JP2000059686A - 画像変換装置 - Google Patents

画像変換装置

Info

Publication number
JP2000059686A
JP2000059686A JP11100679A JP10067999A JP2000059686A JP 2000059686 A JP2000059686 A JP 2000059686A JP 11100679 A JP11100679 A JP 11100679A JP 10067999 A JP10067999 A JP 10067999A JP 2000059686 A JP2000059686 A JP 2000059686A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
electromagnetic wave
electron tube
video image
photocathode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11100679A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4328408B2 (ja
Inventor
Philippe Pradere
プラデール フィリップ
Groot Paul De
ドゥ グロー ポール
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Thales Electron Devices SA
Original Assignee
Thomson Tubes Electroniques
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Thomson Tubes Electroniques filed Critical Thomson Tubes Electroniques
Publication of JP2000059686A publication Critical patent/JP2000059686A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4328408B2 publication Critical patent/JP4328408B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/86—Vessels; Containers; Vacuum locks
    • H01J29/89—Optical or photographic arrangements structurally combined or co-operating with the vessel
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/02—Electrodes; Screens; Mounting, supporting, spacing or insulating thereof
    • H01J29/10—Screens on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted or stored
    • H01J29/36—Photoelectric screens; Charge-storage screens
    • H01J29/38—Photoelectric screens; Charge-storage screens not using charge storage, e.g. photo-emissive screen, extended cathode
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J31/00—Cathode ray tubes; Electron beam tubes
    • H01J31/08—Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
    • H01J31/50—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2229/00—Details of cathode ray tubes or electron beam tubes
    • H01J2229/89—Optical components associated with the vessel
    • H01J2229/8926—Active components, e.g. LCD's, indicators, illuminators and moving devices

