JPS63233577A - 超電導磁気遮蔽体 - Google Patents
超電導磁気遮蔽体Info
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- JPS63233577A JPS63233577A JP62068499A JP6849987A JPS63233577A JP S63233577 A JPS63233577 A JP S63233577A JP 62068499 A JP62068499 A JP 62068499A JP 6849987 A JP6849987 A JP 6849987A JP S63233577 A JPS63233577 A JP S63233577A
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- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は超電導体によって磁界を遮蔽する超伝導磁気遮
蔽体に関するものである。
蔽体に関するものである。
(従来の技術)
従来、超電導を利用した磁気遮蔽体としては、磁界の強
さに応じて第1種超電導体及び第2種超電導体が用いら
れていた。第1種超電導体を用いた磁気遮蔽体は、超電
導の性質である完全反磁性(マイナス−効果)を利用す
るものであるが、その臨界磁界が低いため強い磁界を遮
蔽することは不可能である。とこ、ろが第2種超電導体
を用いた磁気遮蔽体は、超電導状態と常電導状態との混
合状態を利用するものであり、その臨界磁界は上部臨界
磁界と下部臨界磁界とに分かれ、上部臨界磁界が極め、
て高いため強い磁界の遮蔽に利用することができる。
さに応じて第1種超電導体及び第2種超電導体が用いら
れていた。第1種超電導体を用いた磁気遮蔽体は、超電
導の性質である完全反磁性(マイナス−効果)を利用す
るものであるが、その臨界磁界が低いため強い磁界を遮
蔽することは不可能である。とこ、ろが第2種超電導体
を用いた磁気遮蔽体は、超電導状態と常電導状態との混
合状態を利用するものであり、その臨界磁界は上部臨界
磁界と下部臨界磁界とに分かれ、上部臨界磁界が極め、
て高いため強い磁界の遮蔽に利用することができる。
また、同じ第2種超電4体を用いた磁気遮蔽において、
鎖交磁束不変の原理を利用したいわゆる電磁遮蔽といっ
たものも強い磁界の遮蔽に利用することができる。
鎖交磁束不変の原理を利用したいわゆる電磁遮蔽といっ
たものも強い磁界の遮蔽に利用することができる。
(発明が解決しようとする問題点)
前記磁気遮蔽体には、薄膜の超電導層を多層化した遮蔽
体がある。このような遮蔽体は超電導層が薄い領域では
比較的強い磁界に対して安定な遮蔽を行うが、非常に強
い磁界、すなわち超電導材の上部臨界磁界に近い磁界の
強さにおいては、磁束流動による発熱によって遮蔽効果
が全く消失するという二次的弊害を生じることがあった
。また超電導層が厚い場合、即ち20μm程度の厚さで
あれば、超電導層を多層(10yI/!!程度)積層し
た遮蔽体は、比較的低い磁界の強さであ1ても、上記同
様の弊害を起こすことがあった。斯かる意味では、超電
導層が薄ければ薄いほど安定化が良いということができ
る。
体がある。このような遮蔽体は超電導層が薄い領域では
比較的強い磁界に対して安定な遮蔽を行うが、非常に強
い磁界、すなわち超電導材の上部臨界磁界に近い磁界の
強さにおいては、磁束流動による発熱によって遮蔽効果
が全く消失するという二次的弊害を生じることがあった
。また超電導層が厚い場合、即ち20μm程度の厚さで
あれば、超電導層を多層(10yI/!!程度)積層し
た遮蔽体は、比較的低い磁界の強さであ1ても、上記同
様の弊害を起こすことがあった。斯かる意味では、超電
導層が薄ければ薄いほど安定化が良いということができ
る。
しかし、超電導体を磁界の中にさらすと、磁界が超電導
層の中に侵入しくこの侵入の深さには限界があり、これ
を一般に磁束の侵入深さといい、500人程人程ある)
、超電導層の厚みがこの磁束の侵入深さ以下のときは、
磁束はほとんど通りぬけ遮蔽困難となる。また上部臨界
磁界をこえる強い磁界の環境下では、通常超電導として
の性質が失われ常電導化してしまう。
層の中に侵入しくこの侵入の深さには限界があり、これ
を一般に磁束の侵入深さといい、500人程人程ある)
、超電導層の厚みがこの磁束の侵入深さ以下のときは、
磁束はほとんど通りぬけ遮蔽困難となる。また上部臨界
磁界をこえる強い磁界の環境下では、通常超電導として
の性質が失われ常電導化してしまう。
一方、前記のごとき電磁遮蔽では、超電導体をハンダな
どで接合し、連続導体(電流が流れるように閉じられた
回路)にする必要がある。従って。
どで接合し、連続導体(電流が流れるように閉じられた
回路)にする必要がある。従って。
導体が超電導材であり、抵抗が零であっても接合部はわ
ずかながら抵抗を有する為、1つの回路としても若干の
抵抗をもつ、斯かる電磁遮蔽は断続的な磁界に対しては
完全な遮蔽を行い得るが、−横磁界(変化のない一定の
強さの磁界)に対しては上記抵抗により経時的に遮蔽効
果が減衰低下し。
ずかながら抵抗を有する為、1つの回路としても若干の
抵抗をもつ、斯かる電磁遮蔽は断続的な磁界に対しては
完全な遮蔽を行い得るが、−横磁界(変化のない一定の
強さの磁界)に対しては上記抵抗により経時的に遮蔽効
果が減衰低下し。
完全な遮蔽が不可能となる。従ってこのような電磁遮蔽
は変動磁界の遮蔽に限られるため応用範囲が非常に狭い
。
は変動磁界の遮蔽に限られるため応用範囲が非常に狭い
。
また電磁遮蔽により大面積の遮蔽をする場合は超電導コ
イルが複数個用いられるが、超電導コイル相互間のすき
間から磁界が漏れるため高い遮蔽効果が得られない、従
って、超電導コイル相互間のすき間をなくした網目状の
遮蔽体が考えられるが、超電導体を網目状に接合する労
力は多大なものとなる。さらに強い磁界の遮蔽において
は、上述の網目状の遮蔽体を機械的に重ね合わせて多層
化する必要があり、全体の容積が比較的大きくなるため
、それに鳥って遮蔽体の保持槽も大きくなり冷媒の量も
多く必要となる。
イルが複数個用いられるが、超電導コイル相互間のすき
間から磁界が漏れるため高い遮蔽効果が得られない、従
って、超電導コイル相互間のすき間をなくした網目状の
遮蔽体が考えられるが、超電導体を網目状に接合する労
力は多大なものとなる。さらに強い磁界の遮蔽において
は、上述の網目状の遮蔽体を機械的に重ね合わせて多層
化する必要があり、全体の容積が比較的大きくなるため
、それに鳥って遮蔽体の保持槽も大きくなり冷媒の量も
多く必要となる。
本発明は、上記超電導体のうち、主に第2種超電導体を
用いた磁気遮蔽体に関するもので1本発明者等は上述の
ごとき問題点に鑑み研究した結果。
用いた磁気遮蔽体に関するもので1本発明者等は上述の
ごとき問題点に鑑み研究した結果。
上記超電導遮蔽と電磁遮蔽の両者の特長を生かし極めて
