JPS63279614A - 論理集積回路 - Google Patents
論理集積回路Info
- Publication number
- JPS63279614A JPS63279614A JP62115285A JP11528587A JPS63279614A JP S63279614 A JPS63279614 A JP S63279614A JP 62115285 A JP62115285 A JP 62115285A JP 11528587 A JP11528587 A JP 11528587A JP S63279614 A JPS63279614 A JP S63279614A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output buffer
- flip
- data
- output
- timing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims abstract description 62
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 2
- 101001094537 Homo sapiens Retrotransposon Gag-like protein 3 Proteins 0.000 description 1
- 101001073409 Homo sapiens Retrotransposon-derived protein PEG10 Proteins 0.000 description 1
- 102100029131 Retrotransposon Gag-like protein 4 Human genes 0.000 description 1
- 102100035844 Retrotransposon-derived protein PEG10 Human genes 0.000 description 1
- 229910010386 TiI4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- NLLZTRMHNHVXJJ-UHFFFAOYSA-J titanium tetraiodide Chemical compound I[Ti](I)(I)I NLLZTRMHNHVXJJ-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、論理集積回路に関し、特にその出力バッフ
ァ同時変化数制御回路に関するものである。
ァ同時変化数制御回路に関するものである。
従来、LSIチップでは、その機能テスト時、複数の出
力バッファを同時に変化させた場合、電源電圧の変動に
よって誤動作を招くという問題点があった。このような
問題点を解決したものとして、例えば特公昭60−19
0020号公11&こ示された出力バッファ同時変化数
制御回路がある。第4図はその回路構成を示し、図にお
いて、11〜13は出力バッファB、〜B、Iへ送出さ
れるデータ(入力信号D) 、MAR+〜MAR3は該
出力バッファB t ”’ B 3の前段に設けられた
Dフリップフロップ、15a〜15dはインバータ、1
6はクロックドライバー、Ol”’ 03は出力信号で
ある。
力バッファを同時に変化させた場合、電源電圧の変動に
よって誤動作を招くという問題点があった。このような
問題点を解決したものとして、例えば特公昭60−19
0020号公11&こ示された出力バッファ同時変化数
制御回路がある。第4図はその回路構成を示し、図にお
いて、11〜13は出力バッファB、〜B、Iへ送出さ
れるデータ(入力信号D) 、MAR+〜MAR3は該
出力バッファB t ”’ B 3の前段に設けられた
Dフリップフロップ、15a〜15dはインバータ、1
6はクロックドライバー、Ol”’ 03は出力信号で
ある。
次に動作について説明する。入力信号10〜12が全て
確定した後、クロック信号δCKを“H”レベルから“
L″レベル変化させると、この変化はインバータ15a
、15b2段分の遅延でフリップフロップMAR2に、
インバータ15a〜15d4段分の遅延でフリップフロ
ップM A、 R3に伝わり、このため入力信号DIO
〜12はそれぞれ異なったタイミングで各フリップフロ
ップMA RI”” M A R3にセットされ、それ
ぞれ出力バッファB I” B 3に送出される。従っ
て各出力バッファ81〜B、は異なったタイミングで変
化するため、データ10〜12が同一タイミングで変化
しても、電源電圧の変動が小さくなり誤動作を引き起こ
すようなノイズがおさえられる。
確定した後、クロック信号δCKを“H”レベルから“
L″レベル変化させると、この変化はインバータ15a
、15b2段分の遅延でフリップフロップMAR2に、
インバータ15a〜15d4段分の遅延でフリップフロ
ップM A、 R3に伝わり、このため入力信号DIO
〜12はそれぞれ異なったタイミングで各フリップフロ
ップMA RI”” M A R3にセットされ、それ
ぞれ出力バッファB I” B 3に送出される。従っ
て各出力バッファ81〜B、は異なったタイミングで変
化するため、データ10〜12が同一タイミングで変化
しても、電源電圧の変動が小さくなり誤動作を引き起こ
すようなノイズがおさえられる。
ところが上記のような従来の出力バッファ同時変化数制
御回路においては、データ10〜12を制御クロックC
K1〜CK3に従ってそれぞれ異なるタイミングでフリ
ップフロップMARI −MARffに取り込んで出力
するため、LSIチップの機能テスト時においてスピー
ドマージンの評価を正確に行なうことが困難であった。
御回路においては、データ10〜12を制御クロックC
K1〜CK3に従ってそれぞれ異なるタイミングでフリ
