JPH05108385A - エラー訂正回路診断方式 - Google Patents

エラー訂正回路診断方式

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Publication number
JPH05108385A
JPH05108385A JP3265943A JP26594391A JPH05108385A JP H05108385 A JPH05108385 A JP H05108385A JP 3265943 A JP3265943 A JP 3265943A JP 26594391 A JP26594391 A JP 26594391A JP H05108385 A JPH05108385 A JP H05108385A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
error correction
error
data
circuit
correction circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP3265943A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiro Hashimoto
一弘 橋本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP3265943A priority Critical patent/JPH05108385A/ja
Publication of JPH05108385A publication Critical patent/JPH05108385A/ja
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  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Detection And Correction Of Errors (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は情報記憶再生装置における情報再生時
のエラー訂正及び検出回路の正常性診断を通常動作と並
行して実行することによりエラー訂正回路の故障に即時
に対応してエラー訂正システム全体の信頼性を向上させ
ること。 【構成】エラー訂正符号生成回路12、メモリ13、エ
ラー発生判定回路14、エラー訂正回路15から成る、
Nビット以内のエラー訂正が可能なエラー訂正システム
においてはリードデータ24中に訂正可能エラーが発生
した場合はこれを訂正して正常データ28を出力し、訂
正不可能エラーが発生した場合はエラー検出信号27を
発行する。本発明ではこれにエラー訂正回路チェック回
路17を追加しエラー訂正前リードデータ24、エラー
訂正後リードデータ28を受けて両者の間で相異なるビ
ット数を求め設定値と比較してM≦Nであるか否かを判
定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は情報記憶再生装置におけ
る情報再生時のエラー訂正及び検出回路に関し、より詳
しくはエラー訂正回路の診断方式に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来までの情報記憶再生装置ではライト
データよりエラー訂正符号を生成しこれをデータに付加
しメモリへ書き込む。再生時データ及びエラー訂正符号
をメモリから読み出しエラー発生判定回路へ入力し判定
の結果エラーが発生した場合リードデータ中にエラーが
発生したか否かを判定する。後段のエラー訂正回路によ
り訂正可能なエラーである場合にはリードデータ中のエ
ラーを訂正し正常データに変更する。訂正不可能なエラ
ーである場合にはエラー検出信号を発行する。このよう
にエラー訂正符号生成回路とエラー発生判定回路とエラ
ー訂正回路とで構成されるエラー訂正システムはデータ
のメモリからのリード時に種々の要因(バスへのノイズ
混入、RAMのソフトエラー等)によりリードデータに
発生したエラーを検出し、エラー訂正後処理を続行する
かあるいはデータリード後の処理を停止し、情報記憶再
生装置全体としての信頼性の向上を図っている。
【0003】本システムにおいては前述した回路群にお
ける故障を早期に検出する必要があり、エラー発生箇所
の特定方法としては公知例として「特開昭64−573
43」があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】かかる従来の情報記憶
再生装置においてはエラー発生判定回路より訂正可能エ
ラー検出信号が発行された場合にはエラー訂正動作が実
行されデータ処理を続行するが、エラー訂正回路の正常
性をエラー訂正動作と並行して確認する手段は存在せず
仮りにエラー訂正回路に故障が発生し訂正後データ中に
なおエラーが存在していてもこれを認識することが不可
能であった。エラーを含んだままのデータを正常データ
であると誤認識してデータリード後の処理を続行するこ
とはエラー訂正回路の目的に根本的に合致せず大きな問
題となっていた。
【0005】また従来エラー発生個所の特定には情報記
憶再生装置の動作モードをエラー訂正及び検出回路のテ
ストモードへ切り替えることが必要であり通常動作と並
行してエラー訂正回路の正常性を確認することは困難で
あった。
【0006】また公知例として挙げた「特開昭64−5
7343」は16ビットデータを8ビット毎に2分割し
たエラー訂正回路に限定した診断方法でありその適用範
囲は極めて狭いという問題点があった。
【0007】本発明の目的は通常のエラー訂正動作と並
行してエラー訂正回路の正常性を判断する方法をデータ
のビット数やエラー訂正方法に由らずに実現することに
ある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明はメモリからリー
ド直後のデータとエラー訂正回路通過後のデータとエラ
ー発生判定回路の出力である訂正可能エラー検出信号と
を入力としてエラー訂正回路とは並列に設けたデータ比
較回路により通常のエラー訂正動作と同時にエラー訂正
回路の正常性を確認することを特徴とするものである。
【0009】
【作用】エラー訂正回路の正常性を通常動作時に確認す
ることが可能になりエラー訂正回路の故障に対して即時
に対応することができる。従って情報記憶再生装置のデ
ータリード動作の信頼度を向上させることが可能にな
る。
【0010】
【実施例】以下に本発明を図面により説明する。図1は
本発明の一実施例を示すブロック図である。図2は図1
中のエラー訂正回路チェック回路の詳細なブロック図で
ある。
【0011】図1が示すシステムはライトデータレジス
タ11、エラー訂正符号生成回路12、メモリ13、エ
ラー発生判定回路14、エラー訂正回路15、エラー訂
正回路チェック回路17、リードデータレジスタ16に
より構成される。
【0012】図2においてエラー訂正前リードデータレ
ジスタ31、エラー訂正後リードデータレジスタ32、
データ比較器33、エラー訂正回路判定器34から構成
される。以下順に従い動作を説明する。
【0013】エラー訂正符号生成回路12はライトデー
タ21を受けてエラー訂正符号22をメモリ13へ出力
する。データリード時にエラー発生判定回路14はリー
ドエラー訂正符号23とエラー訂正前リードデータ24
とを受けてシンドロームを生成しこれによりエラー訂正
前リードデータ中にエラーが存在するか否かを判定す
る。発生したエラーが後段のエラー訂正回路15により
訂正可能である場合にはエラー訂正回路15はシンドロ
ーム25、エラー訂正前リードデータ26、訂正可能エ
ラー検出信号27を受けてデータ中のエラーを訂正しエ
ラー訂正後リードデータ28を出力する。
【0014】この時エラー訂正回路チェック回路17は
エラー訂正前リードデータ24とエラー訂正後リードデ
ータ28と訂正可能エラー検出信号27とを受けてエラ
ー訂正回路15の正常性をチェックする。次に図2によ
ってエラー訂正回路チェック回路17の動作について説
明する。データ比較器33はエラー訂正前リードデータ
41とエラー訂正後リードデータ42とを受けて両者の
間で相異なるデータビットの数Mを求める。訂正可能エ
ラー検出信号46はデータ比較器33のイネーブル信号
として機能する。訂正可能なエラービット数の最大値N
はシンドロームパターンを選択することにより決定し、
既知であるのであらかじめエラー訂正回路判定部34に
設定しておく。エラー訂正回路が正常であるならばエラ
ー訂正前リードデータ41とエラー訂正後リードデータ
42との差Mの値はN以下となるはずである。エラー訂
正回路判定部34ではMとNとを比較しM≦Nである場
合にはエラー訂正回路は正常であるとして正常報告信号
44を出力する。M>Nである場合には異常報告信号4
5を出力する。
【0015】本発明はデータビット数やエラー訂正ビッ
ト数に由らず同様にして適用可能である。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように本発明はエラー訂正
回路の正常性のチェックをエラー訂正システムのテスト
モードではなく通常動作と並行して常時実行できるので
エラー訂正回路に故障があった場合即時に対応できると
いう効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】エラー訂正回路診断方式のブロック図である。
【図2】訂正回路チェック回路の詳細内容を示す図であ
る。
【符号の説明】
11…ライトデータレジスタ 12…エラー訂正符号生成回路 13…データ記憶装置 14…エラー発生判定回路 15…エラー訂正回路 16…リードデータレジスタ 17…エラー訂正回路チェック回路 21…ライトデータ 22…ライト・エラー訂正符号 23…リード・エラー訂正符号 24…エラー訂正前リードデータ 25…エラー訂正前リードデータ 26…シンドローム 27…訂正可能エラー検出信号 28…エラー訂正後リードデータ 29…エラー訂正回路正常報告信号 30…エラー訂正回路異常報告信号 31…エラー訂正前リードデータレジスタ 32…エラー訂正後リードデータレジスタ 33…データ比較器 34…エラー訂正回路判定部 41…エラー訂正前リードデータ 42…エラー訂正後リードデータ 43…データ間相違ビット数 44…エラー訂正回路正常報告信号 45…エラー訂正回路異常報告信号