遮蔽効果の高い磁気遮蔽体の開発に成功し、ここに本発
明を提供せんとするものである。
遮蔽効果の高い磁気遮蔽体の開発に成功し、ここに本発
明を提供せんとするものである。
(問題点を解決するための手段)
即ち1本発明の超電導磁気遮蔽体は、多数の小孔を有す
る基板と、該基板上に積層された少なくとも一層の超電
導フィルム層とより成り、該フィルム層の厚みが100
μm以下であって且つ該フィルム層が複数の場合は各フ
′イルム層間に金属フィルム層を介在させて成ることを
要旨とするものである。
る基板と、該基板上に積層された少なくとも一層の超電
導フィルム層とより成り、該フィルム層の厚みが100
μm以下であって且つ該フィルム層が複数の場合は各フ
′イルム層間に金属フィルム層を介在させて成ることを
要旨とするものである。
上記基板としては、Cu、Al、Ni及びステンレスス
チールなどの金属あるいは、ポリエステル、ポリフェニ
レンスルフィド、塩化ビニリデン、ポリイミド、ポリエ
ーテルサルフォンなどの有機高分子材料などが採用・さ
れる、該基板は多数の小孔を有し、1つの小孔の面積は
3a1以下とし且つ該小孔による基板全面積に対する開
口率は90%以下であることが望ましい、また、小孔の
形状は多種考えられるが、丸、四角或はその他の形状が
全て採用可能である。
チールなどの金属あるいは、ポリエステル、ポリフェニ
レンスルフィド、塩化ビニリデン、ポリイミド、ポリエ
ーテルサルフォンなどの有機高分子材料などが採用・さ
れる、該基板は多数の小孔を有し、1つの小孔の面積は
3a1以下とし且つ該小孔による基板全面積に対する開
口率は90%以下であることが望ましい、また、小孔の
形状は多種考えられるが、丸、四角或はその他の形状が
全て採用可能である。
上記超電導フィルム層としては、ニオブ金属、ニオブ系
化合物、ニオブ系合金、バナジウム系化金物及びバナジ
ウム系合金等が採用され、具体的には、Nb、Nb−T
i合金、Nb−Zr合金、NbN、NbC1Nb、Sn
、Nb、Al、N’b。
化合物、ニオブ系合金、バナジウム系化金物及びバナジ
ウム系合金等が採用され、具体的には、Nb、Nb−T
i合金、Nb−Zr合金、NbN、NbC1Nb、Sn
、Nb、Al、N’b。
Ga、Nb、Ge、Nb5A(!Ge及びV、Ga等が
あげられる。その他セラミックス系ペロブスカイト型超
電導材料(例えばBa−Y−Cu−0系化合物La−8
r−Cu−0県北合物)やシェブレル超電導材料(例え
ば、PbMo、S、)等も採用される。これらはいずれ
も第2種超電導体で、前記特性を保有するものであり、
遮蔽すべき磁界の強さや冷媒の温度によって材料の種類
が決定されるが、実用上Nb−Ti合金が最も望ましい
、亦、該超電導フィルム層相互間に介在される金属フィ
ルム層としては、高純度のアルミニウムや銅が最適であ
るが、その低銀など、また低純度のこれら金属及びその
他の金属も採用可能である。超電導フィルム層及び金属
フィルム層は、通常スパッタ法や電子ビーム蒸着法によ
り順次製膜される。上記基板の小孔1個の面積及び小孔
による開口率は。
あげられる。その他セラミックス系ペロブスカイト型超
電導材料(例えばBa−Y−Cu−0系化合物La−8
r−Cu−0県北合物)やシェブレル超電導材料(例え
ば、PbMo、S、)等も採用される。これらはいずれ
も第2種超電導体で、前記特性を保有するものであり、
遮蔽すべき磁界の強さや冷媒の温度によって材料の種類
が決定されるが、実用上Nb−Ti合金が最も望ましい
、亦、該超電導フィルム層相互間に介在される金属フィ
ルム層としては、高純度のアルミニウムや銅が最適であ
るが、その低銀など、また低純度のこれら金属及びその
他の金属も採用可能である。超電導フィルム層及び金属
フィルム層は、通常スパッタ法や電子ビーム蒸着法によ
り順次製膜される。上記基板の小孔1個の面積及び小孔
による開口率は。
それぞれ3a1(望ましくは1μ−〜0.75dl)及
び90%以下であることが望ましいが、これらを超える
と、取扱い上において、また高磁場環境下での応力に対
して強度が不十分となる。特に面積が小さ過ぎると蒸着
の際に目詰りを起し易くなる。
び90%以下であることが望ましいが、これらを超える
と、取扱い上において、また高磁場環境下での応力に対
して強度が不十分となる。特に面積が小さ過ぎると蒸着
の際に目詰りを起し易くなる。
さらに該条件においては、超電導フィルム層の面積が小
さくなり強い磁界を遮蔽するのに必要な遮蔽電流(環境
磁界を打ち消すような磁界を発生するように流れる電流
)の容量が得られなくなる。
さくなり強い磁界を遮蔽するのに必要な遮蔽電流(環境
磁界を打ち消すような磁界を発生するように流れる電流
)の容量が得られなくなる。
更に上記小孔の開口面積が32を超えると各小孔内の遮
蔽磁界に勾配が出来、各部分における完全な遮蔽が難し
くなる。亦、超電導フィルム層が100μ麓を超えると
、速い励磁に対して安定な遮蔽が期待できなくなる。斯
かる意味では超電導フィルム層が薄いものほど安定化効
果が得られると言える。
蔽磁界に勾配が出来、各部分における完全な遮蔽が難し
くなる。亦、超電導フィルム層が100μ麓を超えると
、速い励磁に対して安定な遮蔽が期待できなくなる。斯
かる意味では超電導フィルム層が薄いものほど安定化効
果が得られると言える。
(作用)
本発明の超電導磁気遮蔽体に於いて、小孔部では電磁遮
蔽が、また小孔部以外の部分では完全反磁性及び混合状
態による反磁性を利用した超電導遮蔽が夫々なされ、こ
れら2種の遮蔽作用が相乗して極めて効果的に磁気遮蔽
がなされる。
蔽が、また小孔部以外の部分では完全反磁性及び混合状
態による反磁性を利用した超電導遮蔽が夫々なされ、こ
れら2種の遮蔽作用が相乗して極めて効果的に磁気遮蔽
がなされる。
電磁遮蔽では、超電導体でできた閉回路に遮蔽すべき磁
界を打ち消すような逆向きの磁界を発生するように遮蔽
電流が流れるため、超電導体の臨界電流密度が大きいも
のほど、強い磁界を効率よく且つ安定に遮蔽し得る。
界を打ち消すような逆向きの磁界を発生するように遮蔽
電流が流れるため、超電導体の臨界電流密度が大きいも
のほど、強い磁界を効率よく且つ安定に遮蔽し得る。
亦、超電導フィルム層を薄膜化することによって、上部
臨界磁界及び臨界電流密度が同種のバルクの値よりも大
きくなるため、前述の両遮蔽方法を組み合わせた本発明
の遮蔽体は、極めて強い磁界の遮蔽に用いることが可能
であると共に、比較的少ない超電導材料で所望の強さの
磁界を遮蔽することができる。
臨界磁界及び臨界電流密度が同種のバルクの値よりも大
きくなるため、前述の両遮蔽方法を組み合わせた本発明
の遮蔽体は、極めて強い磁界の遮蔽に用いることが可能
であると共に、比較的少ない超電導材料で所望の強さの
磁界を遮蔽することができる。
本発明の磁気遮蔽体は、前述の網目状遮蔽体のごとく閉
回路形成の為のハンダ等による接合部が全く存在しない
ので、これを臨界温度以下に保持すると、遮蔽を行うべ
き閉回路(小孔周辺部)の全抵抗が零となり、遮蔽すべ
き磁界が一様磁界あるいは変動磁界に関係なく、完全な
遮蔽が可能であり、その応用に制限がない。
回路形成の為のハンダ等による接合部が全く存在しない
ので、これを臨界温度以下に保持すると、遮蔽を行うべ
き閉回路(小孔周辺部)の全抵抗が零となり、遮蔽すべ
き磁界が一様磁界あるいは変動磁界に関係なく、完全な
遮蔽が可能であり、その応用に制限がない。
亦1本発明の磁気遮蔽体は基板に小孔を有しない一様な
シートを用いたものと比べ、小孔内部にも冷媒がゆきわ
たるため冷却が全領域に充分なされると共に、高磁界に
おいては遮蔽体の小孔部に磁束を強制的にトラップし、
磁束流動による発熱を抑え得るような構造となっている
ため、高磁界における安定化効果は抜群である。
シートを用いたものと比べ、小孔内部にも冷媒がゆきわ
たるため冷却が全領域に充分なされると共に、高磁界に
おいては遮蔽体の小孔部に磁束を強制的にトラップし、
磁束流動による発熱を抑え得るような構造となっている
ため、高磁界における安定化効果は抜群である。
さらに、前述のごとく超電導フィルム層が薄いほど安定
化効果が得られるが1本発明では該フィルム層を磁束の
侵入深さより薄くしても、同種のバルクによる上部臨界
磁界より高い磁界であっても遮蔽可能である。即ち、第
2種超電導体ではコヒーレンス長さく超電導電子が存在
し得る超電導材料表面からの深さ)より磁束の侵入深さ
の方が大きいため、磁束の侵入深さ以下の厚みであって
も電気抵抗が零である性質は保持されると共に、上部臨
界磁界についても同種のバルクに関する値よりもかなり
上昇するからである。
化効果が得られるが1本発明では該フィルム層を磁束の
侵入深さより薄くしても、同種のバルクによる上部臨界
磁界より高い磁界であっても遮蔽可能である。即ち、第
2種超電導体ではコヒーレンス長さく超電導電子が存在
し得る超電導材料表面からの深さ)より磁束の侵入深さ
の方が大きいため、磁束の侵入深さ以下の厚みであって
も電気抵抗が零である性質は保持されると共に、上部臨
界磁界についても同種のバルクに関する値よりもかなり
上昇するからである。
前述のごとき従来の薄膜を積層化した超電導磁気遮蔽体
は、安定化効果を得るため磁束の侵入深さ以下まで小さ
くすると、磁界の強さ及び超電導材層の層数に関係なく
磁界が殆ど通りぬけてしまうため遮蔽困難になる。とこ
ろが、本発明の磁気遮蔽体は電磁遮蔽をも行うものであ
り、超電導フィルム層の厚みが磁束の侵入深さ以下であ
っても超電導層の抵抗は零であるため、遮蔽電流が流れ
磁気遮蔽効果は消失しない。
は、安定化効果を得るため磁束の侵入深さ以下まで小さ
くすると、磁界の強さ及び超電導材層の層数に関係なく
磁界が殆ど通りぬけてしまうため遮蔽困難になる。とこ
ろが、本発明の磁気遮蔽体は電磁遮蔽をも行うものであ
り、超電導フィルム層の厚みが磁束の侵入深さ以下であ
っても超電導層の抵抗は零であるため、遮蔽電流が流れ
磁気遮蔽効果は消失しない。
亦、本発明の磁気遮蔽体において超電導フィルム層を複
数にする場合は、該超電導フィルム層相互間にCu、A
l、Ag等の金属フィルム層を介しているが、該金属フ
ィルム層は超電導体層の安定化(主に冷却効果)に寄与
するものであり、更に具体的には超電導フィルム層の熱
伝導が非常に大きくなる為に超電導フィルム層の全ての
部分に対して放熱効果が良くなり、磁束流動による温度
上昇が低く抑えられ、また常電導転位した部分の電流の
岐路を形成し発生熱量を抑え、超電導へ復起させる効果
を持つ、超電導材料を多層にしたものを強い磁界に晒し
た場合、第1層が最も強い磁界に晒され、第2層以後の
各層では少しずつ磁界か弱くなり、最終層では殆ど零と
なる。このような機能は各層が安定に働かなくては充分
に発揮されず1例えば第1層で磁束跳躍が起こった場合
。
数にする場合は、該超電導フィルム層相互間にCu、A
l、Ag等の金属フィルム層を介しているが、該金属フ
ィルム層は超電導体層の安定化(主に冷却効果)に寄与
するものであり、更に具体的には超電導フィルム層の熱
伝導が非常に大きくなる為に超電導フィルム層の全ての
部分に対して放熱効果が良くなり、磁束流動による温度
上昇が低く抑えられ、また常電導転位した部分の電流の
岐路を形成し発生熱量を抑え、超電導へ復起させる効果
を持つ、超電導材料を多層にしたものを強い磁界に晒し
た場合、第1層が最も強い磁界に晒され、第2層以後の
各層では少しずつ磁界か弱くなり、最終層では殆ど零と
なる。このような機能は各層が安定に働かなくては充分
に発揮されず1例えば第1層で磁束跳躍が起こった場合
。
第21Bでは急激な磁界の変化を受け、第2層でも磁束
跳躍を起こすことになり、結果として所望の磁気遮蔽効
果が得られなくなる。
跳躍を起こすことになり、結果として所望の磁気遮蔽効
果が得られなくなる。
本発明の磁気遮蔽体では、薄層化された超電導フィルム
層相互間に上記の如く作用する金属フィルム層を介して
おり、また磁束流動を強制的に抑える小孔を有するため
、上記磁束跳躍等が抑制され各超電導体層が安定され、
該両遮蔽方法の特長が充分に活かされることになるので
ある。
層相互間に上記の如く作用する金属フィルム層を介して
おり、また磁束流動を強制的に抑える小孔を有するため
、上記磁束跳躍等が抑制され各超電導体層が安定され、
該両遮蔽方法の特長が充分に活かされることになるので
ある。
(実施例及び比較例)
次に実施例及び比較例について述べる。
(a)厚みが50μmのポリフェニレンスルフィドシー
トを3枚準備してこれを基板とし、これら各基板に1辺
3IIIIの正方形の小孔を基板面積に対する開口率が
30%、80%、91%となるよう多数穿設した。
トを3枚準備してこれを基板とし、これら各基板に1辺
3IIIIの正方形の小孔を基板面積に対する開口率が
30%、80%、91%となるよう多数穿設した。
また上記各基板の片面にNb−Ti合金を無加熱の状態
でスパッタ法により10μmの厚みに製膜を行いNb−
Ti合金による超電導フィルム層を形成して複合体とな
し、これら3種の複合体を夫々実施例1.2及び比較例
1(小孔の開口率が夫々30%、80%、91%)とし
た。
でスパッタ法により10μmの厚みに製膜を行いNb−
Ti合金による超電導フィルム層を形成して複合体とな
し、これら3種の複合体を夫々実施例1.2及び比較例
1(小孔の開口率が夫々30%、80%、91%)とし
た。
上記各複合体を直径45mの円板状に加工し、その中心
部においてその磁気遮蔽量の測定を行なった。その結果
、実施例1は0.052テスラ、実施例2は0.012
テスラ、比較例1は0.、.900テスラであった。こ
れにより小孔の開口率が90%を超えると殆んど遮蔽効
果がないことが理解され、また、磁場による応力や取扱
い上遮蔽体全体の強度に問題が生じることも知見された
。
部においてその磁気遮蔽量の測定を行なった。その結果
、実施例1は0.052テスラ、実施例2は0.012
テスラ、比較例1は0.、.900テスラであった。こ
れにより小孔の開口率が90%を超えると殆んど遮蔽効
果がないことが理解され、また、磁場による応力や取扱
い上遮蔽体全体の強度に問題が生じることも知見された
。
(b)厚み30μmのNiシートを2枚準備してこれを
基板となし、一方には口径30μmの小孔を開口率的5
%となるよう多数穿設した。
基板となし、一方には口径30μmの小孔を開口率的5
%となるよう多数穿設した。
この2枚の基板の片面に上記(a)と同様にNb−Ti
合金による厚さ10μmの超電導フィルム層を製膜して
2種の複合体となし、これら複合体を夫々実施例3及び
比較例2(小孔を穿設しない方)とした。
合金による厚さ10μmの超電導フィルム層を製膜して
2種の複合体となし、これら複合体を夫々実施例3及び
比較例2(小孔を穿設しない方)とした。
(a)と同様に磁気遮蔽量を測定した結果、実施例3
Lt 0 、089 テX ラ、比較例2は0.072
テスラであった。これより小孔を設けなル箋方が磁気遮
蔽効果が低いことが理解される。
Lt 0 、089 テX ラ、比較例2は0.072
テスラであった。これより小孔を設けなル箋方が磁気遮
蔽効果が低いことが理解される。
(c)厚み30μmのNiシートを5枚準備してこれを
基板となし、該基板の夫々に口径約50μmの小孔を基
板に対する開口率が約5%となるよう穿設した。
基板となし、該基板の夫々に口径約50μmの小孔を基
板に対する開口率が約5%となるよう穿設した。
これら基板上に上記と同様のスパッタ法によりN b
−T i合金による超電導フィルム暦及びCu(純度9
9.99%)による金属フィルム層を各10層交互に製
膜形成して5種の複合体を得た。この場合、金属フィル
ム層の厚みは2μmで一定となし、一方超電導フィルム
暦の厚みは4種の複合体について夫々1μm、10μm
、30μm、100μm及び150μmとしこれらを順
次実施例4,5.6.7及び比較例3とした。この複合
体の一例を第1図及び第2図に示す。図に於いて、符号
1は基板を、2・・・は小孔を、3・・・は超電導フィ
ルム層を、4・・・は金属フィルム層を夫々示す。
−T i合金による超電導フィルム暦及びCu(純度9
9.99%)による金属フィルム層を各10層交互に製
膜形成して5種の複合体を得た。この場合、金属フィル
ム層の厚みは2μmで一定となし、一方超電導フィルム
暦の厚みは4種の複合体について夫々1μm、10μm
、30μm、100μm及び150μmとしこれらを順
次実施例4,5.6.7及び比較例3とした。この複合
体の一例を第1図及び第2図に示す。図に於いて、符号
1は基板を、2・・・は小孔を、3・・・は超電導フィ
ルム層を、4・・・は金属フィルム層を夫々示す。
上記各複合体について前記と同様に磁気遮蔽量を測定し
たところ、実施例4は0.20テスラ、実施例5は0.
88テスラ、実施例6は0.98テスラ、実施例7は1
81テスラ及び比較例3は0.75テスラであった。
たところ、実施例4は0.20テスラ、実施例5は0.
88テスラ、実施例6は0.98テスラ、実施例7は1
81テスラ及び比較例3は0.75テスラであった。
この結果上記の如く積層化された遮蔽体においては、超
電導材料フィルム層が小さいほど安定化効果は大きく、
また超電導材料の使用量に対する遮蔽効果も大きくなる
ことが理解される。また比較例3に示した厚み150μ
mの超電導材料フィルム層による積層体では磁気遮蔽量
は比較的高い値を示しているが1時に不安定な状態にな
ることもあり、さらには速い励磁に対しては磁束跳錫を
引き起こし遮蔽効果がなくなるため実用上問題を生じる
こともわかった。
電導材料フィルム層が小さいほど安定化効果は大きく、
また超電導材料の使用量に対する遮蔽効果も大きくなる
ことが理解される。また比較例3に示した厚み150μ
mの超電導材料フィルム層による積層体では磁気遮蔽量
は比較的高い値を示しているが1時に不安定な状態にな
ることもあり、さらには速い励磁に対しては磁束跳錫を
引き起こし遮蔽効果がなくなるため実用上問題を生じる
こともわかった。
(d)厚み50μmのCuシートを基板とし、これに口
径3nnの小孔を基板に対する開口率が40%となるよ
う多数穿設した。
径3nnの小孔を基板に対する開口率が40%となるよ
う多数穿設した。
上記基板をメタン−アルゴン混合ガス雰囲気中で加熱を
行ないながら反応性スパッタリング法により、該基板上
にNbC化合物(バルクの上部臨界磁界が1.69テス
ラ)による超電導フィルム層及びAl2(純度99.9
9%)による金属フィルム層を各々100層交互に積層
製膜して複合体を得、これを実施例8とした。この場合
の超電導フィルム層の厚みは400人、金属フィルム層
の厚みは1oOO人である。
行ないながら反応性スパッタリング法により、該基板上
にNbC化合物(バルクの上部臨界磁界が1.69テス
ラ)による超電導フィルム層及びAl2(純度99.9
9%)による金属フィルム層を各々100層交互に積層
製膜して複合体を得、これを実施例8とした。この場合
の超電導フィルム層の厚みは400人、金属フィルム層
の厚みは1oOO人である。
上記実施例8の複合体を40枚重ね合わせ、これを磁界
の強さが1.8テスラの雰囲気中に晒しその磁気遮蔽量
を測定したところ約0.3テスラであった。
の強さが1.8テスラの雰囲気中に晒しその磁気遮蔽量
を測定したところ約0.3テスラであった。
この結果、上記の如く極めて薄い超電導フィルム層を用
いることによって、バルクの上部臨界磁界以上の磁界で
あっても遮蔽することが出来ることが理解される。これ
は超電導フィルムBを磁束の侵入深さ以下の厚みにする
と上部臨界磁界が上昇すること及び小孔の廻りに閉回路
が形成される為、通常の超電導遮蔽と電磁遮蔽とが並行
して行なわれるからである。従って更に多層にすること
。
いることによって、バルクの上部臨界磁界以上の磁界で
あっても遮蔽することが出来ることが理解される。これ
は超電導フィルムBを磁束の侵入深さ以下の厚みにする
と上部臨界磁界が上昇すること及び小孔の廻りに閉回路
が形成される為、通常の超電導遮蔽と電磁遮蔽とが並行
して行なわれるからである。従って更に多層にすること
。
によって完全な遮蔽も可能とされ、しかも各超電導フィ
ルム層が非常に薄い為安定化効果も抜群となる。
ルム層が非常に薄い為安定化効果も抜群となる。
尚、上記実施例では、超電導フィルム層としてNb−T
i合金あるいはNbC化合物を使用した例を示したが、
他の超電導材料においても具体的数値は夫々違いがある
が、上述のごとき作用を有することは本発明者等の実験
によって確認されている。但し、実施例8の場合、上部
臨界磁界の極めて高い超電導材料においては、その確認
実験に用いる磁界の発生が呪技術では困難であるため確
認はできていないが、NbC以外の超電導材料において
も上記のごとき作用を有することが一容易に類推される
。亦、上記金属フィルム層に代え或は之と併用して誘電
体フィルム層を超電導フィルム層間に介装させるように