ップフロップMARI −MARffに取り込んで出力
するため、LSIチップの機能テスト時においてスピー
ドマージンの評価を正確に行なうことが困難であった。
この発明はこのような問題点を解決するためになされた
もので、スピードマージン評価を正確に行なうことがで
き、しかも電源電圧の変動による誤動作の発生を防止で
きる出力バッファ同時変化数制御回路を有する論理集積
回路を得ることを目的とする。
もので、スピードマージン評価を正確に行なうことがで
き、しかも電源電圧の変動による誤動作の発生を防止で
きる出力バッファ同時変化数制御回路を有する論理集積
回路を得ることを目的とする。
この発明に係る論理集積回路の化カバソファ同時変化数
制御回路は各出力バッファを3ステートバツフアとし、
各出力バッファの前段に複数のデータを上記出力バッフ
ァのイネーブル信号のタイミングで同時に取り込みこれ
を記憶する複数のフリップフロップを設け、さらに3ス
テートバツフアのイネーブルタイミングを制御する制御
回路とを設け、所定の個数の出力バッファが順次、一定
の時間間隔毎に動作して、バッファ出力が変化するよう
に構成したものである。
制御回路は各出力バッファを3ステートバツフアとし、
各出力バッファの前段に複数のデータを上記出力バッフ
ァのイネーブル信号のタイミングで同時に取り込みこれ
を記憶する複数のフリップフロップを設け、さらに3ス
テートバツフアのイネーブルタイミングを制御する制御
回路とを設け、所定の個数の出力バッファが順次、一定
の時間間隔毎に動作して、バッファ出力が変化するよう
に構成したものである。
この発明においては、各出力バッファの前段のフリップ
フロップが出力バッファイネーブル信号のタイミングで
データを同時に取り込むようにしたから、出力バッファ
イネーブル信号の時刻を変化させることによりLSIチ
ップのスピードマージン評価を行なうことができ、しか
も、所定の個数の出力バッファが順次、一定の時間間隔
毎に動作して、バッファ出力が変化するようにしたから
、電源電圧の変動による誤動作の発生を防止できる。
フロップが出力バッファイネーブル信号のタイミングで
データを同時に取り込むようにしたから、出力バッファ
イネーブル信号の時刻を変化させることによりLSIチ
ップのスピードマージン評価を行なうことができ、しか
も、所定の個数の出力バッファが順次、一定の時間間隔
毎に動作して、バッファ出力が変化するようにしたから
、電源電圧の変動による誤動作の発生を防止できる。
以下、本発明の一実施例を図について説明する。
第1図は本発明の一実施例による論理集積回路の化カバ
ソファ同時変化数制御回路であり、図において、1.〜
13mは入力データ信号、Bll”’B3□は入力デー
タ信号I11〜■31を出力する3ステー1−出力バッ
ファ、Eは該各3ステート出力バッファへのイネーブル
信号、0□〜0,1.lは出力信号である。MARz〜
M A R* 、%は上記各出力バッファBの前段に設
けられ、出力バッファイネーブル信号Eのタイミングで
入力データを同時に取り込むフリップフロップ、Tは該
各フリップフロップMARのテストモード信号、1a〜
ICはディレィ用インバータ(遅延回路)、A1〜A、
は化カバソファ同時変化数制御回路である。
ソファ同時変化数制御回路であり、図において、1.〜
13mは入力データ信号、Bll”’B3□は入力デー
タ信号I11〜■31を出力する3ステー1−出力バッ
ファ、Eは該各3ステート出力バッファへのイネーブル
信号、0□〜0,1.lは出力信号である。MARz〜
M A R* 、%は上記各出力バッファBの前段に設
けられ、出力バッファイネーブル信号Eのタイミングで
入力データを同時に取り込むフリップフロップ、Tは該
各フリップフロップMARのテストモード信号、1a〜
ICはディレィ用インバータ(遅延回路)、A1〜A、
は化カバソファ同時変化数制御回路である。
また第2図は第1図に示した回路のタイミングチャート
図、第3図は第1図で示したフリップフロップMARの
一回路構成を示す図である。
図、第3図は第1図で示したフリップフロップMARの
一回路構成を示す図である。
次にこのように構成された化カバソファ同時変化数制御
回路の動作について、第1図、第2図。
回路の動作について、第1図、第2図。
第3図を用いて説明する。
第2図のタイミングチャートにおける各波形の左端の記
号は第1図中の記号と対応している。
号は第1図中の記号と対応している。
LSIチップの評価時、テストモード信号Tに“L”レ
ベルを与えるとDフリップフロ1ブスレーブフリップフ
ロップとして動作する。
ベルを与えるとDフリップフロ1ブスレーブフリップフ
ロップとして動作する。
そして出力バッファBへの入力データ信号■は、出力バ
ッファイネーブル信号Eの立ち上がりのタイミングで一
様にフリップフロップMARに取り込まれる。“H″レ
ベルなった出力バッファイネーブル信号Eはディレィ用
インバータ1a〜ICによる遅延分遅れて各出力バッフ
ァ同時変化数制御回路A I”” A sの出力バッフ
ァをイネーブルにする。このように次々と遅れて“H゛
レベルなる出力バッファイネーブル信号已によりフリッ
プフロップMARのデータはm個ずつ同時に出力バッフ
ァBより出力される。従って同時変化する出力バッファ
数は最大m個に制限される。
ッファイネーブル信号Eの立ち上がりのタイミングで一
様にフリップフロップMARに取り込まれる。“H″レ
ベルなった出力バッファイネーブル信号Eはディレィ用
インバータ1a〜ICによる遅延分遅れて各出力バッフ
ァ同時変化数制御回路A I”” A sの出力バッフ
ァをイネーブルにする。このように次々と遅れて“H゛
レベルなる出力バッファイネーブル信号已によりフリッ
プフロップMARのデータはm個ずつ同時に出力バッフ
ァBより出力される。従って同時変化する出力バッファ
数は最大m個に制限される。
ここで第2図のタイミングチャートから明らかなように
