JPS63310960A - 金属薄膜の製造法 - Google Patents
金属薄膜の製造法Info
- Publication number
- JPS63310960A JPS63310960A JP14557687A JP14557687A JPS63310960A JP S63310960 A JPS63310960 A JP S63310960A JP 14557687 A JP14557687 A JP 14557687A JP 14557687 A JP14557687 A JP 14557687A JP S63310960 A JPS63310960 A JP S63310960A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- film
- thin metal
- cylindrical
- metal film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims abstract description 33
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 33
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 19
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 claims abstract description 5
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 claims description 29
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 23
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 18
- 208000028659 discharge Diseases 0.000 claims description 6
- 238000011282 treatment Methods 0.000 claims description 6
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 abstract description 11
- 238000004804 winding Methods 0.000 abstract description 6
- 229910000684 Cobalt-chrome Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 abstract description 3
- 239000010952 cobalt-chrome Substances 0.000 abstract description 3
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 abstract 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 abstract 1
- 239000010953 base metal Substances 0.000 description 10
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 9
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 9
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 9
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 9
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 5
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000006247 magnetic powder Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000002120 nanofilm Substances 0.000 description 1
- 229910000889 permalloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920000307 polymer substrate Polymers 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/56—Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
- C23C14/562—Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks for coating elongated substrates
