JP2000182254A - ピックアップ装置 - Google Patents

ピックアップ装置

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JP2000182254A
JP2000182254A JP10356392A JP35639298A JP2000182254A JP 2000182254 A JP2000182254 A JP 2000182254A JP 10356392 A JP10356392 A JP 10356392A JP 35639298 A JP35639298 A JP 35639298A JP 2000182254 A JP2000182254 A JP 2000182254A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高開口数の対物レンズを用いた光学系であっ
ても記録／未記録ディスクに拘わらずその透過基板の厚
さ誤差によって発生する球面収差を補正することができ
るピックアップ装置を提供する。 【解決手段】 光ディスクの記録面から対物レンズを介
して得られた反射光のうち、第１の所定開口数より小な
る第２の所定開口数以下の部分のみを介して照射された
第１照射光による第１反射光を検出し、記録面における
第１照射光の焦点ずれを示す第１エラー信号を生成し、
その得られた反射光のうち、第２の所定開口数より大な
る所定開口数以下の部分を介して照射された第２照射光
による第２反射光を検出し、記録面における第２照射光
の焦点ずれを示す第２エラー信号を生成し、第１及び第
２エラー信号の少なくとも一方を用いて球面収差に対応
する信号を得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクに対し
て情報の書き込み或いは読み取りを行なうためのピック
アップ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスクに対して情報の書き込み或い
は読み取りを行なう場合には、その記録層面を直接露出
すると傷が付いたり或いはヘッドとの衝突で損傷が与え
られると、記録や再生ができなくなってしまうので、所
定の厚さの透過基板を介して書き込み又は読み取りをす
ることが行なわれている。このときの基板は例えば、射
出成形によって形成されるが、基板の厚さを全面に亘っ
て正確に規定値にすることは困難であり、通常、数十μ
ｍの厚さ誤差が生じている。従来、このような厚さ誤差
が生じても問題とならないように対物レンズの開口数を
決定してシステムを構成していた。しかしながら、情報
量の増大と共に、記録密度を高くすることが求められて
いるので、対物レンズの開口数を増大させてディスク上
でのスポット径を縮小して記録することが考えられてい
る。この場合、透過基板の厚さ誤差によって発生する球
面収差を補正することが行なわれている。これは、例え
ば、特開平１０−１０６０１２号公報に示されたよう
に、ディスクからの再生信号の変調度やそのジッタ、エ
ラーレートを監視してその監視内容に応じて球面収差補
正手段（レンズ）を駆動するものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、未記録
ディスクに記録を行なう場合には再生信号が得られない
ので、球面収差を補償することができない。また、ジッ
タ、エラーレート、変調度等は例えば、基板の傾き、複
屈折等によっても影響を受け、このような要因が存在す
る場合にはジッタ、エラーレート、変調度等が増大して
サーボ系が誤動作してしまうという問題があった。
【０００４】そこで、本発明の目的は、高開口数の対物
レンズを用いた光学系であっても記録／未記録ディスク
に拘わらずその透過基板の厚さ誤差によって発生する球
面収差を補正することができるピックアップ装置を提供
することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明のピックアップ装
置は、記録面上を透過基板で覆われた光ディスクに対し
て情報の書き込み或いは読み取りを行なうピックアップ
装置であって、光ビームを第１の所定開口数の対物レン
ズを介して記録面に照射し、記録面からの反射光を対物
