JPS63243728A - 偏光度測定装置 - Google Patents
偏光度測定装置Info
- Publication number
- JPS63243728A JPS63243728A JP7622887A JP7622887A JPS63243728A JP S63243728 A JPS63243728 A JP S63243728A JP 7622887 A JP7622887 A JP 7622887A JP 7622887 A JP7622887 A JP 7622887A JP S63243728 A JPS63243728 A JP S63243728A
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- JP
- Japan
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- polarization
- light
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- measured
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- 230000010287 polarization Effects 0.000 title claims abstract description 102
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
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- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は偏光度測定装置の改良に関する。
第５図は偏光度測定装置の概略構成図であって、平行ビ
ームの楕円偏光の被測定光Ｑを回転検光子１を通して光
検出器２に送る構成となっている。
ームの楕円偏光の被測定光Ｑを回転検光子１を通して光
検出器２に送る構成となっている。
偏光度の測定は、回転検光子１をマニュアルによって回
転させ、このとき光検出器２で受光される被測定光Ｑの
最大受光量１ ｗａｘおよび最小受光量Ｉ ｗｉｎを求
め、次式つまり、 偏光度−（Ｉ ｗａｘ −１ｍ１ｎ ）÷（Ｉｍａｘ＋
Ｉａ＋ｉｎ） ・・・（１） から偏光度を算出している。
転させ、このとき光検出器２で受光される被測定光Ｑの
最大受光量１ ｗａｘおよび最小受光量Ｉ ｗｉｎを求
め、次式つまり、 偏光度−（Ｉ ｗａｘ −１ｍ１ｎ ）÷（Ｉｍａｘ＋
Ｉａ＋ｉｎ） ・・・（１） から偏光度を算出している。
（発明が解決しようとする問題点）
ところが、このような装置では回転検光子１の回転をオ
ペレータのマニュアル操作によって行なうか、又は別途
回転機構を備えなければならない。
ペレータのマニュアル操作によって行なうか、又は別途
回転機構を備えなければならない。
このため、いずれの方法で回転検光子１を回転させたと
１．でも、最大受光量および最小受光量を得るために最
低１回は回転検光子１を回転しなければならない。従っ
て、偏光度を求めるのが繁雑になるばかりでなく、高精
度に偏光度が求められないという問題がある。
１．でも、最大受光量および最小受光量を得るために最
低１回は回転検光子１を回転しなければならない。従っ
て、偏光度を求めるのが繁雑になるばかりでなく、高精
度に偏光度が求められないという問題がある。
そこで本発明は、容易にかつ高速に偏光度を求めること
ができる高精度な偏光度測定装置を提供することを目的
とする。
ができる高精度な偏光度測定装置を提供することを目的
とする。
本発明は、ファラデー回転子と、このファラデー回転子
の偏光面を回転させる手段を有するとともにこのファラ
デー回転子を通過した被測定光を受光しこの受光量から
被測定光の偏光度を算出する偏光度算出手段とを備えて
上記目的を達成しようとする偏光度測定装置である。
の偏光面を回転させる手段を有するとともにこのファラ
デー回転子を通過した被測定光を受光しこの受光量から
被測定光の偏光度を算出する偏光度算出手段とを備えて
上記目的を達成しようとする偏光度測定装置である。
このような手段を備えたことにより、ファラデー回転子
が偏光度算出手段によって回転するとともにこのファラ
デー回転子を通過した被測定光が偏光度算出手段で受光
される。そして、偏光度算出手段は受光した光量から偏
光度を算出してファラデー回転子を回転させる。
が偏光度算出手段によって回転するとともにこのファラ
デー回転子を通過した被測定光が偏光度算出手段で受光
される。そして、偏光度算出手段は受光した光量から偏
光度を算出してファラデー回転子を回転させる。
以下、本発明の第１実施例について図面を参照して説明
する。
する。
第１図は偏光度測定装置の構成図である。同図において
１０は固定配置された検光子、１１は光検出器であって
、検光子１０の入射側にはファラデー回転子１２が配置
されている。従って、被測定光Ｑはファラデー回転子１
２、検光子１０を通過して光検出器１１に入射されるよ
うになっている。ファラデー回転子１２の外周囲にはコ
イル等の磁界発生器１３が配置され、この磁界発生器１
３は励磁部１４からの励磁制御信号を受けこの励磁制御
信号に応じた強度の磁界を発生してファラデー回転子１
２に加えるものとなっている。この磁界の加えられたフ
ァラデー回転子１２は磁界の強度に応じた角度だけ偏光
面が回転するものとなっている。一方、光検出器１１か
ら出力される受光ｍ検出信号は偏光度算出手段Ａに送ら
れるようになっている。この偏光度算出手段Ａは、被測
定光Ｑの最大受光ＨＩ ｌｌ１ａＸおよび最小受光量Ｉ
ｍｉｎから偏光度を算出する機能ををするもので、励
磁部１４、光量判定部１５、偏光度出力部１６および主
制御部１７から構成さている。光量判定部１５はファラ
デー回転子１２の偏光面がθ〜３６０ ’まで回転中に
おける光検出器１１からの受光量検出信号を受けて最大
受光ｆｆｉ Ｉ ａ＋ａｘおよび最小受光３１１ｍ１ｎ
を求めるものであり、偏光度出力部１６は光量判定部１
５からの最大受光ｉＩｍａｘおよび最小受光１１ｍ１ｎ
を受けて前記第（１）式を演算することによって偏光度
を算出する機能を有するものである。なお、励磁部１４
、光量判定部１５および偏光度出力部１６は主制御部１
７によって動作のタイミングが取られている。
１０は固定配置された検光子、１１は光検出器であって
、検光子１０の入射側にはファラデー回転子１２が配置
されている。従って、被測定光Ｑはファラデー回転子１
２、検光子１０を通過して光検出器１１に入射されるよ
うになっている。ファラデー回転子１２の外周囲にはコ
イル等の磁界発生器１３が配置され、この磁界発生器１
３は励磁部１４からの励磁制御信号を受けこの励磁制御
信号に応じた強度の磁界を発生してファラデー回転子１
２に加えるものとなっている。この磁界の加えられたフ
ァラデー回転子１２は磁界の強度に応じた角度だけ偏光
面が回転するものとなっている。一方、光検出器１１か
ら出力される受光ｍ検出信号は偏光度算出手段Ａに送ら
れるようになっている。この偏光度算出手段Ａは、被測
定光Ｑの最大受光ＨＩ ｌｌ１ａＸおよび最小受光量Ｉ
ｍｉｎから偏光度を算出する機能ををするもので、励
磁部１４、光量判定部１５、偏光度出力部１６および主
制御部１７から構成さている。光量判定部１５はファラ
デー回転子１２の偏光面がθ〜３６０ ’まで回転中に
おける光検出器１１からの受光量検出信号を受けて最大
受光ｆｆｉ Ｉ ａ＋ａｘおよび最小受光３１１ｍ１ｎ
を求めるものであり、偏光度出力部１６は光量判定部１
５からの最大受光ｉＩｍａｘおよび最小受光１１ｍ１ｎ
を受けて前記第（１）式を演算することによって偏光度
を算出する機能を有するものである。なお、励磁部１４
、光量判定部１５および偏光度出力部１６は主制御部１
７によって動作のタイミングが取られている。
このような構成であれば、被測定光Ｑがファラデー回転
子１２に投射され、このファラデー素子１２、検光子１
０を通つて光検出器１１に入射されると、光検出器１１
は受光量に比例した受光量検出信号を出力する。このと
き、励磁部１４はファラデー回転子１２の偏光面が０〜
３６０°まで回転させる励磁制御信号を磁界発生器１３
に送出する。これにより、ファラデー回転子１２の偏光
面が０〜３８０ ’まで回転する。さて、このファラデ
ー素子１２の偏光面の回転中、光量判定部１５は光検出
′Ｂ１１からの受光量検出信号を受けて最大受光、ｌｌ
ｌｍａｘおよび最小受光ｊ７１１１ｉｎを判断し、これ
ら受光量を偏光度出力部１６に送出する。かくして、偏
光度出力部１６は前記第（１）式を演算して偏光度を算
出して表示手段（不図示）等に送出する。
子１２に投射され、このファラデー素子１２、検光子１
０を通つて光検出器１１に入射されると、光検出器１１
は受光量に比例した受光量検出信号を出力する。このと
き、励磁部１４はファラデー回転子１２の偏光面が０〜
３６０°まで回転させる励磁制御信号を磁界発生器１３
に送出する。これにより、ファラデー回転子１２の偏光
面が０〜３８０ ’まで回転する。さて、このファラデ
ー素子１２の偏光面の回転中、光量判定部１５は光検出
′Ｂ１１からの受光量検出信号を受けて最大受光、ｌｌ
ｌｍａｘおよび最小受光ｊ７１１１ｉｎを判断し、これ
ら受光量を偏光度出力部１６に送出する。かくして、偏
光度出力部１６は前記第（１）式を演算して偏光度を算
出して表示手段（不図示）等に送出する。
このように上記第１実施例においては、ファラデー回転
子１２の偏光面を回転させ、このときの被測定光Ｑの最
大受光Ｊｌ１ｍａｘおよび最小受光量Ｉ １ｎから偏光
度を算出する構成としたので、ファラデー回転子１２の
偏光面を一定の回転速度で高速に回転できて正確な最大
受光ｆｆｉ１ｍａｘおよび最小受光ｆｉ１ｍｉｎを判定
できる。従って、精度高く偏光度を算出できる。又、構
成も非常に簡単で容易に偏光度を求めることができる。
子１２の偏光面を回転させ、このときの被測定光Ｑの最
大受光Ｊｌ１ｍａｘおよび最小受光量Ｉ １ｎから偏光
度を算出する構成としたので、ファラデー回転子１２の
偏光面を一定の回転速度で高速に回転できて正確な最大
受光ｆｆｉ１ｍａｘおよび最小受光ｆｉ１ｍｉｎを判定
できる。従って、精度高く偏光度を算出できる。又、構
成も非常に簡単で容易に偏光度を求めることができる。
次に第２実施例について第２図に示す偏光度測定装置の
構成図を参照して説明する。なお、第１図と同一部分に
は同一符号を付してその詳しい説明は省略する。ファラ
デー回転子１２を通過した被測定光Ｑの光路上にはハー
フミラ−２０，２１が配置されている。そして、これら
ハーフミラ−２ＣＪ、２１の反射光路上および被測定光
Ｑの光路上にはそれぞれ１つの直線偏光成分のみを透過
させる各検光子２２，２３．２４が配置されている。
構成図を参照して説明する。なお、第１図と同一部分に
は同一符号を付してその詳しい説明は省略する。ファラ
デー回転子１２を通過した被測定光Ｑの光路上にはハー
フミラ−２０，２１が配置されている。そして、これら
ハーフミラ−２ＣＪ、２１の反射光路上および被測定光
Ｑの光路上にはそれぞれ１つの直線偏光成分のみを透過
させる各検光子２２，２３．２４が配置されている。
ここで、第３図に示す如く検光子２２の偏光角は「０６
」であり、検光子２３の偏光角はｒ４５’ Ｊ、検光子
２４の偏光角は「９０°」に設定されている。
」であり、検光子２３の偏光角はｒ４５’ Ｊ、検光子
２４の偏光角は「９０°」に設定されている。
これら検光子２２，２３．２４の光出力側にはそれぞれ
光検出器２５，２６．２７が配置され、これら光検出器
２５，２６．２７からは受光量に対応した受光量検出信
号■１、Ｉ２、Ｉ３が出力されるようになっている。Ｂ
は偏光度算出手段であって、これは各受光量検出信号Ｉ
□、Ｉ２、Ｉ３から被測定光Ｑにおける最大受光量１ｍ
ａｘをもった偏光角を求め、この偏光角に従ってファラ
デー回転子１２の偏光軸を回転させる機能を有するもの
である。具体的に偏光角算出部２８は各受光量検出信号
ＩＩ 、Ｉ２．１３を取り込んで被測定光Ｑにおける最
大受光ｆｆｉ１ｍａｘをもった偏光角を求め、この偏光
角方向を第３図に示す偏光角９０°の方向に回動させる
励磁指令を励磁部１４に発する機能を有するものある。
光検出器２５，２６．２７が配置され、これら光検出器
２５，２６．２７からは受光量に対応した受光量検出信
号■１、Ｉ２、Ｉ３が出力されるようになっている。Ｂ
は偏光度算出手段であって、これは各受光量検出信号Ｉ
□、Ｉ２、Ｉ３から被測定光Ｑにおける最大受光量１ｍ
ａｘをもった偏光角を求め、この偏光角に従ってファラ
デー回転子１２の偏光軸を回転させる機能を有するもの
である。具体的に偏光角算出部２８は各受光量検出信号
ＩＩ 、Ｉ２．１３を取り込んで被測定光Ｑにおける最
大受光ｆｆｉ１ｍａｘをもった偏光角を求め、この偏光
角方向を第３図に示す偏光角９０°の方向に回動させる
励磁指令を励磁部１４に発する機能を有するものある。
偏光度出力部２９は最大受光Ｈｉ ｍａｘの偏光角方向
を偏光角９０°の方向に合せた時の各受光量検出信号１
１、Ｉ２、Ｉ３を取り込んで被測定信号Ｑの偏光度を算
出する機能を有するものである。
を偏光角９０°の方向に合せた時の各受光量検出信号１
１、Ｉ２、Ｉ３を取り込んで被測定信号Ｑの偏光度を算
出する機能を有するものである。
このような構成であれば、被測定光Ｑがファラデー回転
子１２を通過すると、ハーフミラ−２０で分岐され、さ
らに次のハーフミラ−２１で分岐される。ハーフミラ−
２０で分岐された被測定光Ｑは検光子２２により偏光角
Ｏ°で直線偏光されて光検出器２５に入射する。これと
同時にハーフミラ−２１で分岐された被測定光Ｑは検光
子２３により偏光角４５°で直線偏光されて光検出器２
６に入射し、またハーフミラ−２１を透過した被測定光
Ｑは検光子２４により偏光角９ｏｏで直線偏光されて光
検出器２７に入射する。この状態で各光検出器２５．２
６．２７は受光量に対応した各受光量検出信号１１．１
２．１３を出力する。偏光角算出部２８は、これら受光
量検出信号Ｉ□、Ｉ２、Ｉ３を取り込んで最大受光ＷＩ
Ｉｌｌａｘの偏光角を求めて偏光角９０°に対するずれ
角度φを算出する。具体的に説明すると、受光量検出信
号■１とＩ３との比較を行ない、この比較の結果、■１
１−Ｉ３＞０であれば、 ■１１−１３＜Ｑであれば、 （ａ）２Ｉ２−１．−１３＞Ｑのとき φ−９０°−Ｉφｏ１ （ｂ）２１２−１ｌ−Ｉ３ ＜０のときφ−−９０°＋
１φ。１ である。なお、 である。このようにずれ角度φが求められると、偏光角
算出部２８はこのずれ角度φを「ｏｏ」とする励磁指令
を励磁部１４に発する。これにより、磁界発生器１３か
ら発生する磁界の強度が制御され、もってファラデー回
転子１２の偏光面がずれ角度φだけ回動する。この結果
、被測定光Ｑは偏光面を中心に回動し第４図に示す位置
に位置合せされる。なお、この位置合せ状態は各受光量
検出信号１１．１２．１３による上記のフィードバック
制御によって保持される。さて、この状態にあるとき偏
光度出力部２９は各受光量検出信号１１．１２、Ｉ３を
取り込んで次式つまり、 を演算して偏光度Ｐを算出する。
子１２を通過すると、ハーフミラ−２０で分岐され、さ
らに次のハーフミラ−２１で分岐される。ハーフミラ−
２０で分岐された被測定光Ｑは検光子２２により偏光角
Ｏ°で直線偏光されて光検出器２５に入射する。これと
同時にハーフミラ−２１で分岐された被測定光Ｑは検光
子２３により偏光角４５°で直線偏光されて光検出器２
６に入射し、またハーフミラ−２１を透過した被測定光
Ｑは検光子２４により偏光角９ｏｏで直線偏光されて光
検出器２７に入射する。この状態で各光検出器２５．２
６．２７は受光量に対応した各受光量検出信号１１．１
２．１３を出力する。偏光角算出部２８は、これら受光
量検出信号Ｉ□、Ｉ２、Ｉ３を取り込んで最大受光ＷＩ
Ｉｌｌａｘの偏光角を求めて偏光角９０°に対するずれ
角度φを算出する。具体的に説明すると、受光量検出信
号■１とＩ３との比較を行ない、この比較の結果、■１
１−Ｉ３＞０であれば、 ■１１−１３＜Ｑであれば、 （ａ）２Ｉ２−１．−１３＞Ｑのとき φ−９０°−Ｉφｏ１ （ｂ）２１２−１ｌ−Ｉ３ ＜０のときφ−−９０°＋
１φ。１ である。なお、 である。このようにずれ角度φが求められると、偏光角
算出部２８はこのずれ角度φを「ｏｏ」とする励磁指令
を励磁部１４に発する。これにより、磁界発生器１３か
ら発生する磁界の強度が制御され、もってファラデー回
転子１２の偏光面がずれ角度φだけ回動する。この結果
、被測定光Ｑは偏光面を中心に回動し第４図に示す位置
に位置合せされる。なお、この位置合せ状態は各受光量
検出信号１１．１２．１３による上記のフィードバック
制御によって保持される。さて、この状態にあるとき偏
光度出力部２９は各受光量検出信号１１．１２、Ｉ３を
取り込んで次式つまり、 を演算して偏光度Ｐを算出する。
このように上記第２実施例においては、最大受光ｍＩａ
＋ａｘをもった偏光角を求め、この偏光角の偏光角９０
″に対するずれ角度φに従ってファラデー回転子１２を
回転させる構成としたので、任意の偏光角で入射した被
測定光Ｑであっても最大受光ｍ Ｉ ｍａｘの偏光角が
常に偏光角９０°位置に保持されて同一条件で高精度に
偏光角を算出できる。
＋ａｘをもった偏光角を求め、この偏光角の偏光角９０
″に対するずれ角度φに従ってファラデー回転子１２を
回転させる構成としたので、任意の偏光角で入射した被
測定光Ｑであっても最大受光ｍ Ｉ ｍａｘの偏光角が
常に偏光角９０°位置に保持されて同一条件で高精度に
偏光角を算出できる。
さらに各ハーフミラ−２０，２１での分岐比は偏光状態
によって変化するが、上記の如く偏光方向を同一条件と
するので各ハーフミラ−２０，２１の偏光作用に影響さ
れることはない。
によって変化するが、上記の如く偏光方向を同一条件と
するので各ハーフミラ−２０，２１の偏光作用に影響さ
れることはない。
なお、本発明は上記各実施例に限定されるものでなくそ
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、第
２実施例において最大受光量の偏光角位置は偏光角Ｏ０
の位置に位置合せしてもよく、またハーフミラ−２０，
２１に変えて偏光ビームスプリッタにしてもよい。
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、第
２実施例において最大受光量の偏光角位置は偏光角Ｏ０
の位置に位置合せしてもよく、またハーフミラ−２０，
２１に変えて偏光ビームスプリッタにしてもよい。
以上詳記したように本発明によれば、容易にかつ高速に
偏光度を求めることができる高精度な偏光度測定装置を
提供できる。
偏光度を求めることができる高精度な偏光度測定装置を
提供できる。
第１図は本発明に係わる偏光度測定装置の第１実施例を
示す構成図、第２図は同装置の第２実施例を示す構成図
、第３図および第４図は第２図に示す装置の作用を説明
するための模式図、第５図は従来装置の概略構成図であ
る。 １０・・・検光子、１１・・・光検出器、１２・・・フ
ァラデー回転子、１３・・・磁界発生器、１４・・・励
磁部、１５・・・光量判定部、１６・・・偏光度出力部
、１７・・・主制御部、２０．２１・・・ハーフミラ−
１２，２３゜２４・・・検光子、２５．２６．．２７・
・・光検出器、２８・・・偏光角算出部、２つ・・・偏
光度出力部。
示す構成図、第２図は同装置の第２実施例を示す構成図
、第３図および第４図は第２図に示す装置の作用を説明
するための模式図、第５図は従来装置の概略構成図であ
る。 １０・・・検光子、１１・・・光検出器、１２・・・フ
ァラデー回転子、１３・・・磁界発生器、１４・・・励
磁部、１５・・・光量判定部、１６・・・偏光度出力部
、１７・・・主制御部、２０．２１・・・ハーフミラ−
１２，２３゜２４・・・検光子、２５．２６．．２７・
・・光検出器、２８・・・偏光角算出部、２つ・・・偏
光度出力部。
Claims (3)
- （１）ファラデー回転子（１２）と、このファラデー回
転子の偏光面を回転させる手段（１４）を有するととも
に所定回転角度における前記ファラデー回転子を通過し
た被測定光を受光しこの受光量から前記被測定光の偏光
度を算出する偏光度算出手段（Ａ）とを具備したことを
特徴とする偏光度測定装置。 - （２）偏光度算出手段は、被測定光の最大受光量および
最小受光量から偏光度を算出する機能を有する特許請求
の範囲第（１）項記載の偏光度測定装置。 - （３）偏光度算出手段は、各所定偏光角別に分岐された
被測定光の各受光量から前記被測定光における最大受光
量をもった偏光角を求め、この偏光角に従ってファラデ
ー回転子を回転させる特許請求の範囲第（１）項記載の
偏光度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62076228A JPH0684911B2 (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | 偏光度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62076228A JPH0684911B2 (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | 偏光度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63243728A true JPS63243728A (ja) | 1988-10-11 |
| JPH0684911B2 JPH0684911B2 (ja) | 1994-10-26 |
Family
ID=13599309
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62076228A Expired - Lifetime JPH0684911B2 (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | 偏光度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0684911B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6600148B2 (en) * | 2000-03-14 | 2003-07-29 | Anritsu Corporation | Polarization mode dispersion measuring method and polarization mode dispersion measuring system |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6227632A (ja) * | 1985-07-29 | 1987-02-05 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 偏光度測定方法および装置 |
-
1987
- 1987-03-31 JP JP62076228A patent/JPH0684911B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6227632A (ja) * | 1985-07-29 | 1987-02-05 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 偏光度測定方法および装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6600148B2 (en) * | 2000-03-14 | 2003-07-29 | Anritsu Corporation | Polarization mode dispersion measuring method and polarization mode dispersion measuring system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0684911B2 (ja) | 1994-10-26 |
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