すれば、上部臨界磁界以上の磁界での磁気遮蔽効果が向
上することも予想される。
i合金あるいはNbC化合物を使用した例を示したが、
他の超電導材料においても具体的数値は夫々違いがある
が、上述のごとき作用を有することは本発明者等の実験
によって確認されている。但し、実施例8の場合、上部
臨界磁界の極めて高い超電導材料においては、その確認
実験に用いる磁界の発生が呪技術では困難であるため確
認はできていないが、NbC以外の超電導材料において
も上記のごとき作用を有することが一容易に類推される
。亦、上記金属フィルム層に代え或は之と併用して誘電
体フィルム層を超電導フィルム層間に介装させるように
すれば、上部臨界磁界以上の磁界での磁気遮蔽効果が向
上することも予想される。
(発明の効果)
取上の如く、本発明の超電導を利用した磁気遮蔽体は、
超電導材の反磁性による遮蔽と小孔部の閉回路形成によ
る電磁遮蔽とが並行してなされるもので、この両遮蔽特
性により一様磁界或は変化磁界に関係なく磁気遮蔽が極
めて効果的になされる。しかも上記磁気遮蔽特性と遮蔽
体の小孔部更には超電導フィルム層間に介装される金属
フィルム層とが相乗して、強磁界に対しても極めて安定
であり、従来にない全く新規な磁気遮蔽体として位置付
けられる。従って、これを各種磁気遮蔽機器に応用すれ
ば、その軽量化、低コスト、高安定性に大きく寄与する
ことは自明であり、しかも薄層であることから成形加工
性が高い点も付加され、よって本発明遮蔽体は実用性の
極めて高い磁気遮蔽体として各方面から好評を博するこ
と請合いである。
超電導材の反磁性による遮蔽と小孔部の閉回路形成によ
る電磁遮蔽とが並行してなされるもので、この両遮蔽特
性により一様磁界或は変化磁界に関係なく磁気遮蔽が極
めて効果的になされる。しかも上記磁気遮蔽特性と遮蔽
体の小孔部更には超電導フィルム層間に介装される金属
フィルム層とが相乗して、強磁界に対しても極めて安定
であり、従来にない全く新規な磁気遮蔽体として位置付
けられる。従って、これを各種磁気遮蔽機器に応用すれ
ば、その軽量化、低コスト、高安定性に大きく寄与する
ことは自明であり、しかも薄層であることから成形加工
性が高い点も付加され、よって本発明遮蔽体は実用性の
極めて高い磁気遮蔽体として各方面から好評を博するこ
と請合いである。
第1図は本発明磁気遮蔽体の一例を示す斜視図、第2図
は第1図の■−■線拡大縦断面図である。 (符号の説明) 1・・・基板、 2・・・小孔、 3・・・超電導フィ
ルム層、 4・・・金属フィルム層。 一以上一
は第1図の■−■線拡大縦断面図である。 (符号の説明) 1・・・基板、 2・・・小孔、 3・・・超電導フィ
ルム層、 4・・・金属フィルム層。 一以上一
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、多数の小孔を有する基板と、該基板上に積層された
少なくとも一層の超電導フィルム層とより成り、該フィ
ルム層の厚みが100μm以下であって且つ該フィルム
層が複数の場合は各フィルム層間に金属フィルム層を介
在させて成る超電導磁気遮蔽体。 2、上記基板が、Cu、Al、Ni、ステンレススチー
ル等の金属あるいは、ポリエステル、ポリフェニレンス
ルフィド、塩化ビニリデン、ポリイミド、ポリエーテル
サルフォン等の有機高分子材料より選ばれたいずれか1
種からなる特許請求の範囲第1項記載の磁気遮蔽体。 3、上記各小孔の開口面積が3cm^2以下であり且つ
該小孔による基板の開口率が90%以下である特許請求
の範囲第1項記載の磁気遮蔽体。 4、上記超電導フィルム層が、ニオブ金属、ニオブ系化
合物、ニオブ系合金、バナジウム系化合物及びバナジウ
ム系合金より選ばれたいずれか1種のフィルムから成る
特許請求の範囲第1項記載の磁気遮蔽体。 5、上記金属フィルム層がCu、Al及びAgより選ば
れたいずれか1種の金属より成る特許請求の範囲第1項
記載の磁気遮蔽体。
Priority Applications (11)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62068499A JP2527554B2 (ja) | 1987-03-23 | 1987-03-23 | 超電導磁気遮蔽体 |
US07/169,369 US4828931A (en) | 1987-03-23 | 1988-03-17 | Superconductor for magnetic field shielding |
DE3809452A DE3809452A1 (de) | 1987-03-23 | 1988-03-21 | Supraleiter zur magnetfeldabschirmung |
CA000562092A CA1296089C (en) | 1987-03-23 | 1988-03-22 | Superconductor for magnetic field shielding |
GB8806772A GB2203909B (en) | 1987-03-23 | 1988-03-22 | Superconductor for magnetic field shielding |
FR888803822A FR2613115B1 (fr) | 1987-03-23 | 1988-03-23 | Organe supraconducteur pour blindage de protection contre les champs magnetiques |
JP63250546A JPH0752799B2 (ja) | 1987-03-23 | 1988-10-03 | 超電導磁気シールド体 |
DE68922457T DE68922457T2 (de) | 1987-03-23 | 1989-10-02 | Ein Supraleiter zur Magnetfeldabschirmung. |
EP89310070A EP0365171B1 (en) | 1987-03-23 | 1989-10-02 | A superconductor for magnetic field shield |
CA002000104A CA2000104C (en) | 1987-03-23 | 1989-10-03 | Superconductor for magnetic field shield |
US07/416,712 US4942379A (en) | 1987-03-23 | 1989-10-03 | Superconductor for magnetic field shield |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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JP63250546A JPH0752799B2 (ja) | 1987-03-23 | 1988-10-03 | 超電導磁気シールド体 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63233577A true JPS63233577A (ja) | 1988-09-29 |