Abstract

(57)【要約】 【課題】 撮影された映像の歪の除去。 【解決手段】 撮影された映像の歪を除去するためにテ
ストパターンを入力に追加する。テストパターンの映像
を読み取った後、この映像データに基づき歪を測定する
と共に歪を除去するための逆変換関数を求め、これを用
いて映像を変換することで歪を除去する。テストパター
ンは、増幅管の入力窓に作成される。変形例の１つとし
て、レーザー光源によって増幅管の光陰電極を照射する
ことも可能である。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、画像変換装置に関
する。より詳細には、本発明は、例えばＸ線等の電磁波
の照射によって得られる映像を電子的な表示が可能な画
像に変換するための装置に関する。電磁波は可視領域の
ものであっても良い。本発明は一般に電子画像増幅装置
すなわちＲＩＩ、または、光画像増幅装置すなわちＬＩ
Ｉを適用対象とする。これらの画像増幅装置は、画像変
換に加えて画像増幅を行う。
【０００２】
【従来技術】図１は、画像増幅装置を示す。医療用放射
線撮影装置を例に取れば、放射線源１から人体、より一
般的には対象物２、に対してＸ線を照射する。乱反射防
止格子３によって放射線源１から対象物２に向かうＸ線
成分のうちの放射線源１から放射方向以外の成分をカッ
トする。電子管４では、光陰電極５が電子流を発生さ
せ、この電子流は最終的には作像位置６上に焦点を結
ぶ。光陰電極５はエックス線の照射によって励起され、
照射を受けたそれぞれの位置において、この場合はＸ線
である照射電磁波の強さに比例する電子流を放射する。
Ｘ線の分野で使用する場合は、光陰電極５は内蔵するシ
ンチレータによって電磁波としては非常に波長の短いＸ
線を比較的波長の長い従って光陰電極５を励起すること
ができる、電磁波に変換する。電子は電場または陽極に
よって標的の方向に加速される。その途中において電子
は、電極７が発生する電界によって進行方向を曲げられ
る。
【０００３】光陰電極５から発射された時点においては
電子の速度は比較的遅い。電子の電荷と移動とが電流を
生じさせる。運動の途中で電子はレンツの法則に従い、
磁界の影響を受けて進行方向を曲げられる。良く知られ
ているように、最も有害な磁界は地磁気である。
【０００４】合焦装置そのものも形成される画像に固有
の変形を生じさせることが知られている。この変形の修
正については先行技術において論じられている。最も良
く知られている変形は、電子管４が球面状であることに
起因する糸巻き形ひずみである。このひずみを修正用電
極を用いて、あるいは、画像読み取り電子装置において
修正することは可能である。
【０００５】寄生的な磁界の影響によって画像に生じる
変形は、二重の影響を有するＳ変形である。第一に、電
子流の軸と直交方向の磁界成分が全ての点、ピクセルあ
るいは画像について基本的に均一な（１次の）移動を生
じさせる。第二に、有害な磁界の電子流の軸と平行な成
分が、電子の速度の電子流の軸と直交する成分と相互に
影響し、画像の軸の周りの回転を生じさせる。回転量
は、速度の軸と直交する成分および電子管４の不均一な
磁場遮蔽に関係する。この関係から、画像の中心からの
距離が小さいほど回転量が大きいことが知られている。
【０００６】上記の変形を修正する方法は従来技術に開
示されている。例えば、画像増幅管の本体８に磁性体の
層を設けて障害となる磁界をこの層にそって誘導する方
法である。最も良く知られた磁性材料は、ニッケル鉄合
金であるμ材料である。増幅管の入力部９にこの種の磁
性体の薄層を設けて内部を磁界から保護することが行な
われている。
【０００７】地磁気の軸方向成分による最も有害な効果
を除去するために、電子管４の入射部の極く近傍に地磁
気とは反対向きで大きさが等しい軸方向の磁界を発生さ
せるコイル１０を設けることも考案されたが、この装置
無しでは１０ｍｍ程度であった回転方向のひずみがコイ
ル１０によって半分程度に減少するに過ぎなかった。ピ
クセルの大きさが２００から３００ミクロンである高解
像度装置の場合には、この変形量は１５ないし２５ピク
セルの距離に相当するため、この方法では十分な修正が
実現できるとは言いがたい。
【０００８】作像位置６には電子線の照射による蛍光発
光する蛍光素子が設けられている。作像位置６上に形成
された画像は、たとえば動画撮影装置１１等、他の装置
によって読み取られる。作像位置６上に画像を連続して
形成し、記録することもできる。画像が連続するもので
なければ、カメラ１３によって読み取ることも可能であ
る。好ましい従来技術の場合、テレビカメラ１３、特に
デジタルビデオカメラによって画像を撮影している。
【０００９】上記の好ましい従来技術の場合、寄生的な
磁界の影響による画像のひずみをテレビカメラ１３に接
続された画像処理装置１４を用いて修正する方法が知ら
れている。修正前の映像あるいは修正後の映像をモニタ
ー画面１５に表示する。修正の基本は、例えばＲＩＩの
入力位置９のような電磁波の放射面に設置した既知の画
像からなるテストパターンの映像を読み取ることによっ
て、電子管４、テレビカメラ１３、モニター画面１５に
よって得られたテストパターンの映像から撮像段階にお
ける磁界の影響による画像のひずみを把握することであ
る。画像処理装置１４によって撮像された映像と原図と
を比較することによってひずみを算出することができ
る。この処理によって電子管４、テレビカメラ１３、モ
ニター画面１５に表れた歪を把握することができる。こ
の歪を用いて得られた映像から歪を除去することが可能
になる。すなわち、歪の逆変換関数をテレビカメラ１３
で得られた対象物２の映像に掛け算することによって歪
の修正を行う。
【００１０】上記の修正方法は、特に断層撮影装置にお
いて利用されている。これらの装置の場合、ピクセルの
１０分の１の精度が問題になる。一方これらの装置の場
合には、幸いなことに、装置の地磁気に対する電子管４
の方向を自由に設定することが可能である。これらの装
置は、電子管４の軸は、その周りに装置を回転すること
ができる回転軸でも有る。したがって、電子管４を軸の
周りに回転させるたびに逆歪関数を算出して、回転角毎
に断層撮影装置から得られた映像を修正することが可能
である。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のような
修正方法は、ＲＩＩの位置が確定していない装置、特に
電子管４が回転するアームまたは円弧状のアームを有す
る、一般にＣ‐アーム装置と称する放射線装置について
は使用することができない。これらの装置の場合は、回
転自在のピボットに支持された湾曲したアームが電子管
４の回転軸と直行する向きに設けられた第２の軸の周り
に回転する。したがって、電子管４は３方向の回転自由
度を有する。電子管４は、この３つの自由度それぞれに
関して必要に応じて所望の位置を取ることができる。し
たがって、逆歪関数は無限に存在することになり、この
装置については逆歪関数を用いた上記の修正方法自体が
実用的でないということになる。
【００１２】
【課題を解決するための手段】従来技術が有する上記の
ような課題に鑑み、本発明は電磁波の照射から電子的な
画像への変換を行う装置であって、光電素子から発生し
た電子の通路を形成する電子管の内部に電磁波の照射に
よって励起される光電素子と、標的と、標的への合焦手
段とを設け、さらに、部位毎に電磁波‐電子変換の比率
を変更してその位置に電子映像上のコントラストとして
変更ヶ所を映し出す変更手段と、撮像された映像の変形
を受けた映像と修正された映像をそれぞれ得ることがで
きる交互映像準備手段とを有することを特徴とする装置
によって解決する。
【００１３】本発明は、電子管４によって得られる画像
は必ずしも長期に記憶する必要は無いという前提に基づ
き上記の課題を解決する。本発明は、対象物の撮像の
前、途中または後にテストパターンの映像をほとんどリ
アルタイムで取得する。この操作を容易にするために、
発明にかかる装置は電子管４の内部にリアルタイムでテ
ストパターンを撮像させるための手段を有する。これ
は、例えば２通りの方法によって実現することができ
る。
【００１４】第一の方法によれば、映像を既知のように
変形させることのできる周期的なパターンまたは格子を
電子管４の入力部に備える。歪の無い状態が予め知られ
ている理論的な映像に対して変形が生じた場合、この変
形の効果が理論的に正確な映像と共に記憶され、両者が
比較され、この比較に基づいて対象物の映像に対する修
正項が算出される。第二の方法によれば、パターンは永
久的でなく、実際の映像に対してリアルタイムで求めら
れるものであっても、そうでないものであっても良い。
たとえば、光電管に格子を映し出す補助的な照明手段か
ら間欠的に格子模様を照射する。格子模様の照射とその
映像測定は、対象物の撮像の時間的な間隙に行っても良
いし、格子模様を対象物の映像に重ね合わせて照射して
同時に測定することもできる。
【００１５】
【発明の効果】本発明によれば、確定的または永久的な
歪あるいは不確定的または変化する歪に対して対象物の
映像とテストパターンとを交互に読み取るか、２つの画
像を同時に読み取ることが可能になる。したがって、本
発明による装置は、映像の、外乱による永久的な歪にも
一時的な歪にも対応することができる。
【発明の実施の形態】
【００１６】図2は本発明に基づいて図１に示す装置を
改良したものである。図中には、筐体１６に収容された
電子管４および光陰電極５、作像位置６が示されてい
る。例えばX線である電磁波１７は図１では番号９で示
した入力面１８から筐体１６に進入する。入力面１８の
材料は例えばアルミニウムあるいはプラスティックであ
る。電子管４の材料は、従来はガラスが使用されていた
が、この実施例においては例えばステンレスである。放
射線装置への適用を例として考えれば、Ｓｂ−Ｋ２−Ｃ
ｓの層からなる光電陰極が、好ましくはヨウ化セシウム
ＣｓＩからなるシンチレータ１９に接着されている。シ
ンチレータ１９はアルミニウムの支持部材２０によって
支持されている。電磁波を受ける位置に有る電子管４の
厚さは０．５ｍｍから１．５ｍｍの間である。シンチレ
ータ１９の支持部材２０の厚さも同様に０．５ｍｍから
１．５ｍｍの間である。シンチレータ１９の層圧は約
０．５ｍｍである。光陰電極５層の厚さは１ミクロン以
下である。
【００１７】光陰電極５を電子管４から支持するため
に、光陰電極５の支持部材２０は突起２１とセラミック
のペレット２２によって電子管４に固定されている。ペ
レット２２は絶縁材料からなり、１００ボルトないし３
００ボルトの電位を有する電子管４の本体８から光陰電
極５を電気的に絶縁して光陰電極５の電位を０ボルトに
維持する。
【００１８】この第１の実施例においては、テストパタ
ーンを示すために支持部材２０は、溝あるいは貫通孔で
はない穴２３を放射線１７の照射を受ける面に有する。
