JPS63276045A - 感光性重合体組成物 - Google Patents

感光性重合体組成物

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JPS63276045A
JPS63276045A JP11059287A JP11059287A JPS63276045A JP S63276045 A JPS63276045 A JP S63276045A JP 11059287 A JP11059287 A JP 11059287A JP 11059287 A JP11059287 A JP 11059287A JP S63276045 A JPS63276045 A JP S63276045A
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JP11059287A
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Jun Tanaka
順 田中
Fumio Kataoka
文雄 片岡
Fusaji Shoji
房次 庄子
Mitsumasa Kojima
児嶋 充雅
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Hitachi Ltd
Resonac Corp
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Hitachi Chemical Co Ltd
Hitachi Ltd
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    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/038Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable
    • G03F7/0387Polyamides or polyimides
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0313Organic insulating material
    • H05K1/032Organic insulating material consisting of one material
    • H05K1/0346Organic insulating material consisting of one material containing N
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • H05K3/4644Manufacturing multilayer circuits by building the multilayer layer by layer, i.e. build-up multilayer circuits
    • H05K3/4673Application methods or materials of intermediate insulating layers not specially adapted to any one of the previous methods of adding a circuit layer
    • H05K3/4676Single layer compositions

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  • Polymers With Sulfur, Phosphorus Or Metals In The Main Chain (AREA)
  • Macromolecular Compounds Obtained By Forming Nitrogen-Containing Linkages In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は感光性重合体組成物に係り、特に半導体素子、
多層配線板、マイクロエレクトロニクス素子等の絶縁膜
、保訛膜、ホトレジス)K好適なポリイミド系耐熱高分
子となる感光性重合体組成物に関する。
〔従来の技術〕
従来ポリイミド系耐熱高分子となる感光性重合体組成物
としては、(α)特公昭59−52822号に開示され
た全芳香族系ポリアミド酸、化学線により三量化又は重
合可能な炭素〜炭素二重結合及びアミン基を含む化合物
、必要に応じて加える増感剤とからなるもの、(b)特
開昭57−168942号に開示された全芳香族系ポリ
アミド酸、炭素〜炭素二重結合及びアミン基を含む化合
物、ビスアジド光架橋剤とからなるものが知られている
しかし上記(al 、 (Alの感光性重合体組成物は
、加熱処理をしてイミド化した最終硬化膜剥離するのに
