JPS63201841A - プログラム・デバツグ方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は１大規模プログラムのシステムテスト方式と、
プログラムの単体・組合わせテスト方式に関する。

結果である画面データを記憶媒体に記憶しておき再テス
トのとき記憶媒体からキー人力データを取出してこれを
入力し、それによる画面データを前記媒体に記憶してい
た画面データと比較することを特徴とするものであり、
プログラムの一部であるモジュールの入力・出力データ
の記憶機能及び前記入力・出力データをモジュ−ルの単
体・組合せテストに利用する機能は持っていない。

〔発明が解決しようとする問題点〕

従来の技術では、大規模プログラムの不良原因追求にお
いて、不良モジュールを特定しても、大規模プログラム
のままで、その原因を発見することはプログラム動作が
複雑であり困難である。従って、不良が内在すると思わ
れるモジュールを切り出し、モジュール単体テストで不
良の再現を行い原因を発見する方法が有利である。

モジュール単体テストでは、実行時間も短かくまたメモ
リ容量も小さいため大規模テストのテストに比べ容易に
原因が発見できる。しかし、不良を再現するためにはモ
ジュール単体のテストデータを作成する必要があり、そ
の作成工数が大きくまた、複雑な入出力データを誤りな
く作成することは難しい。

本発明の目的は、システムテスト時に発見された不良の
原因究明のために、不良が内在すると考えられるモジュ
ールの単体テストデータを容易に作成する手段を提供す
ることである。

〔問題点を解決するための手段〕

上記目的は、大規模プログラムテストシステム及び単体
・組合せテストシステムで以下の処理を実行することに
より達成される。

（１）　　大規模プログラムテストシステムの外部記憶
装置に入力・出力データを退避する記憶領域を確保する
。

（２）入力・出力データを退避するモジュールの入口、
出口のアドレスをアドレステーブルに登録する。また、
退避する入力・出力データのエリア名称を入力・出力テ
ーブルに登録する。

（６）　　被テストプログラム実行時、上記モジ−一ル
の入口に達したとき上記モジュールの入力テーブルに登
録されているエリア名称の内容を、上記入力データ記憶
領域に退避する。

（４）上記モジュールの出口に達したとき、上記モジュ
ールの出力テーブルに登録されているエリア名称の内容
を、上記出力データ記憶領域に退避する。

（５）上記モジュールを切り出し、単体・組合せテスト
システムに格納する。

（６）退避した入力データを上記モジュールに与え、そ
のモジュールを実行し、出力をファイルに退避する。

（７）　　システムテスト時に退避した出力ファイルと
モジュール単体テストで退避した出力ファイルを比較す
る。

〔作用〕

大規模プログラムテストでは、アドレステーブルを参照
することにより、そのアドレスの命令が実行されるたび
に、入力テーブルまたは出力チー、　３　。

プルに格納されているエリア名称のメモリ内容を外部記
憶装置に退避する・ モジュール単体テストまたは複数モジュールの組合せテ
ストでは、上記外部記憶装置から入力データを読み込み
、該モジュールに与え実行する。

その結果を外部記憶装置に退避し、大規模プログラムテ
スト時に退避したファイルと比較する。

これにより、誤りの修正ミスを容易に摘出することが出
来る。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を第１図、第２図により説明す
る。

第１図は、システムテストにおいて、不良モジュールの
入力・出力データを退避する１方式の説明図である。

第１図において、１は不良モジュールを含む被テストプ
ログラム、２は不良モジュール、３は大規模プログラム
テストシステム、４はモジュール入口・出口監視プログ
ラム、５はモジニール入力データ退避プログラム、６は
モジュール出力デ−・　４　・ 夕退避プログラム、７はアドレステーブル、８は入力デ
ータ編集チー？°ル、９は出力データ編集テーブル、１
０は入力・出力データを退避する外部記憶装置である。

また、実線はデータ退避時のデータの流れを、破線はデ
ータ退避時の参照関係を表している。

被テストプログラム１ば、複数のモジュールで構成され
る大規模プログラムであり、不良モジ一一ル２を含んで
いる。大規模プログラムテストシステム６は、モジュー
ル入口・出口監視プログラム４、モジュール入カデータ
退避プログラム５、モジュール出力データ退避プログラ
ム６がら構成される。

アドレステーブル７は、被テストプログラム１のアドレ
ス部とモジュール入口、出口フラグから成り、モジュー
ル入口及び出口のアドレスを指示する。入力データテー
ブル８は、モジュール入口アドレス、入力データアドレ
ス、入力データ長、入力データ退避フォーマットから成
り、モジュール入力データ退避時の退避データ、フォー
マットを指示する。同様に出力データテーブル９は、モ
ジュール出ロアドレス、出力データアドレス、出力デー
タ長、出力データ退避フォーマットから成り、モジュー
ル出力データ退避時の退避データ、フォーマットを指示
する。アドレステーブル７、入力データテーブル８、出
力データテーブル９は、外部記憶装置に作成し、システ
ムテスト実行時、大規模プログラムテストシステムにロ
ードされ、参照される。外部記憶装置１０は、ブイレフ
）　ＩＪ部とデータ部とから成り、ディレクトリ部は、
退避データの格納場所、データ部はデータの退避が起き
た被テストプログラム実行開始からの出力回数記憶領域
及び退避データ記憶領域から成る。

モジュール入力・出力データの退避は、下記のような処
理により行われる。

０）アドレステーブル７、入力データテーブル８出力デ
ータテーブル９を外部記憶装置上に作成する・ ■被テストプログラム１、上記アドレステーブル７、入
力データテーブル８、出力データテーブル９を、システ
ムテスト開始前にロードする。

■被テストプログラム１の実行では、ほかのモジュール
へ制御を直前に、モジュール入口・出口監視プログラム
４に制御を移す。

■モジュール入口、出口監視プログラム４は、アドレス
テーブル７を参照し、アドレステーブル７に登録されて
おれば、入口なのか出口なのかを判定する。入口の場合
は、モジュール入力データ退避プログラム５を、出口の
場合はモジュール出力データ退避プログラム６を実行す
る。実行後、被テストプログラム１に制御を移す。

■モジュール入力データ退避プログラム５は、入力デー
タテーブル８を参照して出力回数と共に入力データを外
部記憶装置１０に出力する。

■モジュール出力データ退避プログラム６は、出力デー
タテーブル９を参照して出力回数と共に出力データを外
部記憶装置１０に出力する。

被テストプログラムを続行し、不良モジュール２を起動
するたびに、上記■ないし■の処理が行われ、不良モジ
ュール２０入力・出力データか外、７　。

部記憶装置１０に退避される。

第２図は、単体・組合せテストにおいて、不良モジュー
ルの入力・出力データを回復・利用する１方式の説明図
である。

第２図において、８は入力データテーブル、９は出力デ
ータテーブル、１０は入力・出力データを退避した外部
記憶装置、１１は単体・組合せテストシステム、１２は
モジュール入カデータ回復プログラム、１３はモジュー
ル起動プログラム、１４はモジュール出力データ回復プ
ログラム、１５はモジュール出力結果比較プログラム、
２は不良モジュールである。

入力データテーブル８、出力データテーブル９外部記憶
装置１０は、システムテストでモジュール入力・出力デ
ータの退避に使用したものと同一である。

単体・組合せテストシステム１１は、モジュール入力デ
ータ回復プログラム１２、モジュール起動プログラム１
３、モジュール出力データ回復プログラム１４、モジュ
ール出力結果比較プログラム１５゛　８　。

で構成される。

モジュール入力・出力データの回復、再現テスト・デグ
レードチェックへの利用は、下記のような処理により行
われる。

■不良モジュール２、入力データテーブル８、出力デー
タテーブル９を、単体・組合せテスト開始前にロードす
る。

■モジュール入力データ回復プログラムを起動し、１番
目の入力データを外部記憶装置１０かも読み込む。

■上記入力データを入力データテーブル８に従って不良
モジュール２の入力データアドレスに設定し、モジュー
ル起動プログラム１３を起動して不良モジュール２を起
動する。

■不良モジュール２の実行がモジュール出口に到達した
とき、モジュール出力データをファイルに退避する。

■モジュール出力結果比較プログラム１５を起動し、シ
ステムテスト時に退避したファイルとモジュール単体テ
ストあるいは組合せテスト時に退避したファイルを比較
し、一致あるいは不一致の旨を表示する。

上記■ない１−■の処理を行うことにより、不良モジュ
ール２の再現テスト・デバッグを行い、上記■ないし■
の処理を行うことにより、修正済みモジュールのデグレ
ードチェックを行う。

〔発明の効果〕

本発明によれば、システムテストで発生した不良を含む
モジュールの単体・組合せテストレベルの再現テストの
テストデータを自動的に作成することができる。

そして、作成したモジュール入カデータを使用すること
により、システムテスト時の該当モジュールの動作を単
体・組合せテストで正確に再現できる。又、作成したモ
ジー一段出力データを使用することにより、修正済みモ
ジュールのデグレードチェックを漏れな〈実施できる。

以上により、テストデータ作成工数の削減、テストの再
現性・正確性が確保される効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の方式の説明図、第２図は単
体・組合せテスト方式の説明図である。 １・・・被テストツーログラム、２・・・不良モジュー
ル。 ３・・・システムテストシステム、４・・・モジュール
入口・出口監親プログラム、５・・・モジュール入カデ
ータ退避プログラム、６・・・モジュール出力データ退
避プログラム、７・・・アドレステーブル、８・・・入
力データテーブル、９・・・出力データノルプル、１０
・・・外部記憶装置・

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、複数のモジュールが連結されて構成される大規模プ
   ログラムのシステムテストにおいて、１個以上の任意モ
   ジュールの入力、出力データをファイルに退避する手段
   と、該モジュールの単体テストまたは複数モジュールの
   組合せテストにおいて、前記退避ファイルから入力デー
   タを読み込み、該モジュールに与える手段と、該モジュ
   ールを実行する手段と、システムテスト時に退避したフ
   ァイルとモジュール単体テストまたは組合せテストの出
   力を比較する手段とを持つことを特徴とするプログラム
   ・デバッグ方式。