JPH06103903B2 - 試験制御回路 - Google Patents
試験制御回路Info
- Publication number
- JPH06103903B2 JPH06103903B2 JP62091040A JP9104087A JPH06103903B2 JP H06103903 B2 JPH06103903 B2 JP H06103903B2 JP 62091040 A JP62091040 A JP 62091040A JP 9104087 A JP9104087 A JP 9104087A JP H06103903 B2 JPH06103903 B2 JP H06103903B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dte
- detection circuit
- line
- test signal
- address code
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は回線終端装置（以下「DCE」という）の試験制
御回路に関するものである。
御回路に関するものである。
従来、この種のDCEのリモートテストは折返しを設定す
ることにより行なわれており、リモートテストのための
試験制御回路は折返しコード検出回路と折返し設定スイ
ッチとから構成され、折返しコードを検出して折返し設
定スイッチを制御し、折返しを設定していた。
ることにより行なわれており、リモートテストのための
試験制御回路は折返しコード検出回路と折返し設定スイ
ッチとから構成され、折返しコードを検出して折返し設
定スイッチを制御し、折返しを設定していた。
上述した従来の試験制御回路では、第２図に示すタンデ
ム接続の場合、直接対向していないDCE以下の折返し試
験ができないという欠点を有する。
ム接続の場合、直接対向していないDCE以下の折返し試
験ができないという欠点を有する。
第２図において、DCE2,3は線路側インタフェースを通じ
て接続され、DCE3,4間は、本来はDTEが接続されるべき
であるが、データ端末装置（以下「DTE」という）イン
タフェースを介して接続されている。また、DCE4,5は線
路側インタフェースを通じて接続され、結果としてDTE
1,6が対向して通信できる接続形態をとっている。
て接続され、DCE3,4間は、本来はDTEが接続されるべき
であるが、データ端末装置（以下「DTE」という）イン
タフェースを介して接続されている。また、DCE4,5は線
路側インタフェースを通じて接続され、結果としてDTE
1,6が対向して通信できる接続形態をとっている。
従来の試験制御回路では、第２図においてDCE2が折返し
コードを発生すると、対向して設置されたDCE3では折返
しを設定すると共にDTEインタフェースの信号をオフと
する。このため、DCE4,5の折返しをDCE2で設定できない
という欠点があった。
コードを発生すると、対向して設置されたDCE3では折返
しを設定すると共にDTEインタフェースの信号をオフと
する。このため、DCE4,5の折返しをDCE2で設定できない
という欠点があった。
このような欠点を除去するために本発明による試験制御
回路は、線路受信データおよびDTE送信データから試験
信号を検出する第１および第２の試験信号検出回路と、
線路受信データおよびDTE送信データから自己アドレス
コードを検出する第１および第２のアドレスコード検出
回路と、第１の試験信号検出回路とアドレスコード検出
回路の出力信号により制御され，試験信号と自己アドレ
スコードを検出した場合に線路受信データ等を線路送信
データとして送出し，線路受信データ等以外にはDTE送
信データを送出するよう制御する線路送信モード制御回
路と、第２の試験信号検出回路とアドレスコード検出回
路の出力信号により制御され，試験信号と自己アドレス
コードを検出した場合にDTE送信データ等をDTE受信デー
タとして送出し,DTE送信データ等以外には線路受信デー
タを送出するよう制御するDTEモード制御回路とを設け
るようにしたものである。
回路は、線路受信データおよびDTE送信データから試験
信号を検出する第１および第２の試験信号検出回路と、
線路受信データおよびDTE送信データから自己アドレス
コードを検出する第１および第２のアドレスコード検出
回路と、第１の試験信号検出回路とアドレスコード検出
回路の出力信号により制御され，試験信号と自己アドレ
スコードを検出した場合に線路受信データ等を線路送信
データとして送出し，線路受信データ等以外にはDTE送
信データを送出するよう制御する線路送信モード制御回
路と、第２の試験信号検出回路とアドレスコード検出回
路の出力信号により制御され，試験信号と自己アドレス
コードを検出した場合にDTE送信データ等をDTE受信デー
タとして送出し,DTE送信データ等以外には線路受信デー
タを送出するよう制御するDTEモード制御回路とを設け
るようにしたものである。
本発明においては、回線終端装置をタンデム接続した場
合でも折返しを設定できる。
合でも折返しを設定できる。
第１図は本発明に係わる試験制御回路の一実施例を示す
ブロック系統図であり、本回路は各DCE（第２図）に含
まれる。本回路を使用するテストはDCEにて受信データ
を折り返す折返し試験である。
ブロック系統図であり、本回路は各DCE（第２図）に含
まれる。本回路を使用するテストはDCEにて受信データ
を折り返す折返し試験である。
第１図において、11,15は第1,第２の試験信号検出回
路、12,14は第1,第２のアドレスコード検出回路であ
る。試験設定信号としての折返し設定信号のフォーマッ
トの例を第３図に示す。この折返し設定信号は試験信号
としての折返しコードとアドレス信号とを有する。
路、12,14は第1,第２のアドレスコード検出回路であ
る。試験設定信号としての折返し設定信号のフォーマッ
トの例を第３図に示す。この折返し設定信号は試験信号
としての折返しコードとアドレス信号とを有する。
第２図に示すDCE2〜５には各々個別のアドレスが割り当
てられているものとする。各DCEは、試験信号検出回路1
1,アドレスコード検出回路12により線路受信データａか
ら折返しコード，アドレス信号を正しく受信した場合に
は、線路送信モード制御回路13により線路受信データａ
を線路送信データｂとして折り返す。
てられているものとする。各DCEは、試験信号検出回路1
1,アドレスコード検出回路12により線路受信データａか
ら折返しコード，アドレス信号を正しく受信した場合に
は、線路送信モード制御回路13により線路受信データａ
を線路送信データｂとして折り返す。
また、アドレスコード検出回路14,試験信号検出回路15
によりDTE送信データｃから折返しコード，アドレス信
号を正しく受信した場合には、DTE送信データｃをDTE受
信データｄとして折り返す。
によりDTE送信データｃから折返しコード，アドレス信
号を正しく受信した場合には、DTE送信データｃをDTE受
信データｄとして折り返す。
さらに、折返しコード，アドレス信号を正しく受信しな
い場合には、DTE送信データｃを線路送信データｂ、線
路受信データａをDTE受信データｄとして使用する。
い場合には、DTE送信データｃを線路送信データｂ、線
路受信データａをDTE受信データｄとして使用する。
上記試験制御回路を持つDCE2がDCE3に折返しを設定した
場合は、DCE2が折返しコードとDCE3のアドレス信号とを
線路送信データｂとして送出する。DCE3では、自己アド
レス信号を正しく受信した時点で、線路受信データａを
線路送信データｂとして折り返すので、折返しが達成さ
れる。
場合は、DCE2が折返しコードとDCE3のアドレス信号とを
線路送信データｂとして送出する。DCE3では、自己アド
レス信号を正しく受信した時点で、線路受信データａを
線路送信データｂとして折り返すので、折返しが達成さ
れる。
DCE2がDCE4に折返しを設定した場合は、DCE3はDCE2より
の折返しコードとDCE4のアドレス信号とをDCE4のDTE送
信データｃとして伝送するので、DCE4においてDTE送信
データｃをDTE受信データｄとして折り返す。DCE3で
は、DCE4のDTE受信データｄをDTE送信データｃとして取
り扱うので、これを線路送信データｂとしてDCE2に送出
し、折返しが達成される。
の折返しコードとDCE4のアドレス信号とをDCE4のDTE送
信データｃとして伝送するので、DCE4においてDTE送信
データｃをDTE受信データｄとして折り返す。DCE3で
は、DCE4のDTE受信データｄをDTE送信データｃとして取
り扱うので、これを線路送信データｂとしてDCE2に送出
し、折返しが達成される。
DCE5に対する折返しもDCE3,4と同様である。なお、第１
図のｅはDTE制御信号である。
図のｅはDTE制御信号である。
本回路による折返しは第２図において実線の矢印で示さ
れているが、折返しコードをもう１種用意することによ
り、第２図の破線の矢印で示す折返しを行なうことも可
能であり、これにより各DCEの折返し点を増やし、より
詳細な試験も可能となる。
れているが、折返しコードをもう１種用意することによ
り、第２図の破線の矢印で示す折返しを行なうことも可
能であり、これにより各DCEの折返し点を増やし、より
詳細な試験も可能となる。
第４図は本発明の第２の実施例を示すブロック系統図で
ある。第４図において、各DCEに対するアクセス方法は
第１図に示す第１の実施例と同じであるが、試験信号検
出回路11とアドレスコード検出回路12により試験信号と
自己アドレスコードを検出した場合、線路送信モード制
御回路13は、線路送信データｂに線路受信データａを送
出する代わりに、自己DCE内のパターン発生器17で発生
した信号を送出するように制御を行なう。
ある。第４図において、各DCEに対するアクセス方法は
第１図に示す第１の実施例と同じであるが、試験信号検
出回路11とアドレスコード検出回路12により試験信号と
自己アドレスコードを検出した場合、線路送信モード制
御回路13は、線路送信データｂに線路受信データａを送
出する代わりに、自己DCE内のパターン発生器17で発生
した信号を送出するように制御を行なう。
また、試験信号検出回路15とアドレコード検出回路14に
より試験信号と自己アドレスコードを検出した場合、DT
Eモード制御回路16は、DTE受信データｄとしてDTE送信
データｃを送出する代わりに、自己DCE内のパターン発
生器17で発生した信号を送出するように制御を行なう。
より試験信号と自己アドレスコードを検出した場合、DT
Eモード制御回路16は、DTE受信データｄとしてDTE送信
データｃを送出する代わりに、自己DCE内のパターン発
生器17で発生した信号を送出するように制御を行なう。
このようにして、DCE2が、それぞれタンデム接続された
DCE3〜５について通信パスを設定することが可能とな
る。
DCE3〜５について通信パスを設定することが可能とな
る。
以上説明したように本発明は、第１および第２の試験信
号検出回路と第１および第２のアドレスコード検出回路
とを設け、試験信号により折返し等を指定すると共にア
ドレスにより折返しを行なう回路終端装置を指定するこ
とにより、回線終端装置がタンデムに接続された場合で
も折返しを設定できる効果がある。
号検出回路と第１および第２のアドレスコード検出回路
とを設け、試験信号により折返し等を指定すると共にア
ドレスにより折返しを行なう回路終端装置を指定するこ
とにより、回線終端装置がタンデムに接続された場合で
も折返しを設定できる効果がある。
第１図は本発明に係わる試験制御回路の一実施例を示す
ブロック系統図、第２図はタンデムに接続された回線終
端装置を示すブロック系統図、第３図は折返し設定信号
のフォーマットを示すフォーマット図、第４図は本発明
の第２の実施例を示すブロック系統図である。 11,15……試験信号検出回路、12,14……アドレスコード
検出回路、13……線路送信モード制御回路、16……DTE
モード制御回路。
ブロック系統図、第２図はタンデムに接続された回線終
端装置を示すブロック系統図、第３図は折返し設定信号
のフォーマットを示すフォーマット図、第４図は本発明
の第２の実施例を示すブロック系統図である。 11,15……試験信号検出回路、12,14……アドレスコード
検出回路、13……線路送信モード制御回路、16……DTE
モード制御回路。
Claims (1)
- 【請求項１】線路受信データから試験信号を検出する第
１の試験信号検出回路と、前記線路受信データから自己
アドレスコードを検出する第１のアドレスコード検出回
路と、DTE送信データから試験信号を検出する第２の試
験信号検出回路と、前記DTE送信データから自己アドレ
スコードを検出する第２のアドレスコード検出回路と、
前記第１の試験信号検出回路とアドレスコード検出回路
の出力信号により制御され，試験信号と自己アドレスコ
ードを検出した場合に線路受信データ又はパターン発生
器で発生した信号を線路送信データとして送出し，前記
線路受信データ又はパターン発生器で発生した信号以外
にはDTE送信データを送出するよう制御する線路送信モ
ード制御回路と、前記第２の試験信号検出回路とアドレ
スコード検出回路の出力信号により制御され，試験信号
と自己アドレスコードを検出した場合にDTE送信データ
又はパターン発生器で発生した信号をDTE受信データと
して送出し，前記DTE送信データ又はパターン発生器で
発生した信号以外には線路受信データを送出するよう制
御するDTEモード制御回路とを備えたことを特徴とする
試験制御回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62091040A JPH06103903B2 (ja) | 1987-04-15 | 1987-04-15 | 試験制御回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62091040A JPH06103903B2 (ja) | 1987-04-15 | 1987-04-15 | 試験制御回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63257358A JPS63257358A (ja) | 1988-10-25 |
| JPH06103903B2 true JPH06103903B2 (ja) | 1994-12-14 |
Family
ID=14015390
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62091040A Expired - Lifetime JPH06103903B2 (ja) | 1987-04-15 | 1987-04-15 | 試験制御回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06103903B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5696544A (en) * | 1979-12-28 | 1981-08-04 | Fujitsu Ltd | Automatic folding test method for terminal |
-
1987
- 1987-04-15 JP JP62091040A patent/JPH06103903B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63257358A (ja) | 1988-10-25 |
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