、水酸化ナトリウム水溶液又はビドラジン〜エチレンジ
アミン混合液といったアルカリ性薬剤を使わざるを得す
、この他に最終硬化膜を溶解する溶媒がなかった。
所で、半導体素子等の製造工程において、最終硬化膜形
成後不良となったものについては、最終硬化膜を剥離し
、再生利用して歩止りを向上させる必要がある。
半導体素子等では、ナトリウムイオンが問題となる。こ
のため最終硬化膜の剥離には、ヒドラジン−エチレンジ
アミン混合液を使用せざるを得ない。しかし、この混合
液を使用すると、配線材料であるアルミニウムが変質し
、かつ上記混合液が有毒なため作業性や安全性の面から
問題となり、最終硬化膜の剥離が困難であった。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来技術(α1 、 (A)においては、上記した
よう一つ 加熱処理してイミド化した最終硬化膜が有機溶媒に可溶
な感光性重合体組成物を提供するにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、ポリアミド酸、炭素〜炭素二重結合を有する
アミン化合物、光架橋剤又は増感剤とからなる感光性重
合体組成物において、上記ポリアミド酸が下記一般式C
Dで示される繰り返し単位を構成単位とする感光性重合
体組成物であり、上記目的はこの組成物により達成され
る。
(但し上記一般式〔l〕中だは芳香族基、!は二価の有
機基、炉、 R4,z、 rは水素又は低級アルキル基
を表す。) なお、上記一般式〔I〕で表される繰り返し単位H3 Q− H3 I H3 しい。
また上記一般式〔I〕で表される繰り返し単位にル基、
エチル基、イングロビル基から選択された少なくとも1
種を表す)、−0+、−5−。
択された少なくとも1種が好ましい。
R3,t、7?5Jは、水素、メチル基、エチル基。
イソプロピル基のうちから選択された少な(とも1種が
好ましい。
また上記炭素〜炭素二重結合を有するアミン化合物は、
下記一般式[1)で表される化合物が好ましく、 一般式(Il〕 R90 R7−c=c−c−iNo−r<’     ・・・・
・・・・・〔111(但し、上記一般式(l[]中、R
7,!、tは水素。
低級アルキル基、フェニル基、アルケニル基から選択さ
れた少な(とも1種、Rはアルキレン基、R11は低級
アルキル基を表す。)更に上記一般式(Il〕中、R7
,!、tが水素、メチル基、エチル基。
メソプロピル基、フェニル基、アルケニル基から選択さ
れた少なくとも1種、!0がエチレン基、プロピレン基
、 7?”がメチル基、エチル基、イソプロピル基から
選択された少なくとも1種のものが好ましい。
なお、一般式([1で示されるアミン化合物としては、
2−CM、N−ジメチルアミノ)エチルアクリレ−)、
2−(N、N−ジメチルアミノ)エチルメタクリレート
、3−(N、N−ジメチルアミノ)プロピルアクリレー
ト、3−(N、N−ジメチルアミノ)プロピルメタクリ
レ−)、4−(N。
N−ジメチルアミノ)ブチルアクリレート、4−(N、
N−ジメチルアミノ)ブチルメタクリレート、5−CN
、N−ジメチルアミノ)ペンチルアクリレート、5−(
#、7V−ジメチルアミノ)ペンチルメタクリレート、
5−(N、N−ジメチルアミノ)へキシルアクリレート
、5−(N、N−ジメチルアミノ)へキシルメタクリレ
ート、2−(N、N−ジメチルアミノ)エチルシンナメ
ート。
3−(N、N−ジメチルアミノ)プロピルシンナメート
、2−(N、N−ジメチルアミノ)エチル−2,4−ヘ
キサジェノニー)、3−(A’、A’ −ジメチルアミ
ノ)プロピル−2′、4−へキサジェノニー)、4−C
N、N−ジメチルアミノ)ブチル−2,4−へキサジェ
ノエート、 2−CM、N−ジエチルアミノ)エチル−
2,4−へキサジェノエート ル−2,4−へキサジェノエート等が最も好適な例とし
て挙げられる。これら化合物は、単独で用いてもよいし
、二糧以上混合して用いてもよい。
上記一般式[11で表されるアミン化合物の配合割合は
上記一般式〔I〕で表される繰り返し単位を主成分とす
るポリアミド酸100重量部に対して1重量部以上、4
00重量部以下で用いるのが好ましく、更に好ましくは
10重量部以上400重量部以下で用いる。上記範囲を
逸脱すると現像性に悪影響をもたらす。
前記光架橋剤は、下記一般式(I[[]で表されるビメ
アジド化合物が好ましい。
(但し上記一般式[II[)中、Xは水酸基、カルボキ
シル基、ヒト田キシアルキル基、アルコキシ基。
アルキルエステル基、アミノ基、トリアルキルシリル基
から選択された少な(とも1種を表し、mは0又はlで
ある。)更に好ましくは上記一般式(I[11中Xが水
酸基、カルボキシル基、−CH20H。
−C2H40H、−03H60H、メトキシ基、エトキ
シ基。
プロポキシ基、−COOCH3,−COOC2H5,−
COOC3H7゜−NH2,−N(0M3)2.−N(
CA)2.− (C3H7)2゜−5t(CH3)3.