、各出力バッファ群B、〜B3カが変化するタイミング
はディレィ用インバータ1a〜ICの遅延で決まり、出
力バッファがm個以上動作する可能性のある時刻は存在
しない。また出力バッファイネーブル信号Eが“[I”
レベルである時間は全ての出力信号Oが確定するに充分
な程度長くなければならず、“L”レベルである期間は
、全ての出力信号OがZ状態になるのに充分な程度長く
なければならない。
、各出力バッファ群B、〜B3カが変化するタイミング
はディレィ用インバータ1a〜ICの遅延で決まり、出
力バッファがm個以上動作する可能性のある時刻は存在
しない。また出力バッファイネーブル信号Eが“[I”
レベルである時間は全ての出力信号Oが確定するに充分
な程度長くなければならず、“L”レベルである期間は
、全ての出力信号OがZ状態になるのに充分な程度長く
なければならない。
そして各出力バッファBの前段のフリップフロップMA
Rが出力バッファイネーブル信号Eのタイミングでデー
タを取り込むため、この信号を与えるタイミングを変化
させればスピードマージンの評価を正確に行なうことが
できる。また、出力バッファイネーブル信号E、テスト
モード信号TをH”レベルに固定すれば、°零回路は機
能せず、これが存在しない場合と論理的に等価な動作を
行なう。
Rが出力バッファイネーブル信号Eのタイミングでデー
タを取り込むため、この信号を与えるタイミングを変化
させればスピードマージンの評価を正確に行なうことが
できる。また、出力バッファイネーブル信号E、テスト
モード信号TをH”レベルに固定すれば、°零回路は機
能せず、これが存在しない場合と論理的に等価な動作を
行なう。
このように本実施例によれば、各出力バッファBの前段
に同一タイミングで動作するフリップフロップMARを
設け、さらに保持されたデータを出力バッファBから送
出するタイミングを後らせるディレィ用インバータ1a
〜1cを設けたので、LSIチップのスピードマージン
評価時、及び回路の動作タイミングが不明瞭な場合にお
いても有効な出力バッファ同時変化数制御回路を提供で
きる。
に同一タイミングで動作するフリップフロップMARを
設け、さらに保持されたデータを出力バッファBから送
出するタイミングを後らせるディレィ用インバータ1a
〜1cを設けたので、LSIチップのスピードマージン
評価時、及び回路の動作タイミングが不明瞭な場合にお
いても有効な出力バッファ同時変化数制御回路を提供で
きる。
以上のように、この発明にかかる論理集積回路によれば
、各3ステート出力バッファの前段に同一のタイミング
で動作する複数の記憶手段を設け、該記憶手段に保持さ
れたデータが所定個数づつ順次、一定時間をおいて上記
バッファから送出されるようにしたので、スピードマー
ジン評価を良好に行なうことができ、しかも電源電圧の
変動による誤動作の発生を防止できる。
、各3ステート出力バッファの前段に同一のタイミング
で動作する複数の記憶手段を設け、該記憶手段に保持さ
れたデータが所定個数づつ順次、一定時間をおいて上記
バッファから送出されるようにしたので、スピードマー
ジン評価を良好に行なうことができ、しかも電源電圧の
変動による誤動作の発生を防止できる。
第1図は本発明の一実施例による論理集積回路の出力バ
ッファ同時変化数制御回路を示す図、第2図はその動作
を示すタイミングチャート図、第3図は第1図に示すフ
リップフロップの回路構成図、第4図は従来の出力バッ
ファ同時変化数制御回路を示す図である。 ! +1””TiI4・・・入力データ信号、B11〜
83M・・・3ステート出力バッファ、O11〜o、l
I、 O(〜03・・・出力信号、MARII−MAR
3,・・・フリップフロップ、T・・・テストモード信
号、E・・・出力バッファイネーブル信号、1a〜1c
・・・ディレィ用インバータ、A、〜A、・・・出力バ
ッファ同時変化数制御回路、10〜12・・・出力バッ
ファへ送られるデータ、M A Rl−M A R3・
・・Dフリップフロップ、B、〜B、・・・出力バッフ
ァ、15a〜15d・・・インバータ、16・・・クロ
ックドライバー。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
ッファ同時変化数制御回路を示す図、第2図はその動作
を示すタイミングチャート図、第3図は第1図に示すフ
リップフロップの回路構成図、第4図は従来の出力バッ
ファ同時変化数制御回路を示す図である。 ! +1””TiI4・・・入力データ信号、B11〜
83M・・・3ステート出力バッファ、O11〜o、l
I、 O(〜03・・・出力信号、MARII−MAR
3,・・・フリップフロップ、T・・・テストモード信
号、E・・・出力バッファイネーブル信号、1a〜1c
・・・ディレィ用インバータ、A、〜A、・・・出力バ
ッファ同時変化数制御回路、10〜12・・・出力バッ
ファへ送られるデータ、M A Rl−M A R3・
・・Dフリップフロップ、B、〜B、・・・出力バッフ
ァ、15a〜15d・・・インバータ、16・・・クロ
ックドライバー。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (2)
- (1)同一のタイミングで変化する複数のデータを受け
これらを増幅して出力する複数の3ステート出力バッフ
ァを有する論理集積回路であって、該各出力バッファ前
段に設けられ、上記各データを同一のタイミングで取り
込み、これを記憶する複数の記憶手段と、 該データ取り込みのタイミングを制御するとともに該記
憶データが所定の個数ずつ異なるタイミングで上記出力
バッファから送出されるよう上記出力バッファを制御す
る制御手段とを備えたことを特徴とする論理集積回路。 - (2)上記記憶手段は機能テスト時、Dフリップフロッ
プとして動作する状態とマスタスレーブフリップフロッ
