JPS63298839A - 光ディスク原盤の作成装置 - Google Patents

光ディスク原盤の作成装置

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JPS63298839A
JPS63298839A JP13155387A JP13155387A JPS63298839A JP S63298839 A JPS63298839 A JP S63298839A JP 13155387 A JP13155387 A JP 13155387A JP 13155387 A JP13155387 A JP 13155387A JP S63298839 A JPS63298839 A JP S63298839A
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laser beam
control
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JP13155387A
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Fumiaki Ueno
植野 文章
Michiyoshi Nagashima
道芳 永島
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光ディスク原盤の作成装置に関する。
(従来の技術) 光ディスク原盤(以下、単に原盤という)は、表面を研
磨したガラス等の基板にフォトレジスト(以下、単にレ
ジストと略す)を塗布し、これを記録すべき情報信号に
より強度変調したレーザ光を用いて感光させ、その感光
度に対応した情報記録を原盤に形成する。
第9図はそのような従来の原盤の作成装置の構成を、レ
ーザ光の照射構成を主にして示したもので、レジストを
塗布した基板1は、スピンドル2によって回転駆動され
るとともに、−軸径送台3によって基板1の径方向に移
送される。Ar(アルゴン)レーザ4の発するレーザ光
は、ミラー5を経て強度変調器(E−0変調器という)
6によって記録すべき信号強度に応する強度変調をうけ
、ミラー7.8.フィルタミラー9を経てレンズアクチ
ュエータ(以下、単にアクチュエータという)10によ
って基板1に照射される。He −N e (ヘリウム
ネオン)レーザ11によるレーザ光は基板1に照射され
、その戻り光がハーフミラ−12を経て光検出器13に
送られ、その検出出力によって、上記アクチュエータ1
0が前記Arレーザ4のレーザ光の焦点を基板1に結ぶ
ように制御する。なお、基板1のレジストはArレーザ
光には感光し、He −N eレーザ光には感光しない
レジストが使用される。
(発明が解決しようとする問題点) 従来の光ディスク原盤は上記のように作成されるので、
記録用および焦点の調整制御用の2つのレーザ光(それ
ぞれを記録光、制御光と略す)をそれぞれ発振するレー
ザ装@(上記の例ではArレーザ装置、He−Neレー
ザ装置¥)2つが必要で、そのため、原盤の作成装置が
大型になり、また、トラッキング制御を行いながらトラ
ック溝(以下、記録溝または溝という)を設けた基板の
記録信号で強度変調したレーザ光を照射する場合には、
記録光と制御光の焦点スポットが相対的にずれる等の欠
点がある。
本発明は、上記の欠点を排除した光ディスク原盤の作成
装置の提供を目的とするものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明は上記の目的を、2つ以上の波長で同時に発振す
る1つのレーザ装置を設けて、その発振レーザ光の1つ
を記録光として、それを強度変調して信号の記録に用い
、他の発振レーザ光を記録光等の焦点を調整制御する制
御光とすることにより達成する。
(作 用) 本発明は、記録、制御の両レーザ光を1個のレーザ装置
から供給するから、装置として小型に構成でき、また、
それら記録、制御のレーザ光のスポットの相対位置は容
易には崩れないので、優れた光ディスクの原盤の作成が
可能になる。
(実施例) 以下、本発明を実施例によって詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例の光ディスク原盤作成装置の
構成を示す図で、以下説明しない符号は前回までの説明
を援用し、その他の符号14は2波長の発振が可能な2
波長発振Arレーザであり、その発振光はフィルタミラ
ー15によって2つに分けられ、その一方のレーザ光は
、E−0変調器6によって記録すべき信号に応じた強度
変調をうけ、アクチュエータ10によりレジストを塗布
した基板1上に、レーザビームスポット(焦点)を照射
するレジストを感光する記録光となされ、また、他方の
レーザ光は、アクチュエータlOを経て基板1に照射さ
れ、それが反射した戻り光をフィルタミラー9.ハーフ
ミラ−12を経て光検出器13によって検出し、その検
出出力信号にはアクチュエータlOと基板1との距離に
応する変化が得られるから、それは上記記録光のスポッ
トを基板1上に結ばせる、アクチュエータ10の制御に
用いられる。
このような制御光の形成方法は、非点収差法。
ナイフェツジ法等が知られており1例えばナイフェツジ
法では、基板からの戻り光をレンズ等で収束させ、その
レンズと焦点面間の収束光路中にナイフェツジを配置し
て光路の半分を遮断し、焦点面には2分割した光検出器
が置かれる。このようにすると、基板とアクチュエータ
との距離に応じて2分割した光検出器の出力差が得られ
、それがアクチュエータの焦点制御のための信号に用い
ることができる。本発明では、このような焦点制御が可
能な光検出器を一括して光検出器として表わしている。
基板1はスピンドル2によって回転駆動され、−軸径送
台3によって基板1の半径方向に移送される等は従来の
通りである。
なお、2波長発振のArレーザ14は、その発振波長の
特定の2波長に高い反射率を有するレーザ共振器のミラ
ーを用いて構成でき、さらに、それら発振する2つのレ
ーザ光の強度比は同様に、共振器の反射率の差を調整し
て実現可能で、発振波長は、例えば記録光に457.9
nm、制御用には514.5nllの組合せができる。
また、2波長発振レーザには、Arレーザの他にクリプ
トンレーザ、Haレーザが利用でき、また、レジストは
記録光には高く、制御光には低い感度を有するものが任
意に選択できるが、一般にはレジストの感度は長波長よ
りも短波長のレーザ光に対して高いため、記録光に短波
長、制御用には長波長のレーザ光を用いることが有利で
ある。
さらに、基板1は一般には表面を研磨したガラス板が使
用されるが、これは、例えば銅板等、他のものであって
もよい。
第2図はマルチモード発振のArレーザから2波長のレ
ーザ光を作出する実施例を示し、以下説明しない前回ま
でと同一の符号は、それらと同一または同等の機能を有
し、16はマルチモード発振のArレーザで、その発振
する複数のレーザ光の1つをフィルタミラー15を経て
選出し、制御光とし、また、フィルタミラー17で他の
レーザ光を選出して記録光とすることにより、第1図と
全く同様に信号の記録を基板1に行うことができる。な
お、マルチモード発振16としては、Arレーザの他に
クリプトンレーザ、He−Neレーザが使用できる。
第3図は他の実施例の構成図である。18は予め記録溝
が形成されレジストを塗布した溝付基板である。光検出
器13は焦点信号の他に溝付基板18の記録溝によるト
ラッキング信号を検出する。 19はガルバノミラ−で
、上記トラッキング信号によって制御され、紙面に垂直
な軸の回りに微小角度の振れを可能にして、記録光を溝
付基板18の記録溝にトラッキングするものである。
ここで、溝付基板18の記録溝は断面がUまたはVの一
般の溝でよく、これは機械切削により形成可能であるが
、番地切削と同時の切削は困難である。そのため、予め
記録溝を設けた基板を用いて番地を記録することになり
、したがって、トラッキングをかけることになる。
制御光および記録光は、アクチュエータ10によって溝
付基板18上に焦点スポットを結び、それらのスポット
は同一点にあって記録溝上にあってもよく、また、第4
図(a)のように、溝方向直線上にあってもよい。同じ
く(b)図のように、制御光スポット21は溝上にあり
、記録光スポット20は溝間にあるようにすると、その
溝間に信号の記録ができる。
■溝のときは記録光および制御光の両スポット20、2
1は、第5図(a)のように溝方向の谷に直線状にあっ
てもよく、また、(b)図のように溝の山にあるように
してもよい。また、それら両スポット20.21が同一
点にあり、■溝の底または山にあってもよく、いずれの
場合もV溝の底または山に信号の記録が可能である。ま
た、第6図(a)ないしくb)のように、制御光のスポ
ット21をV溝の底または山におき、記録光のスポット
をV溝の斜面におくと、その斜面に記録ができるから、
両斜面に記録させると従来の2倍の情報を記録した光デ
ィスクを提供する原盤ができる。
一般に、光ディスク原盤の作成装置では、記録光、制御
光の両スポットの位置関係が一定でないときは、記録信
号がトラックずれを生じ、再生時にクロストークを生ず
る。
両スポットの位置ずれの主要な原因は、レーザ共振器の
温度による揺らぎであるが、本発明では記録光、制御光
の両スポットとも同一レーザ装置から作成しているから
、温度による揺ら□ぎがあっても、それらの相対位置は
変化せず、したがって。
クロストーク等の発生は少ない。また、制御光のスポッ
トが揺らいでも、それによってトラッキングを行ってい
るから、信号記録には全く影響がない。
第7図は本発明のさらに他の実施例を示し、■溝の両斜
面に信号を記録する場合の実施例である。
記録光を2波長発振Arレーザ14からフィルタミラー
15によって2波長に分離して取り出し、記録光とする
一方のレーザ光をハーフミラ−22によって2分割させ
、それぞれをE−0変調器6゜6′によって記録信号強
度に応じて強度変調させ、その一方を1/2波長板23
により偏波面を172波長ずらせであるので、PBS(
偏光ビームスプリッタ)24によって1つの記録光にな
され、記録光と制御光はガルバノミラ−19,アクチュ
エータ10を経てレジストを塗布したV溝を有する基板
25に絞られたビームが照射され、それらのスポットは
第8図(a)のように、制御光のスポット21をV溝の
山におき、2つの記録光のスポット20.20’を上記
の山の両斜面にそれぞれおくか、または同図(b)のよ
うに、制御光のスポットz1をV溝の谷におき、2つの
記録光のスポット20.20’をそれぞれV溝の谷の両
斜面にあるようにして、制御光21でV溝の山または谷
にトラッキングをかけながら、異なった信号により強度
変調された記録光20゜20′により、同時にV溝の両
斜面に信号を記録させることができる。
(発明の効果) 以上、詳細に説明して明らかなように1本発明は、1つ
のレーザ装置から記録光および制御光を得て信号を記録
するから、従来必要であった2つのレーザ装置の一方を
省略して小型に構成できると同時に、レジストを塗布し
た基板に記録溝を予め形成してトラッキングをかけなが
ら信号を記録することにより、記録光のスポットと制御
光のスポットとの相対位置がずれにくいため、記録品質
が大幅に向上した原盤を作成できることになる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第3図および第7図はそれぞれ本発明
の実施例を示す図、第4図、第5図、第6図および第8
図は説明補助図で、本発明の記録光、制御光の基板上に
結ぶスポットを説明する図、第9図は従来例の説明図で
ある。 1・・・ガラス基板、 2・・・スピンドル、 3・・
・−線移送台、 4・・・A r (アルゴン)レーザ
、  5,7.8・・・ミラー、  6,6′・・・強
度変調器(E−0変調器)、 9,15.17・・・フ
ィルタミラー、 lO・・・レンズアクチュエータ(ア
クチュエータと略す)、 11・・・He −N e 
(ヘリウムネオン)レーザ、 12゜22・・・ハーフ
ミラ−113・・・光検出器、 14・・・2波長発振
Arレーザ、 16・・・マルチモード発振アルゴンレ
ーザ、 18・・・溝付基板、19・・・ガルバノミラ
−120,20’・・・記録光スポット、 21・・・
制御光スポット、 23・・・172波長板、 24・
・・PBS(偏光ビームスプリッタ)、25・・・V溝
付基板。 特許出願人 松下電器産業株式会社 第1図 1 ・ 力゛ラス茅方殴2  2°・スピンドyし  
   3・・−軸jL送台9・・・フ4.レタ ミラ−
10・・レンズアクチュエータ12・・ハーフミラ−1
5・・フィルタミラー第2図 第3図 1日・・・ 溝待基檄 第4図 (a) (b) 20・・・ Sこ硅しウス汀ζット 21 ・・桐)′#丸のスポット 第5図 (a) (b) 20 ・ お脣尤のスダット 21 ・・ 鼻“3神2丸 つ スポット第6図 ((+)                (b)(c
)     (d) 20 ・・詫硅范 クスポット 2I  ・・ン)御′LI)スキζット第7図 17゛°フイIレタミラー 19°゛γルバノミラー 23・・・1/2傭長棟 24・・PBS 25・・V瀉41趙 第8図 (a) (b)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. フォトレジストを塗布した光ディスク基板に、記録信号
    により強度変調したレーザ光を照射する工程を有する、
    記録信号を記録した光ディスク原盤の作成装置において
    、上記記録信号により強度変調される記録レーザ光と、
    その記録レーザ光の基板上の焦点スポットの形成を制御
    するための制御レーザ光とを、少なくとも2つ以上の異
    なる波長でレーザ光を発振する1つのレーザ装置から供
    給することを特徴とする光ディスク原盤の作成装置。
JP62131553A 1987-05-29 1987-05-29 光ディスク原盤の作成装置 Expired - Lifetime JPH0752524B2 (ja)

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JP62131553A JPH0752524B2 (ja) 1987-05-29 1987-05-29 光ディスク原盤の作成装置

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JPS63298839A true JPS63298839A (ja) 1988-12-06
JPH0752524B2 JPH0752524B2 (ja) 1995-06-05

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6882605B1 (en) 1999-11-16 2005-04-19 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Focusing method, method of detecting focal point deviation, method of forming master of data storage medium, focusing control unit, unit for detecting focal point deviation, and unit for forming master of data storage medium

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5850638A (ja) * 1981-09-18 1983-03-25 Fujitsu Ltd 光デイスク用プリグル−プ原盤の製造方法
JPS60121556A (ja) * 1983-12-05 1985-06-29 Toshiba Corp 情報記憶媒体の製造方法

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