JPS63195504A - 光変位計によるマ−キング線検出方法 - Google Patents
光変位計によるマ−キング線検出方法Info
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- JPS63195504A JPS63195504A JP62027137A JP2713787A JPS63195504A JP S63195504 A JPS63195504 A JP S63195504A JP 62027137 A JP62027137 A JP 62027137A JP 2713787 A JP2713787 A JP 2713787A JP S63195504 A JPS63195504 A JP S63195504A
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Links
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- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 3
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Control Of Cutting Processes (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野コ
この発明は、例えばレーザビーム等を用いてワークを切
断加工する装置のティーチングデータ入力時に使用され
る光変位計によるマーキング線検出方法、特にマーキン
グ線とその周囲とのコントラストを強調しておいて光変
位計によりマーキング線を検出する方法に関するもので
ある。
断加工する装置のティーチングデータ入力時に使用され
る光変位計によるマーキング線検出方法、特にマーキン
グ線とその周囲とのコントラストを強調しておいて光変
位計によりマーキング線を検出する方法に関するもので
ある。
［従来の技術］
第２図は例えば特願昭５９−８１９１５号の第４図に示
され、光変位計がワークの表面状態およびワークまでの
距離を検出する仕方を説明する図である。
され、光変位計がワークの表面状態およびワークまでの
距離を検出する仕方を説明する図である。
図において、（１）は光変位計、（２）はこの光変位針
（１）が内蔵する光源例えば単色光源としての半導体レ
ーザダイオード（図示しない）から出力されたレーザ光
、く３）はワーク、（３八）はこのワーク（３）の表面
に貼付されたテープ、（４）はワーク（３）上に投射さ
れた光スポットである。なお、この光スポット（４）の
受光像は光変位計（１）によって受光され、内蔵する諸
口路（図示しない）によって処理される。このような光
変位計（１）は、矢印方向に定速で移動させられると、
ワーク（３）の表面状態と検出する信号ＶＬＤおよび光
変位計（１）がらワーク（３）の表面までの距離である
高さｈを検出する信号Ｖ１４を出力する。なお、表面状
態検出信号ＶＬＤは、それぞれワーク（３）、テープ（
３＾）から光変位計（１）への光の入射量の相違により
、テープ（３＾）が存在する所では高レベルのマーキン
グ線検出信号Ｂを生じる。また、高さ検出信号ｖＨは、
光変位計（１）がワーク（３）に対して一定の高さｈで
移動させられるので、はぼ一定レベルの信号になる。
（１）が内蔵する光源例えば単色光源としての半導体レ
ーザダイオード（図示しない）から出力されたレーザ光
、く３）はワーク、（３八）はこのワーク（３）の表面
に貼付されたテープ、（４）はワーク（３）上に投射さ
れた光スポットである。なお、この光スポット（４）の
受光像は光変位計（１）によって受光され、内蔵する諸
口路（図示しない）によって処理される。このような光
変位計（１）は、矢印方向に定速で移動させられると、
ワーク（３）の表面状態と検出する信号ＶＬＤおよび光
変位計（１）がらワーク（３）の表面までの距離である
高さｈを検出する信号Ｖ１４を出力する。なお、表面状
態検出信号ＶＬＤは、それぞれワーク（３）、テープ（
３＾）から光変位計（１）への光の入射量の相違により
、テープ（３＾）が存在する所では高レベルのマーキン
グ線検出信号Ｂを生じる。また、高さ検出信号ｖＨは、
光変位計（１）がワーク（３）に対して一定の高さｈで
移動させられるので、はぼ一定レベルの信号になる。
［発明、が解決しようとする問題点］
ところが、このような光変位計（１）を用いてテープ（
３＾）を検出するには、ワーク（３）上にテープ（３＾
）を貼付するだけでは不十分であり、半導体レーザダイ
オードからのレーザ光（２）をテープ周囲のワークに比
べて良く吸収する例えば黒色のテープを貼付しなければ
ならない、この際、テープは単なる光吸収面を作り出す
ために使用されていると考えて良い、換言すれば、人間
は黒色のテープとその周囲のワークとのコントラストを
色情報で直観的に認識できるが、光変位計（１）は半導
体レーザダイオードからの単色光源で照射される白黒の
世界においてテープとワークを弁別するのである。
３＾）を検出するには、ワーク（３）上にテープ（３＾
）を貼付するだけでは不十分であり、半導体レーザダイ
オードからのレーザ光（２）をテープ周囲のワークに比
べて良く吸収する例えば黒色のテープを貼付しなければ
ならない、この際、テープは単なる光吸収面を作り出す
ために使用されていると考えて良い、換言すれば、人間
は黒色のテープとその周囲のワークとのコントラストを
色情報で直観的に認識できるが、光変位計（１）は半導
体レーザダイオードからの単色光源で照射される白黒の
世界においてテープとワークを弁別するのである。
このように、従来のテープ検出方法では、ワーク（３）
上に黒色のテープを貼付しなければならず、またその貼
付の仕方が悪いとテープを誤検出してしまうという問題
点があった。
上に黒色のテープを貼付しなければならず、またその貼
付の仕方が悪いとテープを誤検出してしまうという問題
点があった。
そこで、この発明は、このような問題点を解決するため
になされたもので、テープを貼付する必要がなく、また
マーキング線を誤検出することのない光変位計によるマ
ーキング線検出方法を得ることを目的とする。
になされたもので、テープを貼付する必要がなく、また
マーキング線を誤検出することのない光変位計によるマ
ーキング線検出方法を得ることを目的とする。
［問題点を解決するための手段］
この発明の光変位計によるマーキング線検出方法は、マ
ーキング線を、光の吸収、散乱もしくは反射が良いもの
にしたことである。
ーキング線を、光の吸収、散乱もしくは反射が良いもの
にしたことである。
「作用」
この発明においては、マーキング線とワークのコントラ
ストを強調したので、マーキング線を誤検出することが
ない。
ストを強調したので、マーキング線を誤検出することが
ない。
［実施例］
第１図はこの発明の光変位計によるマーキング線検出方
法の一実施例を説明する図であり、（１）〜（４）は従
