JPS63262854A - プロ−ブカ−ド保持搬送装置 - Google Patents

プロ−ブカ−ド保持搬送装置

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JPS63262854A
JPS63262854A JP62098278A JP9827887A JPS63262854A JP S63262854 A JPS63262854 A JP S63262854A JP 62098278 A JP62098278 A JP 62098278A JP 9827887 A JP9827887 A JP 9827887A JP S63262854 A JPS63262854 A JP S63262854A
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JP
Japan
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probe card
holding
pads
holding arm
card holder
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JP62098278A
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Masami Mizukami
水上 正巳
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Tokyo Electron Ltd
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Tokyo Electron Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、プローブカード保持搬送装置に間する。
(従来の技術) ウエハプローバは半導体ウェハ(以下、ウェハ)に多数
形成された半導体素子(以下、チップ)の夫々の電気的
緒特性を測定し、不良と判定されたチップをアセンブリ
工程の前で排除することにより、コストダウンや生産性
の向上に寄与させるための装置である。
ところで、チップとチップの電気的特性を測定検査する
テスターとの信号の授受は、チップに設けられた電極群
の配置に合致する触針群をもつプローブカードと称する
基板を介して行われる。
このプローブカードは、検査対象チップに対して専用で
ある。即ち、同一チップを複数格子状に配列させたウェ
ハに対して専用である。従って検査するウェハの品種を
変更する際、既に取付けられているプローブカードを取
外し、これから検査しようとするウェハ用のプローブカ
ードをセットする作業が必要となってくる。従来では、
この交換作業は人為的に行われていた。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、このプローブカード保持搬送工程を自動
化しようとして従来の把持、吸着等の保持搬送装置を使
用するには困難が共なった。
プローブカードは例えば薄肉の円盤状をしており、上面
にはテスター側の電極と接続するための多数の電極群が
あり、下面にはチップと接触する多数の触針群があるた
め非常に保持しにくい。
また、高周波検査の際には、テストヘッドと称される装
置がプローブカードの真上に配置されるため、プローブ
カードの周辺には保持機構のための空間が少なくなり、
従来の保持搬送機構を使用した場合、プローブカード交
換毎に大重量のテストヘッドを退避させる必要があった
。そこでテストヘッドの退避をすることなくプローブカ
ードを交換するために薄型の保持搬送機構が必要とされ
ていた。
本発明は上述した問題点を解決するためになされたもの
で、構造が簡素でしかも確実にプローブカードを保持す
ることができるプローブカード保持搬送機構を提供する
ことを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明のプローブカード保持搬送装置は、プローブカー
ドを装着したリング状のプローブカードホルダを保持機
構により保持して搬送する装置において、上記保持機構
がプローブカードホルダ内孔部の中心から外周方向に移
動し前記プローブカードホルダ内周面の少なくとも一部
に当接して保持するように構成したことを特徴とするも
のである。
(作 用) 本発明は上述した手段により、プローブカード保持搬送
機構の構造が簡素となり、しかも確実にプローブカード
を保持することができる。
(実施例) 以下、本発明の一実施例について第1図および第2図を
参照にして説明する。
アルミニウム板等の金属部材からなる保持腕1が設けら
、れ、この保持腕1の先端には両側面を対称に切欠いた
矩形の凸部2が形成されている。
この凸部2の両側には、夫々はぼ円弧形のパッド3a、
3bが凸部2の側面と間隙を保持して配置されており、
該パッド3a、3bは夫々が3本の伸縮ビン4a、4b
、4Cにより凸部2に連結されている。
真中の伸縮ビン4bは、凸部2に内装された複動式エア
ーシリンダ5のプランジャー先端に接続されており、こ
のエアーシリンダ5を駆動することにより伸縮ビン4b
が伸長してパッド3a、3bが凸部2の側壁から離間す
る構造となっている。
伸縮ビン4a、4Cは凸部2内に内挿されたリニアブツ
シュ6に挿入されており、上記パッド3a、3bの移動
時の移動ガイドとして作用する。
パッド3a、3bの側面下部にはその円周に沿ってプロ
ーブカード係土用凸部7が突設されている。
このようなプローブカード保持装機送置の動作について
、第2図の正面断面図を参照にしながら説明する。
本例に使用するプローブカード8は、ホゴビンボードで
あるリング状のプローブカードホルダ9の下面に取付け
られており、この両者で一体品となっている。プローブ
カードホルダ9内周壁には環状溝10が形成されている
プローブカードホルダ9と一体品のプローブカード8は
、予めプローブカード収容部例えばプローブカード収容
ラックに収容されており、図示を省略した保持腕駆動機
構により保持腕1をプローブカード収容部まで移動させ
て、保持腕1のパッド3a、3bをプローブカードホル
ダ9の内孔部9aに挿入する。このときパッド3a、3
bは凸部1の側面に最接近した状態となっている(第2
図(a))。
次にエアーシリンダ5を駆動して伸縮ピン4bを伸長さ
せ、パッド3a、3bを保持腕凸部1側面から離間させ
る。このとき、パッド3a、3bに形成した円弧形の係
止用凸部7とプローブカードホルダ内周壁に形成した環
状溝10とが嵌合するように保持腕駆動機構により位置
合せされている(第2図(b))。
こうして係止用凸部7と環状溝10とが嵌合した後、図