−5i(C2H5)3.−5i(C3117)2から選
択された少なくとも1種、mはO又は1のものが挙げら
れ、最も好ましくは、 等の化合物が挙げられる。なお、これらの化合物は、単
独で用いてもよ(,2種以上混合して用いてもよい。
一般式〔■〕で示されるビスアジド化合物の配合割合は
、一般式〔I〕で表される繰り返し単位を主成分とする
ポリマ100重1部に対して0.1重量部以上50重量
部以下が良く、さらに好ましくは0.5重量部以上50
i量部以下で用いる。この範囲を逸脱すると、現像性、
フェスの保存安定性等に豊影4yを及ぼす。
本発明で用いられる増感剤としては、P−ビス(ジエチ
ルアミノ)ベンゾフェノン、ベンゾインエーテル、ペン
ゾインイングロビルエーテル、アントロン、1,9−ベ
ンゾアントロン、アクリジン、シアノアクリジン、ニト
ロピレン、1.8−ジニトロピレン、ミヒラケトン、5
−ニトロアセナフテン、2−ニトロフルオレン、ピレン
−1゜6−キノン、9−フルオレノン、1,2−ベンゾ
アントラキノン、アントアントロン、2−クロロ−1,
2−ベンズアントラキノン、2−ブロモベンズアントラ
キノン、2−クロロ−1,8−フタロイルナフタレンな
どが好適な例として挙げられる。これらの化合物は、単
独で用いても良いし、2種以上の混合し℃用〜・又も良
い。又、一般式〔■〕で表されるビスアジド光架橋剤と
の混合系で用いても良い。
増感剤の配合量は、一般式〔I〕で表されるポリアミド
酸100重量部に対し′CO,1重量部以上50重量部
以下で用いるのが好ましい。この範囲を逸脱すると、現
像性や成膜性に悪影響を及ぼす。
本発明の感光性重合体組成物は、上記構成分を適当な有
機溶剤に溶解した溶液状態で用いるが、この場合用いる
溶剤としては溶解性の観点から非プロトン性極性溶媒が
望ましく、N−メチル−2−ピロリドン、N−ア七チル
ー2−ピロリドン。
N−ベンジル−2−ピロリドン、N、N−ジメチルホル
ムアミド、N、N−ジメチルアセトアミド。
ジメチルスルホキシド、ヘキサメチルホスホルトリアミ
ド、N−アセチル−6−カプロラクタム。
ジメチルイミダゾリジノン、1,2−ジメトキシエタン
、1,2−ジェトキシエタン、1−アセトキシ−2−メ
トキシエタン、ジエチレンクリコールジメチルエーテル
、トリエチレングリコールジメチルエーテル等が好適な
例として挙げられる。
これらは単独で用いてもよいし、2種以上混合して用い
ることも可能である。
本発明の感光性重合体組成物の塗膜又は加熱硬化後のポ
リイミド被膜と支持基板の接着性を向上させるために、
適宜支持基板を接着補助剤で処理してもさしつかえない
本発明の感光性重合体組成物は、通常の微細加工技術で
パターン加工が可能である。上記支持体への本重合体組
成物の塗布には、スピンナを用いた回転塗布、浸漬、噴
霧印刷等の手段が可能であり、適宜選択することができ
る。塗布膜厚は塗布手段1本重合体組成物のフェスの固
形分濃度粘度等によって調節可能である。
乾燥工程をへて支持基板上で塗膜となった本発明の感光
性重合体組成物に紫外線を照射し次に未露光部を現像液
で溶解除去することによりしIJ−フ・パターンが得ら
れる。
現像液としては、N−メチル−2−ピロリドン。
N−アセチル−2−ピロリドン、N、N−ジメチルホル