来例におけるものと全く同じである。
法の一実施例を説明する図であり、（１）〜（４）は従
来例におけるものと全く同じである。
この発明では、光変位計（１）中の光源から投射された
レーザ光（２）をワーク（３）に比べて良く吸収、散乱
もしくは反射するマーキング線（５）をワーク（３）の
表面に設ける。このマーキング線（５）は、ワーク（３
）とのコントラストを強調して上述した誤検出を避ける
ため、ワーク（３）に比べてレーザ光（２）を良く吸収
、散乱もしくは反射する塗りスや紙に近いものに類似し
た光特性を有する塗料からなり、ワーク表面上に引かれ
る。また、ワーク（３）が粘土で作られている場合には
、マーキング線（５）はレーザ光（２）を良く反射する
アルミニウム線、銅線、もしくは電線類で作られ、る。
レーザ光（２）をワーク（３）に比べて良く吸収、散乱
もしくは反射するマーキング線（５）をワーク（３）の
表面に設ける。このマーキング線（５）は、ワーク（３
）とのコントラストを強調して上述した誤検出を避ける
ため、ワーク（３）に比べてレーザ光（２）を良く吸収
、散乱もしくは反射する塗りスや紙に近いものに類似し
た光特性を有する塗料からなり、ワーク表面上に引かれ
る。また、ワーク（３）が粘土で作られている場合には
、マーキング線（５）はレーザ光（２）を良く反射する
アルミニウム線、銅線、もしくは電線類で作られ、る。
その後、光変位計（１）によりマーキング線（５）を検
出する。
出する。
［発明の効果］
この発明は、以上詳述したように、ワークに比べてレー
ザ光を良く吸収、散乱もしくは反射するマーキング線を
ワーク上に設けたので、マーキング線を誤検出すること
がなく、ペンで字を書くようにテーチングでき、ワーク
にテープを貼付する手間かはふけるという効果を奏する
。
ザ光を良く吸収、散乱もしくは反射するマーキング線を
ワーク上に設けたので、マーキング線を誤検出すること
がなく、ペンで字を書くようにテーチングでき、ワーク
にテープを貼付する手間かはふけるという効果を奏する
。
第１図はこの発明の一実施例を説明する図、第２図は光
変位計による検出仕方を説明する図である。 （１）は光変位計、（２）はレーザ光、（３）はワー々
ｌ に Ｘｌ＋ う − 、七、−７ノｌ童白
づ−セ ２尚、図中、同一符号は同−又は相当部分を
示す。 児１図 箱２０ ■
変位計による検出仕方を説明する図である。 （１）は光変位計、（２）はレーザ光、（３）はワー々
ｌ に Ｘｌ＋ う − 、七、−７ノｌ童白
づ−セ ２尚、図中、同一符号は同−又は相当部分を
示す。 児１図 箱２０ ■
Claims (5)
- （１）光変位計中の光源から投射されたレーザ光をワー
クに比べて良く吸収、散乱もしくは反射するマーキング
線を前記ワークの表面に設け、前記光変位計により前記
マーキング線を検出することを特徴とする光変位計によ
るマーキング線検出方法。 - （２）マーキング線は、ワーク表面上に引かれた塗料で
あることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光変
位計によるマーキング線検出方法。 - （３）塗料はワークに比べて光を良く散乱する塗面を有
し、その光特性が白色セラミクスや紙に近いものの持つ
光特性と類似することを特徴とする特許請求の範囲第２
項記載の光変位計によるマーキング線検出方法。 - （４）マーキング線は、粘土で作られたワークに比べて
レーザ光を良く反射するアルミニウム線、銅線もしくは
電線類からなることを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の光変位計によるマーキング線検出方法。 - （５）光源は、単色光源としての半導体レーザダイオー
ドであることを特徴とする特許請求の範囲第１項ないし
第４項のいずれか記載の光変位計によるマーキング線検
出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62027137A JPS63195504A (ja) | 1987-02-10 | 1987-02-10 | 光変位計によるマ−キング線検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62027137A JPS63195504A (ja) | 1987-02-10 | 1987-02-10 | 光変位計によるマ−キング線検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63195504A true JPS63195504A (ja) | 1988-08-12 |
Family
ID=12212662
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62027137A Pending JPS63195504A (ja) | 1987-02-10 | 1987-02-10 | 光変位計によるマ−キング線検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63195504A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02251706A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-09 | Mitsubishi Electric Corp | マーキング線検出方法 |
| WO2019177029A1 (ja) * | 2018-03-14 | 2019-09-19 | 富士フイルム株式会社 | 賦形シートの製造方法 |
-
1987
- 1987-02-10 JP JP62027137A patent/JPS63195504A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02251706A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-09 | Mitsubishi Electric Corp | マーキング線検出方法 |
| WO2019177029A1 (ja) * | 2018-03-14 | 2019-09-19 | 富士フイルム株式会社 | 賦形シートの製造方法 |
| CN111770822A (zh) * | 2018-03-14 | 2020-10-13 | 富士胶片株式会社 | 赋形薄片的制造方法 |
| JPWO2019177029A1 (ja) * | 2018-03-14 | 2021-01-14 | 富士フイルム株式会社 | 賦形シートの製造方法 |
| CN111770822B (zh) * | 2018-03-14 | 2022-02-08 | 富士胶片株式会社 | 赋形薄片的制造方法 |
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