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、フィルム状の高分子基板上に複数層の金属薄
膜を形成に関し、特に高密度記録特性に優れた垂直磁気
記録媒体の製造に関するものである。
膜を形成に関し、特に高密度記録特性に優れた垂直磁気
記録媒体の製造に関するものである。
従来の技術
従来、磁気記録媒体としては高分子フィルム等の非磁性
基板上に磁性粉を塗布した塗布形のものが使用されて来
たが、よシ高い記録密度を達成するために、非磁性基板
上に金属薄膜をスパッタ法や真空蒸着法で形成した薄膜
形が実用化されつつある。薄膜形磁気記録媒体の中でも
、特に垂直磁気異方性を持ったＣｏ基磁性薄膜媒体が、
優れた短波長記録特性を示す事がわかシ、この媒体が、
スパッタ法や真空蒸着法（イオンブレーティング法のよ
うに蒸発原子の一部をイオン化して膜を堆積する方法も
含む）により作製されるが、特に後者の方法によれば数
千入／秒以上の非常に高い堆積速度が得られ、量産に適
しているものである。
基板上に磁性粉を塗布した塗布形のものが使用されて来
たが、よシ高い記録密度を達成するために、非磁性基板
上に金属薄膜をスパッタ法や真空蒸着法で形成した薄膜
形が実用化されつつある。薄膜形磁気記録媒体の中でも
、特に垂直磁気異方性を持ったＣｏ基磁性薄膜媒体が、
優れた短波長記録特性を示す事がわかシ、この媒体が、
スパッタ法や真空蒸着法（イオンブレーティング法のよ
うに蒸発原子の一部をイオン化して膜を堆積する方法も
含む）により作製されるが、特に後者の方法によれば数
千入／秒以上の非常に高い堆積速度が得られ、量産に適
しているものである。
非磁性基板として高分子フィルムを用いて、真空蒸着法
により金属薄膜形の媒体を製造する方法としては、高分
子フィルムを円筒状キャンの周面に沿わせて走行させ、
磁性層を蒸着する方法が優れており第２図にその概略を
示す。高分子フィルム１は円筒状キャン２の局面に沿っ
て走行する。この高分子フィルムイ上に蒸発源５によっ
て磁性層が形成される。３．４はそれぞれ高分子フィル
ム１の供給ローラと巻取ローラである。蒸発源としては
、抵抗加熱蒸発源、高周波加熱蒸発源、電子ビーム蒸発
源等が考えられるが、高融点金属であるＣＯ基合金を高
速で蒸発させるためには、電子ビーム蒸発源を採用する
必要がある。蒸発源６と円筒状キャン２との間には、蒸
発源５から蒸発する蒸気７が不要な部分に付着するのを
防止するために、遮へい板６が設けられている。また８
、９はそれぞれ円筒状キャン２に近接したフリーローラ
である。真空蒸着法により垂直磁気記録媒体のＣｏ Ｃ
ｒ磁性層を高分子フィルム上に堆積する場合、その高堆
積速度故に、高分子フィルムを加熱昇温させた状態で蒸
着しないと、磁気的特性に垂直方向の保磁力が得られな
いという事がわかっており、それ枚用いる高分子フィル
ムも耐熱性を有する高分子フィルムが要求されるもので
ある。一般に耐熱性フィルムはその製法により相違があ
るが、非耐熱性フィルムに比べて含水率、吸水率が高く
、それ故蒸着前に、加熱昇温しでその水分を除去する必
要がある。また高分子フィルムに蒸着する場合には、高
分子フィルムの蒸着面を清浄にする工程が必要であり、
またｃｏａｘ磁性層の結晶成長を確実にし、且つ高分子
フィルムからのガス放出等を抑える目的で種々の下地金
属薄膜を設ける事により、よシ特性の優れた垂直磁気記
録媒体が作製できる事もわかっている。
により金属薄膜形の媒体を製造する方法としては、高分
子フィルムを円筒状キャンの周面に沿わせて走行させ、
磁性層を蒸着する方法が優れており第２図にその概略を
示す。高分子フィルム１は円筒状キャン２の局面に沿っ
て走行する。この高分子フィルムイ上に蒸発源５によっ
て磁性層が形成される。３．４はそれぞれ高分子フィル
ム１の供給ローラと巻取ローラである。蒸発源としては
、抵抗加熱蒸発源、高周波加熱蒸発源、電子ビーム蒸発
源等が考えられるが、高融点金属であるＣＯ基合金を高
速で蒸発させるためには、電子ビーム蒸発源を採用する
必要がある。蒸発源６と円筒状キャン２との間には、蒸
発源５から蒸発する蒸気７が不要な部分に付着するのを
防止するために、遮へい板６が設けられている。また８
、９はそれぞれ円筒状キャン２に近接したフリーローラ
である。真空蒸着法により垂直磁気記録媒体のＣｏ Ｃ
ｒ磁性層を高分子フィルム上に堆積する場合、その高堆
積速度故に、高分子フィルムを加熱昇温させた状態で蒸
着しないと、磁気的特性に垂直方向の保磁力が得られな
いという事がわかっており、それ枚用いる高分子フィル
ムも耐熱性を有する高分子フィルムが要求されるもので
ある。一般に耐熱性フィルムはその製法により相違があ
るが、非耐熱性フィルムに比べて含水率、吸水率が高く
、それ故蒸着前に、加熱昇温しでその水分を除去する必
要がある。また高分子フィルムに蒸着する場合には、高
分子フィルムの蒸着面を清浄にする工程が必要であり、
またｃｏａｘ磁性層の結晶成長を確実にし、且つ高分子
フィルムからのガス放出等を抑える目的で種々の下地金
