JPS61266986A - 電気部品の有無判定方式 - Google Patents
電気部品の有無判定方式Info
- Publication number
- JPS61266986A JPS61266986A JP60108768A JP10876885A JPS61266986A JP S61266986 A JPS61266986 A JP S61266986A JP 60108768 A JP60108768 A JP 60108768A JP 10876885 A JP10876885 A JP 10876885A JP S61266986 A JPS61266986 A JP S61266986A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- line
- capacitor
- absence
- electrical component
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
光切断法によりプリント板上の電気部品の有無を判定す
る場合、電気部品が傾いて実装されている時スリット光
の反射光が大変弱くなることがある点を利用して電気部
品の有無を判定する。
る場合、電気部品が傾いて実装されている時スリット光
の反射光が大変弱くなることがある点を利用して電気部
品の有無を判定する。
本発明は通信装置、電子装置等に於いて、コンデンサの
様に成る機械的な寸法を保持する電気部品をプリント板
上に実装する場合の該電気部品の有無判定方式に関する
ものである。
様に成る機械的な寸法を保持する電気部品をプリント板
上に実装する場合の該電気部品の有無判定方式に関する
ものである。
尚本明細書では其の一例としてコンデンサに就いて述べ
るが、必ずしもコンデンサに限定されるものではない。
るが、必ずしもコンデンサに限定されるものではない。
従来の光切断法によるプリント板上のコンデンサの有無
判定方式ではコンデンサが傾いて実装されている場合に
は検出不可能であると云う欠点があり、此の改善が求め
られていた。
判定方式ではコンデンサが傾いて実装されている場合に
は検出不可能であると云う欠点があり、此の改善が求め
られていた。
プリント板上のコンデンサ等の電気部品の有無を判定す
る方式として従来から光切断法がある。
る方式として従来から光切断法がある。
従来の光切断法はコンデンサ頭部の高さを検出し、其の
高さ情報の位置のみから有無を判定をおこなっていた。
高さ情報の位置のみから有無を判定をおこなっていた。
第３図は従来のコンデンサの有無判定方式の一例を示す
図である。
図である。
図中、１はＴＶカメラ、１ａはＴＶカメラ１のレンズ、
２はコンデンサ、３はプリント板、４はシリンドリカル
レンズ、５はＡ／Ｄ変換回路、６は画像メモリ、７は検
査回路である。
２はコンデンサ、３はプリント板、４はシリンドリカル
レンズ、５はＡ／Ｄ変換回路、６は画像メモリ、７は検
査回路である。
光切断法では図示する様にシリンドリカルレンズ４によ
りレーザービームをスリット光にして斜め上の方向から
コンデンサ２の在るべき位置に投射する。此れをＴＶカ
メラ１で真上から撮影し、其の出力信号をＡ／Ｄ変換回
路５によりディジタル信号に変換して画像メモリ６に取
り込む。
りレーザービームをスリット光にして斜め上の方向から
コンデンサ２の在るべき位置に投射する。此れをＴＶカ
メラ１で真上から撮影し、其の出力信号をＡ／Ｄ変換回
路５によりディジタル信号に変換して画像メモリ６に取
り込む。
第４図、第５図は共にコンデンサの実装状態とＴＶ画像
の関係の説明図である。
の関係の説明図である。
第４図（ａ）はコンデンサ２がプリント板３上に正しく
実装されている場合を示すもので、此の場合にはＴＶカ
メラ１により第４図山）に示すＴＶ画像が得られる。
実装されている場合を示すもので、此の場合にはＴＶカ
メラ１により第４図山）に示すＴＶ画像が得られる。
第３図及び第４図（ｂｌのＴＶ画像に於いて、Ａ線とＢ
線はスリット光がプリント板３と交叉する線（基材線と
云う）であり、Ｃ線はスリット光がコンデンサ２の頭部
と交叉する線である。尚Ａ線とＢ線は同一線上にあり、
Ｃ線と平行である。
線はスリット光がプリント板３と交叉する線（基材線と
