JPH0442691B2 - - Google Patents

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JPH0442691B2
JPH0442691B2 JP59122147A JP12214784A JPH0442691B2 JP H0442691 B2 JPH0442691 B2 JP H0442691B2 JP 59122147 A JP59122147 A JP 59122147A JP 12214784 A JP12214784 A JP 12214784A JP H0442691 B2 JPH0442691 B2 JP H0442691B2
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JP
Japan
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circuit
gate
parity
data
odd
Prior art date
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Application number
JP59122147A
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English (en)
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JPS6014347A (ja
Inventor
Nooman Gutsudeingu Deebitsudo
Piitaa Jakosukii Sutefuan
Seodoa Moiaa Jeemuzu
Uorutaa Puranto Saado Jeemuzu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
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Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of JPS6014347A publication Critical patent/JPS6014347A/ja
Publication of JPH0442691B2 publication Critical patent/JPH0442691B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Detection And Correction Of Errors (AREA)
  • Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
〔本発明の技術的分野〕 本発明はコンピユータ・システムに係る。更に
詳細に説明すれば、本発明はコンピユータ・シス
テムにおいて、ゲート・ラインの障害の存在を検
出し、それによつて1つの回路モジユールから複
数のインタフエース・ラインを介して、もう1つ
の回路モジユールへの、結果として生じる誤つた
データの伝送を検出する障害検出装置に係る。 〔先行技術の説明〕 隣接する集積回路(IC)モジユールは多数の
インタフエース・ラインによつて互いに接続され
ている。前記インタフエース・ラインを介して1
つのICモジユールから別のICモジユールへデー
タが転送される。データは複数のバイトに分けら
れ、各々のバイトはゲート回路によつて1つの
ICモジユールから転送される。ゲート回路はゲ
ート・パルスに応答してデータ・バイトを転送す
る。ゲート回路はゲート・ラインを介してラツチ
回路に接続されている。ゲート・ラインが開路ま
たは短絡している場合、または他の異常な回路状
態が前記ゲート・ラインに影響している場合、1
つのICモジユールからゲート回路を介して他の
ICモジユールへ正確にデータ・バイトが転送さ
れない。その結果、前記データを更に処理するた
め、もう1つの隣接するICモジユールが誤つた
データを受取る。従つて、誤つたデータの存在を
検出し、誤つたデータが更に転送されるのを防止
するために、ゲート・ラインで障害または他の異
常な回路状態の存在を検出する障害検出装置が必
要である。 先行技術では、欠陥のあるゲート・ラインまた
はインタフエース・ラインの存在を検出するため
に、インタフエース・ラインの各々に冗長な2重
インタフエース・ラインが設けられている。イン
タフエース・ラインおよびそれに対応する冗長な
2重ラインが動作可能である場合は、エラー信号
は発生してない。しかしなが、インタフエース・
ラインに障害を生じたとき、もし冗長な2重ライ
ンが動作可能であつたならば、発生したエラー信
号はインタフエース・ラインに欠陥が存在するこ