示を省略した保持腕駆動機構により保持腕1を移動させ
てプローブカードを所望の場所例えばブローバの測定部
へと搬送する。
このようにプローブカードホルダの内孔部9aを保持す
ることで、保持機構の構造が簡素になり、しかも確実に
保持することができる。
上述実施例では、パッド3a、3bに突設された係止用
凸部7とプローブカードホルダ9内孔に形成された環状
溝10とを係合させることでプローブカードホルダ9を
保持したが、本発明はこれに限定されるものではなく、
例えば、パッド3a、3bの外周面にゴムシート等の摩
擦抵抗が大きく柔軟性に優れた部材を取付けて、このゴ
ムシートをプローブカード内周面に押圧させて保持して
もよく、プローブカード内孔部を保持する手段であれば
いずれでもよい。
第3図は本発明の一応用例を示す図で、上述した実施例
を保持腕駆動機構に搭載したものである。
保持腕1の一端は、保持腕駆動fifl121の移動台
22に搭載されており、この搭載台22は、基台23に
垂設された垂直駆動捩子24およびガイド棒25に取付
けられている。
保持腕1は、保持腕1と移動台22との取付は軸にタイ
ミングベルト26を介して連結した回転用モータ27の
駆動により回転し、また垂直駆動捩子24にタイミング
ベルト28を介して連結した垂直駆動用モータ29によ
り昇降可能な構造となっている。
プローブカードを装着したプローブカードホルダ9は、
予め収容部例えば収容ラック30等に複数個収容されて
おり、これらのプローブカードの品種はブローバCPU
の記憶機構に記憶されている。
測定すべきウェハが図示を省略したプローバ測定部にセ
ットされると、記憶機構がそのウェハに対応するプロー
ブカードを検索し、その収容位置に保持腕1を移動させ
る。そして自動的に保持腕1が所定プローブカードホル
ダ9を保持した後、これを測定部へ搬送するための図示
を省略した搬送機構へと搬送する。
このように、本例を応用することで、安価でしかも確実
な保持が可能なプローブカードの保持搬送機構を製作す
ることができる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、簡素な構造でしか
も確実にプローブカードを保持できるプローブカード保
持搬送装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は実施例のプローブカード保持搬送装置を示す平
面図、第2図は第1図の正面方向の断面図、第3図は実
施例の応用例のプローブカード保持搬送機構を示す斜視
図である。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)プローブカードを装着したリング状のプローブカ
    ードホルダを保持機構により保持して搬送する装置にお
    いて、 前記保持機構がプローブカードホルダ内孔部の中心から
    外周方向に移動し前記プローブカードホルダ内周部の少
    なくとも一部に当接して保持するように構成したことを
    特徴とするプローブカード保持搬送装置。
  2. (2)プローブカードホルダ内孔部の内周面に係止溝が
    形成され、保持機構がこの係止溝に係合する凸部を有し
    、この係止溝と凸部とを係合させてプローブカードを保
    持するように構成したことを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載のプローブカード保持搬送装置。
  3. (3)保持機構がプローブカードホルダ内周面と当接す
    る部分にゴム部材を装着し、このゴム部材をプローブカ
    ードホルダ内周面に当接させて保持するように構成した
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のプローブ
    カード保持搬送装置。
JP9827887A 1987-04-21 1987-04-21 プロ−ブカ−ド保持搬送装置 Expired - Lifetime JPH0831518B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9827887A JPH0831518B2 (ja) 1987-04-21 1987-04-21 プロ−ブカ−ド保持搬送装置

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JP9827887A JPH0831518B2 (ja) 1987-04-21 1987-04-21 プロ−ブカ−ド保持搬送装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63262854A true JPS63262854A (ja) 1988-10-31
JPH0831518B2 JPH0831518B2 (ja) 1996-03-27

Family

ID=14215470

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JP9827887A Expired - Lifetime JPH0831518B2 (ja) 1987-04-21 1987-04-21 プロ−ブカ−ド保持搬送装置

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JP (1) JPH0831518B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007088117A (ja) * 2005-09-21 2007-04-05 Tokyo Electron Ltd プローブカード移載補助装置、検査設備及び検査方法
KR100833285B1 (ko) 2006-12-27 2008-05-28 세크론 주식회사 프로브카드 운반장치
JP2021081274A (ja) * 2019-11-18 2021-05-27 三菱電機株式会社 試験装置及び試験方法

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KR100833285B1 (ko) 2006-12-27 2008-05-28 세크론 주식회사 프로브카드 운반장치
JP2021081274A (ja) * 2019-11-18 2021-05-27 三菱電機株式会社 試験装置及び試験方法

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JPH0831518B2 (ja) 1996-03-27

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