云う）であり、Ｃ線はスリット光がコンデンサ２の頭部
と交叉する線である。尚Ａ線とＢ線は同一線上にあり、
Ｃ線と平行である。
此の場合、スリットの幅方向の位置ｋ （Ａ線又はＢ線
からＣ線迄の距離）を計測することによりコンデンサ２
の高さが求められる。
からＣ線迄の距離）を計測することによりコンデンサ２
の高さが求められる。
即ち、第３図でスリット光は斜めにコンデンサ２を切断
する。スリット光の傾斜角をθ、コンデンサ２の高さを
ｈ、スリットの幅方向の位置をｋした時、下記の関係が
成立する。
する。スリット光の傾斜角をθ、コンデンサ２の高さを
ｈ、スリットの幅方向の位置をｋした時、下記の関係が
成立する。
ｈ＝に−ｔａｎ θ
若しコンデンサ２が正規に実装されている場合には上式
から算出したｈはコンデンサ２の高さと一致する筈であ
る。
から算出したｈはコンデンサ２の高さと一致する筈であ
る。
又第４図（ａｌに示す様に正規に実装されている場合に
はＣ線は第４図（ｂ）の鎖＆ｉ （コンデンサ２の正規
の実装位置の中心線）と交叉する筈である。
はＣ線は第４図（ｂ）の鎖＆ｉ （コンデンサ２の正規
の実装位置の中心線）と交叉する筈である。
第５図（ａ）はコンデンサ２がプリント板３上に傾いて
実装されている状態を示し、此の場合にはＴＶカメラ１
により第５図（ｂ）に示すＴＶ画像が得られる。
実装されている状態を示し、此の場合にはＴＶカメラ１
により第５図（ｂ）に示すＴＶ画像が得られる。
第５図（ａｌの場合、Ｃ線は第５図（ｂ）の鎖線（コン
デンサ２の正規の実装位置の中心線）と交叉せず、その
傾いた部分（Ｃ線とＢ線を結ぶ部分）では反射光が少な
いのでスリット光の反射強度が極端に小さくなる。
デンサ２の正規の実装位置の中心線）と交叉せず、その
傾いた部分（Ｃ線とＢ線を結ぶ部分）では反射光が少な
いのでスリット光の反射強度が極端に小さくなる。
従って問題のコンデンサが傾いて実装されている為其の
コンデンサ頭部が隣の位置に有る場合は、其のコンデン
サが所定の位置に正しく実装されているコンデンサであ
るのか、隣のコンデンサであるのかを判定出来ないと云
う欠点があった。
コンデンサ頭部が隣の位置に有る場合は、其のコンデン
サが所定の位置に正しく実装されているコンデンサであ
るのか、隣のコンデンサであるのかを判定出来ないと云
う欠点があった。
本発明の目的は問題のコンデンサが傾いて実装された場
合でもコンデンサのリード端の根本を推定して正確な有
無を判定するものである。
合でもコンデンサのリード端の根本を推定して正確な有
無を判定するものである。
上記問題点は電気部品の傾斜許容範囲（Ｆ）を定め、傾
斜許容範囲（Ｆ）内にスリット光が前記プリント板と交
叉するＡ線とＢ線が存在し、Ａ線とＢ線の中間にスリッ
ト光が該電気部品と交叉するＣ線が存在し、面もＣ線が
該電気部品の正規実装位置の中心線ａと交叉し且つ交叉
点が傾斜許容範囲（Ｆ）に合致することを確認するか、
又はＣ線が該電気部品の正規実装位置の中心線ａと交叉
しないがＡ線とＢ線の中間に検知不可信号が在ることを
確認して該電気部品が正規実装位置に有るか無いかを判
定することにより解決される。
斜許容範囲（Ｆ）内にスリット光が前記プリント板と交
叉するＡ線とＢ線が存在し、Ａ線とＢ線の中間にスリッ
ト光が該電気部品と交叉するＣ線が存在し、面もＣ線が
該電気部品の正規実装位置の中心線ａと交叉し且つ交叉
点が傾斜許容範囲（Ｆ）に合致することを確認するか、
又はＣ線が該電気部品の正規実装位置の中心線ａと交叉
しないがＡ線とＢ線の中間に検知不可信号が在ることを
確認して該電気部品が正規実装位置に有るか無いかを判
定することにより解決される。
本発明に依ると画像データを解析して第１図（ａ）、又
は第１図（ｂ）の条件を確認することにより電気部品が
傾いて実装されていても正確に有無を判定出来ることが
可能である。
は第１図（ｂ）の条件を確認することにより電気部品が
傾いて実装されていても正確に有無を判定出来ることが
可能である。
第５図（ａ）の様にプリント板３上に傾いてコンデンサ
２が実装されている場合、その傾いた部分でスリット光
の反射強度が極端に小さくなるという特性があるので、
本発明では其の有無を検出するのに逆に此の特性を利用
する。
２が実装されている場合、その傾いた部分でスリット光
の反射強度が極端に小さくなるという特性があるので、
本発明では其の有無を検出するのに逆に此の特性を利用
する。
第１図＋８）、（ｂ）は本発明の原理説明図である。
■コンデンサが傾いても良い範囲Ｆを設ける。
■該範囲内の高さ情報を取り込む。
■第１図（ａ）に示す様に範囲Ｆ内にＡ線とＢ線があり
、其の中間にＣ線があり、面もＣ線が前記コンデンサ２
の正規実装位置の中心線ａと交叉する。
、其の中間にＣ線があり、面もＣ線が前記コンデンサ２
の正規実装位置の中心線ａと交叉する。
■第１図（ｂｌに示す様に範囲Ｆ内にＡ線とＢ線があり
、其の中間にＣｖＡがあり、面もＣ線が前記コンデンサ
２の正規実装位置の中心線ａと交叉しない。
、其の中間にＣｖＡがあり、面もＣ線が前記コンデンサ
２の正規実装位置の中心線ａと交叉しない。
以上の判定条件に従うことにより正確な有無の判定を行
うことが出来る。
うことが出来る。
第２図は本発明による検査回路の一実施例を示す図であ
る。
る。
図中、１０はＸアドレスカウンタ、１１はＹアドレスカ
ウンタ、１２は画像メモリ、１３は基材有無信号用シフ
トレジスタ、１４はコンデンサ有無信号用シフトレジス
タ、１５は検知不可用シフトレジスタ、１６．１７．１
８．１９は夫々アンドゲート、２０はオアゲート、２１
．２２はゲート付アンプ、２３．２４．２５．２６は夫
々比較回路である。
ウンタ、１２は画像メモリ、１３は基材有無信号用シフ
トレジスタ、１４はコンデンサ有無信号用シフトレジス
タ、１５は検知不可用シフトレジスタ、１６．１７．１
８．１９は夫々アンドゲート、２０はオアゲート、２１
．２２はゲート付アンプ、２３．２４．２５．２６は夫
々比較回路である。
以下図に従って本発明の詳細な説明する。
画像メモリ１２から画像データを本発明による検査回路
に入力する。
に入力する。
先づＸアドレスカウンタ１０を順次カウントアツプし、
画像データが比較回路２３によりスライスレベル（１）
より大きい時はスリット光であると判定して、ゲート付
アンプ２２を開く。
画像データが比較回路２３によりスライスレベル（１）
より大きい時はスリット光であると判定して、ゲート付
アンプ２２を開く。
此の時のＸアドレスがアドレスレベル（２ａ）より小さ
い時は、其処が基材線（Ａ線又はＢ線）であると判定し
、比較回路２４を介して基材有無信号用シフトレジスタ
１３に１”を書き込む。
い時は、其処が基材線（Ａ線又はＢ線）であると判定し
、比較回路２４を介して基材有無信号用シフトレジスタ
１３に１”を書き込む。
此の時のＸアドレスがアドレスレベル（２ｂ）より大き
い時はコンデンサ頭部（Ｃ線）と判定し、比較回路２５
を介してコンデンサ有無信号用シフトレジスタ１４に“
１”を書き込む。
い時はコンデンサ頭部（Ｃ線）と判定し、比較回路２５
を介してコンデンサ有無信号用シフトレジスタ１４に“
１”を書き込む。
又画像データが比較回路２６によりスライスレベル（３
）より小さい時は其処はコンデンサが傾いて４検知出来
なかったものと見做し、検知不可用シフトレジスタ１５
に“１”を書き込む。
）より小さい時は其処はコンデンサが傾いて４検知出来
なかったものと見做し、検知不可用シフトレジスタ１５
に“１”を書き込む。
以上の動作をＹアドレスカウンタ・１１を順次カウント
アツプしながら繰り返し、全範囲Ｆ内を走査する。
アツプしながら繰り返し、全範囲Ｆ内を走査する。
コンデンサ２の有無の判定は下記に示す二通りの方法で
行われる。
行われる。
１）、第１図（ａ）に示す様に範囲Ｆ内にＡ線とＢ線が
あり、其の中間にＣ線があり、面もＣ線が前記コンデン
サ２の正規実装位置の中心線ａと交叉する。
あり、其の中間にＣ線があり、面もＣ線が前記コンデン
サ２の正規実装位置の中心線ａと交叉する。
基材有無信号用シフトレジスタ１３に於けるＡ線とＢ線
の在るべき位置信号とをアンドゲート１６によりアンド
をとる。
の在るべき位置信号とをアンドゲート１６によりアンド
をとる。
又コンデンサ有無信号用シフトレジスタ１４に於けるコ
ンデンサの在るべき位置信号と前記アンドゲート１６の
出力信号とをアンドゲート１７によりアンドをとること
により、コンデンサが有ると判定出来る■。 。
ンデンサの在るべき位置信号と前記アンドゲート１６の
出力信号とをアンドゲート１７によりアンドをとること
により、コンデンサが有ると判定出来る■。 。
２）、第１図（ｂ）に示す様に範囲Ｆ内にＡ線とＢ線が
あり、其の中間にＣ線があり、面もＣ線が前記コンデン
サ２の正規実装位置の中心線ａと交叉しない。
あり、其の中間にＣ線があり、面もＣ線が前記コンデン
サ２の正規実装位置の中心線ａと交叉しない。
基材有無信号用シフトレジスタ１３に於けるＡ線とＢ線
の在るべき位置信号とをアンドゲート１６によりアンド
をとる。
の在るべき位置信号とをアンドゲート１６によりアンド
をとる。
又コンデンサ有無信号用シフトレジスタ１４に於けるコ
ンデンサの在るべき位置信号は左右の何れかの位置とな
るので、其のオア出力と、前記アンドゲート１６の出力
信号とをアンドゲート１８によりアンドをとり、更に此
の場合は検知不可用シフトレジスタ１５の出力信号との
アンドをアンドゲート１９によりとることによりコンデ
ンサが有ると判定出来る■。
ンデンサの在るべき位置信号は左右の何れかの位置とな
るので、其のオア出力と、前記アンドゲート１６の出力
信号とをアンドゲート１８によりアンドをとり、更に此
の場合は検知不可用シフトレジスタ１５の出力信号との
アンドをアンドゲート１９によりとることによりコンデ
ンサが有ると判定出来る■。
以上詳細に説明した様に本発明によれば、電気部品が傾
いて実装された場合でも正確に電気部品の有無を判定出
来ると云う大きい効果がある。
いて実装された場合でも正確に電気部品の有無を判定出
来ると云う大きい効果がある。
第１図（ａ）、（ｂ）は本発明の原理説明図である。
第２図は本発明による検査回路の一実施例を示す図であ
る。 第３図は従来のコンデンサの有無判定方式の一例を示す
図である。 第４図、第５図は共にコンデンサの実装状態とＴＶ画像
の関係の説明図である。 図中、１はＴＶカメラ、１ａはＴＶカメラ１のレンズ、
２はコンデンサ、３はプリント板、４はシリンドリカル
レンズ、５はＡ／Ｄ変換回路、６は画像メモリ、７は検
査回路、１ｏはＸアドレス°カウンタ、１１はＹアドレ
スカウンタ、１２は画像メモリ、１３は基材有無信号用
シフトレジスタ、１４はコンデンサ有無信号用シフトレ
ジスタ、１５は検知不可用シフトレジスタ、１６．１７
．１８．１９は夫々アンドゲート、２０はオアゲート、
２工、２２はゲート付アンプ、２３．２４．２５．２６
は夫々比較回路である。 （ａ） （ｂ
ンオ！熱明ら伜、了里嘗り哨図 第 １ 図 第 ２ 図
る。 第３図は従来のコンデンサの有無判定方式の一例を示す
図である。 第４図、第５図は共にコンデンサの実装状態とＴＶ画像
の関係の説明図である。 図中、１はＴＶカメラ、１ａはＴＶカメラ１のレンズ、
２はコンデンサ、３はプリント板、４はシリンドリカル
レンズ、５はＡ／Ｄ変換回路、６は画像メモリ、７は検
査回路、１ｏはＸアドレス°カウンタ、１１はＹアドレ
スカウンタ、１２は画像メモリ、１３は基材有無信号用
シフトレジスタ、１４はコンデンサ有無信号用シフトレ
ジスタ、１５は検知不可用シフトレジスタ、１６．１７
．１８．１９は夫々アンドゲート、２０はオアゲート、
２工、２２はゲート付アンプ、２３．２４．２５．２６
は夫々比較回路である。 （ａ） （ｂ
ンオ！熱明ら伜、了里嘗り哨図 第 １ 図 第 ２ 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 光切断法によりプリント板上に電気部品が実装されて
いるか否かを判定する方式に於いて、該電気部品の傾斜
許容範囲（Ｆ）を定め、 該範囲（Ｆ）内にスリット光が前記プリント板と交叉す
るＡ線とＢ線が存在し、 前記Ａ線とＢ線の中間に前記スリット光が該電気部品と
交叉するＣ線が存在し、 面も前記Ｃ線が該電気部品の正規実装位置の中心線ａと
交叉し且つ交叉点が前記高さ制限に合致することを確認
するか、 又は前記Ｃ線が該電気部品の正規実装位置の中心線ａと
交叉しないが前記Ａ線とＢ線の中間に検知不可信号が在
ることを確認することを特徴とする電気部品の有無判定
方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60108768A JPS61266986A (ja) | 1985-05-21 | 1985-05-21 | 電気部品の有無判定方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60108768A JPS61266986A (ja) | 1985-05-21 | 1985-05-21 | 電気部品の有無判定方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61266986A true JPS61266986A (ja) | 1986-11-26 |