ムアミド、N、N−ジメチルアセトアミド。
ジメチルスルホキシド、ヘキサメチルホスホルトリアミ
ド、ジメチルイミダゾリジノン、N−ベンジル−2−ピ
ロリドン、N−アセチル−ε−カプロラクタム等の非プ
ロトン性極性溶媒を、単独あるいはメタノール、エタノ
ール、イソプロピルアルコール、ベンゼン、トルエン、
キシレン、メチルセロソルブ、水等のポリアミド酸の非
溶媒との混合液として用いることができる。
現像によって形成したレリーフ・パターンは次いでリン
ス液によって洗浄して現像溶媒を除去する。
リンス液には現像液との混和性の良いポリアミド酸の非
溶媒を用いるが、メタノール、エタノール、イソプロピ
ルアルコール、ベンゼン、トルエン、キシレン、メチル
セロソルブ、水等が好適な例として挙げられる。
上記の処理によって得られたレリーフ・バ、ターンのポ
リマはポリイミドの前駆体であり、・150℃から45
0℃までの範囲から選ばれた加熱温度で処理することK
よりイミド環や他の環状基を持つポリイミド系耐熱性ポ
リマのレリーフ・パターンと・  なる。
上記の処理によって得られたポリイミド系耐熱性ポリマ
のレリーフ・パターンを、非プロトン性極性溶媒中で5
0℃以上200℃以下の範囲から選ばれた加熱温度で処
理することにより、このレリーフ・パターンを溶解、剥
離することが可能である。
極性溶媒としては、N、N−ジメチルアセトアミド、N
、N−ジメチルホルムアミド、N−メチル−2−ピロリ
ドン、N−アセチル−2−ピロリドン、N−ベンジル−
2−ピロリドン、ジメチルスルホキシド、ヘキサメチル
ホスホルトリアミド。
ジメチルイミダゾリジノン、N−ベンジル−2=ピロリ
ドン、N−アセチル−ε−カプロラクタムなどが例とし
て挙げられる。これらは単独で用いても良いし、2種以
上混合して用いることも可能である。
なお前記一般式〔I〕で表されるポリアミド酸は、通常
ジアミン化合物に酸二無水物をほぼ当モル量反応させる
ことKよって得られるが、この場合にmmいる反応溶媒
としては反応基質及び生成するポリアミド酸の溶解性等
の点から非プロトン性極性溶媒が望ましく、N−メチル
−2−ピロリドン。
N−アセチル−2−ピロリドン、N−ベン゛ジ゛ルー2
−ピロリドン、N、N−ジメチルホルムアミド。
N、N−ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド
、N−アセチル−e−カプロラクタム、1゜3−ジメチ
ル−2−イミダゾリジノン、 1 、2−ジメトキシエ
タン、1,2−ジェトキシエタン。
l−アセトキシ−2−メトキシエタン、ジエチレンクリ
コールジメチルエーテル、トリエチレングリコールジメ
チルエーテル等が典型例として挙げられる。これらは単
独で用いても良いし、2種以上の混合して用いても良い
〔実施例〕
以下に本発明を、実施例によって説明 実施例1 窒素気流下に2,2−ビス(4−(4’−アミノフェノ
キシ)フェニル〕プロパン17.5p (0,04モル
)をN、N−ジメチルアセトアミド120!に溶解し、
アミン溶液を調合した。次にこの溶液に3,3’。
4.4−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物12.5
ダ(0,04モル)を加え、50〜60℃で撹拌下に6
