JPS63257358A - 試験制御回路 - Google Patents

試験制御回路

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JPS63257358A
JPS63257358A JP62091040A JP9104087A JPS63257358A JP S63257358 A JPS63257358 A JP S63257358A JP 62091040 A JP62091040 A JP 62091040A JP 9104087 A JP9104087 A JP 9104087A JP S63257358 A JPS63257358 A JP S63257358A
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JP
Japan
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line
dte
data
test signal
address code
Prior art date
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JP62091040A
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Inventor
Akihito Yonehara
米原 明史
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NEC Corp
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NEC Corp
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Publication date
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  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は回線終端装置(以下rDCEJという)の試験
制御回路に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、この種のDCEのリモートテストは折返しを設定
することにより行なわれており、リモートテストのため
の試験制御回路は折返しコード検出回路と折返し設定ス
イッチとから構成され、折返しコードを検出して折返し
設定スイッチを制御し、折返しを設定していた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来の試験制御回路では、第2図に示すタンデ
ム接続の場合、直接対向していないDCE以下の折返し
試験ができないという欠点を有する。
第2図において、DCE2.3は線路側インタフェース
を通じて接続され、DCE3.4間は、本来はDTEが
接続されるべきであるが、データ端末装置(以下rDT
EJという)インタフェースを介して接続されている。
また、DCE4.5は線路側インタフェースを通じて接
続され、結果としてDTEI、6が対向して通信できる
接続形態をとっている。
従来の試験制御回路では、第2図においてDCE2が折
返しコードを発生すると、対向して設置されたDCE3
では折返しを設定すると共にDTEインタフェースの信
号をオフとする。このため、DCE4.5の折返しをD
CE2で設定できないという欠点があった。
〔問題点を解決するための手段〕
このような欠点を除去するために本発明による試験制御
回路は、線路受信データおよびDTE送信データから試
験信号を検出する第1および第2の試験信号検出回路と
、線路受信データおよびDTE送信データから自己アド
レスコードを検出する第1および第2のアドレスコード
検出回路と、第1の試験信号検出回路とアドレスコード
検出回路の出力信号により制御され、試験信号と自己ア
ドレスコードを検出した場合に線路受信データ等を線路
送信データとして送出し、線路受信データ等以外にはD
TE送信データを送出するよう制御する線路送信モード
制御回路と、第2の試験信号検出回路とアドレスコード
検出回路の出力信号により制御され、試験信号と自己ア
ドレスコードを検出した場合にDTE送信データ等をD
TE受信データとして送出し、DTE送信データ等以外
には線路受信データを送出するよう制御するDTEモー
ド制御回路とを設けるようにしたものである。
〔作用〕
本発明においては、回線終端装置をタンデム接続した場
合でも折返しを設定できる。
〔実施例〕
第1図は本発明に係わる試験制御回路の一実施例を示す
ブロック系統図であり、本回路は各DCE(第2図)に
含まれる。本回路を使用するテストはDCEにて受信デ
ータを折り返す折返し試験である。
第1図において、11.15は第1.第2の試験信号検
出回路、12.14は第1.第2のアドレスコード検出
回路である。試験設定信号としての折返し設定信号のフ
ォーマットの例を第3図に示す。この折返し設定信号は
試験信号としての折返しコードとアドレス信号とを有す
る。
第2図に示すDCE2〜5には各々個別のアドレスが割
り当てられているものとする。各DCEは、試験信号検
出回路11.アドレスコード検出回路12により線路受
信データaから折返しコード、アドレス信号を正しく受
信した場合には、線路送信モード制御回路13により線
路受信データaを線路送信データbとして折り返す。
また、アドレスコード検出回路14.試験信号検出回路
15によりDTE送信送信データ線折返しコード、アド
レス信号を正しく受信した場合には、DTE送信送信デ
ータ線TE受信受信データレて折り返す。
さらに、折返しコード、アドレス信号を正しく受信しな
い場合には、DTE送信送信データ線路送信データb、
′Ia路受信データaをDTE受信受信データレて使用
する。
上記試験制御回路を持つDCE2がDCE3に折返しを
設定した場合は、DCE2が折返しコードとDCE3の
アドレス信号とを線路送信データbとして送出する。D
CE3では、自己アドレス信号を正しく受信した時点で
、線路受信データaを線路送信データbとして折り返す
ので、折返しが達成される。
DCE2がDCE4に折返しを設定した場合は、DCE