Family
ID=14492994
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60108768A Pending JPS61266986A (ja) | 1985-05-21 | 1985-05-21 | 電気部品の有無判定方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61266986A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04295789A (ja) * | 1991-03-25 | 1992-10-20 | Opt Kk | 物体検知装置 |
-
1985
- 1985-05-21 JP JP60108768A patent/JPS61266986A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04295789A (ja) * | 1991-03-25 | 1992-10-20 | Opt Kk | 物体検知装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA1252216A (en) | Apparatus for automatically inspecting objects and identifying or recognizing known and unknown portions thereof, including defects and the like and method | |
| JPS58146844A (ja) | 自動光学特性検査装置 | |
| US4661984A (en) | Line inspection system | |
| EP0206709A2 (en) | Automatic optical inspection of printed circuit boards | |
| US7102740B2 (en) | Method and system for determining surface feature characteristics using slit detectors | |
| JPS61266986A (ja) | 電気部品の有無判定方式 | |
| US6088108A (en) | Leaded components inspection system | |
| JPS59107202A (ja) | 微小部品装着位置検査装置 | |
| JPS59192902A (ja) | 基板取付部品の位置検査装置 | |
| JP2924289B2 (ja) | 回路基板のガラス量測定方法及びその装置 | |
| JPH0399207A (ja) | 実装基板検査装置 | |
| JPH0756446B2 (ja) | 棒状突起物体の検査方法 | |
| JPS6145400B2 (ja) | ||
| JPS60222855A (ja) | 位置検知方法 | |
| JP2525261B2 (ja) | 実装基板外観検査装置 | |
| JP2705458B2 (ja) | 実装基板外観検査装置 | |
| JPS60117103A (ja) | 被測定体の高さ測定装置 | |
| JP3203852B2 (ja) | 実装済みプリント基板の検査装置 | |
| JPH0132657B2 (ja) | ||
| JPS60154635A (ja) | パタ−ン欠陥検査装置 | |
| JPS638417B2 (ja) | ||
| JPH04248405A (ja) | 物体位置検出方法 | |
| JPH05135157A (ja) | 実装基板外観検査装置 | |
| JPH0239737B2 (ja) | ||
| JPH08159715A (ja) | 電子部品の実装位置ずれ検査装置 |