JPS6324633A - 真空室の材料交換装置 - Google Patents
真空室の材料交換装置Info
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- JPS6324633A JPS6324633A JP61168680A JP16868086A JPS6324633A JP S6324633 A JPS6324633 A JP S6324633A JP 61168680 A JP61168680 A JP 61168680A JP 16868086 A JP16868086 A JP 16868086A JP S6324633 A JPS6324633 A JP S6324633A
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- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 2
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- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 3
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Landscapes
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、イオン照射装置や蒸着装置等においてウェ
ハ等の加工材料の交換に用いる真空室の材料交換装置に
関するものである。
ハ等の加工材料の交換に用いる真空室の材料交換装置に
関するものである。
従来からイオン照射装置を用いてイオンビームをウェハ
等の加工材料に照射することにより各種加工が行われて
いる。この加工の例としては、イオン注入やIVD(イ
オンペーパーデポジション)法による薄膜形成、イオン
ボンバード洗浄などがある。
等の加工材料に照射することにより各種加工が行われて
いる。この加工の例としては、イオン注入やIVD(イ
オンペーパーデポジション)法による薄膜形成、イオン
ボンバード洗浄などがある。
このような各種加工は、いずれも真空中で行う必要があ
り、ウェハ等の加工材料を真空室からその内部の真空度
を保った状態で出し入れする構造が必要となる。
り、ウェハ等の加工材料を真空室からその内部の真空度
を保った状態で出し入れする構造が必要となる。
このように真空度を保った状態で出し入れするようにし
た材料交換装置として、第3図に示す自動交換式のもの
と、第4図に示す手動交換式のものとが提案されている
。
た材料交換装置として、第3図に示す自動交換式のもの
と、第4図に示す手動交換式のものとが提案されている
。
第3図の例は、真空室31にゲートパルプ32を介して
交換室33を接続し、真空室31内の材料支持台34か
ら交換室33にわたって材料搬送装置35を設けたもの
である。36は材料である。
交換室33を接続し、真空室31内の材料支持台34か
ら交換室33にわたって材料搬送装置35を設けたもの
である。36は材料である。
交換室33には材料出し入れ用の開閉蓋37が設けであ
る。材料支持台34は材料36を保持するチャック手段
を有しており、回動支軸38回りで上向き姿勢と横向き
姿勢との間に回動可能である。
る。材料支持台34は材料36を保持するチャック手段
を有しており、回動支軸38回りで上向き姿勢と横向き
姿勢との間に回動可能である。
横向きとなった材料支持台34の材料配置面34aと対
向して、真空室31の外壁の外にイオンビームmの照射
用のイオン′tA39が設置しである。
向して、真空室31の外壁の外にイオンビームmの照射
用のイオン′tA39が設置しである。
材料36を交換する際は、真空室31および交換室33
を共に真空の状態とし、まずゲートバルブ32を開き、
上向きとなった材料支持台34から交換室33へ材料3
6を材料搬送装置35で移動させる。この後、ゲートバ
ルブ32を閉じ、交換室33内を大気圧に戻して開閉蓋
37を開け、材料36を交換する。
を共に真空の状態とし、まずゲートバルブ32を開き、
上向きとなった材料支持台34から交換室33へ材料3
6を材料搬送装置35で移動させる。この後、ゲートバ
ルブ32を閉じ、交換室33内を大気圧に戻して開閉蓋
37を開け、材料36を交換する。
第4図の例は、材料支持台34′を移動用ロンド40で
真空室31’と交換室33′との間に進退移動させるよ
うにしたものである。移動用ロッド40は作業者の手で
操作する。その他の構成および操作方法は第3図の例と
ほぼ同様である。
真空室31’と交換室33′との間に進退移動させるよ
うにしたものである。移動用ロッド40は作業者の手で
操作する。その他の構成および操作方法は第3図の例と
ほぼ同様である。
これら第3図および第4図の従来例は、いずれも真空室
31.31’の真空度維持のために、ゲートバルブ32
が必要であり、構造が複雑で高価になるという問題点が
ある。すなわち、ゲートバルブ32が複雑な部品であり
、高価となる。
31.31’の真空度維持のために、ゲートバルブ32
が必要であり、構造が複雑で高価になるという問題点が
ある。すなわち、ゲートバルブ32が複雑な部品であり
、高価となる。
この発明の目的は、ゲートバルブを設けずに真空室の気
密を維持したまま材料の交換が行なえる構造のN単な真
空室の材料交換装置を提供することである。
密を維持したまま材料の交換が行なえる構造のN単な真
空室の材料交換装置を提供することである。
この発明の真空室の材料交換装置は、真空室内に設けた
材料支持台と対向して前記真空室の外壁に交換室出入開
口を設け、この交換室出入開口に進入状態で内端の開口
の周囲部が前記材料支持台の材料配置範囲の周囲に密接
する交換室を進入退出移動可能に吸入し、前記交換室の
外端に材料出し入れ用の開閉蓋を設けたものである。
材料支持台と対向して前記真空室の外壁に交換室出入開
口を設け、この交換室出入開口に進入状態で内端の開口
の周囲部が前記材料支持台の材料配置範囲の周囲に密接
する交換室を進入退出移動可能に吸入し、前記交換室の
外端に材料出し入れ用の開閉蓋を設けたものである。
この発明の構成によれば、真空室の交換室出入開口に交
換室を進入退出移動可能に嵌入し、進入状態で交換室の
内端の開口の周囲部が材料配置台の材料配置範囲の周囲
に密接するものとしたので、交換室を進入状態とするこ
とにより、交換室の外端の開閉蓋を開けても真空室の気
密状態が維持される。そのため、真空室を気密状態に維
持したまま、交換室から材料の交換が行なえる。また、
交換室の開閉蓋を閉じると、交換室を退出させて材料支
持台から離れさせても、外部に対して真空室の気密状態
が維持される。このように交換室を退出状態とすること
により、交換室が邪魔となることなく、材料支持台上の
材料に加工を施すことができる。
換室を進入退出移動可能に嵌入し、進入状態で交換室の
内端の開口の周囲部が材料配置台の材料配置範囲の周囲
に密接するものとしたので、交換室を進入状態とするこ
とにより、交換室の外端の開閉蓋を開けても真空室の気
密状態が維持される。そのため、真空室を気密状態に維
持したまま、交換室から材料の交換が行なえる。また、
交換室の開閉蓋を閉じると、交換室を退出させて材料支
持台から離れさせても、外部に対して真空室の気密状態
が維持される。このように交換室を退出状態とすること
により、交換室が邪魔となることなく、材料支持台上の
材料に加工を施すことができる。
このように、従来のゲートバルブを設けることなく、交
換室を進入退出移動可能とするのみですむので、構造が
簡素化され、それだけ低コスト化を図ることができる。
換室を進入退出移動可能とするのみですむので、構造が
簡素化され、それだけ低コスト化を図ることができる。
この発明をイオン照射装置に適用した一実施例を第1図
および第2図に基づいて説明する。この装置は、真空室
1内に設けた材料支持台2に対向して、真空室lの外壁
の天井部分に交換室出入開口3を設け、この交換室出入
開口3に交換室4を進入退出移動可能に嵌入したもので
ある。交換室4は両端が開口しかつ外端にフランジ4a
を有する円筒状に形成され、外端の開口4bに開閉蓋5
がヒンジ6により開閉回動可能に取付けられている。交
換室4は、進入状態において内端の開口4cの周囲部が
上向姿勢の材料支持台2の材料配置範囲の周囲に密接す
るものであり、開口4cの周囲部に気密用のバッキング
7が取付けである。また、真空室lの交換室出入開口3
内および開閉蓋5にも、各々気密用の摺動部パフキング
8および開閉部パフキング9が設けである。各バンキン
グ7〜9は0リング等からなる。
および第2図に基づいて説明する。この装置は、真空室
1内に設けた材料支持台2に対向して、真空室lの外壁
の天井部分に交換室出入開口3を設け、この交換室出入
開口3に交換室4を進入退出移動可能に嵌入したもので
ある。交換室4は両端が開口しかつ外端にフランジ4a
を有する円筒状に形成され、外端の開口4bに開閉蓋5
がヒンジ6により開閉回動可能に取付けられている。交
換室4は、進入状態において内端の開口4cの周囲部が
上向姿勢の材料支持台2の材料配置範囲の周囲に密接す
るものであり、開口4cの周囲部に気密用のバッキング
7が取付けである。また、真空室lの交換室出入開口3
内および開閉蓋5にも、各々気密用の摺動部パフキング
8および開閉部パフキング9が設けである。各バンキン
グ7〜9は0リング等からなる。
材料支持台2は先端の材料配置面2aにウェハ等の円板