時間反応させて粘度60ポアズ(25℃)のポリアミド
酸 の溶液CA)を得た。
上記忙よって得られた溶液(A) 20yに3− (N
N−ジメチルアミノ)プロピルメタクリレート3.42
F (0,02モル)、2,6−ジ(4′−アジドベン
ザル)−4−カルボキシシクロヘキサノン0.285(
0,7ミリモル)を溶解し、次いで5Am孔のフィルタ
を用いて加圧濾過した。
得られた溶液をスピンナでシリコンウェハ上に回転塗布
し、次いで70℃で30分間乾燥して6μm厚の乾燥塗
膜を形成した。この塗膜を50μm幅の縞模様のフォト
マスクで密着被覆し、500Fの高圧水銀灯を用いて1
分間紫外線照射した。受光面での紫外線強度は、365
nmの波長で8m F/CTdであった。
露光後、N−メチル−2−ピロリドン4容、エタノール
1容から成る溶液で現像し、次いでイソプロピルアルコ
ールでリンスしてネガ型のレリーフパターンを得た。次
に、これを200℃で30分間加熱して、膜厚4μmの
硬化膜パターンを得た。
得られた硬化膜パターンなN、N−ジメチルアセトアミ
ドに浸漬して100℃で60分間加熱し、硬化膜パター
ンを完全に溶解、剥離することができた。
実施例2 実施例1で得られたポリアミド酸溶液(j() 209
に3−(N、N−ジメチルアミノ)プロピルメタクリレ
ート3.42F (0,02モル)、P−ビス(ジエチ
ルアミノ)ベンゾフェノンo、1sy (0,5ミリモ
ル)を溶解し、次いで5μm孔のフィルタを用いて加圧
濾過した。
得られた溶液をスピンナでシリコンウェハ上に回転塗布
し、次いで70℃で30分間乾燥して7μm厚の乾燥塗
膜を形成した。この塗膜を50μm幅の縞模様のフォト
マスクで密着被覆し、500F高圧水銀灯を用いて1分
間紫外線照射した。受光面での紫外線強度は、365n
mの波長で8mW/adであった。
露光後、N−メチル−2−ピロリドン4容、エタノール
1容から成る混液で現像し、次いでイソプロピルアルコ
ールでリンスしてネガ型のレリーフパターンを得た。次
にこれを200℃で30分間加熱し、膜厚5μmの硬化
膜パターンを得た。
得られた硬化膜パターンをN、N−ジメチルアセトアミ
ドに浸漬して100℃で60分間加熱し、硬化膜パター
ンを完全に溶解、剥離することができた。
実施例3 窒素気流下に2,2−ビス(4−(4’−アミノフェノ
キシ)−3,5−ジメチルフェニル〕プロパン18.7
1(0,04モル)をN、N−ジメチルアセトアミド1
251に溶解し、アミン溶液を調合した。次にこの溶液
に3 、3’ 、 4 、4’−ビフェニルテトラカル
ボン酸二無水物1z、sy (0,04モル)を加え、
50〜60℃で撹拌下に7時間反応させて粘度6oポア
ズ(25℃)のポリアミド酸 の溶液(B)を得た。
上記によって得られた溶液CB) 20yに3−(#。
N−ジメチルアミノ)プロピルメタクリレート3.42
ダ(0,02モル)、2,6−ジ(4′−アジドベンザ
ル)−4−ヒドロキシシクロへキサノンo、2!(0,
54ミリモル)を溶解し、次いで5μm孔のフィルタを
用いて濾過した。
得られた溶液をスピンナでシリコンウェハ上に回転塗布
し、次いで70℃で30分間乾燥して7μmの乾燥塗膜
を形成した。次いで、実施例1と同様の条件で露光、現