3はDCE2よりの折返しコードとDCE4のアドレス
信号とをDCE4のDTE送信送信データ線て伝送する
ので、DCE4においてDTE送信送信データ線TE受
信受信データレて折り返す。DCE3では、DCE4の
DTE受信受信データレTE送信送信データ線て取り扱
うので、これを線路送信データbとしてDCE2に送出
し、折返しが達成される。
DCE5に対する折返しもDCE3.4と同様である。
なお、第1図のeはDTE制御信号である。
本回路による折返しは第2図において実線の矢印で示さ
れているが、折返しコードをもう1種用意することによ
り、第2図の破線の矢印で示す折返しを行なうことも可
能であり、これにより各DCEの折返し点を増やし、よ
り詳細な試験も可能となる。
第4図は本発明の第2の実施例を示すブロック系統図で
ある。第4図において、各DCHに対するアクセス方法
は第1図に示す第1の実施例と同じであるが、試験信号
検出回路11とアドレスコード検出回路12により試験
信号と自己アドレスコードを検出した場合、線路送信モ
ード制御回路13は、線路送信データbに線路受信デー
タaを送出する代わりに、自己DCE内のパターン発生
器17で発生した信号を送出するように制御を行なう。
また、試験信号検出回路15とアドレスコード検出回路
14により試験信号と自己アドレスコードを検出した場
合、DTEモード制御回路1Gは、DTE受信受信デー
タレてDTE送信データCを送出する代わりに、自己D
CE内のパターン発生器17で発生した信号を送出する
ように制御を行なう。
このようにして、DCE2が、それぞれタンデム接続さ
れたDCE3〜5について通信バスを設定することが可
能となる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、第1および第2の試験信
号検出回路と第1および第2のアドレスコード検出回路
とを設け、試験信号により折返し等を指定すると共にア
ドレスにより折返しを行なう回線終端装置を指定するこ
とにより、回線終端装置がタンデムに接続された場合で
も折返しを設定できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わる試験制御回路の一実施例を示す
ブロック系統図、第2図はタンデムに接続された回線終
端装置を示すブロック系統図、第3図は折返し設定信号
のフォーマットを示すフォーマット図、第4図は本発明
の第2の実施例を示すブロック系統図である。 11.15・・・試験信号検出回路、12.14・・・
アドレスコード検出回路、13・・・線路送信モード制
御回路、16・・・DTEモード制御回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 線路受信データから試験信号を検出する第1の試験信号
    検出回路と、前記線路受信データから自己アドレスコー
    ドを検出する第1のアドレスコード検出回路と、DTE
    送信データから試験信号を検出する第2の試験信号検出
    回路と、前記DTE送信データから自己アドレスコード
    を検出する第2のアドレスコード検出回路と、前記第1
    の試験信号検出回路とアドレスコード検出回路の出力信
    号により制御され、試験信号と自己アドレスコードを検
    出した場合に線路受信データ又はパターン発生器で発生
    した信号を線路送信データとして送出し、前記線路受信
    データ又はパターン発生器で発生した信号以外にはDT
    E送信データを送出するよう制御する線路送信モード制
    御回路と、前記第2の試験信号検出回路とアドレスコー
    ド検出回路の出力信号により制御され、試験信号と自己
    アドレスコードを検出した場合にDTE送信データ又は
    パターン発生器で発生した信号をDTE受信データとし
    て送出し、前記DTE送信データ又はパターン発生器で
    発生した信号以外には線路受信データを送出するよう制
    御するDTEモード制御回路とを備えたことを特徴とす
    る試験制御回路。
JP62091040A 1987-04-15 1987-04-15 試験制御回路 Expired - Lifetime JPH06103903B2 (ja)

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JP62091040A JPH06103903B2 (ja) 1987-04-15 1987-04-15 試験制御回路

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Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63257358A true JPS63257358A (ja) 1988-10-25
JPH06103903B2 JPH06103903B2 (ja) 1994-12-14

Family

ID=14015390

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JP62091040A Expired - Lifetime JPH06103903B2 (ja) 1987-04-15 1987-04-15 試験制御回路

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5696544A (en) * 1979-12-28 1981-08-04 Fujitsu Ltd Automatic folding test method for terminal

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5696544A (en) * 1979-12-28 1981-08-04 Fujitsu Ltd Automatic folding test method for terminal

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JPH06103903B2 (ja) 1994-12-14

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