状の材料10を保持するものであり、静電式または押え
爪弐等の材料チャック手段(図示せず)を存する。材料
支持台2は回動支軸11回りで上向姿勢と横向姿勢との
間に回動可能であり、回動駆動装置(図示せず)と連結
されている0回動支軸11は真空室l内の支持枠に設け
たものである。横向き姿勢の材料支持台2の材料配置面
2aと対向して、イオンビームaの照射用のイオン源1
2が真空室lに付設されている。なお、真空室1および
交換室4は、図示しないが各々真空ボンブ等の吸引装置
と接続しである。
状の材料10を保持するものであり、静電式または押え
爪弐等の材料チャック手段(図示せず)を存する。材料
支持台2は回動支軸11回りで上向姿勢と横向姿勢との
間に回動可能であり、回動駆動装置(図示せず)と連結
されている0回動支軸11は真空室l内の支持枠に設け
たものである。横向き姿勢の材料支持台2の材料配置面
2aと対向して、イオンビームaの照射用のイオン源1
2が真空室lに付設されている。なお、真空室1および
交換室4は、図示しないが各々真空ボンブ等の吸引装置
と接続しである。
この構成の動作を説明する。材料10を交換するときは
、真空室1を真空状態のままとし、材料支持台2を鎖線
で示す横向き姿勢から実線で示す上向き姿勢とする。次
に交換室4を下方へ進入させ、バッキング7が材料支持
台2の材料配置面2aに接触するまで降ろす。この後、
交換室4を大気圧に戻して開閉蓋5を開け、材料2を交
換する。
、真空室1を真空状態のままとし、材料支持台2を鎖線
で示す横向き姿勢から実線で示す上向き姿勢とする。次
に交換室4を下方へ進入させ、バッキング7が材料支持
台2の材料配置面2aに接触するまで降ろす。この後、
交換室4を大気圧に戻して開閉蓋5を開け、材料2を交
換する。
このとき、交換室4の内端のパンギングアが材料支持台
2の材料配置面2aに接しているので、真空室lの真空
状態が維持される。
2の材料配置面2aに接しているので、真空室lの真空
状態が維持される。
新たな材料10を材料支持台2へ載せ、開閉蓋5を閉じ
て交換室4の中を真空引きした後、第2図に示す位置ま
で上方へ退出させる。そして、材料支持台2を横向きと
する。このとき、交換室4は上方へ逃がしであるので、
材料支持台2を回動させる操作の邪魔とならない。
て交換室4の中を真空引きした後、第2図に示す位置ま
で上方へ退出させる。そして、材料支持台2を横向きと
する。このとき、交換室4は上方へ逃がしであるので、
材料支持台2を回動させる操作の邪魔とならない。
このように、ゲートバルブを必要とせずに、真空室lの
真空状態を維持したまま、材料10の交換が可能となる
。そのため、従来例に比べ、装置が簡素化され、それだ
け低コスト化が図れる。
真空状態を維持したまま、材料10の交換が可能となる
。そのため、従来例に比べ、装置が簡素化され、それだ
け低コスト化が図れる。
なお、前記実施例では材料支持台2が回動するものとし
たが、材料支持台2はスライドするもの、または位置固
定のものであってもよい。また、この発明は、ウェハ以
外の種々の材料10の加工や検知等を行なう真空室に適
用することができる。
たが、材料支持台2はスライドするもの、または位置固
定のものであってもよい。また、この発明は、ウェハ以
外の種々の材料10の加工や検知等を行なう真空室に適
用することができる。
この発明は、′真空室の交換室出入開口に交換室を進入
退出移動可能に吸入し、進入状態で交換室の内端の開口
の周囲部が材料配置台の材料配置範囲の周囲に密接する
ものとしたので、交換室を進入状態とすることにより、
交換室の外端の開閉蓋を開けても真空室の気密状態が維
持される。そのため、真空室を気密状態に維持したまま
、交換室から材料の交換が行なえる。また、交換室の開
閉蓋を閉じると、交換室を退出させて材料支持台から離
れさせても、外部に対して真空室の気密状態が維持され
る。このように交換室を退出状態とすることにより、交
換室が邪魔となることなく、材料支持台上の材料に加工
を施すことができる。
退出移動可能に吸入し、進入状態で交換室の内端の開口
の周囲部が材料配置台の材料配置範囲の周囲に密接する
ものとしたので、交換室を進入状態とすることにより、
交換室の外端の開閉蓋を開けても真空室の気密状態が維
持される。そのため、真空室を気密状態に維持したまま
、交換室から材料の交換が行なえる。また、交換室の開
閉蓋を閉じると、交換室を退出させて材料支持台から離
れさせても、外部に対して真空室の気密状態が維持され
る。このように交換室を退出状態とすることにより、交
換室が邪魔となることなく、材料支持台上の材料に加工
を施すことができる。
このように、従来のゲートバルブを設けることなく、交
換室を進入退出移動可能とするのみですむので、構造が
簡素化され、それだけ低コスト化を図ることができると