像、リンス、加熱処理し、膜厚5μmの硬化膜パターン
を得た。
上記によって得られた硬化膜パターンを、N。
N−ジメチルアセトアミドに浸漬して100℃で60分
間加熱して硬化膜パターンを完全に溶解、剥離すること
ができた。
実施例4 実施例3で得たポリアミド酸溶液(B) 20!Iに3
−(N、N−ジメチルアミノ)プロピル−2,4−へキ
サジェノニー) 3.94g(0,02モル)、2.6
−ジ(4−アジドベンザル)−4−カルボキシシクロへ
キサノン0.28り(0,7ミリモル)を溶解し、次い
で5μm孔のフィルタを用いて加圧濾過した。
得られた溶液をスピンナでシリコンウェハ上に回転塗布
し、次いで70℃で30分間乾燥して6μmの乾燥塗膜
を形成した。次いで実施例1と同様の条件で露光、現像
、リンス、加熱処理し、膜厚4μmの硬化膜パターンを
得た。
得られた硬化膜パターンを、N、N−ジメチルアセトア
ミドに浸漬して100℃で60分間加熱処理して完全に
溶解、剥離することができた。
実施例5 窒素気流下に1.3−ビスC4−(4−アミノフェノキ
シ)フェニル]−5,10−ジメチルアダマンタン21
.2!!(0,04モル)をN、N−ジメチルアセトア
ミド134.8!Iに溶解し、アミン溶液を調合した。
次に、この溶液に3 、3’ 、 4 、4’−ビフェ
ニルテトラカルボン酸二無水物12.5!1(0,04
モル)を加え、50〜60℃で撹拌下に7時間反応させ
て、粘度66ボアズ(25℃)のポリアミド酸   ゝ
の溶液(C)を得た。
上記によって得られた溶液((’) 20yに3−(N
N−ジメチルアミノ)プロピルメタクリレート3.42
f (0,02モル)、2.6−ジ(4−アジドベンザ
ル)−4−カルボキシシクロへキサノン0.28.9(
0,7ミリモル)を溶解し、次いで5μm孔のフィルタ
を用いて加圧濾過した。
得られた溶液をスピンナでシリコンウェハ上に回転塗布
し、次いで70℃で30分間乾燥して6μm厚の乾燥塗
膜を形成した。次いで、実施例1と同様の条件で露光、
現像、リンス加熱処理し、膜厚4μ屏の硬化膜パターン
を得た。
上記によって得られた硬化膜パターンを、N。
N−ジメチルアセトアミドに浸漬して100℃で60分
間加熱し、硬化膜パターンを完全に溶解し、剥離するこ
とができた。
実施例6 実施例5で得たポリアミド酸溶液(C) 20gK 3
−(N、N−ジメチルアミノ)プロピル−2,4−へキ
サジェノエート3.94y (0,02モル)、2,6
−ジ(4−アジドベンザル)−4−カルボキシシクロへ
キサノン0.28g(0,7ミリモル)を溶解し、次い
で5μm孔のフィルタを用いて加圧濾過した。
得られた溶液をスピンナでシリコンウェハ上に回転塗布
し、次いで70℃で30分間乾燥し、6μmの乾燥塗膜
を形成した。次いで、実施例1と同様の条件で露光、現
像、リンス、加熱処理し、膜厚4μmの硬化膜パターン
を得た。
上記によって得られた硬化膜パターンを、N。
N−ジメチルアセトアミドに浸漬して100℃で60分
間加熱し、硬化膜パターンを溶解、剥離することができ
た。
実施例7 実施例5で得たポリアミド酸溶液(C) 20!1に3
−(N、N−ジメチルアミノ)プロピルメタクリレ−)
 3.421(0,02モル)、2,6ジ(4−アジド
