JPS63197285A - ハイブリッド形割込み処理装置 - Google Patents

ハイブリッド形割込み処理装置

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JPS63197285A
JPS63197285A JP62311175A JP31117587A JPS63197285A JP S63197285 A JPS63197285 A JP S63197285A JP 62311175 A JP62311175 A JP 62311175A JP 31117587 A JP31117587 A JP 31117587A JP S63197285 A JPS63197285 A JP S63197285A
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JP
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mask
multiplexers
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signals
signal
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JP62311175A
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エドワード・ディーン・ノンウェイラー
リチャード・ブレイアー・リーベル
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    • HELECTRICITY
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    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/26Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30Controlling
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    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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    • G06F13/14Handling requests for interconnection or transfer
    • G06F13/20Handling requests for interconnection or transfer for access to input/output bus
    • G06F13/24Handling requests for interconnection or transfer for access to input/output bus using interrupt
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H05G1/30Controlling
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 この発明は作像装置、更に具体的に云えば、実時間で起
る複数個の割込みを検出して、それに応答する方式に関
する。
例えばX線作像装置の様な今日の作像装置は、人間のX
線に対する露出を最小限に抑えると共に、X線装置を損
傷する様な動作パラメータを避けながら、所望の像を発
生するのに必要な複雑な一連の制御活動を行なう為に、
ディジタル計算機の制御のもとに動作する。作像モード
は、例えば単純な2次元露出、計算機支援の軸断層写真
3次元露出、又は映画形露出であってよい。この各々の
モードは異なる制御順序を必要とする。オペレータの指
令により、作像装置の動作をあるモードから別のモード
に切換えることが出来ることが好ましい。
1形式のX線作像装置では、必要な活動と、後続の活動
に前進することが出来る様にする予備条件の詳細とを定
めた処方によって、動作順序が制御される。例えば、X
線管に放射を発生する様に要求する前に、その電圧が予
定のレベルにあること、並びにその陽極回転装置が所定
速度になっていることを確認する必要がある。
指令を表わすデータ、及び指令に対する装置の応答を表
わすデータ、又は外部条件を表わすデータが、装置の素
子の間で高速並列データ母線を介して伝送される。デー
タのある項目は、装置が直ちに注意しなければならない
様な重要性がある。
この様な重要なデータは、割込みを発生する為に装置が
認識しなければならない。割込みに応答して、中央処理
装置が現在のタスクを中止して、この割込みによって表
わされる優先順位が更に高いタスクに移る。一旦優先順
位の高いタスクが完了したら、処理装置は中断されたタ
スクに戻ることが出来、或いは場合によっては、もとの
タスクを放棄して、全く異なるタスクに飛越す様に指令
を受けることがある。
割込みを必要とするデータ状態を感知する為、所要の応
答を達成するのに十分な頻度で、並列データ母線を標本
化する。この発明が取上げる1つの問題は、過大なコス
トをかけずに、所要の応答を達成する方式である。
1つのモードで割込みを発生することが出来る装置の状
態は、異なるモード、又は同じモードの別の部分では無
関係であることがある。この為、4L列データ母線のデ
ータ・パターンを必然的にふるい又はマスクに通し、こ
れが現在の動作モードに関係する状態だけを、割込みを
発生する為に受理する。
発明の目的と要約 この発明の目的は、従来の欠点を解決した作像装置に対
する割込み処理方式を提供することである。
この発明の別の目的は、隣合ったデータ・サンプルの間
のデータ状態の変化を感知する変化検出器を用いた割込
み処理方式を提供することである。
この発明の別の目的は、割込みの発生を許す前に、デー
タ・サンプルを動作に特有のマスクに対して検査する様
な割込み処理方式を提供することである。
この発明の別の目的は、並列データ母線のデータを複数
個の別々の並列部分に分割する割込み処理方式を提供す
ることである。全ての並列部分にある並列データを夫々
の直列データ・ストリームに同時に変換し、最後のサン
プルからの対応するデータとビット毎に比較する。比較
の際にデータに適用されるマスクが、変化が現在のモー
ドが割込みを発生することを許す様なものであるかどう
かに応じて、前のデータ・サンプルに存在したデータか
らのデータの変化に応答して、割込みの発生を許し又は
禁止する。
簡単に云うと、この発明はX線作像装置に対する露出制
御モジュールを提供する。これは、タイミング及び順序
制御装置を含み、並列データ母線を介して装置の外部素
子と連絡する。タイミング及び順序制御装置が、装置を
選ばれた動作モードに前進させる為の複数個の記憶され
た処方を用いる。並列データ母線のある外部信号の変化
を割込み処理装置で認識して、装置の注意を振向ける様
にすることが出来る。意味のある変化を認識する為に必
要なハードウェアの量が、母線データのサンプルを並列
データの複数個の組に変換17、各組を別々のマルチプ
レクサに記憶することによって少なくされる。前のサン
プルからの別の複数個のデータの組を対応する1組のマ
ルチプレクサに印加する。現在状態及び前の状態のマル
チプレクサの対応する対にある直列データを論理アレー
に対して並列に読出す。論理アレーはマスク信号をも受
取る。このマスク信号は、サンプル毎のデータの正に向
う及び負に向う変化の認識を選択的に許し又は禁止する
様に作用する。許される変化が検出された時、割込みが
発生される。割込みが発生された時、実際の母線の信号
状態を所望の母線の信号状態と比較する。一旦実際の状
態及び所望の状態が一致すれば、処方の過程を実行する
この発明の実施例では、複数個の信号を伝える少なくと
も1つの並列データ母線を含む作像装置に対するハイブ
リッド形割込み処理装置を提供する。この処理装置は、
作像装置の動作順序を定める少なくとも1つの処方を記
憶する手段を含む露出制御モジュールと、前記複数個の
信号の内の少なくとも1つの変化に応答して評価付能信
号を発生する変化検出手段と、評価付能信号に応答して
、処方によって特定された所望の状態を複数個の信号の
実際の状態と比較し、所望の状態及び実際の状態が一致
したことに応答して、制御信号を発生する比較手段とを
をする。
この発明の上記並びにその他の目的、特徴及び利点は、
以下図面について説明する所から明らかになろう。図面
全体にわたり、同様な部分には同じ参照数字を用いてい
る。
好ましい実施例の詳しい説明 この発明は他の作像装置、及び作像装置以外の装置にも
一般的に用いることが出来る。以下の説明はこういうこ
とを念頭において読まれたい。然し、具体性の為、以下
の説明はX線作像装置の場合について行なう。作像装置
と云う言葉は最も広い意味に解することを承知されたい
第1図には、この発明の1実施例のX線作像装置が全体
を10で示されている。X線発生器12が普通X線管1
4を持ち、そのフィラメント電力が線18で示す様に、