JP2527554B2 JP2527554B2 (ja) | 1996-08-28 |
Family
ID=39345499
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---|---|---|---|
JP62068499A Expired - Lifetime JP2527554B2 (ja) | 1987-03-23 | 1987-03-23 | 超電導磁気遮蔽体 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63250546A Expired - Fee Related JPH0752799B2 (ja) | 1987-03-23 | 1988-10-03 | 超電導磁気シールド体 |
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---|---|
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EP (1) | EP0365171B1 (ja) |
JP (2) | JP2527554B2 (ja) |
CA (2) | CA1296089C (ja) |
DE (2) | DE3809452A1 (ja) |
FR (1) | FR2613115B1 (ja) |
GB (1) | GB2203909B (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63234569A (ja) * | 1987-03-24 | 1988-09-29 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 磁場シ−ルド材料 |
JPH02102037A (ja) * | 1988-10-11 | 1990-04-13 | Ube Ind Ltd | 超電導セラミックス積層ポリイミド材料 |
JPH02113936A (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-26 | Ube Ind Ltd | Nb系超電導体積層ポリイミド材料 |
JPH02299295A (ja) * | 1989-05-15 | 1990-12-11 | Ngk Insulators Ltd | 超電導磁気シールド板 |
JPH0368199A (ja) * | 1989-08-07 | 1991-03-25 | Dowa Mining Co Ltd | 超電導磁気シールド材 |
JPH09136975A (ja) * | 1996-06-17 | 1997-05-27 | Ube Ind Ltd | 導電性材料用のポリイミド基板 |
Families Citing this family (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6454714A (en) * | 1987-08-26 | 1989-03-02 | Hitachi Ltd | Active shield type superconducting magnet device |
US5795849A (en) * | 1987-12-21 | 1998-08-18 | Hickman; Paul L. | Bulk ceramic superconductor structures |
JPH0714120B2 (ja) * | 1988-02-09 | 1995-02-15 | 大阪府 | 超電導磁気遮蔽体 |
US4997719A (en) * | 1988-10-25 | 1991-03-05 | Ube Industries, Ltd. | Niobium-containing superconductor-laminated aromatic polyimide material |
DE3902223C2 (de) * | 1989-01-26 | 1995-03-30 | Reiss Harald Priv Doz Dr | Strahlungsschirm |
DE69018303T2 (de) * | 1989-04-17 | 1995-11-09 | Ngk Insulators Ltd | Supraleitende Struktur zur magnetischen Abschirmung. |
CH678243A5 (ja) * | 1989-06-12 | 1991-08-15 | Asea Brown Boveri | |
US5373275A (en) * | 1989-10-23 | 1994-12-13 | Nippon Steel Corporation | Superconducting magnetic shield and process for preparing the same |
CA2028242C (en) * | 1989-10-23 | 1997-08-19 | Ikuo Itoh | Superconducting magnetic shield and process for preparing the same |
JPH03147305A (ja) * | 1989-11-01 | 1991-06-24 | Mitsubishi Electric Corp | 磁気シールド付電磁石 |
JPH03220491A (ja) * | 1990-01-25 | 1991-09-27 | Nkk Corp | 超電導磁気シールドカバー |
US7667562B1 (en) * | 1990-02-20 | 2010-02-23 | Roy Weinstein | Magnetic field replicator and method |
JPH03257976A (ja) * | 1990-03-08 | 1991-11-18 | Fujitsu Ltd | 超伝導装置 |
FI911724A (fi) * | 1990-04-13 | 1991-10-14 | Sumitomo Electric Industries | Superledande ledning. |
US5466885A (en) * | 1990-09-27 | 1995-11-14 | Furukawa Denki Kogyo Kabushiki Kaisha | Magnetically shielding structure |
JP2768815B2 (ja) * | 1990-09-27 | 1998-06-25 | 古河電気工業株式会社 | 磁気シールド構造 |
EP0503085B1 (en) * | 1990-09-28 | 1997-01-15 | Furukawa Denki Kogyo Kabushiki Kaisha | Magnetically shielding structure |
US5156003A (en) * | 1990-11-08 | 1992-10-20 | Koatsu Gas Kogyo Co., Ltd. | Magnetic refrigerator |
JP2933731B2 (ja) * | 1991-01-22 | 1999-08-16 | 高圧ガス工業株式会社 | 静止型磁気冷凍機 |
JPH04342179A (ja) * | 1991-05-17 | 1992-11-27 | Koatsu Gas Kogyo Co Ltd | 超電導磁気遮蔽体 |
US5164542A (en) * | 1991-08-02 | 1992-11-17 | Tusk, Inc. | Composite housing for a computer system |
US5310705A (en) * | 1993-01-04 | 1994-05-10 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | High-field magnets using high-critical-temperature superconducting thin films |
US5987340A (en) * | 1993-02-05 | 1999-11-16 | The Boeing Company | Superconducting windows for electromagnetic screening |
JP2811410B2 (ja) * | 1994-02-09 | 1998-10-15 | 理化学研究所 | 磁気遮蔽容器、磁界検出コイル及び磁気遮蔽装置 |
JP2727995B2 (ja) * | 1994-12-15 | 1998-03-18 | 双葉電子工業株式会社 | 支柱材整列用治具および支柱材整列用治具の製造方法 |
US6175749B1 (en) * | 1998-06-22 | 2001-01-16 | Forschungszentrum Julich Gmbh | Assembly of carrier and superconductive film |
CN1241208C (zh) * | 2001-01-16 | 2006-02-08 | 新日本制铁株式会社 | 低电阻导体及其制造方法和使用其的电子部件 |
US6846396B2 (en) * | 2002-08-08 | 2005-01-25 | Applied Materials, Inc. | Active magnetic shielding |
DE10354676B4 (de) * | 2003-11-22 | 2006-12-21 | Bruker Biospin Gmbh | Magnetsystem mit flächenhafter, mehrlagiger Anordnung von Supraleiterdrähten |
DE102005032422B4 (de) * | 2005-07-12 | 2008-06-26 | Forschungszentrum Jülich GmbH | Anordnung aus Träger und supraleitendem Film, Vortexdiode, umfassend eine derartige Anordnung sowie Verwendung von Vortexdioden für Filter |
US20070103017A1 (en) * | 2005-11-10 | 2007-05-10 | United Technologies Corporation One Financial Plaza | Superconducting generator rotor electromagnetic shield |
WO2009055930A1 (en) * | 2007-10-31 | 2009-05-07 | D-Wave Systems Inc. | Systems, methods, and apparatus for combined superconducting magnetic shielding and radiation shielding |
EP2297751B1 (en) * | 2008-07-02 | 2013-02-13 | Nxp B.V. | Planar, monolithically integrated coil |
JP5937026B2 (ja) * | 2013-02-15 | 2016-06-22 | 住友重機械工業株式会社 | 超電導磁気シールド装置 |
JP6402501B2 (ja) * | 2014-06-20 | 2018-10-10 | アイシン精機株式会社 | 超電導磁場発生装置、超電導磁場発生方法及び核磁気共鳴装置 |
US10755190B2 (en) | 2015-12-21 | 2020-08-25 | D-Wave Systems Inc. | Method of fabricating an electrical filter for use with superconducting-based computing systems |
GB2576933A (en) * | 2018-09-07 | 2020-03-11 | Tokamak Energy Ltd | Flexible HTS current leads |
US11075435B2 (en) * | 2018-10-25 | 2021-07-27 | International Business Machines Corporation | Electroplating of niobium titanium |
US11735802B2 (en) * | 2020-04-27 | 2023-08-22 | International Business Machines Corporation | Electroplated metal layer on a niobium-titanium substrate |
CN116234280B (zh) * | 2023-01-13 | 2023-09-08 | 彗晶新材料科技(杭州)有限公司 | 液态金属复合薄膜材料及电子设备 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US39A (en) * | 1836-10-04 | Purifying- wateil for use in steamt-boilees | ||
AT262440B (de) * | 1965-10-16 | 1968-06-10 | Siemens Ag | Bandförmiger Supraleiter |