ベンザル)−4−カルボキシシクロへキサノン0.24
9(0,6ミリモル)、ミヒラケトンo、ty (0,
38ミリモル)を溶解し、次いで5μm孔のフィルタで
加圧濾過した。
得られた溶液をスピンナでシリコンウェハ上に回転塗布
し、次いで70℃で30分間乾燥して6μm厚の乾燥塗
膜を形成した。次いで、実施例1と同様の条件で露光、
現像、リンス、加熱処理し、膜厚4μmの硬化膜パター
ンを得た。
上記によって得られた硬化膜パターンを、N。
N−ジメチルアセトアミドに浸漬し、100℃で6゜分
間加熱して硬化膜パターンを完全に溶解、剥離すること
ができた。
実施例8 実施例5で得たポリアミド酸溶液(C)20!Iに3−
(A’ 、 N−ジメチルアミノ)プロピルメタクリレ
ート3.42p (0,02モル)、2.6−ジ(4−
アジドベンザル)−4−カルボキシシクロへキサノン0
.2 !!(0,5ミリモル)、2,6−ジ(4−アジ
ドシンナミリデン)−4−カルボキシシクロへキサノン
0.09.!7(0,2ミリモル)を溶解し、次いで5
μm孔のフィルタで加圧濾過した。
得られた溶液をスピンナでシリコンウェハ上に回転塗布
し、次いで70℃で30分間乾燥し、7μmの乾燥塗膜
を形成した。次いで、実施例1と同様の条件で露光、現
像、リンス、加熱処理し、膜厚4μ罵の硬化膜パターン
を得た。
上記によって得られた硬化膜パターンを、N。
N−ジメチルアセトアミドに浸漬し、100℃、60分
間加熱して硬化膜パターンを完全に溶解、剥離すること
ができた。
実施例8〜15 実施例1〜7で得られた硬化膜パターンなN −メチル
−2−ピロリドンに浸漬し、100℃で60分間加熱し
て硬化膜パターンを溶解、剥離することができた。
比較例1 最終硬化膜が有機溶媒不溶である感光性重合体組成物の
例として下記の組成物を合成し、その最終硬化膜の有機
溶媒に対する溶解性を本発明の感光性重合体組成物(実
施例1)と比較した。
窒素気流下に4,4−ジアミノジフェニルエーテル20
.9 (0,1モル)をN、N−ジメチルアセトアミド
197.6ダに溶解してアミン溶液を調合した。次に、
この溶液に3 、、3 、4 、4−ビフェニルテトラ
カルボン酸二無水物29.4ダ(0,1モル)を加え、
撹拌下に50〜60℃で6時間反応させて粘度65ポア
ズ(25℃)のポリアミド酸 CD)の溶液を得た。
得られた溶液CD> 209 K 3− (N 、 N
−ジメチルアミノ)プロピルメタクリレート3.42!
1(0,02モル)、2,6−ジ(4−アジドベンザル
)−4−カルボキシシクロへキサノン0.285 (0
,7ミリモル)を溶解し、次いで5μm孔のフィルタを
用いて加圧濾過した。
得られた溶液をスピンナでシリコンウェハ上に回転塗布
し、次いで70℃で30分間乾燥し、7μmの乾燥塗膜
を形成した。次いで、実施例1と同様の条件で露光、現
像、リンス、加熱処理し、膜厚5μmの硬化膜パターン
を得た。
得られた硬化膜パターンをN、N−ジメチルアセトアミ
ドに浸漬し’(100℃で60分間加熱し・ても硬化膜
パターンは溶解せず、剥離できなかった。
さらに3〜5時間加熱しても、溶解、剥離はみられなか
った。
比較例2 窒素気流下に4,4′−ジアミノベンゼン1o、5y(
0,1モル)をN、N−ジメチルアセトアミド159.