フィラメント制御器16によって制御される。X線管1
4の陰極電圧が、線22で示す様に、高圧電力装置20
によって制御される。X線受容体及び患者位置ぎめ装置
24が、身体(図面に示してない)によって変更された
後の、X線発生器12からのX線を受取る。X線過程は
、この身体に関する情報を発生する為に行なう。露出制
御モジュール26が、X線発生器12に於ける全ての機
能と、X線受容体及び患者位置ぎめ装置24に於けるあ
る機能とを制御する。これを、X線制御モジュール26
からフィラメント制御器16、高圧電力装置20.X線
管14及びX線受容体及び患者位置ぎめ装置24に夫々
接続した線2g、30,32.34で示す。更に、フィ
ラメント制御器16、高圧電力装置20、X線管14及
びX線受容体及び患者位置ぎめ装置24の状態に応答す
るデータが、そこから夫々線36゜38.40.42を
介して露出制御モジニール26に伝達される。露出制御
モジュール26との手作業の対話が、線46.47によ
って露出制御モジュール26に接続された普通の手動入
出力装置44によって行なわれる。
装置の応答の為に要求される高いデータ速度では、特に
X線受容体及び患者位置ぎめ装置24からのデータに対
しては、線28乃至42で表わされるデータの通信は並
列データ母線で行なうことが好ましい。この場合、並列
データ母線中の複数個の導体の各々は1個の2進デイジ
ツトに専用になっており、その0又は1状態が予定の情
報を伝える。各々の線28乃至42は、並列データ母線
中の1本の導体であってもよいし、或いは所要数の2進
デイジツトを伝える為に複数個の導体であってもよい。
指令を伝送する他に、線28乃至34は、それが接続さ
れた素子に要求されるタイミング信号をも伝え、その中
の活動を装置内の他の場所での関連する活動と同期させ
ることが出来る。
X線発生器12とX線受容体及び患者位置ぎめ装u!2
24とは、現在公知であるか又は後に開発される様な任
意の普通の形式の一般的な装置であると考えられたい。
これらの素子がこの発明にとって重要なのは、それに向
う又はそこからのデータがこの発明の装置と相互作用を
する形の点であるが、装置の他の部分とのデータの相互
作用を別とすれば、これはこの発明にとって関係がない
。それらは完全に普通のものであって、当業者に周知で
あるから、それについてこれ以上詳しく説明することは
冗長であり、省略する。現在予想される所では、この発
明はX線受容体及び患者位置ぎめ装置24の高速データ
の需要に専用になるものと考えられる。これは、この発
明がその場合に制限されるものと解してはならない。
第2図をも参照すると、露出制御モジュール26がタイ
ミング及び順序制御モジュール48、自動輝度制御モジ
ュール50及びX線管保護モジュール52を持っている
。自動輝度制御モジュール50は、X線発生器12及び
X線受容体及び患者位置ぎめ装置24との関係は極く普
通のものであり、X線発生器12及びX線受容体及び患
者位置ぎめ装置24から線40.42を介して入って来
るデータを用いて、X線管14の制御を変調し、X線受
容体及び患者位置ぎめ装置24によって発生される像の
予定の輝度を保つ。自動輝度制御モジュール50が受取
る全ての関連データが、タイミング及び順序制御モジュ
ール48に知らせる為に、並列実時間母線54にものせ
られる。実時間母線54が、タイミング及び順序制御モ
ジュール48からのデータも自動輝度制御モジュール5
0へ、並びにX線管保護モジュール52との間でもデー
タを伝える。
X線管保護モジュール52も、X線管14からのX線の
発生を許す前に、X線発生器12及びX線受容体及び患
者位置ぎめ装置24の寿命を長くするに必要な予定の条
件が存在することを強制する点で、極く普通のものであ
る。例えば、所要のフィラメント温度、高い電圧、又は
陽極回転速度の様な予定の条件を、X線を発生する為の
予備条件として定めることが出来る。この様な予備条件
が存在するか存在しないかを決定する為の情報を含む信
号が、線36.38.40を介してX線管保護モジュー
ル52に伝達される。X線管保護モジュール52に直接
的に伝達されるあらゆる関連情報は、タイミング及び順
序制御モジュール48に伝送する為に、実時間母線54
にものぜられる。
自動輝度制御モジュール50及びX線管保護モジュール
52は極く普通のものであって、当業者がよく知ってい
るものであるから、これについてこれ以上説明すること
は不要であると考えられる。
次に第3図について説明すると、タイミング及び順序制
御モジュール48が処方発生器56を含む。これは、X
線作像装置10の動作に必要な全ての手順並びに割込み
の全ての規則を持っている。