属薄膜を設ける事により、よシ特性の優れた垂直磁気記
録媒体が作製できる事もわかっている。
第２図に示す従来例においては、次に述べる方法により
媒体を作製するものである。すなわち、円筒状キャン２
は昇温できる構成であり、まず供給ローラ３よりベース
の耐熱性高分子フィルム１を加熱昇温された円筒状キャ
ン２に沿わせて走行させ、巻取りローラ４で巻取り水分
追出し工程を完了する。この時、巻取りローラ４手前の
グロー処理装置１ｏにより表面清浄工程を行なっている
。
媒体を作製するものである。すなわち、円筒状キャン２
は昇温できる構成であり、まず供給ローラ３よりベース
の耐熱性高分子フィルム１を加熱昇温された円筒状キャ
ン２に沿わせて走行させ、巻取りローラ４で巻取り水分
追出し工程を完了する。この時、巻取りローラ４手前の
グロー処理装置１ｏにより表面清浄工程を行なっている
。
次に、巻取シローラ４よす供給ローラ３側への走行を行
なわせ、蒸発源５に下地層金属としてＴｉ等を用いて、
下地層金属の蒸着を行なう。この時蒸着による高分子フ
ィルム１への熱負荷を軽減するために、図に示すように
、フリーローラ８とキャン２の間に電位差を設けて、キ
ャン２と高分子フィルム１を静電吸着させて蒸着時の熱
負荷をキャン２側に逃がしているものである。このよう
に再び供給ローラ側に巻取られた下地金属層の形成され
た高分子フィルムを、次に供給ローラ側から巻取シロー
ラ側に走行させて、Ｇｏ Ｃｒ磁性層を蒸着する。
なわせ、蒸発源５に下地層金属としてＴｉ等を用いて、
下地層金属の蒸着を行なう。この時蒸着による高分子フ
ィルム１への熱負荷を軽減するために、図に示すように
、フリーローラ８とキャン２の間に電位差を設けて、キ
ャン２と高分子フィルム１を静電吸着させて蒸着時の熱
負荷をキャン２側に逃がしているものである。このよう
に再び供給ローラ側に巻取られた下地金属層の形成され
た高分子フィルムを、次に供給ローラ側から巻取シロー
ラ側に走行させて、Ｇｏ Ｃｒ磁性層を蒸着する。
また、この時も、下地金属層の蒸着時と同様にキャン２
と高分子フィルム１を静電吸着させて蒸着時の熱負荷を
キャン２側に逃がしている。
と高分子フィルム１を静電吸着させて蒸着時の熱負荷を
キャン２側に逃がしている。
発明が解決しようとする問題点
このような製造装置、方法において記録特性に優れた垂
直磁気記録媒体の作製は基本的には可能であるが、量産
性に優れた真空蒸着法を用いているにもかかわらず、次
のような欠点を有しているものである。すなわち、上述
のプロセスには、加熱によるガス出し工程、グロー放電
による表面清浄工程、下地金属の蒸着工程、０ｏＣｒ磁
性層の蒸着工程といった多くの工程が含まれており、そ
れ故媒体作製の量産性が極端に低下するものである。
直磁気記録媒体の作製は基本的には可能であるが、量産
性に優れた真空蒸着法を用いているにもかかわらず、次
のような欠点を有しているものである。すなわち、上述
のプロセスには、加熱によるガス出し工程、グロー放電
による表面清浄工程、下地金属の蒸着工程、０ｏＣｒ磁
性層の蒸着工程といった多くの工程が含まれており、そ
れ故媒体作製の量産性が極端に低下するものである。
またこの様な処理工程においては、全ての工程において
基板フィルムに熱負荷がかかり、繰返し熱応力によって
基板フィルムが変形したりするものである。更に従来技
術では薄膜形成を全て真空蒸着により行っており、真空
蒸着による薄膜の付着強度はスパッタリングなどに比べ
て弱く、それ故。
基板フィルムに熱負荷がかかり、繰返し熱応力によって
基板フィルムが変形したりするものである。更に従来技
術では薄膜形成を全て真空蒸着により行っており、真空
蒸着による薄膜の付着強度はスパッタリングなどに比べ
て弱く、それ故。
この媒体を実際にヘッドと接触した場合に耐寿命性が弱
いという問題点も有しているものである。
いという問題点も有しているものである。
問題点を解決するための手段
本発明は、円筒状キャンに沿わせた高分子フィルムの基
板上に、第１の金属薄膜を基板のグロー放電処理工程中
にスパッタリングにより形成し、その後第２の金属薄膜
を真空蒸着法により形成するものである。
板上に、第１の金属薄膜を基板のグロー放電処理工程中
にスパッタリングにより形成し、その後第２の金属薄膜
を真空蒸着法により形成するものである。
作用
上記手段により、本発明は次のように作用するものであ
る。すなわち、高分子フィルムのグロー放電処理工程中
にスパッタリングによって第１の金属薄膜を形成するこ
とにより、工程の短縮化が図れるとともに、熱負荷を受
ける工程が少なくなシ、繰返し熱応力によるフィルムの
変形等がなく、更に、ヘッドとの耐久性も向上するもの
である。
る。すなわち、高分子フィルムのグロー放電処理工程中
にスパッタリングによって第１の金属薄膜を形成するこ
とにより、工程の短縮化が図れるとともに、熱負荷を受
ける工程が少なくなシ、繰返し熱応力によるフィルムの
変形等がなく、更に、ヘッドとの耐久性も向上するもの
である。
実施例
第１図は本発明の一実施例の製造法を具現する真空蒸着
装置の内部構造である。
装置の内部構造である。
図において供給ローラ１１より供給される高分子フィル
ム１２はフリーローラ１３，１４．１５を通過後円筒状
キャン１６に沿って走行し、円筒状キャン１ｅの周面で
種々の処理が行なわれた後フリーローラ１７，１８．１
９を通って巻取りローラ２ｏに巻取られる。この時フリ
ーローラ１６と１７は張力検知機能を持たせたローラで
あり、供給ローラ１１や巻取りローラ２ｏの回転数、ト
ルクを制御して、円筒状キャン１６に入る前と出た後の
張力を最適に保つように制御されている。
ム１２はフリーローラ１３，１４．１５を通過後円筒状
キャン１６に沿って走行し、円筒状キャン１ｅの周面で
種々の処理が行なわれた後フリーローラ１７，１８．１
９を通って巻取りローラ２ｏに巻取られる。この時フリ
ーローラ１６と１７は張力検知機能を持たせたローラで
あり、供給ローラ１１や巻取りローラ２ｏの回転数、ト
ルクを制御して、円筒状キャン１６に入る前と出た後の
張力を最適に保つように制御されている。
円筒状キャン１６は接地され、円筒状キャン１６の出口
の張力検知機能を有する蒸着金属面と接するフリーロー
ラ１７には電圧が付加され、下地金属としての第１の金
属薄膜が形成されると高分子フィルム１２が円筒状キャ
ン１ｅに静電吸着されるものである。
の張力検知機能を有する蒸着金属面と接するフリーロー
ラ１７には電圧が付加され、下地金属としての第１の金
属薄膜が形成されると高分子フィルム１２が円筒状キャ
ン１ｅに静電吸着されるものである。
図において円筒状キャン１６の局面に沿う領域は、差圧
板２１．２２．２３によって基本的に３つの領域に仕切
られており、高分子フィルム１２の上流側よシ、水分追
出し領域＋予備加熱領域２４゜表面清浄領域十第１金属
薄膜の形成領域２６、磁性金属の蒸着領域２ｅとなって
いる。これらの領域では真空度がそれぞれ約１０ ．１
０ 、１０−５〜１０ Ｔｏｘｒ程度となるように
真空ポンプ等で排気される。また円筒状キャン１６は内
部にキャン周面を加熱昇温できる構造を有しており、本
実施例においては、約２６０〜３００℃程度に昇温して
いる。本実施例において用いた高分子フィルム１２は耐
熱性を有するポリイミド系の高分子フィルムであシ、フ
リーローラ１５より円筒状キャン１６に入り、差圧板２
１の手前までの水分追出し領域＋予備加熱領域２４で、
内部の水分が除去されると共に加熱され、次の表面清浄
領域十第１金属薄膜の形成領域２５に入る。この領域で
は、ボックス２７内で電極２８により、ＲＦあるいはＤ
ｃによるプラズマが発生させられ金属薄膜の形成される
面がまず清浄化される。この時に用いるガスとしては例
えばムｒ 、 Ｎ２等が考えられる。このボックス２７
内の初期領域は単にプラズマによる表面清浄のみである
が、キャン１６周面に沿って進行するにつれ、ボックス
２７内の電極２８とフィルム１６間におかれた、第１金
属薄膜のターゲツト材がプラズマによりスパッタされフ
ィルム１６上に堆積する。この時本実施例での下地金属
は、Ｔ工あるいはＴｉよりもスパッタ率の高いパーマロ
イなどであり、その膜厚は１００λ程度であり、電極へ
の電圧でコントロールできる。
板２１．２２．２３によって基本的に３つの領域に仕切
られており、高分子フィルム１２の上流側よシ、水分追
出し領域＋予備加熱領域２４゜表面清浄領域十第１金属
薄膜の形成領域２６、磁性金属の蒸着領域２ｅとなって
いる。これらの領域では真空度がそれぞれ約１０ ．１
０ 、１０−５〜１０ Ｔｏｘｒ程度となるように
真空ポンプ等で排気される。また円筒状キャン１６は内
部にキャン周面を加熱昇温できる構造を有しており、本
実施例においては、約２６０〜３００℃程度に昇温して
いる。本実施例において用いた高分子フィルム１２は耐
熱性を有するポリイミド系の高分子フィルムであシ、フ
リーローラ１５より円筒状キャン１６に入り、差圧板２
１の手前までの水分追出し領域＋予備加熱領域２４で、
内部の水分が除去されると共に加熱され、次の表面清浄
領域十第１金属薄膜の形成領域２５に入る。この領域で
は、ボックス２７内で電極２８により、ＲＦあるいはＤ
ｃによるプラズマが発生させられ金属薄膜の形成される
面がまず清浄化される。この時に用いるガスとしては例
えばムｒ 、 Ｎ２等が考えられる。このボックス２７
内の初期領域は単にプラズマによる表面清浄のみである
が、キャン１６周面に沿って進行するにつれ、ボックス
２７内の電極２８とフィルム１６間におかれた、第１金
属薄膜のターゲツト材がプラズマによりスパッタされフ
ィルム１６上に堆積する。この時本実施例での下地金属
は、Ｔ工あるいはＴｉよりもスパッタ率の高いパーマロ
イなどであり、その膜厚は１００λ程度であり、電極へ
の電圧でコントロールできる。
この表面清浄領域十第１金属薄膜の形成領域２６を出て
下地金属の形成されたフィルム１２は、蒸着領域２ｅに
入る。この領域においては、蒸着すべき磁性金属のＧｏ
Ｏｒ合金をＩＣ／Ｂ等の加熱源により蒸発源３０よシ蒸
発させ、防着板３１を通して下地金属の上に蒸着させる
ものである。この時円筒状キャン１６とフリーローラ１
７との間に電位差を設けているために、下地金属をスパ
ッタにより形成した以降の高分子フィルム１２は、円筒
状キャン１６に静電吸着され、それ故ｃｏ ｃｒの蒸着
時には、その時の熱負荷が円筒状キャン１６に吸収され
、高分子フィルム１２の熱負は等の変形が生じないもの
である。
下地金属の形成されたフィルム１２は、蒸着領域２ｅに
入る。この領域においては、蒸着すべき磁性金属のＧｏ
Ｏｒ合金をＩＣ／Ｂ等の加熱源により蒸発源３０よシ蒸
発させ、防着板３１を通して下地金属の上に蒸着させる
ものである。この時円筒状キャン１６とフリーローラ１
７との間に電位差を設けているために、下地金属をスパ
ッタにより形成した以降の高分子フィルム１２は、円筒
状キャン１６に静電吸着され、それ故ｃｏ ｃｒの蒸着
時には、その時の熱負荷が円筒状キャン１６に吸収され
、高分子フィルム１２の熱負は等の変形が生じないもの
である。
以上の如く、本発明においては、第２図の従来例の如く
、工程の繁雑な製膜プロセスを１つのキャン上で、しか
も、フィルムが１バスの間に全工程が行なえるものであ
る。特に、従来例のグロー放電による表面清浄において
、そのプラズマを用いて、下地金属用のターゲットをス
パッタする事により、下地金属の薄膜形成を可能として
いる。
、工程の繁雑な製膜プロセスを１つのキャン上で、しか
も、フィルムが１バスの間に全工程が行なえるものであ
る。特に、従来例のグロー放電による表面清浄において
、そのプラズマを用いて、下地金属用のターゲットをス
パッタする事により、下地金属の薄膜形成を可能として
いる。
この時、下地金属は、ＣｏＣｒ薄膜の結晶成長を促進し
、ｃｏｃｒ蒸着中の高分子フィルムからの不純物ガスの
発生を防止するためのものである事から、その膜厚は薄
くて良く、それ故、表面清浄作用を持たせるものと下地
金属形成が同時にできるものであり、蒸着で下地金属を
形成する場合に比べて、その熱負荷が輻射成分がないた
めに小さくなり、フィルムに対する熱応力も小さくなる
。また従来の如く、下地金属を蒸着により決成する場合
は、フィルムと下地金属との付着力はスパッタ方式の場
合に比べて弱く、それ故、ヘッドとの実際の接触時には
、その部分ではく離するという問題もあったが、下地金
属をスパッタで形成すると、その付着強度が高まるもの
である。
、ｃｏｃｒ蒸着中の高分子フィルムからの不純物ガスの
発生を防止するためのものである事から、その膜厚は薄
くて良く、それ故、表面清浄作用を持たせるものと下地
金属形成が同時にできるものであり、蒸着で下地金属を
形成する場合に比べて、その熱負荷が輻射成分がないた
めに小さくなり、フィルムに対する熱応力も小さくなる
。また従来の如く、下地金属を蒸着により決成する場合
は、フィルムと下地金属との付着力はスパッタ方式の場
合に比べて弱く、それ故、ヘッドとの実際の接触時には
、その部分ではく離するという問題もあったが、下地金
属をスパッタで形成すると、その付着強度が高まるもの
である。
発明の効果
円筒状キャンに沿わせた高分子フィルムの基板上に、第
１の金属薄膜を基板のグロー放電処理工程中にスパッタ
リングにより形成し、その後第２の金属薄膜を真空蒸着
法により形成する事により、工程が削減でき、更に最終
工程までの間に基板が受ける繰返し熱応力が緩和されて
フィルムの変形等がなく、更に付着力の強い磁気記録媒
体を長尺に亘シ、高い生産性で作製できるものである。
１の金属薄膜を基板のグロー放電処理工程中にスパッタ
リングにより形成し、その後第２の金属薄膜を真空蒸着
法により形成する事により、工程が削減でき、更に最終
工程までの間に基板が受ける繰返し熱応力が緩和されて
フィルムの変形等がなく、更に付着力の強い磁気記録媒
体を長尺に亘シ、高い生産性で作製できるものである。
第１図は、本発明一実施例の製造法を具現化した真空蒸
着装置の内部構造図、第２図は従来例の真空蒸着装置の
内部構造図である。 １１・・・・・・供給ローラ、１６・・・・・・円筒状
キャン、２０・・・・・・巻取ローラ、２８・・・・・
・電極、２９・・・・・・ターゲット、３ｏ・・・・・
・蒸発源。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名１１
＝−侠瑣ローラ ／６−Ｆ’１両状ヤイン π−港Ｊ艮ソローラ ど８−ｍ−電才洒ｋ
着装置の内部構造図、第２図は従来例の真空蒸着装置の
内部構造図である。 １１・・・・・・供給ローラ、１６・・・・・・円筒状
キャン、２０・・・・・・巻取ローラ、２８・・・・・
・電極、２９・・・・・・ターゲット、３ｏ・・・・・
・蒸発源。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名１１
＝−侠瑣ローラ ／６−Ｆ’１両状ヤイン π−港Ｊ艮ソローラ ど８−ｍ−電才洒ｋ
Claims (1)
- 円筒状キャンに沿わせた高分子フィルムの基板上に、第
１の金属薄膜を基板のグロー放電処理工程中にスパッタ
リングにより形成し、その後第２の金属薄膜を真空蒸着
法により形成する事を特徴とした金属薄膜の製造法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14557687A JPS63310960A (ja) | 1987-06-11 | 1987-06-11 | 金属薄膜の製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14557687A JPS63310960A (ja) | 1987-06-11 | 1987-06-11 | 金属薄膜の製造法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63310960A true JPS63310960A (ja) | 1988-12-19 |
Family
ID=15388298
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14557687A Pending JPS63310960A (ja) | 1987-06-11 | 1987-06-11 | 金属薄膜の製造法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63310960A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008231525A (ja) * | 2007-03-22 | 2008-10-02 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 巻取式複合真空表面処理装置及びフィルムの表面処理方法 |
| JP2021102792A (ja) * | 2019-12-24 | 2021-07-15 | 日立造船株式会社 | 蒸着装置、及び蒸着膜を形成した基材の製造方法 |
-
1987
- 1987-06-11 JP JP14557687A patent/JPS63310960A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008231525A (ja) * | 2007-03-22 | 2008-10-02 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 巻取式複合真空表面処理装置及びフィルムの表面処理方法 |
| JP2021102792A (ja) * | 2019-12-24 | 2021-07-15 | 日立造船株式会社 | 蒸着装置、及び蒸着膜を形成した基材の製造方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0046090B1 (en) | Process fpr producing a magnetic recording medium | |
| JPS63310960A (ja) | 金属薄膜の製造法 | |
| JPH0834001B2 (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
| JPS63255362A (ja) | 金属薄膜の製造装置 | |
| JPH07103464B2 (ja) | 金属薄膜の製造法 | |
| JPH01102734A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
| JP2004143520A (ja) | 成膜装置 | |
| JPS6192431A (ja) | 磁気記録媒体の製造法 | |
| JPS6057533A (ja) | 磁気記録媒体 | |
| JPS61196430A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
| JPS62236138A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
| JPS63300429A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
| JPS59172163A (ja) | 垂直磁気記録媒体の製造方法 | |
| JPH0479011A (ja) | 磁気記録媒体およびその製造方法 | |
| JPH0578822A (ja) | 薄膜の製造方法 | |
| JPH03207015A (ja) | 磁気記録媒体およびその製造方法 | |
| JPH04356728A (ja) | 磁気記録媒体の製造法 | |
| JPH06103571A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
| JPS63109167A (ja) | 金属薄膜の製造装置 | |
| JPH01123070A (ja) | 金属薄膜の製造法 | |
| JPH02277768A (ja) | スパッタリング方法 | |
| JPH0238558A (ja) | 耐食性の極めて優れた装飾鋼板の製造方法 | |
| JPH01162226A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
| JPH0757260A (ja) | 磁気記録媒体の製造装置 | |
| JPH04147435A (ja) | 真空蒸着方法 |