JP2723977B2 - 回転速度測定方法 - Google Patents

回転速度測定方法

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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は光を用いて行なう回転速度測定方法に関し、
複写機転写ドラムの回転速度、回転むら、光ディスク、
ポリゴンミラーのドライブモータにつき、そのワウ・フ
ラッタの測定等に適用しうる回転速度測定方法に関す
る。
(従来の技術) 光を用いて行なう回転速度測定方法としては、レーザ
ードップラー法が知られている。レーザードップラー法
は運動している粒子によって散乱されたレーザー光がド
ップラー偏移を受けることを利用したものであり、この
中、差動型(入射光法)は最もよく知られている。ま
た、回転体の測定法として角速度測定法(特開昭63−22
2267号公報参照)がある。
従来例1 第5図に差動型の光ドップラー速度計の一例を示す。
図において、レーザー光源1から出射された光はハーフ
ミラーHMにより2つの光路に分れて進む。一つはミラー
M1,M2を経て測定対象としての移動物体2に至り、他の
一つはミラーM3を経て同じく移動物体2に至。移動物体
2は速度Vで矢印の向きに移動しているとする。移動物
体2に達した上記各光の反射光は光電検出器3で検出さ
れ、その検出信号はアンプ4を経て演算処理され、移動
物体2の速度Vが求まる。
従来例2 角速度測定法は、前記公報にて開示の如く、回転体に
周波数ω1の円偏光光源を取り付け、外部に周波数ω2
円偏光光源を設け、両光束を重畳させる。ここで、回転
体の角速度をω′とすると、周波数ω1はシフトを受
け、ω1+ω′となる。従って、光検出器において光ビ
ート信号ω1−ω2±ω′を検出することにより、ω′が
求まる。
(発明が解決しようとする課題) 前記従来例1については、測定対象たる移動物体は2
光束の交点にあることが条件とされ、このため面外方向
への振動や変位があると測定が困難であり、粗面物体の
速度を測定する場合はスペックルノイズの影響を受け易
く、また測定手段の配置に制約を受けるとの問題があ
る。
前記従来例2については、測定対象たる回転体にレー
ザー光源を取り付けねばならないことからそのスペース
を確保できる大きな物体にしか適用できず、その点で制
約を受ける。また、2種類のレーザーとビートを発生さ
せるためには非常に安定したレーザーを用いる必要があ
り、こうしたレーザーは一般に高価であり、また小型化
しにくい。
本発明は測定手段の配置が容易で外乱に強く、比較的
小さな物体の回転速度まで測定可能な回転速度測定方法
を提供することを目的としている。
(課題を解決するための手段) 上記目的を達成するために、本発明の回転速度測定方
法においては、左回り及び右回りの円又は楕円偏光を、
測定対象としての回転体の回転面に取り付けた偏光子に
入射させ、このとき生ずる光のビート信号を検出し、こ
のビート周波数から回転体の回転速度を求めることとし
た。
(実施例) 本発明による測定方法を具体化した例を第1図に示
す。図において、測定対象としての回転体10の端面にミ
ラーMを介して偏光子11を取り付ける。そして、この偏
光子11の前方にレーザー光源等(図示されず)を置き、
さらに中間に1/4波長板12、ハーフミラーHM1を順次配置
し、ハーフミラーHM1による分岐光路上に光電検出器13
を配置する。まず、互いに直交した直線偏光1/4波長板
に入射させる。この1/4波長板12は、結晶の進相軸が各
直線偏光と45°をなすように配置されている。1/4波長
板12を通過した光束は、右円偏光ERと左円偏光ELとな
る。この光束は、円偏光における偏波面内で回転してい
る回転体10に取り付けられた偏光子11に入射する。偏光
子により左右円偏光は、同一方向に振動する直線偏光
LR,LLに変換され、偏光子11の裏面に設けられたミラー
Mにより反射される。
上記反射された光束は、偏光子11より何らの変換も受
けず、光路中に置かれたハーフミラーHM1を介して光電
検出器13に導かれる。ここで、例えば偏光子11が静止し
ている場合には左右円偏光が偏光子11を通過することに
より可干渉となり、ある一定の強度を示す。また、例え
ば偏光子11が角速度ωfで回転している場合には、左右
円偏光に周波数シフトが生じ、光ビート信号が検出され
る。このことをJones Matrixを用いて説明すると以下の
ようになる。
右円偏光ERと左円偏光ELを数式で表すと、 となり、角速度ωfで回転する偏光子は、 と表せる。回転する偏光子に左右円偏光が入射されると
式(1),(2)は式(3)の作用を受けて となる。但し、EOは振幅とする。
ここで、式(4),式(5)の各円偏光が干渉したと
きの光強度は、I=|ER+EL2を計算すれば求まり、
I=IO{1+sin(2ωft)}となる。但し、IOはEO 2
あり、光強度Iの直流成分である。よって、光強度Iの
時間変化を測定することによりI,IOの絶対値によらず回
転速度ωftが求まる。
上式は、干渉光が回転の角速度の2倍の周波数で強度
変調され、光ビート信号が発生することを示している。
これは、偏光子の回転により、左右円偏光に±ωftの周
波数シフトが生じ、干渉により両光束の周波数差に対応
した2ωftのビート信号が生じることを意味している。
つまり、互いの周波数差のみが光ビート信号を発生させ
るため、レーザー光の発振波長が変化してもその影響は
除去される。従って、発生するビート周波数を検出する
ことにより、物体の回転速度が求められる。また、両光
束は全く同じ光路を通るため、途中の光学系の位相変化
等の影響も受けず、安定した信号が得られる。
第1図に示した如き直線偏光を有する光源としては既
に横ゼーマン型レーザーとして市販されている。しか
し、一般にこのようなレーザーは高価であるため、単一
の直線偏光のみを発振する安価なレーザーを用いても同
等の効果を得ることができる。その場合の構成例を第2
図に示す。
図において、符号14は偏光ビームスプリッタ、符号15
は1/2波長板をそれぞれ示す。ここで、1/2波長板15は偏
光ビームスプリッタ14により分離される光量比が等しく
なるように、光源から到来する直線偏光の振動方向を回
転させるためのものである。光量比を等しくすることに
より、発生するビート信号S/Nを大きくとることができ
る。
また、上記偏光ビームスプリッタ14に代えて、サバー
ル板やウォラストンプリズム等の複屈折性偏光素子を用
いても、互いに直交した直線偏光を得ることができる。
次に、第3図に示すように、回転体10に取り付ける偏
光子11を回転体10よりも大きくして1/4波長板12の対向
位置に偏光子11を介して光電検出器13を配置することに
より、第1図、第2図の例で用いられた光束を折り返す
ためのミラーMや光電検出器13へ導くためのハーフミラ
ーHM1を用いることなく光ビート信号を検出できる。こ
の例によれば部品点数が減少し、また光学系の調整も非
常に容易である。
第4図に示す例では、第2図の例と同様に、直交した
直線偏光を偏光ビームスプリッタ16により得るようにし
ており、直交した偏光に分離後、それらを重ね合わせる
ことなく、1/4波長板12により左右円偏光に変換し、回
転する偏光子に入射させ、反射光をレンズ17により集光
させて干渉させるようにしたものである。この例で、偏
光ビームスプリッタ16により分離された2光束は空間的
には近接しており、また同一の光学素子を通過するため
に、やはり安定した信号を得ることができる。
なお、左右円偏光を得ることのできる光源として外部
共振型LDがあり、こうした素子を用いることにより、全
体の構成を小型化することも可能である。
(発明の効果) 回転体に取り付けられる偏光子は、光束を反射または
透過させるだけの大きさを有していればよく、細い光束
を用いるならば充分に小さくすることができるので、小
さな回転体に対しても回転に影響を与えずに測定でき
る。
また、信号の検出は、正反射光または透過光を直線検
出するため、信号強度が高く取れ、スペックルノイズも
発生しないため、S/Nの高い測定を行なうことができ
る。
また、光学系はコモンパス光学系とすることができる
ので、外乱の影響を受けず、安定した測定ができる。回
転物体の面外への変位、振動に対しても影響を受けな
い。
さらに、左右円偏光の周波数差を計測しているため
に、光源の波長変動によらず測定ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第4図は本発明の実施例を説明した図、第5
図は従来技術の説明図である。 10……回転体、11……偏光子。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】左回り及び右回りの円又は楕円偏光を、測
    定対象としての回転体の回転面に取り付けた偏光子に入
    射させ、このとき生ずる光のビート信号を検出し、この
    ビート周波数から回転体の回転速度を求めることを特徴
    とする回転速度測定方法。
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