いう効果がある。
換室を進入退出移動可能とするのみですむので、構造が
簡素化され、それだけ低コスト化を図ることができると
いう効果がある。
第1図はこの発明の一実施例の材料交換時の状態の破断
側面図、第2図はその交換室退出位置を示す断面図、第
3図および第4図はそれぞれ従来例の破断側面図である
。 ■・・・真空室、2・・・材料支持台、3・・・交換室
出入開口、4・・・交換室、5・・・開閉蓋、10・・
・材料、12・・・イオン源 鎧; 第1図 第2図
側面図、第2図はその交換室退出位置を示す断面図、第
3図および第4図はそれぞれ従来例の破断側面図である
。 ■・・・真空室、2・・・材料支持台、3・・・交換室
出入開口、4・・・交換室、5・・・開閉蓋、10・・
・材料、12・・・イオン源 鎧; 第1図 第2図
Claims (1)
- 真空室内に設けた材料支持台と対向して前記真空室の
外壁に交換室出入開口を設け、この交換室出入開口に進
入状態で内端の開口の周囲部が前記材料支持台の材料配
置範囲の周囲に密接する交換室を進入退出移動可能に嵌
入し、前記交換室の外端に材料出し入れ用の開閉蓋を設
けた真空室の材料交換装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61168680A JPH0821608B2 (ja) | 1986-07-17 | 1986-07-17 | 真空室の材料交換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61168680A JPH0821608B2 (ja) | 1986-07-17 | 1986-07-17 | 真空室の材料交換装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6324633A true JPS6324633A (ja) | 1988-02-02 |
JPH0821608B2 JPH0821608B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=15872484
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61168680A Expired - Fee Related JPH0821608B2 (ja) | 1986-07-17 | 1986-07-17 | 真空室の材料交換装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0821608B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001308164A (ja) * | 2000-04-19 | 2001-11-02 | Applied Materials Inc | 静電チャックにおけるチャッキング力を制御する方法及び装置 |
JP2012172165A (ja) * | 2011-02-18 | 2012-09-10 | Ihi Corp | アンテナ交換方法、アンテナ搬送システム、およびアンテナ搬送装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60249328A (ja) * | 1984-05-25 | 1985-12-10 | Kokusai Electric Co Ltd | 半導体ウエ−ハ用ドライエツチング・化学気相生成装置 |
-
1986
- 1986-07-17 JP JP61168680A patent/JPH0821608B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60249328A (ja) * | 1984-05-25 | 1985-12-10 | Kokusai Electric Co Ltd | 半導体ウエ−ハ用ドライエツチング・化学気相生成装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001308164A (ja) * | 2000-04-19 | 2001-11-02 | Applied Materials Inc | 静電チャックにおけるチャッキング力を制御する方法及び装置 |
JP2012172165A (ja) * | 2011-02-18 | 2012-09-10 | Ihi Corp | アンテナ交換方法、アンテナ搬送システム、およびアンテナ搬送装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0821608B2 (ja) | 1996-03-04 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |