JPS63195503A - 光変位計によるテ−プ検出方法 - Google Patents
光変位計によるテ−プ検出方法Info
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- JPS63195503A JPS63195503A JP62027136A JP2713687A JPS63195503A JP S63195503 A JPS63195503 A JP S63195503A JP 62027136 A JP62027136 A JP 62027136A JP 2713687 A JP2713687 A JP 2713687A JP S63195503 A JPS63195503 A JP S63195503A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tape
- optical displacement
- displacement meter
- paint
- workpiece
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 title claims abstract description 44
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 3
- 239000003973 paint Substances 0.000 claims abstract description 29
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 claims abstract description 9
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 9
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 9
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Control Of Cutting Processes (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、例えばレーザビーム等を用いてワークを切
断加工する装置のティーチングデータ入力時に使用され
る光変位計によるテープ検出方法、特にテープ2とのコ
ントラストを強調するための塗料を用いて光変位計でテ
ープを検出する方法に関するものである。
断加工する装置のティーチングデータ入力時に使用され
る光変位計によるテープ検出方法、特にテープ2とのコ
ントラストを強調するための塗料を用いて光変位計でテ
ープを検出する方法に関するものである。
[従来の技術]
第2図は例えば特願昭59−81915号の第4図に示
され、光変位計がワークの表面状態およびワークまでの
距離を検出する仕方を説明する図である。
され、光変位計がワークの表面状態およびワークまでの
距離を検出する仕方を説明する図である。
図において、(1)は光変位計、(2)はこの光変位計
(1)が内蔵する半導体レーザ(図示しない)から出力
されたレーザ光、(3)はワーク、(3八)はこのワー
ク(3)の表面に貼付されたテープ例えば黒色テープ、
(4)はワーク(3)上に投射された光スポットである
。なお、この光スポット(4)の受光像は光変位計(1
)によって受光され、内蔵する諸口路(図示しない)に
よって処理される。このような光変位計(1)は、矢印
方向に定速で移動させられると、ワ、−り(3)の表面
状態を検出する信号VLDおよび光変位計(1)からワ
ーク(3)の表面までの距離である高さhを検出する信
号vHを出力する。
(1)が内蔵する半導体レーザ(図示しない)から出力
されたレーザ光、(3)はワーク、(3八)はこのワー
ク(3)の表面に貼付されたテープ例えば黒色テープ、
(4)はワーク(3)上に投射された光スポットである
。なお、この光スポット(4)の受光像は光変位計(1
)によって受光され、内蔵する諸口路(図示しない)に
よって処理される。このような光変位計(1)は、矢印
方向に定速で移動させられると、ワ、−り(3)の表面
状態を検出する信号VLDおよび光変位計(1)からワ
ーク(3)の表面までの距離である高さhを検出する信
号vHを出力する。
なお、表面状態検出信号VLDは、それぞれワーク(3
)、テープ(3^)から光変位計(1)への光の入射量
の相違により、テープ(3^)が存在する所では高レベ
ルのテープ検出信号Bを生じる。また、高さ検出信号v
Hは、光変位計(1)がワーク(3)に対して一定の高
さhで移動させられるので、はぼ一定レベルの信号にな
る。
)、テープ(3^)から光変位計(1)への光の入射量
の相違により、テープ(3^)が存在する所では高レベ
ルのテープ検出信号Bを生じる。また、高さ検出信号v
Hは、光変位計(1)がワーク(3)に対して一定の高
さhで移動させられるので、はぼ一定レベルの信号にな
る。
[発明が解決しようとする問題点]
ところが、このような光変位計(1)を用いてテープ(
3^)を検出する際、ワーク(3)が透明であるか、ワ
ーク(3)の表面状態に著しい変化があるが、或はワー
ク(3)の表面に傷が付いている場合、ワーク(3)上
にテープ(3^)を貼付しただけでは、テープ(3Δ)
を誤検出するという問題点があった。また、ワーク(3
)が鏡面もしくはそれに近い状態にある場合、ワーク(
3)と光変位計(1)の相対姿勢の変化によって光変位
計(1)の受光源(図示しない)への光入射が不足し、
やはりテープ(3^)を誤検出するという問題点があっ
た。
3^)を検出する際、ワーク(3)が透明であるか、ワ
ーク(3)の表面状態に著しい変化があるが、或はワー
ク(3)の表面に傷が付いている場合、ワーク(3)上
にテープ(3^)を貼付しただけでは、テープ(3Δ)
を誤検出するという問題点があった。また、ワーク(3
)が鏡面もしくはそれに近い状態にある場合、ワーク(
3)と光変位計(1)の相対姿勢の変化によって光変位
計(1)の受光源(図示しない)への光入射が不足し、
やはりテープ(3^)を誤検出するという問題点があっ
た。
そこで、この発明は、このような問題点を解決するため
になされたもので、テープを誤検出しない、光変位計に
よるテープ検出方法を得ることを目0勺とする。
になされたもので、テープを誤検出しない、光変位計に
よるテープ検出方法を得ることを目0勺とする。
また、この発明の別な発明は、上述した目的に加え、ワ
ークと光変位計の相対姿勢が変化して光変位計の投光軸
と受光軸が正反射に近い位置°に来てもテープを誤検出
せずかつ光変位計を効率良く動作させ得る、光変位計に
よるテープ検出方法を得ることを目的とする。
ークと光変位計の相対姿勢が変化して光変位計の投光軸
と受光軸が正反射に近い位置°に来てもテープを誤検出
せずかつ光変位計を効率良く動作させ得る、光変位計に
よるテープ検出方法を得ることを目的とする。
[問題点を解決するための手段]
この発明の光変位計によるテープ検出方法は、光の散乱
性が良い塗面を有する塗料を所定の幅でワークの表面に
予め塗布し、その後に塗料上に貼付したテープを光変位
計で検出するものである。
性が良い塗面を有する塗料を所定の幅でワークの表面に
予め塗布し、その後に塗料上に貼付したテープを光変位
計で検出するものである。
また、この発明の別な発明の光変位計によるテープ検出
方法は、光の散乱性が良い塗面を有する塗料を所定の幅
でワークの表面に塗布中または塗布後に艶消し処理を施
すものである。
方法は、光の散乱性が良い塗面を有する塗料を所定の幅
でワークの表面に塗布中または塗布後に艶消し処理を施
すものである。
[作用]
この発明においては、光の散乱性が良い塗面を有する塗
料をワーク表面に予め塗布することによりテープとのコ
ントラストを強調する。
料をワーク表面に予め塗布することによりテープとのコ
ントラストを強調する。
またこの発明の別な発明においては、艶消し処理を施す
ことにより、ワークと光変位計の相対姿勢が変化して光
変位計の投光軸と受光軸が正反射に近い位置に来てもテ
ープを誤検出することがない。
ことにより、ワークと光変位計の相対姿勢が変化して光
変位計の投光軸と受光軸が正反射に近い位置に来てもテ
ープを誤検出することがない。
[実施例]
第1図はこの発明の光変位計によるテープ検出方法の一
実施例を説明する平面図であり、(3)および(3^)
は従来例におけるものと全く同じである。
実施例を説明する平面図であり、(3)および(3^)
は従来例におけるものと全く同じである。
この発明では、ワーク(3)の表面のテープ(3Δ)を
貼付すべき場所に塗料(5)を予め塗布する。この塗料
(5)は、テープ(3^)とのコントラストを強調して
テープ(3^)の上述した誤検出を避けるため光の散乱
性が良い塗面例えば白色セラミクスや紙に近いものの持
つ光特性と類似する塗面を有し、所定の幅例えば光変位
計(1)(第1図には図示しない)がテープ(3A)を
中心としてウィービングすることによってテープ(3^
)を検出する範囲で塗布される。その後、塗料(5)上
にテープ(3^)を貼付した上で、光変位計(1)によ
りテープ〈3^)を検出する。
貼付すべき場所に塗料(5)を予め塗布する。この塗料
(5)は、テープ(3^)とのコントラストを強調して
テープ(3^)の上述した誤検出を避けるため光の散乱
性が良い塗面例えば白色セラミクスや紙に近いものの持
つ光特性と類似する塗面を有し、所定の幅例えば光変位
計(1)(第1図には図示しない)がテープ(3A)を
中心としてウィービングすることによってテープ(3^
)を検出する範囲で塗布される。その後、塗料(5)上
にテープ(3^)を貼付した上で、光変位計(1)によ
りテープ〈3^)を検出する。
なお、注意を要するのは、ここでいう光散乱性が塗料(
5)の塗色そのものではなくて、ワーク(3)に塗布さ
れた塗料(5)の塗面が問題になる点である。もう少し
詳しくいえば、ワーク(3)の表面を塗料(5)、で白
色に塗っても、ワーク(3)の表面が上述したようにメ
タリック性や光沢性を有する鏡面もしくはそれに近い状
態にあれば、この発明の別な発明の目的を達成すること
はできない。
5)の塗色そのものではなくて、ワーク(3)に塗布さ
れた塗料(5)の塗面が問題になる点である。もう少し
詳しくいえば、ワーク(3)の表面を塗料(5)、で白
色に塗っても、ワーク(3)の表面が上述したようにメ
タリック性や光沢性を有する鏡面もしくはそれに近い状
態にあれば、この発明の別な発明の目的を達成すること
はできない。
例えば、ワーク(3)の表面が鏡面状態にある場合に、
ワーク(3)と光変位計(1)の相対姿勢の変化によっ
て光変位計(1)の投光軸と受光軸が正反射に近い位置
に来ると、ワーク表面の光沢性により光変位計(1)の
表面状態検出信号VLDに含まれるリプル分が増大する
ので、テープ(3^)を検出することが難しくなり、光
変位計(1)は効率良く動作できなくなる。
ワーク(3)と光変位計(1)の相対姿勢の変化によっ
て光変位計(1)の投光軸と受光軸が正反射に近い位置