レンズを介して得る反射光抽出手段と、反射光抽出手段
から得られた反射光のうち、第１の所定開口数より小な
る第２の所定開口数以下の部分のみを介して照射された
第１照射光による第１反射光を検出し、記録面における
第１照射光の焦点ずれを示す第１エラー信号を生成する
第１焦点誤差検出手段と、反射光抽出手段から得られた
反射光のうち、第２の所定開口数より大なる所定開口数
以下の部分を介して照射された第２照射光による第２反
射光を検出し、記録面における第２照射光の焦点ずれを
示す第２エラー信号を生成する第２焦点誤差検出手段
と、第１及び第２エラー信号の少なくとも一方を用いて
球面収差に対応する信号を得る手段と、を備えたことを
特徴としている。
【０００６】かかる本発明のピックアップ装置によれ
ば、光ディスクの記録面からの反射光のうち、対物レン
ズ上で第１の所定開口数より小なる第２の所定開口数以
下の部分を透過した第１反射光を検出して第１エラー信
号を生成し、また反射光のうち、対物レンズ上で第２の
所定開口数より大なる所定開口数以下の部分を透過した
第２反射光を検出して第２エラー信号を生成するので、
第１及び第２エラー信号の少なくとも一方を用いて透過
基板の厚さの誤差によって生じる球面収差を示す信号を
得ることができる。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面を参
照しつつ詳細に説明する。図１は本発明によるピックア
ップ装置の光学系を示している。このピックアップ装置
において、光源１１は図示しない駆動回路により駆動さ
れてレーザ光を発射し、光源１１から発射されたレーザ
光はビームスプリッタ１２によって光ディスク１５側の
光軸ＯＡ方向に反射された後、コリメータレンズ１３を
介して平行レーザビームとして対物レンズ１４に到達す
る。対物レンズ１４はレーザビームを光ディスク１５の
記録面に収束させる。光ディスク１５の記録面で反射し
た光ビームは対物レンズ１４、そしてコリメータレンズ
１３で平行レーザビームにされた後、ビームスプリッタ
１２を直線的に通過してホログラム素子１８に到達す
る。ホログラム素子１８には更にホログラム素子１９が
連続して配置されている。この２つのホログラム素子１
８，１９を通過したレーザビームは受光器２０に到達す
る。対物レンズ１４、コリメータレンズ１３、ビームス
プリッタ１２及びホログラム素子１８，１９は光軸ＯＡ
がそれらの中心を通るように配置されている。
【０００８】ホログラム素子１８は光軸ＯＡ方向から見
ると図２に示すように、円形の外形を有し、その中央部
に円形のホログラムパターン２１が形成されている。ホ
ログラムパターン２１は有効光路に相当する外周部２２
よりも内側に小さく形成され、光ビームを所定の角度で
回折させるように形成されている。このパターンは直線
状であり、回折光エネルギーを特定の方向に集中させる
ようにブレーズ(blaze)形状の表面とされている。な
お、ここではホログラムパターン２１の部分は、対物レ
ンズ１４上での開口数ＮＡが０．３１以下に相当する領
域を透過して光ディスク１５に照射された光ビームの反
射光が透過するように形成されており、外周部２２は対
物レンズ１４上での開口数ＮＡが０．８５以下に相当す
る領域を透過して光ディスク１５に照射された光ビーム
の反射光が透過するように形成されている。
【０００９】ホログラム素子１９は光軸ＯＡ方向から見
ると図３に示すように円形の外形を有し、その円の中心
点から偏芯した点を中心点とした同心円状で凹レンズの
作用をなすパターンを有している。ホログラム素子１９
により２つの異なる焦点位置となる光ビームが受光器２
０に向けて放出される。受光器２０はホログラム素子１
９で分離される２つのレーザビームの異なる焦点位置の
ほぼ中間位置に配置されており、４つの光検出器３１〜
３４を備え、それら光検出器３１〜３４は光軸ＯＡに垂
直な面上に位置している。光検出器３１は光軸ＯＡ上に
位置し、光検出器３２，３３，３４の順に光軸ＯＡから
同一方向に遠ざかって配置されている。また、その配置
方向の分割線にて図４に示すように光検出器３１〜３４
各々の受光面は３分割され、３分割各々の出力が得られ
るようになっている。
【００１０】光検出器３１の３分割の光検出素子３１ａ
〜３１ｃ及び光検出器３２の３分割の光検出素子３２ａ
〜３２ｃには差動増幅器３５が接続されている。また、
光検出器３３の３分割の光検出素子３３ａ〜３３ｃ及び
光検出器３４の３分割の光検出素子３４ａ〜３４ｃには
差動増幅器３６が接続されている。差動増幅器３５は第
１のエラー信号ＦＥ１を生成し、差動増幅器３６は第２
のエラー信号ＦＥ２を生成する。第２のエラー信号ＦＥ
２はフォーカスエラー信号ＦＥとして光ディスクプレー
ヤのフォーカスサーボ系（図示せず）に供給される。
【００１１】差動増幅器３５の出力には更に差動増幅器
３９が接続されている。また、差動増幅器３６の出力は
増幅器３８を介して差動増幅器３９に接続されている。
差動増幅器３９の出力信号がディスク１５の過透基板の
厚さ誤差信号ＴＨとなる。厚さ誤差信号ＴＨは駆動回路
４０に供給されるように構成されており、駆動回路４０
は厚さ誤差信号ＴＨに応じてコリーメータレンズ１３を
図１に矢印Ｘで示すように光軸ＯＡ方向において駆動す
る。
【００１２】かかる構成においては、光ディスク１５の
記録面で反射した光ビームが対物レンズ１４、コリメー
タレンズ１３、そしてビームスプリッタ１２を介してホ
ログラム素子１８に到達する。そのホログラム素子１８
への入射光のうちからホログラムパターン２１で回折さ
れずそのまま光軸ＯＡ方向に透過光（０次の回折光）と
なるものと、ホログラムパターン２１での回折によって
１次の回折光とが得られる。
【００１３】ホログラム素子１８からホログラム素子１
９への透過光については、ホログラム素子１９はそのま
ま透過光として出力してその透過光によるスポットＳ１
を光検出器３１の受光面に形成させる他、１次の回折光
として出力してその１次の回折光によるスポットＳ２を
光検出器３２の受光面に形成させる。ホログラム素子１
８からホログラム素子１９へ至る１次の回折光について
は、ホログラム素子１９はそのまま透過光として出力し
てその透過光によるスポットＳ３を光検出器３３の受光
面に形成させる他、１次の回折光として出力してその１
次の回折光によるスポットＳ４を光検出器３４の受光面
に形成させる。
【００１４】光ディスク１５への照射光の球面収差が小
さく合焦状態にあるときには、光検出器３１及び３２に
形成されるスポット径はほぼ等しい大きさとなり、また
光検出器３３及び３４に形成されるスポット径はほぼ等
しい大きさとる。よって、差動増幅器３５では光検出器
３１の光検出素子３１ａ〜３１ｃ及び光検出器３２の光
検出素子３２ａ〜３２ｃの各出力レベルに応じて第１の
エラー信号ＦＥ１が生成される。光検出素子３１ａ〜３
１ｃの各出力レベルを31aOUT〜31cOUT、光検出素子３２
ａ〜３２ｃの各出力レベルを32aOUT〜32cOUTとすると、
第１のエラー信号ＦＥ１は次の式(1)の如く表すことが
できる。
【００１５】 ＦＥ１＝(31aOUT＋31cOUT−31bOUT)−(32aOUT＋32cOUT−32bOUT) ……(1) 差動増幅器３６では光検出器３３の光検出素子３３ａ〜
３３ｃ及び光検出器３４の光検出素子３４ａ〜３４ｃの
各出力レベルに応じて第２のエラー信号ＦＥ２が生成さ
れる。光検出素子３３ａ〜３３ｃの各出力レベルを33aO
UT〜33cOUT、光検出素子３４ａ〜３４ｃの各出力レベル
を34aOUT〜34cOUTとすると、第２のエラー信号ＦＥ２は
次の式(2)の如く表すことができる。
【００１６】 ＦＥ２＝(33aOUT＋33cOUT−33bOUT)−(34aOUT＋34cOUT−34bOUT) ……(2) 第１のエラー信号ＦＥ１はそのまま差動増幅器３９に供
給され、第２のエラー信号ＦＥ２は増幅器３８を介して
差動増幅器３９に供給される。差動増幅器３９の出力信
号である厚さ誤差信号ＴＨは、増幅器３８の増幅率をα
とすると、 ＴＨ＝α×ＦＥ２−ＦＥ１ ……(3) となる。
【００１７】図５は光ディスク１５の透過基板の厚さが
基準値であるときのデフォーカス量に対する第２のエラ
ー信号ＦＥ２の信号変化を示している。また、図６は第
２のエラー信号ＦＥ２に応じてフォーカスサーボ系を動
作させた場合、すなわち、ジャストフォーカス状態にお
ける光ディスク１５の透過基板の厚さの誤差に対する第
１のエラー信号ＦＥ１の信号変化を示している。この場
合に第２のエラー信号ＦＥ２はほぼ０に制御されている
が、第１のエラー信号ＦＥ１は透過基板の厚さの誤差に
応じて変化している。よって、式(3)から算出される厚
さ誤差信号ＴＨは第２のエラー信号ＦＥ２はほぼ０に制
御されているときには第１のエラー信号ＦＥ１にほぼ比
例するので、光ディスク１５の透過基板の厚さの誤差を
示すことになる。なお、図６において特性Ａはホログラ
ム素子１８のホログラムパターン２１で光がほとんど回
折した場合に外周部２２からの光検出器３１の出力に基
づいた第１のエラー信号ＦＥ１の信号変化であり、特性
Ｂはホログラムパターン２１及び外周部２２の両方から
の光を受光した光検出器３１の出力に基づいた第１のエ
ラー信号ＦＥ１の信号変化である。
【００１８】算出された厚さ誤差信号ＴＨは駆動回路４
０を介してコリーメータレンズ１３を光軸ＯＡ方向にお
いて平行移動させる。なお、上記した実施例において
は、厚さ誤差信号ＴＨに応じてコリーメータレンズを駆
動することにより球面収差補正を行なうが、この他にイ
コライザ特性を変化させる、記録時のレーザパワーやス
トラテジを制御する等の動作を行なう構成にすることが
できる。構成例では必要な媒体照射パワー、記録感度、
使用する透過基板の厚さ、制御範囲等によって様々な設
計が可能である。
【００１９】また、上記した実施例においては、小なる
開口数のパターン２１の部分で回折された反射光の受光
量に基づいた第２のエラー信号ＦＥ２だけをフォーカス
制御のためにフォーカスサーボ系に供給しているが、第
２のエラー信号ＦＥ２に代えて大なる開口数の外周部２
２の部分を通過した反射光の受光量に基づいた第１のエ
ラー信号ＦＥ１だけをフォーカス制御のためにフォーカ
スサーボ系に供給しても良い。また、第１及び第２のエ
ラー信号ＦＥ１及びＦＥ２の両方をフォーカス制御のた
めに用いても良い。この場合の構成を図７に示してい
る。加算器４２及び増幅率βを有する増幅器４１が新た
に設けられ、第１のエラー信号ＦＥ１は加算器４２の一
方の入力端子に供給され、また第２のエラー信号ＦＥ２
は増幅器４１を介して加算器４２の他方の入力端子に供
給される。加算器４２の出力信号をＦＥとすると、信号
ＦＥは、 ＦＥ＝β×ＦＥ２＋ＦＥ１ ……(4) となる。この信号ＦＥがフォーカス制御のためにフォー
カスサーボ系に供給される。なお、増幅率βは第２のエ
ラー信号ＦＥ２に含まれる球面収差の影響を低減させる
ように設定される。
【００２０】更に、上記した実施例においては、各エラ
ー信号の生成方法はスポット径を３分割の光検出器で測
定する方法を用いているが、この方法に限定する必要は
なく、例えば、ホログラム素子１９を非点収差を与える
形状として通過する光に対して非点収差を与えることに
よりエラー信号を生成するようにしても良い。また、ホ
ログラム素子１９を用いないで異なる開口数によるそれ
ぞれ１つずつのスポットの径を３分割の光検出器によっ
て検出する従来の方法を用いてエラー信号ＦＥ１，ＦＥ
２を生成するようにしても良い。
【００２１】また、上記した実施例においては、ディス
ク１５からの反射光がホログラム素子１８を通過する際
に光束を２つの領域に分割するような構成としたが、こ
の構成に代えて対物レンズの一方の面に、或いは対物レ
ンズと共に駆動されるようにホログラム素子１８に相当
するものを設ける構成であっても良い。このようにディ
スクへの照射光とそれからの反射光とが通過する光路に
ホログラム素子１８等の光束を２つの領域に分割する手
段を配置した場合には、特定方向の偏光成分に対して効
果を表す偏光ホログラムを波長板と共に用いることによ
って照射光の光路で発生する光量ロスを抑制することが
できる。
【００２２】更に、上記した実施例においては、ディス
クのトラッキングについての説明を行なわなかったが、
ホログラム素子を例えば、半径方向に２分割して互いに
個別の位置に集光させることによってプッシュプルトラ
ッキングエラー信号を得る構成、４分割形状として位相
差法によってトラッキングエラー信号を得る構成などの
従来から知られた構成を採用することができる。
【００２３】また、上記した実施例においては、ホログ
ラム素子１８，１９を個別に設けているが、パターンを
一体化することにより１つの単体として設けることがで
きる。更に、上記した実施例は、対物レンズ１４の瞳の
開口が円形であるという前提の元に形成されているが、
その開口は円形に限らず、楕円形などの縦長の開口でも
良い。このような楕円形の瞳は異なる開口数を有する光
学系に適用することができ、特に、開口数が異なる方向
において分割することが有効である。例えば、楕円形の
開口にする場合には、ホログラム素子１８に代えて設け
るホログラム素子４５のパターンは図８に示すように、
楕円瞳４４の長軸方向において３分割された外側部４５
ａ，４５ｂだけに形成すれば良く、このようにすること
によりホログラム素子の横方向ずれの影響を減少させる
ことができる。なお、楕円形の短軸方向がディスク上で
のピット例方向、すなわち時間軸方向に相当する。
【００２４】図９は本発明の他の実施例としてピックア
ップ装置の光学系を示している。このピックアップ装置
において、光源５１は図示しない駆動回路により駆動さ
れてレーザ光を発射し、光源５１から発射されたレーザ
光はコリメータレンズ５２で平行レーザビームにされた
後、ビームスプリッタ５３によって光ディスク５７側の
光軸ＯＡ方向に反射された後、補償レンズ５４，５５を
介して平行レーザビームとして対物レンズ５６に到達す
る。対物レンズ５６はレーザビームを光ディスク５７の
記録面に収束させる。光ディスク５７の記録面で反射し
た光ビームは対物レンズ５６及び補償レンズ５５，５４
を経て、ビームスプリッタ５３に到達する。ビームスプ
リッタ５３を直線的に通過した反射光は集光レンズ５８
で集光されてホログラム素子５９に到達し、ホログラム
素子５９を通過したレーザビームは受光器６０に到達す
る。
【００２５】ホログラム素子５９は光軸ＯＡ方向から見
ると図１０に示すように、円形の外形を有し、＋１次光
に対しては凸レンズとして作用し受光器６０の手前で集
光させ、−１次光に対しては凹レンズとして作用し受光
器６０の奥で集光させる。また、ホログラム素子５９の
内部部分の円パターン５９ａとその外周部分の円環パタ
ーン５９ｂとは縞状に形成されており、その間隔が円パ
ターン５９ａと円環パターン５９ｂとでは図１０に示し
たように異なり、これにより内部部分と外周部分との光
ビームの屈折角度が異なっている。
【００２６】受光器６０は４つの光検出器６１〜６４を
備え、それら光検出器６１〜６４は光軸ＯＡに垂直な面
上にその順番にて配置されている。光検出器６２と６３
との間に光軸ＯＡが位置している。また、その配置方向
の分割線にて図１２に示すように光検出器６１〜６４各
々の受光面は３分割され、３分割各々の出力が得られる
ようになっている。
【００２７】図１１は光検出器６１〜６４各々への反射
光の集光を示している。この図１１、更には図１２から
分かるように、光検出器６１にはホログラム素子５９の
円環パターン５９ｂを透過した＋１次光による円環状の
スポットＳ１１が生成され、光検出器６２にはホログラ
ム素子５９の円パターン５９ａを透過した＋１次光によ
る円状のスポットＳ１２が生成され、光検出器６３には
ホログラム素子５９の円パターン５９ａを透過した−１
次光による円状のスポットＳ１３が生成され、光検出器
６４にはホログラム素子５９の円環パターン５９ｂを透
過した−１次光による円環状のスポットＳ１４が生成さ
れる。
【００２８】また、図１２に示すように光検出器６１の
３分割の光検出素子６１ａ〜６１ｃ及び光検出器６４の
３分割の光検出素子６４ａ〜６４ｃには差動増幅器６５
が接続されている。また、光検出器６２の３分割の光検
出素子６２ａ〜６２ｃ及び光検出器６３の３分割の光検
出素子６３ａ〜６３ｃには差動増幅器６６が接続されて
いる。差動増幅器６５は第１のエラー信号ＦＥ１を生成
し、第１のエラー信号ＦＥ１はディスク５７の過透基板
の厚さ誤差信号ＴＨとなる。厚さ誤差信号ＴＨは駆動回
路６７に供給されるように構成されており、駆動回路６
７は厚さ誤差信号ＴＨに応じて補償レンズ５５を図９に
矢印Ｘで示すように光軸ＯＡ方向において駆動する。差
動増幅器６６は第２のエラー信号ＦＥ２を生成する。第
２のエラー信号ＦＥ２はフォーカスエラー信号ＦＥとし
て光ディスクプレーヤのフォーカスサーボ系（図示せ
ず）に供給される。
【００２９】この実施例では、第１のエラー信号ＦＥ１
のレベルから第２のエラー信号ＦＥ２を減算せずに、第
１のエラー信号ＦＥ１を厚さ誤差信号ＴＨとして用いて
いる。これは、第２のエラー信号ＦＥ２を用いてフォー
カス制御をしているため、フォーカス制御をしている状
態では、第２のエラー信号ＦＥ２のレベルは常に０とな
っていることを考慮したものである。すなわち、信号レ
ベルが０の第２のエラー信号ＦＥ２をわざわざ減算せず
に、第１のエラー信号ＦＥ１を厚さ誤差信号ＴＨとして
用いたものである。
【００３０】
【発明の効果】以上の如く、本発明のピックアップ装置
によれば、光ディスクの記録面からの反射光のうち、対
物レンズ上で第１の所定開口数より小なる第２の所定開
口数以下の部分を透過した第１反射光を検出して第１エ
ラー信号を生成し、また反射光のうち、対物レンズ上で
第２の所定開口数より大なる所定開口数以下の部分を透
過した第２反射光を検出して第２エラー信号を生成する
ので、第１及び第２エラー信号の少なくとも一方を用い
て透過基板の厚さの誤差によって生じる球面収差を示す
信号を得ることができる。よって、高開口数の対物レン
ズを用いた光学系であっても記録／未記録ディスクに拘
わらずその透過基板の厚さ誤差によって発生する球面収
差を補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるピックアップ装置の光学系を示す
図である。
【図２】図１の光学系中のホログラム素子１８のパター
ンを示す図である。
【図３】図１の光学系中のホログラム素子１９のパター
ンを示す図である。
【図４】図１のピックアップ装置の回路構成を示すブロ
ック図である。
【図５】第２のエラー信号ＦＥ２の信号変化を示す図で
ある。
【図６】第１のエラー信号ＦＥ２の信号変化を示す図で
ある。
【図７】本発明の他の実施例としてピックアップ装置の
回路構成を示すブロック図である。
【図８】本発明の他の実施例としてホログラム素子のパ
ターンを示す図である。
【図９】本発明の他の実施例としてピックアップ装置の
光学系を示す図である。
【図１０】図９の光学系中のホログラム素子５９のパタ
ーンを示す図である。
【図１１】図９の光検出器６１〜６４各々への反射光の
集光状態を示す図である。
【図１２】図９のピックアップ装置の回路構成を示すブ
ロック図である。
【符号の説明】
１１，５９ 光源 １２ ビームスプリッタ １３，５２，５４ コリメータレンズ １４，５６ 対物レンズ １５，５７ 光ディスク １８，１９，４５，５９ ホログラム素子 ２０，６０ 受光器 ３１〜３４，６１〜６４ 光検出器

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 記録面上を透過基板で覆われた光ディス
    クに対して情報の書き込み或いは読み取りを行なうピッ
    クアップ装置であって、 光ビームを第１の所定開口数の対物レンズを介して前記
    記録面に照射し、前記記録面からの反射光を前記対物レ
    ンズを介して得る反射光抽出手段と、 前記反射光抽出手段から得られた反射光のうち、第１の
    所定開口数より小なる第２の所定開口数以下の部分のみ
    を介して照射された第１照射光による第１反射光を検出
    し、前記記録面における前記第１照射光の焦点ずれを示
    す第１エラー信号を生成する第１焦点誤差検出手段と、 前記反射光抽出手段から得られた反射光のうち、前記第
    ２の所定開口数より大なる所定開口数以下の部分を介し
    て照射された第２照射光による第２反射光を検出し、前
    記記録面における前記第２照射光の焦点ずれを示す第２
    エラー信号を生成する第２焦点誤差検出手段と、 前記第１及び第２エラー信号の少なくとも一方を用いて
    球面収差に対応する信号を得る手段と、を備えたことを
    特徴とするピックアップ装置。
  2. 【請求項２】 前記第１及び第２エラー信号を比較して
    その比較結果に応じて球面収差に対応する信号を得る手
    段を備えたことを特徴とする請求項１記載のピックアッ
    プ装置。
  3. 【請求項３】 前記第１及び第２エラー信号の少なくと
    も一方と異なる他方を少なくとも用いて前記対物レンズ
    を駆動するフォーカス制御手段を備えたことを特徴とす
    る請求項１記載のピックアップ装置。
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