処方プロセス状態レジスタ58が、線46からの手動制
御信号、及び線54,34.42からの状態信号を受取
る。これらの入力と、処方発生器56から線げ0を介し
て送られるタイミング信号とに基づいて、処方プロセス
状態レジスタ58が、実行中の処方を構成する順序の中
で装置が今どこにあるかの最新の記録を保持する。存在
する実際の状態を表わす信号が、線62を介して評価器
64に接続される。
全ての外部データが状態変化検出器66に並列に接続さ
れる。その入力を高速で標本化し、処方発生器56によ
って定められた規則を充たす様な、サンプルの間の入力
状態の変化が発生したことだけを認識するのが、状態変
化検出器66の基本的な作用である。この目的の為、処
方発生器56が、割込みを発生することが許される全て
の許容し得る入力状態変化を表わすマスク信号を線68
を介して状態変化検出器66に印加する。状態変化検出
器66は他の全ての状態を無視する。即ち、1つのサン
プルで状態変化検出器66に対する全ての入力の状態が
、前のサンプルの状態と変らない場合、状態変化検出器
66は応答しない。その意義が、現在の動作モードで、
割込みの発生を要求するものとして、処方発生器56か
らのマスク信号によって確認されているものでない状態
変化が起った場合、状態変化検出器66は応答しないま
\でいる。相次ぐサンプルの間で入力に変化が起り、こ
の変化がマスク信号と一致する特性を持つ時にだけ、状
態変化検出器66が線70を介して評価器64に接続さ
れる評価付能信号を発生する。
X線作像装置には、割込みを要求する状態変化が存在す
るが、この割込みの発生は、現在の動作順序の少なくと
も一部分が完了するまで遅らせるのが好ましい様な動作
モードがある。1例として、X線作像が進行中であって
、モードを変える手動入力を受取った場合、途中まで行
なわれた手順を放棄する代りに、像を得るのに必要な工
程を完了するのが望ましいことがある。他の例は当業者
に容易に考えられよう。処方発生器56が、割込みに対
して作用する前に、達成しなければならない所望の状態
を表わす信号を線72を介して評価器64に印加する。
評価器64は、線62の更新された実際の状態と線72
の所望の状態とを比較し、両者が一致するかどうかを調
べる。一致すると判った時、評価器64が線74を介し
て処方発生器66に対して制御信号を印加する。この制
御信号に応答して、処方発生器56は、処方の内の現在
の部分を実行するか、又は処方の次の部分を設定する。
現在の部分を実行する為、処方発生器が線2g、30,
32,47.34を介して指令を送出す。次の処方の部
分を設定する為に、新しいマスク68及び所望の状態7
2を定める。この処方の部分は、例えば、割込み手順が
完了した時に遂行すべき新しい1組の動作を含むことが
出来る。
この様な新しい1組の動作は、例えば、もとの処方に戻
ること、異なる手順にブランチすること、又は動作を終
了することを含むことが出来る。
次に第4図について説明すると、状態変化検出器66が
、状態変化検出器66が関心を持つ様な全ての2進デイ
ジツトに対する十分な記憶容量を持つ現在状態バッファ
76を持っている。処理に長すぎる遅延を加えずに、人
力の変化を試験するのに必要なハードウェアを少なくす
る為、現在状態バッファ76にある2進データ・ディジ
ットは、例えば8個の2進デイジツトの組に分けて、複
数個のマルチプレクサ78,80.82に送られる。
例えば現在状態バッファ76にあるデータが24個の2
進デイジツトを持つ場合、3組のマルチプレクサ78乃
至82を用意して、24個の2進ディジット全部を受取
る。この場合、第4図のNは3に等しい。
各々の標本化期間の終りに、前状態バッファ84が線8
6を介して現在状態バッファ76の内容を受取る。前状
態バッファ84は、現在状態バッファ76と同じ2進デ
イジツトの容量を持つことが好ましい。一旦前状態バッ
ファ84にラッチされた時、2進デイジツトが8個の組
に分けてマルチプレクサ88,90.92に送られる。
マスク・バッファ94が、現在の動作に関連するマスク
を表わす並列データを線68から受取る。
マスク・バッファ94にある2進デイジツトが何紙かに
分けて、1組のマスク・マルチプレクサ96に送られる
。1組のマスク・マルチプレクサ96の数がMであり、
これは組78乃至82及び88乃至92にあるマルチプ
レクサの数Nと異なっていてよい。
順序制御器98が、現在状態バッファ76から前状態バ
ッファ84へのデータの転送、現在状態バッファ76に
対する現在データのラッチ動作、及びマスク・バッファ
94に対するマスク・データのラッチ動作を制御する。
次の標本化期間の初めに、現在状態バッファ76に対す
る並列入力にあるその時の現在状態のデータが、現在状
態バッファ76にラッチされ、マルチプレクサ78乃至
82に送られる。
マルチプレクサ78乃至82.88乃至92及び1組の
マスク・マルチプレクサ96の対応する素子から、マス
ク済み変化検出器100の入力に対して直列データが同
時に供給される。何れかの入力2進デイジツトに変化が
検出され、1組のマスク・マルチプレクサ96からのマ
スク・パターンによって抑圧されない場合、評価付能信
号がマスク済み変化検出器100によって発生され、線
70に印加される。
次に第5図をも参照して説明すると、マスク済み変化検
出器100が、マスク・データによって付能される状態
変化の数と同じ数の複数個のアンド・ゲート104,1
06,108.110を持つ論理アレー102を持って
いる。即ち、所定の時点で、マスク・データが正に向う
方向又は負に向う方向の変化の認識を付能すると共に、
他方を禁止してもよいし、或いは両方向の変化を禁止或
いは付能してもよい。第5図に示す回路部分は、マルチ
プレクサ78及び82(第4図)からの正に向う変化及
び負に向う変化の両方を付能することが出来る。論理ア
レー102の内、図面に示してない他の部分が、一方向
の変化を認識する1個のアンド・ゲートだけを持ってい
てよい。この為、論理アレー102にあるアンド・ゲー
トの総数は、最大値が、現在の又は前のデータに対する
マルチプレクサの数の2倍であり、最小値がマルチプレ
クサの数に等しい。
例えばタイミング信号の様なある種の信号は、変化が予
定の方向の時にだけ、情報を含む。反対方向の変化は無
視する。この発明の1実施例は、それから正又は負に向
う変化を確認することが出来なければならない様な信号
を持つ16本の並列信号線とタイミング信号を持つ8本
の並列信号線を処理する。この為、合計40個の変化が
ある(16個が正に向い、16個が負に向い、8個は一
方向)。状態変化検出器66(第4図)全体にわたって
8:1マルチプレクサを使い、全てのタイミング信号が
1つの現在状態及び1つの前状態マルチプレクサで処理
されると仮定すると、論理アレー102にあるアンド・
ゲートの総数は9(両方向変化の4チヤンネルに対して
8個、及び一方向変化の1チヤンネルに対して1個)で
ある。
この例では、N(第4図)の値は3であり、Mの値は5
である。
アンド・ゲート104は、マスク信号によって付能され
た場合、マルチプレクサ78及び88(第4図)からの
信号Aの直列データ・ストリーム中の正に向う変化を検
出し、ゲート106は、付能された場合、これらの信号
中の負に向う変化を検出する。アンド・ゲート108及
び110が、マルチプレクサ82及び92からの信号N
の直列データ・ストリーム中の正及び負に向う変化に対
して同じ作用をする。前状態情報PVAの一部分を含む
マルチプレクサ88からの直列データ・ストリームが、
アンド・ゲート104の1つの入力に印加される。この
線の前状態情報をインバータ112で反転して、アンド
・ゲート106の1つの入力に印加する。マルチプレク
サ78からの現在状態情報がアンド・ゲート106の1
つの入力に直接印加され、インバータ114で反転され
てから、アンド・ゲート104の入力に印加される。
マスク・データMAがこれらのアンド・ゲートの3番目
の入力に印加される。マスク・データ線に示した矢印は
、各々の線によって付能される変化の方向を示す。例え
ば、アンド・ゲート104の3番目の入力に印加される
マスク信号は、信号A中の負に向う変化を認識出来る様
にする。同様に、アンド・ゲート106の3番目の入力
に印加されるマスク信号は、信号A中の正に向う変化を
認識出来る様にする。例として云うと、正に向う変化は
、前状態が0であり、現在状態が1であることを必要と
する。この為、反転された前信号及び直接的な現在信号
がアンド・ゲート106に印加されるが、これは共に1
である。1の付能マスク信号が存在する時、アンド・ゲ
ート106が付能される。
同様に、アンド・ゲート108及び110は、マスク信
号によって付能された時、マルチプレクサ82及び88
からの直列データ・ストリーム中の負に向う及び正に向
う変化を認識する。
アンド・ゲート104乃至110の出力がオア・ゲート
120の入力に接続される。オア・ゲート120の出力
がD形フリップフロップ122のデータ人力りに接続さ
れる。トリガ信号が普通のタイミング回路(図面に示し
てない)から予定の時刻にDフリップフロップ122の
クロック人力CLKに接続される。そのCLK入力でト
リガされた時、D形フリップフロップ122の直接出力
Qが、そのデータ人力りにある信号の状態をとる。
即ち、CLK入力がトリガされた時、データ人力りの信
号が1であれば、直接出力Qは1の値をとり、次のトリ
ガ信号を受取るまで、この状態JことVまる。従って、
D形フリップフロップ122の直接出力Qに接続された
線70の信号は、トリガ信号により、D形フリップフロ
ップ122のデータ人力りの状態と等しくなる様に駆動
される。−回線70の信号が評価を付能する所期の作用
を行なった時、リセット信号がD形フリップフロップ1
22のリセット人力Rに印加され、その直接出力を0に
戻す。
状態変化検出器66及びマスク済み変化検出器100に
ある装置が、ことごとくの信号の変化の認識を並列に行
なった場合に必要な量に比べて、ハードウェアを大幅に
減少して、並列信号中の変化のマスク式認識が出来る様
にしていることに注意されたい。即ち、並列の場合、4
0個の異なる信号を認識する為に、40個の信号全部に
対するゲート回路及びラッチ回路が必要である。1組の
並列信号全体を1個の直列データ・ストリームに変換す
るには、データ標本化速度を下げることが必要になるが
、これは受入れ難いことがある。その代りに、この発明
は1組の並列信号を例えば8個ずつの組に8=1マルチ
プレクサで変換する。
その後、8:1マルチプレクサの出力を並列の直列デー
タ・ストリームとして読出す。論理のハードウェアの量
が大幅に減少するが、1対の直列データ・ストリームに
対して作用する場合に伴う様な全面的な標本化速度の犠
牲を払わなくて済む。
図面についてこの発明の好ましい実施例を説明したが、
この発明がこの実施例そのものに制限されず、当業者で
あれば、特許請求の範囲によって定められたこの発明の
範囲内で、種々の変更を加えることが出来ることを承知
されたい。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明を用いたX線作像装置の簡略ブロック
図、 第2図は第1図のX線作像装置の露出制御モジュールの
簡略ブロック図、 第3図は第2図のタイミング及び順序制御モジコールの
ブロック図、 第4図は第3図の状態変化検出器のブロック図、第5図
は第4図のマスク済み変化検出器のブロック図である。 主な符号の説明 26:露出制御モジュール 54:実時間母線 56:処方発生器 64:評価器 66:状態変化検出器

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)複数個の信号を伝える少なくとも1つの並列データ
    母線を含む作像装置に対するハイブリッド形割込み処理
    装置に於て、 前記作像装置の動作順序を定める少なくとも1つの処方
    を記憶する手段を含む露出制御モジュールと、 前記複数個の信号の内の少なくとも1つの変化に応答し
    て評価付能信号を発生する変化検出手段と、 前記評価付能信号に応答して、前記処方によって特定さ
    れた所望の状態を前記複数個の信号の実際の状態と比較
    し、所望の状態及び実際の状態が一致したことに応答し
    て、制御信号を発生する比較手段とを有するハイブリッ
    ド形割込み処理装置。 2)特許請求の範囲1)に記載したハイブリッド形割込
    み処理装置に於て、 前記変化検出手段が、少なくとも第1及び第2のマルチ
    プレクサと、 第1の予定の時刻に求めた前記複数個の信号の第1組及
    び第2組のサンプルを前記少なくとも第1及び第2のマ
    ルチプレクサに記憶する手段と、少なくとも第3及び第
    4のマルチプレクサと、それより前の第2の予定の時刻
    に求めた前記複数個の信号の第3組及び第4組のサンプ
    ルを前記第3及び第4のマルチプレクサに記憶する手段
    とを有し、 前記第2の予定の時刻は前記第1の予定の時刻より前に
    発生し、この為、前記第3及び第4のマルチプレクサは
    、前記第1及び第2の予定の時刻の間に起った変化を別
    として、前記第1及び第2のマルチプレクサに記憶され
    ている信号と等しい信号を持っており、 前記比較手段が、前記第1のマルチプレクサからの第1
    のビット順序を前記第3のマルチプレクサからの対応す
    る第3のビット順序と比較する第1の手段を含み、 更に前記比較手段は、前記第2のマルチプレクサからの
    第2のビット順序を前記第4のマルチプレクサからの対
    応する第4のビット順序と比較する第2の手段を含み、 前記第1の比較する手段及び前記第2の比較する手段は
    同時に動作し、更に、 前記第1及び第3の順序及び前記第2及び第4の順序の
    予定のものゝ間の差に応答して、前記評価付能信号を発
    生する論理手段を有するハイブリッド形割込み処理装置
    。 3)特許請求の範囲2)に記載したハイブリッド形割込
    み処理装置に於て、 前記比較手段が少なくとも第1及び第2のマスク・マル
    チプレクサを含み、 前記少なくとも1つの処方は前記第1及び第2のマスク
    ・マルチプレクサに記憶された複数個のマスク・ビット
    を含んでおり、 前記差は正に向う変化が起った時の第1の差及び負に向
    う変化が起った時の第2の差であり、前記論理手段が、
    前記第1及び第3のビット順序及び前記第1のマスク・
    マルチプレクサからの第1のマスク・ビット順序を受取
    るゲート手段を含んでおり、該第1のマスク・ビット順
    序は前記第1及び第3のビット順序の間の前記第1又は
    第2の差に応答して、前記評価付能信号の発生を禁止又
    は付能する様に選択的に作用し、更に 前記論理手段は、前記第2及び第4のビット順序及び前
    記第2のマスク・マルチプレクサからの第2のマスク・
    ビット順序を受取る第2のゲート手段を含んでおり、該
    第2のマスク・ビット順序は、前記第2及び第4のビッ
    ト順序の間の前記第1又は第2の差に応答して、前記評
    価付能信号の発生を禁止又は付能する様に選択的に作用
    するハイブリッド形割込み処理装置。 4)特許請求の範囲3)に記載したハイブリッド形割込
    み処理装置に於て、 前記論理手段が、前記第1のビット順序、前記第3のビ
    ット順序の反転及び前記第1のマスク・ビット順序を受
    取る少なくとも第1のアンド・ゲートと、 前記第2のビット順序の反転、前記第4のビット順序及
    び前記第2のマスク・ビット順序を受取る少なくとも第
    2のアンド・ゲートとを持っているハイブリッド形割込
    み処理装置。 5)X線発生器と、 X線受容体及び患者取扱い装置と、 作像装置の動作順序を定める少なくとも1つの処方を記
    憶する手段を含む露出制御モジュールと、少なくとも前
    記X線受容体及び患者取扱い装置を前記露出制御モジュ
    ールに接続し、複数個の信号を伝える手段を含んでいる
    並列データ母線と、前記複数個の信号の内の少なくとも
    1つの変化に応答して評価付能信号を発生する変化検出
    手段と、 該評価付能信号に応答して、前記処方によって特定され
    た所望の状態を前記複数個の信号の実際の状態と比較し
    、所望の状態及び実際の状態が一致したことに応答して
    、制御信号を発生する比較手段とを有する作像装置に対
    するハイブリッド形割込み処理装置。
JP62311175A 1986-12-22 1987-12-10 ハイブリッド形割込み処理装置 Pending JPS63197285A (ja)

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US06/944,653 US4847765A (en) 1986-12-22 1986-12-22 Hybrid interrupt handling for computer-controlled imaging system
US944,653 1986-12-22

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JPS63197285A true JPS63197285A (ja) 1988-08-16

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ID=25481815

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EP (1) EP0272879A3 (ja)
JP (1) JPS63197285A (ja)
KR (1) KR910007726B1 (ja)
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IL84441A (en) 1990-12-23
KR910007726B1 (ko) 1991-09-30
EP0272879A2 (en) 1988-06-29
US4847765A (en) 1989-07-11
EP0272879A3 (en) 1990-05-09
KR880008706A (ko) 1988-08-31
IL84441A0 (en) 1988-04-29

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