とを表示する。しかしながら、その後のIC技術
の進歩によつて、ICチツプの大きさが縮小し、
チツプ上の入出力(1/O)ピンの数も減少して
いる。ピンを介してインタフエース・ラインはチ
ツプに接続されている。1/Oピンの数の減少に
よつて、使用可能なインタフエース・ライン数も
減少している。インタフエース・ライン数の減少
の結果、欠陥のあるインタフエース・ラインを確
実に検出するのに冗長な2重ラインを利用するこ
とは、もはや適当ではなくなつた。そのため、障
害のあるインタフエース・ライン、または障害の
あるゲート・ラインの存在を検出する別の代替方
法が必要となつた。 先行技術によつて利用された1つの代替方法
は、いわゆるパリテイ検査方式である。データ・
バイトの各々はパリテイ・ビツトを含み、例え
ば、転送されるデータ・バイトごとに2進数1の
ビツトを奇数固保有するように各々のデータ・バ
イトのパリテイ・ビツトを選択する規約が利用さ
れる。2進数1のビツトを偶数個有するデータ・
バイトが転送された場合には、そのデータ・バイ
トの転送には誤りがあつたことを示す。 しかしながら、この方法は障害を有するゲー
ト・ラインの存在を検出できない。データは、奇
数番目および偶数番目のデータ・バイトが交互
に、すなわち「奇数番−偶数番−奇数番……」の
順序で転送されるように、転送されなければなら
ない。ゲート・ラインが障害を生じた場合、奇数
番目および偶数番目のデータ・バイトは誤つた順
序、すなわち「偶数番−偶数番」または「奇数番
−奇数番」の順序で転送されるであろう。前述の
方法では誤つた順序で転送されたデータを検査で
きない。 IBM Teclnical Disclosure Bulletin Vol.18、
No.7、December 1975,2043頁に、異なるタイ
プのパリテイ検査方式が開示されている。この方
式では、回路動作を検証するため、パリテイ検査
回路を介して、正しいパリテイおよび誤つたパリ
テイが交互に強制される。この方式は、複数イン
タフエース・ラインが複数の小型のICを相互接
続する、本発明の環境に似た環境では示されてい
ない。更に、この方式では、1/Oピンおよびイ
ンタフエース・ラインの数が限られているという
状況のもとで、冗長な2重インタフエース・ライ
ンを用いることなく、IC間のインタフエース・
ラインおよびゲート・ラインに関する多くの障害
ならびにそれに起因する誤つたデータ転送という
問題を解決することができない。 〔本発明の概要〕 本発明の目的は、第1の回路から第2の回路へ
の誤つたデータ転送の原因となる回路障害の存在
を既存のインタフエース・ラインを利用して検出
することにある。 本発明においては、第1の回路から第2の回路
へデータを転送する際、偶数番目のデータ・バイ
トは第1のパリテイ(例えば奇数パリテイ)を付
与され、奇数番目のデータ・バイトは第1のパリ
テイとは反対の第2のパリテイ(例えば偶数パリ
テイ)を付与される。偶数番目および奇数番目の
データ・バイトが、それぞれ対応するパリテイと
ともに受取られない場合には、回路に障害が生じ
ており、順序を外れた転送が行なわれている。隣
接するICを相互接続する既存のインタフエー
ス・ラインは、このパリテイ検査方式に関連して
利用される。追加の2重ラインまたはハードウエ
アを利用する必要はない。 〔詳細な説明〕 図面に本発明の障害検出装置が示されている。
第1回路10は第2回路12に接続されている。
本発明の良好な実施例では、第1回路10と第2
回路12はICである。第1回路10において、
第1ANDゲート10aは、第2回路12へ転送さ
れる偶数番目のデータ・バイトEBを受取る。第
2ANDゲート10bは、第2回路12へ転送され
る奇数番目のデータ・バイトOBを受取る。良好
な実施例では、これらのデータ・バイトEBおよ
びOBは各々、8個の2進ビツトおよび1個のパ
リテイ・ビツトを含む。偶数番目のデータ・バイ
トEBの全9ビツトは、第1ANDゲート10aの
入力に並列に供給される。データ・バイトEBお
よびOBはどちらも奇数パリテイを付与されて外
部のソースから供給されるものとする。奇数番目
のデータ・バイトOBに関しては、8個のデー
タ・ビツトが、第2ANDゲート10bの入力に並
列に供給される。そのパリテイ・ビツトは、第
2ANDゲート10bに供給される前に、インバー
タ10cによつて反転される。奇数番目のデー
タ・バイトOBは奇数パリテイを付与されて外部
のソースから供給されるが、そのパリテイ・ビツ
トは第2ANDゲート10bに供給される前にイン
バータ10cによつて反転されるから、第2AND
ゲート10bからは偶数パリテイを有するデー
タ・バイトが転送される。 第2回路12に配置された奇数ラツチ12a
は、ドライバ15および受信器17を介して第1
回路10に配置された第2ANDゲート10bの追
加の入力に接続されている。また、奇数ラツチ1
2aは、ドライバ15、受信器17、および第1
回路10に配置されているインバータ10dを介
して、第1ANDゲート10aの入力にも接続され
ている。奇数ラツチ12aは、一連のパルス、す
なわち第1回路10からの奇数番目のデータ・バ
イトOBの転送に関連する高いパルス、および第
1回路10からの偶数番目のデータ・バイトEB
の転送に関連する低いパルスを連続的に発生す
る。第1ANDゲート10aおよび第2ANDゲート
10bの出力は共通に接続されている。ANDゲ
ート10aおよび10bの出力接合点(ライン1
1)に現われる信号は、9ビツトの2進数であ
り、第2回路12に並列に転送される。9ビツト
の2進数は8個のデータ・ビツトおよび1個のパ
リテイ・ビツトを含む。9ビツトの2進数に関連
する8個のデータ・ビツトはデータ出力レジスタ
12bおよびパリテイ検査器12dに供給され
る。 パリテイ検査器12dの2つの入力に現われる
信号に関連する2進数1のビツトの合計数が偶数
であるとき、パリテイ検査器12dはエラー信号
を発生する。パリテイ検査器12dの両入力に供
給される信号に関連する前記2進数1のビツトの
合計数が奇数である限り、エラー信号は発生され
ない。 9ビツトの2進数に関連する1個のパリテイ・
ビツトは、ゲート・ライン12c1を介して排他
的ORゲート12cの入力の1つに供給される。
奇数ラツチ12aによつて発生した1ビツトの2
進信号は、ゲート・ライン12c2を介して排他
的ORゲート12cのもう1つの入力に供給され
る。排他的ORゲート12cの出力に現われる2
進信号は、データ出力レジスタ12bおよびパリ
テイ検査器12dに転送される。 下記の表は排他的ORゲート12cに関連する
真理値表である。2進信号「1」は高い信号を表
わし、2進信号「0」は低い信号を表わす。
【表】 制御回路12eは、データ出力レジスタ12b
および奇数ラツチ12aに接続され、第1回路1
0から第2回路12への奇数番目および偶数番目
のデータ・バイトの転送と、データ出力レジスタ
12bおよび奇数ラツチ12aの動作とを同期さ
せる。 次に、障害検出装置の動作について図面を参照
しながら説明する。 8個のデータ・ビツトと1個のパリテイ・ビツ
トを含む奇数番目のデータ・バイトOBが第1回
路10から第2回路12へ転送できるようになる
と、第2ANDゲート10bの1つの入力に8個の
データ・ビツトが並列に供給される。パリテイ・
ビツトはインバータ10cによつて反転されてか
ら第2ANDゲート10bのもう1つの入力に供給
される。奇数番目のデータ・バイトOBは奇数パ
リテイを付与されて外部のソースから供給され
る。奇数ラツチ12aは高いパルスを発生し、こ
のパルスは第2ANDゲート10bの追加の入力に
供給される。その結果、奇数番目のデータ・バイ
トOBは、第1回路10の第2ANDゲート10b
から転送される。しかしながら、パリテイ・ビツ
トはインバータ10cによつて反転されているか
ら、奇数番目のデータ・バイトOBは、第1回路
の第2ANDゲート10bから、偶数パリテイとと
もに並列に転送される。 転送された9ビツトのデータ・バイトが第2回
路12で受取られると、8個のデータ・ビツトは
データ出力レジスタ12bに記憶され、1個のパ
リテイ・ビツトはゲート・ライン12c1を介し
て排他的ORゲート12cの1つの入力に供給さ
れる。奇数ラツチ12aから発生した高いパルス
は、ゲート・ライン12c2を介して排他的OR
ゲート12cの他の入力に供給される。排他的
ORゲート12cに関連する前記真理値表に従つ
て、ゲート・ライン12c1を介して排他的OR
ゲート12cの1つの入力に供給されたパリテ
イ・ビツトは、再反転されて最初の状態に戻る。
再反転されたパリテイ・ビツトは8個のデータ・
ビツトと一緒にデータ出力レジスタ12bに記憶
される。 第2ANDゲート10bから転送された奇数番目
のデータ・バイトの中の8個のデータ・ビツト
は、パリテイ検査器12dの1つの入力にも供給
される。排他的ORゲート12cの出力から、再
反転されたパリテイ・ビツトが、パリテイ検査器
12dの他の入力に供給される。奇数番目のデー
タ・バイトは第1回路10から偶数パリテイで転
送され、排他的ORゲート12cは転送されたデ
ータ・バイトのパリテイ・ビツトを再反転するか
ら、パリテイ検査器12dに供給された9ビツト
のデータ・バイトのパリテイは奇数である、すな
わちパリテイ検査器12dの両入力に供給された
2進数1の合計ビツト数は奇数である。従つて、
エラー信号はパリテイ検査器12dからは発生し
ない。 前述のように、1つの回路からもう1つの回路
への誤つたデータ転送の原因となる異常な回路状
態の存在が本発明によつて検出される。奇数ラツ
チ12aは、ゲート・ライン10e1,10e
2,10e、インタフエース・ライン13および
ゲート・ライン12c2を介して、ANDゲート
10aおよび10bに接続されている。短絡また
は開路のような異常回路状態が、インタフエー
ス・ライン13、ゲート・ライン10e,10e
1または10e2の動作に影響する場合、第1回
路10から第2回路12に誤つたデータが転送さ
れる、すなち奇数番目または偶数番目のデータ・
バイトの順序を外れた転送が行なわれることがあ
る。例えば、ゲート・ライン10eが開路してい
る(ゲート・ライン12c2は動作している)も
のとする。奇数ラツチ12aは低い信号を転送し
ているが、ゲート・ライン10eが開路のため
に、高い信号がインバータ10dおよび第2AND
ゲート10bに供給されている。従つて、インバ
ータ10dからの低い信号が、第1ANDゲート1
0aの条件付けを阻止する。その結果、第1AND
ゲート10aは動作せず、偶数番目のデータ・バ
イトEBを第1回路10から転送することができ
ない。従つて、2つの奇数番目のデータ・バイト
OBが連続して、すなわち「奇数番−奇数番…
…」の順序で、第2ANDゲート10bから転送さ
れることになる。第2ANDゲート10bから2番
目(正しい順序では3番目)のデータ・バイト
(偶数パリテイを有する)が転送されるとき、奇
数ラツチ12aは偶数番目のデータ・バイトEB
に対応する低いパルスを転送する。奇数ラツチ1
2aから低いパルスが転送された結果、排他的
ORゲート12cは、2番目のデータ・バイトの
パリテイを偶数から奇数に変更しない。それゆ
え、パリテイ検査器12dの1つの入力に供給さ
れる8個のデータ・ビツト、およびパリテイ検査
器12dのもう1つの入力に供給される、排他的
ORゲート12cからの1つのビツトは、偶数パ
リテイのままである。その結果、パリテイ検査器
12dからエラー信号が発生し、ゲート・ライン
10eの異常回路状態を表わす。 奇数ラツチ12aからの低いパルスに応答し
て、第1ANDゲート10aを介して偶数番目のデ
ータ・バイトEBが正しく転送される場合には、
9ビツトのデータ・バイトEBが第1ANDゲート
10aから並列に転送される。偶数番目のデー
タ・バイトEBは奇数パリテイを付与されて外部
のソースから供給される。9ビツト・バイトの中
の8個のデータ・ビツトはデータ出力レジスタ1
2bに記憶され、関連する1個のパリテイ・ビツ
トは、ゲート・ライン12c1を介して排他的
ORゲート12cの1つの入力に供給される。奇
数ラツチ12aからの低いパルスは排他的ORゲ
ート12cの他の入力に供給される。排他的OR
ゲート12cの真理値表に従つて、低いパルスが
排他的ORゲート12cの他の入力に供給された
場合、パリテイ・ビツトは反転すなわち変更され
ない。従つて、偶数番目のデータ・バイトは奇数
パリテイを維持する。 偶数番目のデータ・バイトに関連する8個のデ
ータ・ビツトは、パリテイ検査器12dの1組の
入力に供給される。排他的ORゲート12cによ
つて発生した非反転パリテイ・ビツトは、パリテ
イ検査器12dの他の入力に供給される。元の偶
数番目のデータ・バイトは奇数パリテイを持つて
いたから、奇数個の2進数1のビツトがパリテイ
検査器12dに供給される。従つて、パリテイ検
査器12dはエラー信号を発生しない。 しかしながら。インタフエース・ライン13、
またはゲート・ライン10e1あるいは10e2
に存在する異常回路状態の結果として、奇数パリ
テイを有する、次の偶数番目のデータ・バイトの
中の8個のデータ・ビツトが、パリテイ検査器1
2dの1組の入力に供給されるものとする。この
ときは奇数番目のデータ・バイトを表わす高いパ
ルスが奇数ラツチ12aによつて発生される。高
いパルスは、排他的ORゲート12cを介して、
次に転送されてきた偶数番目のデータ・バイトの
パリテイ・ビツトを変更する。その結果、このデ
ータ・バイトは奇数パリテイの代りに偶数パリテ
イを付与されてしまい、偶数個の2進数1のビツ
トがパリテイ検査器12dの入力に供給される。
従つて、インタフエース・ライン13、またはゲ
ート・ライン10e1あるいは10e2に存在す
る異常回路状態を表わすエラー信号がパリテイ検
査器12dから発生される。 奇数番目のデータ・バイトに含まれる8個のデ
ータ・ビツトおよびパリテイ・ビツトがデータ出
力レジスタ12bに記憶され、処理されてしまう
と、制御回路12eは、次に到来する偶数番目の
データ・バイトの記憶のためのデータ出力レジス
タ12bをセツトし、かつ奇数ラツチ12aに指
示して、第1ANDゲート10aを介して偶数番目
のデータ・バイトを転送するように低いパルスを
発生させる。同様に、偶数番目のデータ・バイト
がデータ出力レジスタ12bに記憶され、処理さ
れてしまうと、制御回路12eは、次に転送され
てくる奇数番目のデータ・バイトの記憶のためデ