7!lK溶解してアミン溶液を調合した。次に、この溶
液に3.3,4.4−ビフェニルテトラカルボン酸二無
水物29.4ダ(0,1モル)を加え、撹拌下に50〜
60℃で5時間反応させて粘度60ポアズ(25℃)の
ポリアミド酸 CE)の溶液を得た。
得られた溶液(E)20!に3−(N、N−ジメチルア
ミノ)プロピルメタクリレート3.42y (0,02
モル)、2,6−ジ(4−アジドベンザル)−4−カル
ボキシシクロへキサノン0.28.y (0,7ミリモ
ル)を溶解し、次いで5μm孔のフィルタを用いて加圧
涙過した。
得られた溶液をスピンナでシリコンウェハ上に回転塗布
し、次いで70℃で30分間乾燥し、6μmの乾燥塗膜
を形成した。次いで実施例1と同様の条件で、露光、現
像、リンス、加熱処理し、膜厚4μmの硬化膜パターン
を得た。
得られた硬化膜パターンを、N、N−ジメチルアセトア
ミドに浸漬して100℃で60分間加熱しても硬化膜パ
ターンは溶解せず、剥離できなかった。
さらに、3〜5時間加熱しても、溶解、剥離はみられな
かった。
〔発明の効果〕
以上詳述したように、本発明によれば耐熱性高分子を与
える感光性重合体組成物が最終硬化膜においても有機溶
媒可溶性を示し、膜の剥離が容易となり、半導体素子の
保護膜等に適していることがわかった。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、ポリアミド酸、炭素〜炭素二重結合を有するアミン
    化合物、光架橋剤又は増感剤とからなる感光性重合体組
    成物において、上記ポリアミド酸が、下記一般式〔 I
    〕で示される繰り返し単位を構成単位とする事を特徴と
    する感光性重合体組成物。 ▲数式、化学式、表等があります▼・・・〔 I 〕 (但し上記一般式〔 I 〕中R^1は芳香族基、R^2
    は二価の有機基、R^3、R^4、R^5、R^6は水
    素又は低級アルキル基を表す。) 2、上記一般式〔 I 〕で表される繰り返し単位におい
    て、R^1が▲数式、化学式、表等があります▼、▲数
    式、化学式、表等があります▼、▲数式、化学式、表等
    があります▼、▲数式、化学式、表等があります▼、▲
    数式、化学式、表等があります▼、▲数式、化学式、表
    等があります▼、▲数式、化学式、表等があります▼、
    ▲数式、化学式、表等があります▼ ▲数式、化学式、表等があります▼、▲数式、化学式、
    表等があります▼、 ▲数式、化学式、表等があります▼のうちから選択され
    た少なくとも 1種であり、R^2が−(CH_2)−_2_〜_1_
    0、▲数式、化学式、表等があります▼▲数式、化学式
    、表等があります▼、▲数式、化学式、表等があります
    ▼(但し、R^1^2、R^1^3、R^1^4、R^
    1^5は水素、メチル基、エチル基、イソプロピル基か
    ら選択された基を表す)、−O−、−S−、−C−、▲
    数式、化学式、表等があります▼、▲数式、化学式、表
    等があります▼、 −SO_2−のうちから選択された少なくとも1種であ
    り、R^3、R^4、R^5、R^6が水素、メチル基
    、エチル基、イソプロピル基のうちから選択された少な
    くとも1種であることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項記載の感光性重合体組成物。 3、上記炭素〜炭素二重結合を有するアミン化合物が、
    下記一般式〔II〕で表されるアミン化合物であることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の感光性重合体組
    成物。 一般式〔II〕 ▲数式、化学式、表等があります▼・・・〔II〕 (但し上記一般式〔II〕中、R^7、R^8、R^9は
    水素、低級アルキル基、フェニル基、アルケニル基のう
    ちから選択された基、R^1^0はアルキレン基、R^
    1^1は低級アルキル基を表す。) 4、前記光架橋剤が、下記一般式〔III〕で表されるビ
    スアジド化合物であることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載の感光性重合体組成物。 ▲数式、化学式、表等があります▼・・・〔III〕 (但し上記一般式〔III〕中、Xは水酸基、カルボキシ
    ル基、ヒドロキシアルキル基、アルコキシ基、アルキル
    エステル基、アミノ基、トリアルキルシリル基から選択
    された基を表し、mは0又は1である。)
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0260934A (ja) * 1988-06-28 1990-03-01 Amoco Corp 中間層絶縁体および基板被膜用の低誘電率、低水分吸収ポリイミドおよびコポリイミド
JPH03204649A (ja) * 1989-12-28 1991-09-06 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 感光性ポリイミド組成物

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0260934A (ja) * 1988-06-28 1990-03-01 Amoco Corp 中間層絶縁体および基板被膜用の低誘電率、低水分吸収ポリイミドおよびコポリイミド
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