に来ると、ワーク表面の光沢性により光変位計(1)の
表面状態検出信号VLDに含まれるリプル分が増大する
ので、テープ(3^)を検出することが難しくなり、光
変位計(1)は効率良く動作できなくなる。
そこで、この発明の別な発明では、塗料(5)の塗布中
または塗布後に艶消し処理を施した後、塗料(5)上に
テープ(3^)を貼付した上で、光変位計(1)により
テープ(3^)を検出する。
または塗布後に艶消し処理を施した後、塗料(5)上に
テープ(3^)を貼付した上で、光変位計(1)により
テープ(3^)を検出する。
[発明の効果]
この発明は、以上詳述したように、光の散乱性が良い塗
面を有する塗料をワーク表面に予め塗布したので、塗料
上に貼付されたテープを誤検出することがないという効
果を奏する。
面を有する塗料をワーク表面に予め塗布したので、塗料
上に貼付されたテープを誤検出することがないという効
果を奏する。
また、この発明の別な発明は、塗料の塗布中または塗布
後に艶消し処理を施したので、ワークと光変位計の相対
姿勢が変化してもテープを誤検出することがなく、その
うえ光変位計を効率良く動作させ得るという効果を奏す
る。
後に艶消し処理を施したので、ワークと光変位計の相対
姿勢が変化してもテープを誤検出することがなく、その
うえ光変位計を効率良く動作させ得るという効果を奏す
る。
第1図はこの発明およびその別な発明の一実施例を説明
する平面図、第2図は光変位計による検出仕方を説明す
る図である。 (1)は光変位計、〈3)はワーク、(3^)はテープ
、(5)は塗料である。 尚、図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
する平面図、第2図は光変位計による検出仕方を説明す
る図である。 (1)は光変位計、〈3)はワーク、(3^)はテープ
、(5)は塗料である。 尚、図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (4)
- (1)ワークの表面の、テープを貼付すべき場所に、光
の散乱性が良い塗面を有する塗料を所定の幅で予め塗布
し、前記所定幅の塗料上に前記テープを貼付し、その後
光変位計を用いて前記テープを検出することを特徴とす
る光変位計によるテープ検出方法。 - (2)テープは黒色テープであり、塗料の塗面は白色セ
ラミクスや紙に近いものが持つ光特性と類似することを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光変位計による
テープ検出方法。 - (3)ワークの表面の、テープを貼付すべき場所に、光
の散乱性が良い塗面を有する塗料を所定の幅で予め塗布
し、この塗布中または塗布後に艶消し処理を施し、前記
所定幅の塗料上に前記テープを貼付し、その後光変位計
を用いて前記テープを検出することを特徴とする光変位
計によるテープ検出方法。 - (4)テープは黒色テープであり、塗料の塗面は白色セ
ラミクスや紙に近いものが持つ光特性と類似することを
特徴とする特許請求の範囲第3項記載の光変位計による
テープ検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62027136A JPS63195503A (ja) | 1987-02-10 | 1987-02-10 | 光変位計によるテ−プ検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62027136A JPS63195503A (ja) | 1987-02-10 | 1987-02-10 | 光変位計によるテ−プ検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63195503A true JPS63195503A (ja) | 1988-08-12 |
Family
ID=12212635
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62027136A Pending JPS63195503A (ja) | 1987-02-10 | 1987-02-10 | 光変位計によるテ−プ検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63195503A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010145383A (ja) * | 2008-12-22 | 2010-07-01 | Narimune Manufacture Co Ltd | 三次元形状計測方法及びその為の基準部材 |
JP2012122167A (ja) * | 2010-12-09 | 2012-06-28 | Toray Ind Inc | 繊維束の監視装置 |
-
1987
- 1987-02-10 JP JP62027136A patent/JPS63195503A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010145383A (ja) * | 2008-12-22 | 2010-07-01 | Narimune Manufacture Co Ltd | 三次元形状計測方法及びその為の基準部材 |
JP2012122167A (ja) * | 2010-12-09 | 2012-06-28 | Toray Ind Inc | 繊維束の監視装置 |
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