ータ出力レジスタ12bをセツトし、かつ奇数ラ
ツチ12aに指示して、第2ANDゲート10bを
介して奇数番目のデータ・バイトを転送するよう
に高いパルスを発生させる。 回路10および12がICの場合は、ライン1
1および13のようなインタフエース・ラインの
使用可能性は、主としてICの微細な寸法によつ
て制限される。その結果、検査および障害検出の
ために既存のインタフエース・ラインを2重にす
ることは不可能である。従つて、データ転送、な
らびに誤つたデータ転送の原因となる障害の検出
の両方に既存のインタフエース・ラインが使用れ
なければならない。このような環境では、順序を
外れたデータ転送の存在を検出する、独特のパリ
テイ検査方式を利用すべきである。本発明は、こ
のような方式を可能にする。IC間を接続するイ
ンタフエース・ラインの数が制限されているにも
かかわらず、誤つたデータを検出する必要性が大
である環境において、本発明が実施される。本発
明は、インタフエース・ラインを2重にすること
なく、この要求を満足する。 なお、外部のソースから供給されるデータ・バ
イトEBおよびOBが偶数パリテイの場合は、奇数
パリテイを検出したときにエラー信号を発生する
ようにパリテイ検査器12dを修正すればよい。
【図面の簡単な説明】
図は、本発明の実施例を示すブロツク図であ
る。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 所定のパリテイを付与されたデータ・バイト
    が供給される第1回路と、該第1回路からのパリ
    テイ付きデータ・バイトを受け取る第2回路とを
    含み、前記第1回路から前記第2回路への誤つた
    データ転送を招く異常回路状態を検出するための
    障害検出装置にして、 前記第1回路に設けられ、前記所定のパリテイ
    に従うパリテイ・ビツトを有するデータ・バイト
    を受け取る第1ゲートと、 前記第1回路に設けられ、前記パリテイ・ビツ
    トを反転する反転回路と、 前記第1回路に設けられ、前記反転回路によつ
    て反転されたパリテイ・ビツトを有するデータ・
    バイトを受け取る第2ゲートと、 前記第2回路に設けられ、前記第1ゲートを付
    勢する第1レベルの信号および前記第2ゲートを
    付勢する第2レベルの信号を交互に発生する手段
    と、 前記信号を前記第1ゲートおよび前記第2ゲー
    トへ供給する、前記第1回路と前記第2回路の間
    のインタフエース・ラインおよび前記第1回路の
    ゲート・ラインと、 前記第2回路に設けられ、前記手段からの前記
    第1レベルの信号に応答して、前記第1回路から
    のデータ・バイトのパリテイ・ビツトをそのまま
    通し、前記手段からの前記第2レベルの信号に応
    答して、前記データ・バイトのパリテイ・ビツト
    を反転する論理回路と、 前記論理回路からのパリテイ・ビツトを用いて
    前記第1回路からのデータ・バイトを検査するパ
    リテイ検査器と、 を具備する障害検出装置。
JP59122147A 1983-06-30 1984-06-15 障害検出装置 Granted JPS6014347A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/509,699 US4580265A (en) 1983-06-30 1983-06-30 Failure detection method and apparatus
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Publication Number Publication Date
JPS6014347A JPS6014347A (ja) 1985-01-24
JPH0442691B2 true JPH0442691B2 (ja) 1992-07-14

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ID=24027744

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59122147A Granted JPS6014347A (ja) 1983-06-30 1984-06-15 障害検出装置

Country Status (5)

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US (1) US4580265A (ja)
EP (1) EP0130429B1 (ja)
JP (1) JPS6014347A (ja)
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