US3895156A (en) * | 1966-01-28 | 1975-07-15 | Gen Atomic Co | High strength composite |
US3443021A (en) * | 1967-04-28 | 1969-05-06 | Rca Corp | Superconducting ribbon |
US3603716A (en) * | 1969-06-27 | 1971-09-07 | Yehuda Klinger | Superconducting r.f. radiation shield for high q circuits |
JPS523706Y2 (ja) * | 1973-09-14 | 1977-01-26 | ||
US4408255A (en) * | 1981-01-12 | 1983-10-04 | Harold Adkins | Absorptive electromagnetic shielding for high speed computer applications |
US4678699A (en) * | 1982-10-25 | 1987-07-07 | Allied Corporation | Stampable polymeric composite containing an EMI/RFI shielding layer |
JPS61183979A (ja) * | 1985-02-08 | 1986-08-16 | Yoshiro Saji | 超電導磁気遮蔽体 |
JPS61190767A (ja) * | 1985-02-19 | 1986-08-25 | Fujitsu Ltd | 磁気デイスク装置の組み立て方法 |
US4851799A (en) * | 1987-06-29 | 1989-07-25 | General Dynamics/Space Systems Division | Producing high uniformity magnetic field or magnetic shielding using passive compensating coils |
JPS6458247A (en) * | 1987-08-29 | 1989-03-06 | Fuji Electric Co Ltd | Uniform magnetic field coil |
-
1987
- 1987-03-23 JP JP62068499A patent/JP2527554B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-03-17 US US07/169,369 patent/US4828931A/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-03-21 DE DE3809452A patent/DE3809452A1/de active Granted
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-
1989
- 1989-10-02 DE DE68922457T patent/DE68922457T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-10-02 EP EP89310070A patent/EP0365171B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-10-03 CA CA002000104A patent/CA2000104C/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-10-03 US US07/416,712 patent/US4942379A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63234569A (ja) * | 1987-03-24 | 1988-09-29 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 磁場シ−ルド材料 |
JPH02102037A (ja) * | 1988-10-11 | 1990-04-13 | Ube Ind Ltd | 超電導セラミックス積層ポリイミド材料 |
JPH02113936A (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-26 | Ube Ind Ltd | Nb系超電導体積層ポリイミド材料 |
JPH02299295A (ja) * | 1989-05-15 | 1990-12-11 | Ngk Insulators Ltd | 超電導磁気シールド板 |
JPH0368199A (ja) * | 1989-08-07 | 1991-03-25 | Dowa Mining Co Ltd | 超電導磁気シールド材 |
JPH09136975A (ja) * | 1996-06-17 | 1997-05-27 | Ube Ind Ltd | 導電性材料用のポリイミド基板 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2203909A (en) | 1988-10-26 |
DE68922457T2 (de) | 1996-01-25 |
FR2613115A1 (fr) | 1988-09-30 |
CA1296089C (en) | 1992-02-18 |
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GB2203909B (en) | 1991-02-13 |
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DE3809452A1 (de) | 1988-10-06 |
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GB8806772D0 (en) | 1988-04-20 |
FR2613115B1 (fr) | 1991-03-15 |
JP2527554B2 (ja) | 1996-08-28 |
DE68922457D1 (de) | 1995-06-08 |
JPH0297098A (ja) | 1990-04-09 |
US4828931A (en) | 1989-05-09 |
DE3809452C2 (ja) | 1992-07-02 |
EP0365171B1 (en) | 1995-05-03 |
CA2000104A1 (en) | 1990-04-03 |
EP0365171A1 (en) | 1990-04-25 |
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