、エラーチ
ェック部がエラーを検出してしまう。従って、読出レジ
スタA101により送られたデータが正しいものであっ
てもパス200のSBE信号を介してCPU112はデ
ータレジスタ106、パリティレジスタ107の情報を
取り込み、データ誤りを発生してしまう欠点を有してい
る。
本発明はこのような問題を解決してデータ誤りの発生を
防止して、データの信憑性を高めることができる装置を
提供することを目的とする。
防止して、データの信憑性を高めることができる装置を
提供することを目的とする。
本発明は、ひとつのメモリアレイから読出されたデータ
を並列的に格納する第一および第二の読出レジスタと、
この第一の読出レジスタの内容のパリティ検出を行うパ
リティ発生回路と、上記第二の読出レジスタの内容の誤
り検出および訂正を行うECC回路と、上記第一の読出
レジスタの内容または上記第二レジスタの内容をCPU
に転送する手段とを備えた記憶装置のデータ読出回路に
おいて、上記パリティ発生回路の出力と上記ECC回路
のパリティ出力とを比較する比較回路と、この比較回路
の出力を一時保持して上記CPUに与えるエラーレジス
タとを備えたことを特徴とする。
を並列的に格納する第一および第二の読出レジスタと、
この第一の読出レジスタの内容のパリティ検出を行うパ
リティ発生回路と、上記第二の読出レジスタの内容の誤
り検出および訂正を行うECC回路と、上記第一の読出
レジスタの内容または上記第二レジスタの内容をCPU
に転送する手段とを備えた記憶装置のデータ読出回路に
おいて、上記パリティ発生回路の出力と上記ECC回路
のパリティ出力とを比較する比較回路と、この比較回路
の出力を一時保持して上記CPUに与えるエラーレジス
タとを備えたことを特徴とする。
上記のECC回路は誤り検出のためにパリティ検出を行
う回路を含んでいる。
う回路を含んでいる。
メモリアレイから読出されたデータは、第一および第二
の読出レジスタに格納され、第一の読出レジスタの出力
は直ちにパリティを生成してCPUに送出する。この間
第二の読出レジスタにセットされたデータはチェックさ
れて、1ビツトエラーが検出されたときには修正され、
次のクロックで格納され、エラーチェックの過程で生成
されたパリティも格納されてCPUに送出される。
の読出レジスタに格納され、第一の読出レジスタの出力
は直ちにパリティを生成してCPUに送出する。この間
第二の読出レジスタにセットされたデータはチェックさ
れて、1ビツトエラーが検出されたときには修正され、
次のクロックで格納され、エラーチェックの過程で生成
されたパリティも格納されてCPUに送出される。
また、第一の読出レジ゛スタのデータに関する全ビット
のパリティが生成され、一方、第二の読出レジスタのデ
ータに関する全ビットのパリティも生成されて両者が比
較される。
のパリティが生成され、一方、第二の読出レジスタのデ
ータに関する全ビットのパリティも生成されて両者が比
較される。
読出レジスタのいずれかに故障が生じると、入力情報が
不一致となり故障が検出される。
不一致となり故障が検出される。
また、この故障検出は読出レジスタの故障だけではなく
、主たるチェックマトリクス回路の故障も検出すること
ができ、データ誤りの発生を知ることができる。
、主たるチェックマトリクス回路の故障も検出すること
ができ、データ誤りの発生を知ることができる。
本発明実施例記憶装置のデータ読出回路を図面に基づい
て説明する。第1図は本発明実施例の構成を示すブロッ
ク図である。
て説明する。第1図は本発明実施例の構成を示すブロッ
ク図である。
本発明実施例記憶装置のデータ読出回路は、一つのメモ
リアレイ10から読出されたデータを並列的に格納する
第一の読出レジスタAllおよび第二の読出レジスタB
12と、この第一の読出レジスタAllの内容のパリテ
ィ検出を行うパリティ発生回路13と、第二の読出レジ
スタB12の内容の誤り検出および訂正を行うECC回
路14と、第一の読出レジスタAllの全出力のパリテ
ィを生成する全ピットパリティ回路15と、1ビツトエ
ラーの訂正をする訂正回路16と、訂正後のデータを保
持するデータレジスタ17と、このデータレジスタ17
のデータに関するパリティを保持するパリティレジスタ
エ8と、CP U25へデータを送るための駆動ゲート
21.22.23および24と、本発明の特徴としてパ
リティ発生回路13の出力とECC回路14のパリティ
出力とを比較する比較回路19およびこの比較回路19
の出力を一時保持してCP U25に与えるエラーレジ
スタ20とを備える。
リアレイ10から読出されたデータを並列的に格納する
第一の読出レジスタAllおよび第二の読出レジスタB
12と、この第一の読出レジスタAllの内容のパリテ
ィ検出を行うパリティ発生回路13と、第二の読出レジ
スタB12の内容の誤り検出および訂正を行うECC回
路14と、第一の読出レジスタAllの全出力のパリテ
ィを生成する全ピットパリティ回路15と、1ビツトエ
ラーの訂正をする訂正回路16と、訂正後のデータを保
持するデータレジスタ17と、このデータレジスタ17
のデータに関するパリティを保持するパリティレジスタ
エ8と、CP U25へデータを送るための駆動ゲート
21.22.23および24と、本発明の特徴としてパ
リティ発生回路13の出力とECC回路14のパリティ
出力とを比較する比較回路19およびこの比較回路19
の出力を一時保持してCP U25に与えるエラーレジ
スタ20とを備える。
駆動ゲート21と23、および22と24は出力が接続
され、バス30.31によりいずれか一方が選択され他
方は出力高インピーダンス(ディスエーブル)状態にさ
れる。ECCチェック回路14からのパス32は1ビツ
ト工ラー報告信号である。
され、バス30.31によりいずれか一方が選択され他
方は出力高インピーダンス(ディスエーブル)状態にさ
れる。ECCチェック回路14からのパス32は1ビツ
ト工ラー報告信号である。
このように構成された本発明実施例記憶装置の動作につ
いて説明する。メモリアレイ10から読出されたデータ
は、読出レジスタAllおよび読出レジスタB12に同
時に格納される。読出レジスタA11の出力は直ちにパ
リティ発生回路13にてパリティを生成し、駆動ゲート
21および22を介しCPU25に送られる。
いて説明する。メモリアレイ10から読出されたデータ
は、読出レジスタAllおよび読出レジスタB12に同
時に格納される。読出レジスタA11の出力は直ちにパ
リティ発生回路13にてパリティを生成し、駆動ゲート
21および22を介しCPU25に送られる。
この間に、読出レジスタB12にセットされたデータは
ECC回路14に人力されデータのチェックを行う。そ
の結果1ビツトエラーが検出された場合には訂正回路1
6によりデータの修正を行い、次のクロックにてデータ
レジスタ17に格納する。パリティは通常誤り検出およ
び訂正の過程で生成されその結果がパリティレジスタ1
8に格納される。
ECC回路14に人力されデータのチェックを行う。そ
の結果1ビツトエラーが検出された場合には訂正回路1
6によりデータの修正を行い、次のクロックにてデータ
レジスタ17に格納する。パリティは通常誤り検出およ
び訂正の過程で生成されその結果がパリティレジスタ1
8に格納される。
一方の1ビツトエラーの有無はパス32を介しCPU2
5に送られCPU側は訂正済データを受けとるように働
く。
5に送られCPU側は訂正済データを受けとるように働
く。
訂正後データを保持するデータレジスタ17およびパリ
ティレジスタ18の各出力は駆動ゲート23および24
を介してCP U25に送られる。読出レジスタAll
のデータに関する全ビットのパリティがパリティ発生回
路13と全ピットパリティ回路15によって生成される
。その結果をバス33を介し比較回路19に人力する。
ティレジスタ18の各出力は駆動ゲート23および24
を介してCP U25に送られる。読出レジスタAll
のデータに関する全ビットのパリティがパリティ発生回
路13と全ピットパリティ回路15によって生成される
。その結果をバス33を介し比較回路19に人力する。
一方、読出レジスタB12のデータに関してECC回路
14に含まれるチェックマトリクスから読出レジスタB
12の全ビットのパリティを生成することが可能であり
、その結果の出力をパス34を介し比較回路19に入力
する。このとき各バス33.34のパリティは全データ
に対する奇数または偶数で構成する。ここで読出レジス
タAllまたは読出レジスタB12のいずれかに故障が
生じた場合、比較回路190入力情報が不一致となり、
その結果不一致を示すエラーレジスタ20がセット状態
になる。この故障検出は読出レジスタAll、読出レジ
スタB12の故障だけではなく、パリティ発生回路13
、全ピットパリティ回路15、ECC回路14の主たる
チェックマトリクス回路の故障を検出できる。
14に含まれるチェックマトリクスから読出レジスタB
12の全ビットのパリティを生成することが可能であり
、その結果の出力をパス34を介し比較回路19に入力
する。このとき各バス33.34のパリティは全データ
に対する奇数または偶数で構成する。ここで読出レジス
タAllまたは読出レジスタB12のいずれかに故障が
生じた場合、比較回路190入力情報が不一致となり、
その結果不一致を示すエラーレジスタ20がセット状態
になる。この故障検出は読出レジスタAll、読出レジ
スタB12の故障だけではなく、パリティ発生回路13
、全ピットパリティ回路15、ECC回路14の主たる
チェックマトリクス回路の故障を検出できる。
本発明において、付加した回路は構成、ハード量ともに
極めて簡単であり、エラーレジスタ20の結果をCP
U25に送出することで重大な障害の原因となるデータ
化を防止することができる。
極めて簡単であり、エラーレジスタ20の結果をCP
U25に送出することで重大な障害の原因となるデータ
化を防止することができる。
以上説明したように、本発明によれば、従来の回路構成
に大きな修正を加えることなく、かつ簡単な方法により
データの信憑性を高めることができる効果がある。
に大きな修正を加えることなく、かつ簡単な方法により
データの信憑性を高めることができる効果がある。
第1図は本発明実施例記憶装置の構成を示すブロック図
。 第2図は従来例記憶装置の構成を示すブロック図。 10.100・・・メモリアレイ、11.101・・・
読出レジスタA112.102・・・読出レジスタB1
13.103・・・パリティ発生回路、14.104・
・・ECC回路、15・・・全ピットパリティ回路、1
6.105・・・訂正回路、17.106・・・データ
レジスタ、18.107・・・パリティレジスタ、19
・・・比較回路、20・・・エラーレジスタ、21〜2
4.108〜111・・・駆動ゲート、25.112・
・・CPU。
。 第2図は従来例記憶装置の構成を示すブロック図。 10.100・・・メモリアレイ、11.101・・・
読出レジスタA112.102・・・読出レジスタB1
13.103・・・パリティ発生回路、14.104・
・・ECC回路、15・・・全ピットパリティ回路、1
6.105・・・訂正回路、17.106・・・データ
レジスタ、18.107・・・パリティレジスタ、19
・・・比較回路、20・・・エラーレジスタ、21〜2
4.108〜111・・・駆動ゲート、25.112・
・・CPU。
Claims (1)
- (1)ひとつのメモリアレイから読出されたデータを並
列的に格納する第一および第二の読出レジスタ(11、
12)と、 この第一の読出レジスタの内容のパリテイ検出を行うパ
リテイ発生回路(13)と、 上記第二の読出レジスタの内容の誤り検出および訂正を
行うECC回路(14)と、 上記第一の読出レジスタの内容または上記第二レジスタ
の内容をCPUに転送する手段と を備えた記憶装置のデータ読出回路において、上記パリ
テイ発生回路の出力と上記ECC回路のパリテイ出力と
を比較する比較回路(19)と、この比較回路の出力を
一時保持して上記CPUに与えるエラーレジスタ(20
)と を備えたことを特徴とする記憶装置のデータ読出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62146739A JPS63311457A (ja) | 1987-06-12 | 1987-06-12 | 記憶装置のデ−タ読出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62146739A JPS63311457A (ja) | 1987-06-12 | 1987-06-12 | 記憶装置のデ−タ読出回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63311457A true JPS63311457A (ja) | 1988-12-20 |
Family
ID=15414499
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62146739A Pending JPS63311457A (ja) | 1987-06-12 | 1987-06-12 | 記憶装置のデ−タ読出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63311457A (ja) |
-
1987
- 1987-06-12 JP JP62146739A patent/JPS63311457A/ja active Pending
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