JPS6321040A - 超高速x線ctスキヤナ - Google Patents
超高速x線ctスキヤナInfo
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- JPS6321040A JPS6321040A JP61167304A JP16730486A JPS6321040A JP S6321040 A JPS6321040 A JP S6321040A JP 61167304 A JP61167304 A JP 61167304A JP 16730486 A JP16730486 A JP 16730486A JP S6321040 A JPS6321040 A JP S6321040A
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- Japan
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- ray
- rays
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- scanner
- cathode
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- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 210000000056 organ Anatomy 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 210000001835 viscera Anatomy 0.000 description 1
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Devices for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computerised tomographs
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
- A61B6/40—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4021—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis involving movement of the focal spot
- A61B6/4028—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis involving movement of the focal spot resulting in acquisition of views from substantially different positions, e.g. EBCT
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/70—Circuit arrangements for X-ray tubes with more than one anode; Circuit arrangements for apparatus comprising more than one X ray tube or more than one cathode
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、臓ふ等の診断のための動的状態の観察、ある
いは混相流などの流れの計4111に利用するのに適し
た超高速X線CTスキャナに関するものである。
いは混相流などの流れの計4111に利用するのに適し
た超高速X線CTスキャナに関するものである。
[従来の技術]
従来のX!5tCTスキャナは、中心に配(dした被測
定物を囲む円周Fから上記被Jlll定物に対してX線
を投射し、そのX線をX線検出器で検出して。
定物を囲む円周Fから上記被Jlll定物に対してX線
を投射し、そのX線をX線検出器で検出して。
L記被測定物の断面の撮影を行うようにしているが、X
線の走査を機械的に行っており、走査速度は速くとも数
秒を要するため、対象物の動的な撮影は不可能であり5
例えば臓器の動的な変化を把握したり、管路内の流体の
流れの状態を動的に把握する場合などには、利用するこ
とができない。
線の走査を機械的に行っており、走査速度は速くとも数
秒を要するため、対象物の動的な撮影は不可能であり5
例えば臓器の動的な変化を把握したり、管路内の流体の
流れの状態を動的に把握する場合などには、利用するこ
とができない。
これに対し、最近、電子ビームを電気的に走査し、1断
面を20ミリ秒程度で1影できる装置が開発されている
が、電子ビームを走査するためには、原理的に、補機を
含めた装置が大型化すると同時に、ビームを位置精度よ
くターゲットに衝突させるのが困難である。
面を20ミリ秒程度で1影できる装置が開発されている
が、電子ビームを走査するためには、原理的に、補機を
含めた装置が大型化すると同時に、ビームを位置精度よ
くターゲットに衝突させるのが困難である。
[発明が解決しようとする問題点]
本発明の目的は、fiu述したように電子ビームを電気
的に走査することなく、X線の発生点を電気的に高速走
査して、被測定物の1断面の撮影時間を超高速化し、そ
れによって臓器の動態撮影や管内の波体の流れの動的な
計測などに利用できるようにした超高速X線CTスキャ
ナを得ることにある。
的に走査することなく、X線の発生点を電気的に高速走
査して、被測定物の1断面の撮影時間を超高速化し、そ
れによって臓器の動態撮影や管内の波体の流れの動的な
計測などに利用できるようにした超高速X線CTスキャ
ナを得ることにある。
[問題点を解決するための手段]
上記目的を達成するため、本発明は、中心に配δした被
測定物を囲む円周ヒから上記被測定物に対してX線を投
射し、そのX線をX線検出器で検出して、上記被測定物
の断面の撮影を行うようにしたX線CTスキャナにおい
て、上記xlを投射するためのX線発生装置として、陰
極と陽極を構成するターゲットとの間にグリッドを配設
したX線発生装置を用い、このX線発生装置の多数を、
上記被測定物を囲む円周上に配列させ、これらのX線発
生装置におけるグリッドに、陰極と陽極のJullにX
線を得るための電圧を印加した状態で、陰極から陽極に
向かう゛電子ビームを抑制するためにグリッドに印加さ
れていたグリッドバイアス重圧を順次一時的に解除する
X線発生制御装置を接続したことを特徴とするものであ
る。
測定物を囲む円周ヒから上記被測定物に対してX線を投
射し、そのX線をX線検出器で検出して、上記被測定物
の断面の撮影を行うようにしたX線CTスキャナにおい
て、上記xlを投射するためのX線発生装置として、陰
極と陽極を構成するターゲットとの間にグリッドを配設
したX線発生装置を用い、このX線発生装置の多数を、
上記被測定物を囲む円周上に配列させ、これらのX線発
生装置におけるグリッドに、陰極と陽極のJullにX
線を得るための電圧を印加した状態で、陰極から陽極に
向かう゛電子ビームを抑制するためにグリッドに印加さ
れていたグリッドバイアス重圧を順次一時的に解除する
X線発生制御装置を接続したことを特徴とするものであ
る。
[作 用1
被測定物を囲む円周上のX線発生装置において、陰極と
陽極の間に必要強度のX線を得るための゛を圧を印加し
た状態で、陰極から陽極へ向かう゛電子ビームを抑制す
るために印加されていたグリッドバイアス厄圧を順次解
除し、陽極に衝突した゛電子ビームによりX線を発生さ
せる。このグリt・ドへイアスの解除を、設置したX線
発生装置について順次緑返すことにより、X線発生点を
高速に走査することが可能となり、被測定物の1断面の
撮影lI′?間をa高速化することができる。
陽極の間に必要強度のX線を得るための゛を圧を印加し
た状態で、陰極から陽極へ向かう゛電子ビームを抑制す
るために印加されていたグリッドバイアス厄圧を順次解
除し、陽極に衝突した゛電子ビームによりX線を発生さ
せる。このグリt・ドへイアスの解除を、設置したX線
発生装置について順次緑返すことにより、X線発生点を
高速に走査することが可能となり、被測定物の1断面の
撮影lI′?間をa高速化することができる。
[実施例]
第1図及び第2図は、本発明に係る超高速X線CTスキ
ャナの実施例を示している。ここに例示したX線CTス
キャナは、中心に配置した被測定物としての配管l内に
おける流体(混相流)の流れを計測するためのもので、
その配管lを囲む円周1二に、所要の分解能を得るに必
要な多数のX線発生装置3,3.・・を配置するため、
配管1の周囲に一部を欠いた円環状の真空容器2を設け
ている。
ャナの実施例を示している。ここに例示したX線CTス
キャナは、中心に配置した被測定物としての配管l内に
おける流体(混相流)の流れを計測するためのもので、
その配管lを囲む円周1二に、所要の分解能を得るに必
要な多数のX線発生装置3,3.・・を配置するため、
配管1の周囲に一部を欠いた円環状の真空容器2を設け
ている。
上記真空容器2内に配置したX線発生装置3,3゜0番
は、それぞれ、陰極5、グリッドB、集束レンズを兼ね
た多段の加速゛電極7.7.・・、及び陽極を構成する
タングステン・ターゲット8を備えたもので、これらに
よって配管1を囲む円周上からその配管lに対してX線
を投射するように構成している。即ち、J:、記陰極と
陽極の間に必要強度のX線を得るための電圧を印加する
と、陰極から陽極へ向かう電子ビームが陽極を構成する
ターゲット8に衝突し、配管lに対して投射されるX線
を発生させる。
は、それぞれ、陰極5、グリッドB、集束レンズを兼ね
た多段の加速゛電極7.7.・・、及び陽極を構成する
タングステン・ターゲット8を備えたもので、これらに
よって配管1を囲む円周上からその配管lに対してX線
を投射するように構成している。即ち、J:、記陰極と
陽極の間に必要強度のX線を得るための電圧を印加する
と、陰極から陽極へ向かう電子ビームが陽極を構成する
ターゲット8に衝突し、配管lに対して投射されるX線
を発生させる。
上記陰極と陽極との間には、例えば、1oOkV程度の
加速用の高電圧を印加するが、巾に両極11J+にその
高゛毛圧を印加したのでは、真空容器2中において放電
する可能性がある。上述した多段の加速電極?、7.・
・は、陰極と陽極との間の高°1ヒ圧により電子ビーム
を一気に加速することなく、その高電圧を多段に分割し
て加速するためのものであり、しかも各加速電極に集束
レンズとしての機能をも持たせて、その集束によりビー
ムの利用効率を高めている。
加速用の高電圧を印加するが、巾に両極11J+にその
高゛毛圧を印加したのでは、真空容器2中において放電
する可能性がある。上述した多段の加速電極?、7.・
・は、陰極と陽極との間の高°1ヒ圧により電子ビーム
を一気に加速することなく、その高電圧を多段に分割し
て加速するためのものであり、しかも各加速電極に集束
レンズとしての機能をも持たせて、その集束によりビー
ムの利用効率を高めている。
各X線発生装223,3.・・において、上記陰極5と
ターゲット8との間に配設したグリッド6は、それぞれ
、X線発生制御装置(図示せず)に接続している。この
X線発生制御装置は、各X線発生装a3,3.・・にお
けるグリ−7ドパイアス電圧を制御することにより、円
周上に配置したX線発生装;+13,3.・・によるX
線の発生点を′電気的に走査し、被測定物の1断面の撮
影蒔間を、例えばloミリ秒以下に超高速化するもので
ある。
ターゲット8との間に配設したグリッド6は、それぞれ
、X線発生制御装置(図示せず)に接続している。この
X線発生制御装置は、各X線発生装a3,3.・・にお
けるグリ−7ドパイアス電圧を制御することにより、円
周上に配置したX線発生装;+13,3.・・によるX
線の発生点を′電気的に走査し、被測定物の1断面の撮
影蒔間を、例えばloミリ秒以下に超高速化するもので
ある。
即ち、上記陰極と陽極の間には、常に、必要強度のxy
iを得るための電圧を印加して、各X線発生装置3.3
.・・におけるグリッド6に、陰極から陽極に向かう電
子ビームを抑M1するためのグリッドバイアス′厄圧を
印加した状態とし、X線発生制御装置による制御で、陰
極から陽極へ向かう電子ビームを抑制するために各X線
発生装置i3,3.φ・におけるグリッドに印加されて
いたグリッドバイアス電圧を、順次一時的に解除し、そ
れに伴って陽極に衝突した゛電子ビームによりX線を発
生させる。そして、このグリッドバイアス電圧の解除を
、設置した各X線発生装:δ3.3.・・について緑返
すことにより、X線発生点を高速に走査することが可能
となる。
iを得るための電圧を印加して、各X線発生装置3.3
.・・におけるグリッド6に、陰極から陽極に向かう電
子ビームを抑M1するためのグリッドバイアス′厄圧を
印加した状態とし、X線発生制御装置による制御で、陰
極から陽極へ向かう電子ビームを抑制するために各X線
発生装置i3,3.φ・におけるグリッドに印加されて
いたグリッドバイアス電圧を、順次一時的に解除し、そ
れに伴って陽極に衝突した゛電子ビームによりX線を発
生させる。そして、このグリッドバイアス電圧の解除を
、設置した各X線発生装:δ3.3.・・について緑返
すことにより、X線発生点を高速に走査することが可能
となる。
配管lを囲む円周とからその配管1に向けて投射したX
線は、反対側に位置する多数のx8検出器IQ、10.
・・で検出し、これらのxyJ検出器+0.10.−・
に接続した画像解析装置により2周知の手段によって画
像化し、それによって被測定物の断面が撮影される。
線は、反対側に位置する多数のx8検出器IQ、10.
・・で検出し、これらのxyJ検出器+0.10.−・
に接続した画像解析装置により2周知の手段によって画
像化し、それによって被測定物の断面が撮影される。
なお、以上に示した実施例においては、配管1を囲む円
周上の略半周にX線発生装置3,3.・・を配置し、そ
れに対向する位置にX線検出器+0.10゜◆・を配列
させているが、これらは、被測定物の撮影に必要な範囲
内において、被測定物の全周に配置するとか2その一部
に配置するなど、その配置範囲を適宜選定することがで
5る。
周上の略半周にX線発生装置3,3.・・を配置し、そ
れに対向する位置にX線検出器+0.10゜◆・を配列
させているが、これらは、被測定物の撮影に必要な範囲
内において、被測定物の全周に配置するとか2その一部
に配置するなど、その配置範囲を適宜選定することがで
5る。
被測定物を囲む円周上またはその一部に、所定の分解能
を得るに必要な数だけ、陰極、グリッド、加速°逝極、
集束レンズ、ターゲット(陽極)のセトトを配置し、陰
極と陽極の間に必要強度のX線を得るための電圧を印加
した状態で、陰極から陽極へ向かう電子ビームを抑制す
るために印加されていたグリッドバイアス電圧を解除し
、陽極に衝突した゛電子ビームによりX線を発生させる
。
を得るに必要な数だけ、陰極、グリッド、加速°逝極、
集束レンズ、ターゲット(陽極)のセトトを配置し、陰
極と陽極の間に必要強度のX線を得るための電圧を印加
した状態で、陰極から陽極へ向かう電子ビームを抑制す
るために印加されていたグリッドバイアス電圧を解除し
、陽極に衝突した゛電子ビームによりX線を発生させる
。
このグリッドバイアスの解除を、設置した゛電極につい
て繰返すことにより、X線発生点を高速に走査すること
が可能となる。
て繰返すことにより、X線発生点を高速に走査すること
が可能となる。
[発明の効果コ
以上に詳述したように、本発明の超高速X線CTスキャ
ナによれば、x!!の発生点を電気的に高速走査するこ
とにより、臓器の動態撮影が可能となるばかりでなく、
工学的にも、例えば波れの計δIllなどに利用するこ
とができる。また、その装jd全体を非常にコンパクト
に形成することができる。
ナによれば、x!!の発生点を電気的に高速走査するこ
とにより、臓器の動態撮影が可能となるばかりでなく、
工学的にも、例えば波れの計δIllなどに利用するこ
とができる。また、その装jd全体を非常にコンパクト
に形成することができる。
:rS1図は未発明に係る超高速X線CTスキャナの実
施例の要部断面図、第2図はその平面図である。 3・・X線発生装置、5・ψ陰極、 6 日グリッド、 8 ・・ターゲット (陽極)。 IO・・X線検出器。
施例の要部断面図、第2図はその平面図である。 3・・X線発生装置、5・ψ陰極、 6 日グリッド、 8 ・・ターゲット (陽極)。 IO・・X線検出器。
Claims (1)
- 1、中心に配置した被測定物を囲む円周上から上記被測
定物に対してX線を投射し、そのX線をX線検出器で検
出して、上記被測定物の断面の撮影を行うようにしたX
線CTスキャナにおいて、上記X線を投射するためのX
線発生装置として、陰極と陽極を構成するターゲットと
の間にグリッドを配設したX線発生装置を用い、このX
線発生装置の多数を、上記被測定物を囲む円周上に配列
させ、これらのX線発生装置におけるグリッドに、陰極
と陽極の間にX線を得るための電圧を印加した状態で、
陰極から陽極に向かう電子ビームを抑制するためにグリ
ッドに印加されていたグリッドバイアス電圧を順次一時
的に解除するX線発生制御装置を接続したことを特徴と
する超高速X線スキャナ。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61167304A JPS6321040A (ja) | 1986-07-16 | 1986-07-16 | 超高速x線ctスキヤナ |
US07/031,666 US4866745A (en) | 1986-07-16 | 1987-03-30 | Ultrahigh speed X-ray CT scanner |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61167304A JPS6321040A (ja) | 1986-07-16 | 1986-07-16 | 超高速x線ctスキヤナ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6321040A true JPS6321040A (ja) | 1988-01-28 |
JPH0560381B2 JPH0560381B2 (ja) | 1993-09-02 |
Family
ID=15847267
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61167304A Granted JPS6321040A (ja) | 1986-07-16 | 1986-07-16 | 超高速x線ctスキヤナ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4866745A (ja) |
JP (1) | JPS6321040A (ja) |
Families Citing this family (44)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4015180A1 (de) * | 1990-05-11 | 1991-11-28 | Bruker Analytische Messtechnik | Roentgen-computer-tomographie-system mit geteiltem detektorring |
EP0466956A1 (de) * | 1990-07-18 | 1992-01-22 | Siemens Aktiengesellschaft | Computertomograph |
US5490193A (en) * | 1990-07-23 | 1996-02-06 | Hitachi, Ltd. | X-ray computed tomography system |
US5268955A (en) * | 1992-01-06 | 1993-12-07 | Picker International, Inc. | Ring tube x-ray source |
US5438605A (en) * | 1992-01-06 | 1995-08-01 | Picker International, Inc. | Ring tube x-ray source with active vacuum pumping |
US5305363A (en) * | 1992-01-06 | 1994-04-19 | Picker International, Inc. | Computerized tomographic scanner having a toroidal x-ray tube with a stationary annular anode and a rotating cathode assembly |
JP2002320610A (ja) * | 2001-02-23 | 2002-11-05 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | X線ct装置とx線ct装置撮影方法 |
CA2410892A1 (en) * | 2001-02-28 | 2002-11-29 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Multi-radiation source x-ray ct apparatus |
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US7963695B2 (en) | 2002-07-23 | 2011-06-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Rotatable boom cargo scanning system |
GB0309385D0 (en) * | 2003-04-25 | 2003-06-04 | Cxr Ltd | X-ray monitoring |
US8243876B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-08-14 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners |
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GB0309371D0 (en) * | 2003-04-25 | 2003-06-04 | Cxr Ltd | X-Ray tubes |
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GB0812864D0 (en) | 2008-07-15 | 2008-08-20 | Cxr Ltd | Coolign anode |
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US10483077B2 (en) | 2003-04-25 | 2019-11-19 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray sources having reduced electron scattering |
GB0309383D0 (en) | 2003-04-25 | 2003-06-04 | Cxr Ltd | X-ray tube electron sources |
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