プとして動作する状態との間で切り換え可能なものであ
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の論理集
積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62115285A JPS63279614A (ja) | 1987-05-12 | 1987-05-12 | 論理集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62115285A JPS63279614A (ja) | 1987-05-12 | 1987-05-12 | 論理集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63279614A true JPS63279614A (ja) | 1988-11-16 |
Family
ID=14658876
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62115285A Pending JPS63279614A (ja) | 1987-05-12 | 1987-05-12 | 論理集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63279614A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02174417A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-05 | Nec Corp | D形フリップフロップ回路 |
JPH05240917A (ja) * | 1991-11-18 | 1993-09-21 | Nec Corp | 集積回路の出力制御回路 |
US7738297B2 (en) | 2007-02-23 | 2010-06-15 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for controlling two or more non-volatile memory devices |
-
1987
- 1987-05-12 JP JP62115285A patent/JPS63279614A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02174417A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-05 | Nec Corp | D形フリップフロップ回路 |
JPH05240917A (ja) * | 1991-11-18 | 1993-09-21 | Nec Corp | 集積回路の出力制御回路 |
US7738297B2 (en) | 2007-02-23 | 2010-06-15 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for controlling two or more non-volatile memory devices |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4627085A (en) | Flip-flop control circuit | |
US5491699A (en) | Register stage having at least two memory stages for coordinating disparate clock signals for use in boundary scan | |
JP2632731B2 (ja) | 集積回路装置 | |
JPH09120672A (ja) | 同期式半導体メモリ | |
KR101076809B1 (ko) | 불필요한 전력소모를 줄일 수 있는 스캔 플립플롭 회로 | |
JPH0391188A (ja) | Fifoメモリ | |
JP2550837B2 (ja) | スキャンパスのテスト制御回路 | |
EP0470821A2 (en) | Scannable register with delay test capability | |
US8941427B2 (en) | Configurable flip-flop | |
JPS63279614A (ja) | 論理集積回路 | |
EP0147103B1 (en) | Mos implementation of shift register latch | |
US9612280B2 (en) | Partial scan cell | |
JP3595310B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
JPH11108995A (ja) | 関数クロック発生回路およびそれを用いたシフトレジスタ回路 | |
JPH0334617A (ja) | フリップフロップ回路 | |
JP2690516B2 (ja) | リングカウンタ | |
JPH10134591A (ja) | ダィナミックレジスタを含む半導体集積回路 | |
JPS63279615A (ja) | 論理集積回路 | |
JP2002139557A (ja) | 半導体装置 | |
JPS59180467A (ja) | 論理回路の試験方法 | |
JPH05215820A (ja) | スキャンパス回路 | |
JPH10307167A (ja) | 論理集積回路のテスト装置 | |
JPH06148290A (ja) | バウンダリスキャンレジスタ | |
JP2661741B2 (ja) | 半導体記憶回路 | |
JPH06148291A (ja) | バウンダリスキャンレジスタ |