JPS63269340A - 光学式ピックアップ - Google Patents

光学式ピックアップ

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Publication number
JPS63269340A
JPS63269340A JP62105835A JP10583587A JPS63269340A JP S63269340 A JPS63269340 A JP S63269340A JP 62105835 A JP62105835 A JP 62105835A JP 10583587 A JP10583587 A JP 10583587A JP S63269340 A JPS63269340 A JP S63269340A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
disk
half mirror
reflected
reflectance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62105835A
Other languages
English (en)
Inventor
Minoru Yoshioka
実 吉岡
Masaru Sekine
関根 勝
Seiichi Makimoto
槙本 誠一
Osami Utsuboya
修己 靭矢
Takashi Shoji
小路 尚
Jiro Morinaga
森永 二郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pioneer Corp
Original Assignee
Pioneer Electronic Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Pioneer Electronic Corp filed Critical Pioneer Electronic Corp
Priority to JP62105835A priority Critical patent/JPS63269340A/ja
Publication of JPS63269340A publication Critical patent/JPS63269340A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はコンパクトディスクプレーヤ、光学式ビデオデ
ィスクプレーヤ、光デイスク装置等に用いて好適な光学
式ピックアップ装置に関する。
〔発明の概要〕
本発明においてはディスクへの入射光とディスクからの
反射光を分離するハーフミラ−の反射率と透過率が、光
源への戻り光が少なくなるように設定されている。
〔背景技術〕
ディスクに情報を記録再生する場合、光源より発せられ
た光をディスクに入射し、ディスクにより反射された光
を光検出器にて検出する。このためディスクへの入射光
とディスクからの反射光をハーフミラ−等により分離す
る必要がある。
(発明が解決しようとする問題点〕 従来ハーフミラ−の反射率又は透過率は、光源からディ
スクに入射される入射光のレベルが太きくなるように設
定されている。その結果ディスクからの反射光の一部が
ハーフミラ−を介して光源に戻る所謂戻り光のレベルが
大きくなり、ノイズが発生し易い欠点がある。
そこで本発明は戻り光をできるだけ少なくし、ノイズを
減少するようにするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は光を発生する光源と、光源より発せられた光を
ディスクに収束、照射する対物レンズと、ディスクによ
り反射された光を検出する光検出器と、光源からディス
クに入射される入射光と、ディスクにより反射され、光
検出器により検出される反射光とを分離するハーフミラ
−とを備える光学式ピックアップ装置において、ハーフ
ミラ−の反射率と透過率は、ハーフミラ−が入射光を反
射し、反射光を透過するように配置されているとき、反
射率が透過率より小さく設定され、入射光を透過し1反
射光を反射するように配置されているとき、透過率が反
射率より小さく設定されるとともに、光源の出力に対す
る戻り光の割合が0.05以下になるように、各光学部
品の各係数が設定されていることを特徴とする。
〔作用〕
光源より発せられた入射光は対物レンズを介してディス
クに照射される。ディスクにより反射された反射光は対
物レンズを介して光検出器に入射される。ハーフミラ−
は入射光と反射光を分離し、入射光を対物レンズに、ま
た反射光を光検出器に出力する。ハーフミラ−が入射光
を反射し、反射光を透過するように配置されている場合
、ハーフミラ−の反射率は透過率より小さい値に設定さ
れる。逆にハーフミラ−が入射光を透過し、反射光を反
射するように配置されている場合、透過率が反射率より
小さい値に設定される。そして光源の出力に対する戻り
光の割合が0.05以下になるように、各光学部品の各
係数が設定されている。
〔実施例〕
第1図は本発明の光学式ピックアップ装置の斜視図を示
している。半導体レーザ等の光源1より発せられたレー
ザ光は分割手段としてのグレーティング2に入射され、
実質的に少なくとも3つのビームに分割される。これら
3つの発散光はいずれもハーフミラ−3により反射され
た後コリメータレンズ4により平行光とされる。コリメ
ータレンズ4より出力された3つの光はミラー5により
反射され、対物レンズ6により図示せぬディスク上に収
束、照射される。
ディスク上において3つの光は第2図に示すように配置
される。グレーティング2により分割された3つの光の
うち0次光による主スポツト光11は、その中心がピッ
ト15により形成されるトラックの中央に位置するよう
に配置される。また+1次光と一1次光によるサブスポ
ット光12.13は、その中心が主スポツト光11がト
レースしているトラックの一方のエツジと他方のエツジ
に略一致するように、主スポツト光11を挟んでその前
後に配置される。このような配置はグレーティング2の
溝と光軸に対する回転角度を適宜調整することにより可
能となる。
ディスクより反射された3つの光は対物レンズ6により
集光されて平行光に戻され、ミラー5を介して、コリメ
ータレンズ4に入力される。ここで再び収束光とされた
光はハーフミラ−3に入力される。ハーフミラ−3を透
過した光は凹レンズ7により若干発散された後、光検出
器8に入射される。
フォトダイオード等よりなる光検出器8は第3図に示す
ように3つの光検出器81乃至83から構成されている
。光検出器81乃至83はスポット光11乃至13の反
射光を各々独立に受光するように配置されている。光検
出器81は4つの部分A乃至りに分割されている。
光検出器81の出力より、所謂非点収差法の原理に従っ
てフォーカスエラー信号が生成される6また光検出器8
2と83の出力の差からトラッキングエラー信号が生成
される。
これらのフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー
信号に対応して対物レンズ6がフォーカス制御又はトラ
ッキング制御される。
いま光源1の出力をPO、ハーフミラ−3の反射率をT
1、透過率をS、(=l  ’ra)、コリメータレン
ズ4の透過率をSいカップリング効率をC、ミラー5の
反射率をTい対物レンズ6の透過率をSいディスクの反
射率をT。とするとき。
ディスクからの反射光の一部がハーフミラ−3により反
射され、光源1に戻される戻り光の大きさPLは、 Pi= P、 X T3″XS4”XT、”XS、”X
T、XC=APo           ・・・(1)
となる。また本発明においてはハーフミラ−3が実施例
の如く、入射光を反射し、反射光を透過するように配置
されている場合、反射率T3が透過率S3より小さくな
るように設定されている。従ってハーフミラ−3を透過
して凹レンズ7、光検出器8の方向に出力される反射光
の大きさP工は、PL=POXT、XS、XS4”XT
、”XS、”XT。
XC・・・(2) となるが、値Piは値P工より小さくなる。
そしてハーフミラ−3,コリメータレンズ4゜ミラー5
、対物レンズ6、ディスク等の各光学部品の各係数T3
、SいT6、SいTo、C等を適当な値に設定し、(1
)式における総合係数(光源1の出力に対する戻り光の
割合)Aを0.05以下にするのが好ましい。特に3ビ
ーム法の場合、サブスポット光の戻り光が主スポツト光
の戻り光と干渉し合い、ノイズを発生し易いが、このよ
うにすれば光源1において発生するノイズを実用上充分
ノJ1さくすることができる。
一部ハーフミラー3が入射光を透過し、反射光を反射す
るように配置されている場合、戻り光の大きさPiは。
pi==p、xs3”xs、”x’r、”xs、”x’
r、xc・・・(3) となる、従ってこの場合透過率S、が反射率T、より小
さい値に設定される。そしてこの場合も総合係数が0.
05以下になるように各係数が設定される。
〔効果〕
以上の如く本発明は光を発生する光源と、光源より発せ
られた光をディスクに収束、照射する対物レンズと、デ
ィスクにより反射された光を検出する光検出器と、光源
からディスクに入射される入射光と、ディスクにより反
射され、光検出器により検出される反射光とを分離する
ハーフミラ−とを備える光学式ピックアップ装置におい
て、ハーフミラ−の反射率と透過率は、ハーフミラ−が
入射光を反射し、反射光を透過するように配置されてい
るとき、反射率が透過率より小さく設定され、入射光を
透過し、反射光を反射するように配置されているとき、
透過率が反射率より小さく設定されるとともに、光源の
出力に対する戻り光の割合が0.05以下になるように
、各光学部品の各係数が設定されているようにしたので
、光源への戻り光を少なくシ、ノイズを減少させること
が可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の光学式ピックアップ装置の斜視図、第
2図はそのスポット光の説明図、第3図はその光検出器
の説明図である。 1・・・光源 2・・・グレーティング 3・・・ハーフミラ− 4・・・コリメータレンズ 5ψφ・(ツー 6・・・対物レンズ 7・・・凹レンズ 8・・・光検出器 11・・・主スポツト光 12.13・・・サブスポット光 15・・・ピット、 81乃至83・・・光検出器 A乃至D・・・光検出器 以上

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  光を発生する光源と、該光源より発せられた該光をデ
    ィスクに収束、照射する対物レンズと、該ディスクによ
    り反射された光を検出する光検出器と、該光源から該デ
    ィスクに入射される入射光と、該ディスクにより反射さ
    れ、該光検出器により検出される反射光とを分離するハ
    ーフミラーとを備える光学式ピックアップ装置において
    、 該ハーフミラーの反射率と透過率は、該ハーフミラーが
    該入射光を反射し、該反射光を透過するように配置され
    ているとき、該反射率が該透過率より小さく設定され、
    該入射光を透過し、該反射光を反射するように配置され
    ているとき、該透過率が該反射率より小さく設定される
    とともに、該光源の出力に対する戻り光の割合が0.0
    5以下になるように、各光学部品の各係数が設定されて
    いることを特徴とする光学式ピックアップ装置。
JP62105835A 1987-04-28 1987-04-28 光学式ピックアップ Pending JPS63269340A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62105835A JPS63269340A (ja) 1987-04-28 1987-04-28 光学式ピックアップ

Applications Claiming Priority (1)

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JP62105835A JPS63269340A (ja) 1987-04-28 1987-04-28 光学式ピックアップ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63269340A true JPS63269340A (ja) 1988-11-07

Family

ID=14418094

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62105835A Pending JPS63269340A (ja) 1987-04-28 1987-04-28 光学式ピックアップ

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JP (1) JPS63269340A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02294950A (ja) * 1989-05-08 1990-12-05 Mitsubishi Electric Corp 光ピックアップ装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5627932A (en) * 1979-08-16 1981-03-18 Yoshiaki Nagaura Manufacture of integrated circuit

Patent Citations (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5627932A (en) * 1979-08-16 1981-03-18 Yoshiaki Nagaura Manufacture of integrated circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02294950A (ja) * 1989-05-08 1990-12-05 Mitsubishi Electric Corp 光ピックアップ装置

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