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】エラー訂正のためにデータに付加するエラ
    ー訂正符号の生成回路と、該エラー訂正符号を付加した
    データを記憶し再生する複数のメモリ素子と、メモリ素
    子からのデータ再生の際にデータ中のエラー発生の有無
    を判定しエラー発生の場合にはエラーの種類も判別しそ
    の結果を報告するエラー発生判定回路と、これより訂正
    可能エラー報告信号が発行された場合にリードデータと
    シンドロームを受けてデータ中のエラーを訂正し正常デ
    ータを出力するエラー訂正回路を有する情報記憶再生装
    置において、訂正可能エラー発生時にメモリ素子からリ
    ード直後のデータとエラー訂正後のデータとを受けて両
    者を比較しエラー訂正回路の正常性を通常動作時に確認
    可能とすることを特徴とするエラー訂正回路診断方式。
JP3265943A 1991-10-15 1991-10-15 エラー訂正回路診断方式 Pending JPH05108385A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3265943A JPH05108385A (ja) 1991-10-15 1991-10-15 エラー訂正回路診断方式

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JP3265943A JPH05108385A (ja) 1991-10-15 1991-10-15 エラー訂正回路診断方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05108385A true JPH05108385A (ja) 1993-04-30

Family

ID=17424238

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3265943A Pending JPH05108385A (ja) 1991-10-15 1991-10-15 エラー訂正回路診断方式

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JP (1) JPH05108385A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100802666B1 (ko) * 2004-08-27 2008-02-12 인피니언 테크놀로지스 아게 회로 장치 및 체크 방법
WO2016042751A1 (ja) * 2014-09-16 2016-03-24 株式会社デンソー メモリ診断回路
JP2016066344A (ja) * 2014-09-16 2016-04-28 株式会社デンソー メモリ診断回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100802666B1 (ko) * 2004-08-27 2008-02-12 인피니언 테크놀로지스 아게 회로 장치 및 체크 방법
WO2016042751A1 (ja) * 2014-09-16 2016-03-24 株式会社デンソー メモリ診断回路
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