穴の深さは０．２ｍｍ程度である。この穴があることに
よって支持部材２０のその部分の放射線吸収能力は低下
し、このことが作像位置６の上に結像する映像に表れ
る。変形例としては、支持部材２０の表面に形成された
この変形２３は、支持部材２０のシンチレータ１９と向
き合う側の表面（あるいは支持部材２０と光陰電極５の
間）に形成した空隙２４に設けられたものであっても良
い。この変形例の場合には、変形がＣｓＩの増加であれ
ば吸収能力の増加の形で映像に表れる。他の変形例とし
ては、電子管４の入力面１８に面する本体８の一部で構
成される入力用窓２５に前記の変形２３あるいは空隙２
４と同様の溝または穴２６を形成する。支持部材２０と
入力用窓２５の間の空隙は視差による誤差を生じるが、
入力面１８の上に参照点を設けることによってこの誤差
を小さく抑えることが可能である。
【００１９】上記のような、放射線吸収能力を減少させ
る溝または穴の加工は、スウェッジングやエッチングに
よって行うことができる。支持部材２０の放射線の照射
を受ける側の面に、逆に盛り上り２７を形成することも
可能である。電子管４の入力用窓２５の内側に盛り上り
２７を形成することも可能であるが、この場合、視差に
よる誤差を生じる点については前記同様である。穴や溝
は研削装置やドリルにような工作機械を用いて加工する
こともできる。パンチやスタンプによって加工すること
もできる。これらの加工によって溝の側面の硬度が減少
するが、このことは特に測定に影響を与えない。変形の
参照点は盛り上り２７ではなく放射線吸収能力の異なる
材料を埋め込むことによっても作成することができる。
材料は塗料であっても良い。処理すべき表面にフォトレ
ジストやポリマーを堆積させた後でケミカルエッチング
を行うことやデポジション工程によって製造が可能であ
る。電子管４の入力面あるいは入力面と光陰電極の間の
面に参照点を作成することもできる。さらに、支持部材
２０、電子管４の入力用窓２５に変換機が受ける電磁波
に対する吸収能力が異なる種々の材料で盛り上がりある
いは埋め込みを作成することで同様の効果を得ることが
できる。
【００２０】テストパターンを作成する他の方法は、電
子管４の壁面であって放射線を受けない位置に窓２８を
設けることを必要とする。この窓２８を通して（線源が
レーザー光線源で無い場合には特に）レーザー光線発生
源３０によって発生したレーザー光線２９を照射し、光
陰電極５の背面に当てる。このレーザー照射によってレ
ーザー光線２９が当たった位置から電子を放射する。光
陰電極５の背面をスキャンするようにレーザー光線２９
を当てることが可能である。レーザー光線発生源３０は
レーザー光線２９のパルスを発生させるものであること
が望ましい。例えば４００ミリ×４００ミリの表面に２
０ミリ間隔で変形あるいは光参照点を作成するには映像
毎に４００点の参照点が必要である。１秒間に１５枚の
映像を得る放射線映像あるいは放射線撮影の分野におい
ては、一枚の映像を得るための放射線照射の継続時間は
５ｍｓ程度である。映像撮影の間の時間的な隙間にテス
トパターンの映像を撮影することができる。レーザー光
線発生源３０のパワーを設定することによってＸ線によ
って光陰電極５からもたらされる映像のエネルギーより
もテストパターンのエネルギーを格段に高くすることも
可能である。テストパターンの映像を５ｍｓで撮影する
ものと仮定すれば、その間に４００点の参照点を照射す
るには、レーザー光線発生源３０は、８０ＫＨｚで作動
する必要が有る。窓２８を設けることは必ずしも必須で
はなく、レーザー光線発生源３０を電子管４の内部に設
置することも可能である。
【００２１】光陰電極５の背面をレーザー光線で照射す
る代わりに、支持部材２０に適当な間隔で設けた貫通孔
３２を通じて補助的な光を通すことも考えられる。
【００２２】本発明の第３の実施例では、入力用窓２５
の球面に完全に対応する格子３３を作成する。この格子
３３は入力用窓２５上をスライドすることができる。こ
の実施例では、格子３３を撮像中にスライドさせること
によって、格子３３の線３４が映像中に落とす影が映像
前面に渡って均一に影を落とし、したがって、その影響
を無視することができる。テストパターンを撮影する際
には、格子３３を所定の位置に停止させる。矢印３５で
単純化して図示した格子３３の移動手段は、電磁的な振
動手段であっても良い。
【００２３】図３および図４は、本発明で推奨される参
照点あるいは円形の光を当てた部位が変換の前後で変形
する様子を示す。この例では、円形の直径は、ＲＩＩ入
力面の位置で２ないし４ピクセルの大きさに相当する。
図４は作像位置６の上に結像した映像を示すものであ
る。円形の参照点が変形しており、同時にそれらの位置
も変位している。画像の変形を求めるためには参照点の
中心位置３６を求める必要が有る。中心位置３６が定ま
れば並び全体の変形を決定することができ、これに基づ
きそれぞれの参照点は補間法によって修正することが可
能になる。
【００２４】図５および図６は前出と同様の変形を参照
点の代わりに溝を用いた例で示したものである。この場
合の利点は、溝の交点３８から全体の変形を求めること
が可能なことである。このようにして格子３９の交点４
０から変形を精度高く求めることができる。
【００２５】図７は、作像位置６上で測定された電子信
号４２の振幅の変化をＸ軸に沿って表したものである。
撮像された対象物２固有の透過率の緩やかな変化を表す
振幅変化Ａの上に、Ｘ座標がＸ０の位置に電磁波の吸収
に起因して生じた正の方向の変化４１が表れている。グ
リッド等によって放射線が透過する障害物の合計の厚み
が増加している場合には変化４１は負の方向の変化とし
て現れる。全体の緩やかな変化に対して変化４１は急峻
であるために、前後関係に基づき信号４２からこの急峻
な変化４１のみを取り除くことが可能である。この処理
の結果、急峻な変化を除去した測定信号４２と急峻な変
化の部分のみからなる信号とを得ることができる。すな
わち、撮影すべき映像に関する信号４２とテストパター
ンの映像信号とを同時に撮像し、しかもこれらを分離し
て扱うことが可能である。もちろん、実際にはこれらを
交互に算出することもできる。これらの方法は、レーザ
ー光線発生源３０または格子３３を使用した実施態様に
おいて使用することができる。テストパターンを常に撮
像する場合には、テストパターンに起因する信号の変化
４１が、信号４２全体のダイナミックレンジに対して所
定の値以下に抑えられるよう配慮する必要が有る。信号
４２から得た変化４１部分の信号は通常多くのノイズ成
分を含む。これに対して、テストパターンが常に写し込
まれることに基づいて、テストパターンに起因する信号
の変化量、穴あるいは溝の数を参考にテストパターンの
信号を分離することが可能である。穴が深ければ映像上
のコントラストが高くなり、上記に示した情報を参照す
る必要性が減少する。穴が浅い場合にはその数を増加す
ることが必要になる。
【００２６】図８は、全体配置３９の決定によって交点
４０の位置をピクセル１つよりも細かい精度で得ること
も可能であることを示した図である。パルス的な変化４
１はここでは幅が広がりガウス分布に近いものとなって
いるが、その情報に基づき最大値に対応するＸ座標の値
を決定する方法は既知である。
【００２７】図９は、本発明の原理を示すものである。
実験室において事前キャリブレーションとして完全なテ
ストパターンの映像を撮影する。その際、変換装置と画
像増幅装置とは特に有害な地磁気等の影響を遮蔽した室
内に設置する。これは、たとえば、当該部屋の壁面をμ
金属で覆って磁界を壁面に沿って流すことで実現するこ
とができる。このようにして得たテストパターンの映像
を画像処理装置１４の記憶装置４３に記憶させる。記憶
された画像情報は、例えばテストパターンの参照点のＸ
座標とＹ座標とを示す座標データの集合からなるデータ
ファイルである。実際の撮像を行う際には、同じ変形を
生じている対象物２とテストパターンの映像を交互にま
たは同時に撮像する。装置が置かれている場所の電磁
場、特に地磁気の影響を受けてテストパターンを構成す
る溝４４、４５は作像位置６上では溝４６、４７に変位
している。この変形はＳ形変形である。溝４４と４５の
交点４８の位置は点４９に移動している。画像処理装置
１４は、図４あるいは図６から記憶装置４３に記憶した
変形の無い状態でのテストパターンの座標情報に基づ
き、点４９を点４８に戻す処理をすることができる。上
記の断層撮影装置にこのような画像処理装置を内蔵させ
ることができる。画像処理装置は、記憶装置４３に記憶
されたテストパターン情報と測定されたテストパターン
情報とを比較５０して、逆歪関数５１を作成する。この
逆歪関数５１を、対象物２の実際の映像５２に作用させ
て修正画像５３を得る。この修正自体も既知の方法に従
って行うことができる。
【００２８】対象物の撮像と同時に撮像される参照点
は、実際の患者等の映像データをサチュレートさせてし
まうことが無いようにコントラストがある程度以下のも
のであることが望ましい。図８に示された方法において
は、データのサチュレーションが起きると最大値の決定
が困難になる。それに対して、対象物の撮像とテストパ
ターンの撮像を交互に行う場合、例えばレーザー光線発
生源３０や貫通孔３２を使用して交互に撮像を行うよう
な場合には、テストパターンのデータが対象物のデータ
に比較して非常に大きくても扱うことができる。
【００２９】変形したテストパターンの映像が一旦特定
されれば、対象物の映像データの上にテストパターンが
重畳したデータから、テストパターンのデータを除去し
て対象物の映像データのみについて以降の処理を行うこ
とが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 図１は、本発明に基づく画像変換装置として
使用することができる画像増幅装置を示す。
【図２】 図２は、図１に示した装置を本発明に基づき
改良した状態を示す。
【図３】 図３は、本発明において使用することのでき
るテストパターンとその変形の例である。
【図４】 図４は、本発明において使用することのでき
るテストパターンとその変形の他の例である。
【図５】 図５は、本発明において使用することのでき
るテストパターンとその変形の例である。
【図６】 図６は、本発明において使用することのでき
るテストパターンとその変形の他の例である。
【図７】 図７は、テストパターンが常に存在すること
に起因する画像信号の変形を示す。
【図８】 図８は、ピクセルの数分の一の精度で修正が
可能な方法を示す図である。
【図９】 図９は、本発明をリアルタイムで実施するた
めの装置を示す模式図である。
【符号の説明】
１・・・放射線源 ２・・・対象物 ４・・・電子管 ５・・・光陰電極 ６・・・作像位置 １３・・・テレビカメラ ２５・・・入力用窓 ２６・・・溝または穴 ２７・・・盛り上り ３０・・・レーザー光線発生源 ４１・・・振幅 ４２・・・画像信号 ５１・・・逆変形関数

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 電磁波の照射によって得られる映像を電
    子的な映像に変換する装置であって、電子管と、電磁波
    の照射によって励起される光陰電極と、標的と、光陰電
    極からの電子流を標的上に焦点を結ばせる合焦手段とを
    有し、さらに、特定部位において電磁波‐電子変換の比
    率を変更してその位置に電子映像上のコントラストとし
    て変更ヶ所を映し出す変更手段と、撮像された映像の変
    形を受けた映像と修正された映像をそれぞれ得ることが
    できる交互映像準備手段とを有することを特徴とする装
    置。
  2. 【請求項２】 前記請求項１の装置において、変更手段
    は電子管の入力面またはこの面と光陰電極との間の層に
    設けた電磁波の透過率が異なる部分を有する装置。
  3. 【請求項３】 前記請求項２の装置において、電磁波の
    異なる部分はスウェッジングまたはエッチングで形成し
    た厚さの減少、電磁波吸収率の低い材料を用いたマーキ
    ングによる電磁波透過率の正の変更である装置。
  4. 【請求項４】 前記請求項２の装置において、電磁波の
    異なる部分は部分的な厚さの増加、電磁波吸収率の高い
    材料を用いたマーキングによる電磁波透過率の負の変更
    である装置。
  5. 【請求項５】 前記請求項４の装置において、マーキン
    グを電子管の入力面またはこの面と光陰電極との間の層
    に設けた装置。
  6. 【請求項６】 前記請求項１の装置において、光陰電極
    は曲面であり、装置は光陰電極から支持部材で支持され
    たシンチレータを有し、当該支持部材はシンチレータに
    面した面に変形手段を構成する部分的な変形を有する装
    置。
  7. 【請求項７】 前記請求項１の装置において、変形手段
    は二次的な電磁は照射によって光陰電極を部分的に励起
    させる励起手段を有する装置。
  8. 【請求項８】 前記請求項７の装置において、励起手段
    は光陰電極に取り付けられたシンチレータの支持部材に
    設けられた孔を含むものである装置。
  9. 【請求項９】 前記請求項７の装置において、励起手段
    は、光陰電極の電磁波の照射によって励起される側とは
    反対側の面を励起させる光源を有するものである装置。
  10. 【請求項１０】 前記請求項９の装置において、電子管
    には前記光源からの光を透過させるための窓が設けられ
    ている装置。
  11. 【請求項１１】 前記請求項１の装置において、前記窓
    にはグリッドと対象物の映像を撮像している間はグリッ
    ドを振動させ、グリッドの映像を撮像している間はグリ
    ッドを固定することができるグリッド支持装置が設けら
    れている装置。
JP10067999A 1998-04-07 1999-04-07 画像変換装置 Expired - Fee Related JP4328408B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9804309A FR2777112B1 (fr) 1998-04-07 1998-04-07 Dispositif de conversion d'une image
FR9804309 1998-04-07

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000059686A true JP2000059686A (ja) 2000-02-25
JP4328408B2 JP4328408B2 (ja) 2009-09-09

Family

ID=9524945

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10067999A Expired - Fee Related JP4328408B2 (ja) 1998-04-07 1999-04-07 画像変換装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6194700B1 (ja)
EP (1) EP0949651B1 (ja)
JP (1) JP4328408B2 (ja)
DE (1) DE69917974T2 (ja)
FR (1) FR2777112B1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008084861A (ja) * 2006-09-26 2008-04-10 Thales イメージインテンシファイア電子管のひずみ修正

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2803394B1 (fr) 1999-12-30 2003-04-25 Thomson Tubes Electroniques Systeme de detection d'image radiologique pour generateur de rayons x a balayage
FR2824922B1 (fr) * 2001-05-18 2004-10-29 Thales Sa Correction de distorsion d'un intensificateur d'image
US7114851B2 (en) * 2004-03-19 2006-10-03 General Electric Company Methods and systems for calibrating medical imaging devices
FR2873728B1 (fr) 2004-07-29 2008-04-25 Jean Luc Sandoz Element plan de construction et agencement forme a partir d'un ou plusieurs elements
US7557503B2 (en) * 2004-09-22 2009-07-07 Hamamatsu Photonics K.K. Streak tube including control electrode having blocking portion between a photocathode and an anode
US9106841B2 (en) * 2013-06-18 2015-08-11 Massachusetts Institute Of Technology Methods and apparatus for high speed camera

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3533582A1 (de) * 1985-09-20 1987-04-02 Messerschmitt Boelkow Blohm Bildsensor zur aufnahme von szenen oder objekten mit tiefenstrukturierter oberflaeche
FR2591032B1 (fr) 1985-11-29 1988-01-08 Thomson Csf Photocathode a faible courant d'obscurite
FR2591033B1 (fr) 1985-11-29 1988-01-08 Thomson Csf Photocathode a rendement eleve
FR2592217B1 (fr) 1985-12-20 1988-02-05 Thomson Csf Photocathode a amplification interne
FR2625838B1 (fr) 1988-01-13 1996-01-26 Thomson Csf Scintillateur d'ecran d'entree de tube intensificateur d'images radiologiques et procede de fabrication d'un tel scintillateur
FR2626106B1 (fr) 1988-01-15 1990-05-04 Thomson Csf Procede de fabrication d'une photocathode pour tube intensificateur d'images
FR2634057B1 (fr) 1988-07-08 1991-04-19 Thomson Csf Procede de fabrication d'un tube perfectionne intensificateur d'images radiologiques, tube intensificateur ainsi obtenu
FR2634562B1 (fr) 1988-07-22 1990-09-07 Thomson Csf Procede de fabrication d'un scintillateur et scintillateur ainsi obtenu
FR2647955B1 (fr) 1989-05-30 1991-08-16 Thomson Tubes Electroniques Ecran d'entree de tube intensificateur d'image radiologique
FR2687007B1 (fr) 1992-01-31 1994-03-25 Thomson Tubes Electroniques Tube intensificateur d'image notamment du type a focalisation de proximite.
FR2688343A1 (fr) 1992-03-06 1993-09-10 Thomson Tubes Electroniques Tube intensificateur d'image notamment radiologique, du type a galette de microcanaux.
FR2698482B1 (fr) 1992-11-20 1994-12-23 Thomson Tubes Electroniques Dispositif générateur d'images par effet de luminescence.
US5567929A (en) * 1995-02-21 1996-10-22 University Of Connecticut Flat panel detector and image sensor

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008084861A (ja) * 2006-09-26 2008-04-10 Thales イメージインテンシファイア電子管のひずみ修正

Also Published As

Publication number Publication date
US6194700B1 (en) 2001-02-27
DE69917974T2 (de) 2005-09-01
DE69917974D1 (de) 2004-07-22
EP0949651B1 (fr) 2004-06-16
FR2777112A1 (fr) 1999-10-08
JP4328408B2 (ja) 2009-09-09
EP0949651A1 (fr) 1999-10-13
FR2777112B1 (fr) 2000-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7298882B2 (en) Generalized measure of image quality in medical X-ray imaging
US10082473B2 (en) X-ray filtration
US20100091947A1 (en) Differential Interference Phase Contrast X-ray Imaging System
JP3380609B2 (ja) 放射線画像の照射野領域抽出装置
JPH1151879A (ja) 非破壊検査装置
JPS58118733A (ja) ラジオグラフイ装置
US20150139526A1 (en) Image reconstruction unit, x-ray imaging apparatus, and method of reconstructing image
JP4328408B2 (ja) 画像変換装置
JPH0815182A (ja) ｘ線画像システムにおける放射線散乱を補償するための方法
WO2021224097A1 (en) X-ray imaging system
JP2001510698A (ja) トモシンセシス用のｘ線診断装置
JP2007263961A (ja) 複数焦点ｘ線システムのための方法及びシステム
JP3614214B2 (ja) 断層撮影装置
JP2007507276A (ja) Ｘ線ユニット
US7049616B2 (en) Methods, apparatus, and software for adjusting the focal spot of an electron beam
JP4137580B2 (ja) 位相情報復元方法及び位相情報復元装置、並びに、位相情報復元プログラム
JPH0747839Y2 (ja) Ｘ線発生装置
JP2003045367A (ja) ビームの評価方法および装置
JP3765155B2 (ja) 放射線画像読取装置
JP2964591B2 (ja) 電子線マイクロアナライザ用自動焦点検出装置
JP5759257B2 (ja) Ｘ線装置
JP2019029273A (ja) Ｘ線管、ｘ線検査装置、およびｘ線検査方法
JP2000088777A (ja) Ｘ線撮像装置
JP2002136511A (ja) Ｘ線撮影装置
JP2853065B2 (ja) Ｘ線撮像方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060110

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081209

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20090306

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20090311

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090330

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090519

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090615

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120619

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120619

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130619

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees