JPS63195503A - 光変位計によるテ−プ検出方法 - Google Patents
光変位計によるテ−プ検出方法Info
- Publication number
- JPS63195503A JPS63195503A JP62027136A JP2713687A JPS63195503A JP S63195503 A JPS63195503 A JP S63195503A JP 62027136 A JP62027136 A JP 62027136A JP 2713687 A JP2713687 A JP 2713687A JP S63195503 A JPS63195503 A JP S63195503A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tape
- optical displacement
- displacement meter
- paint
- workpiece
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 45
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 title claims abstract description 44
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 3
- 239000003973 paint Substances 0.000 claims abstract description 29
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 claims abstract description 9
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 9
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 9
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 20
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Control Of Cutting Processes (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、例えばレーザビーム等を用いてワークを切
断加工する装置のティーチングデータ入力時に使用され
る光変位計によるテープ検出方法、特にテープ２とのコ
ントラストを強調するための塗料を用いて光変位計でテ
ープを検出する方法に関するものである。
断加工する装置のティーチングデータ入力時に使用され
る光変位計によるテープ検出方法、特にテープ２とのコ
ントラストを強調するための塗料を用いて光変位計でテ
ープを検出する方法に関するものである。
［従来の技術］
第２図は例えば特願昭５９−８１９１５号の第４図に示
され、光変位計がワークの表面状態およびワークまでの
距離を検出する仕方を説明する図である。
され、光変位計がワークの表面状態およびワークまでの
距離を検出する仕方を説明する図である。
図において、（１）は光変位計、（２）はこの光変位計
（１）が内蔵する半導体レーザ（図示しない）から出力
されたレーザ光、（３）はワーク、（３八）はこのワー
ク（３）の表面に貼付されたテープ例えば黒色テープ、
（４）はワーク（３）上に投射された光スポットである
。なお、この光スポット（４）の受光像は光変位計（１
）によって受光され、内蔵する諸口路（図示しない）に
よって処理される。このような光変位計（１）は、矢印
方向に定速で移動させられると、ワ、−り（３）の表面
状態を検出する信号ＶＬＤおよび光変位計（１）からワ
ーク（３）の表面までの距離である高さｈを検出する信
号ｖＨを出力する。
（１）が内蔵する半導体レーザ（図示しない）から出力
されたレーザ光、（３）はワーク、（３八）はこのワー
ク（３）の表面に貼付されたテープ例えば黒色テープ、
（４）はワーク（３）上に投射された光スポットである
。なお、この光スポット（４）の受光像は光変位計（１
）によって受光され、内蔵する諸口路（図示しない）に
よって処理される。このような光変位計（１）は、矢印
方向に定速で移動させられると、ワ、−り（３）の表面
状態を検出する信号ＶＬＤおよび光変位計（１）からワ
ーク（３）の表面までの距離である高さｈを検出する信
号ｖＨを出力する。
なお、表面状態検出信号ＶＬＤは、それぞれワーク（３
）、テープ（３＾）から光変位計（１）への光の入射量
の相違により、テープ（３＾）が存在する所では高レベ
ルのテープ検出信号Ｂを生じる。また、高さ検出信号ｖ
Ｈは、光変位計（１）がワーク（３）に対して一定の高
さｈで移動させられるので、はぼ一定レベルの信号にな
る。
）、テープ（３＾）から光変位計（１）への光の入射量
の相違により、テープ（３＾）が存在する所では高レベ
ルのテープ検出信号Ｂを生じる。また、高さ検出信号ｖ
Ｈは、光変位計（１）がワーク（３）に対して一定の高
さｈで移動させられるので、はぼ一定レベルの信号にな
る。
［発明が解決しようとする問題点］
ところが、このような光変位計（１）を用いてテープ（
３＾）を検出する際、ワーク（３）が透明であるか、ワ
ーク（３）の表面状態に著しい変化があるが、或はワー
ク（３）の表面に傷が付いている場合、ワーク（３）上
にテープ（３＾）を貼付しただけでは、テープ（３Δ）
を誤検出するという問題点があった。また、ワーク（３
）が鏡面もしくはそれに近い状態にある場合、ワーク（
３）と光変位計（１）の相対姿勢の変化によって光変位
計（１）の受光源（図示しない）への光入射が不足し、
やはりテープ（３＾）を誤検出するという問題点があっ
た。
３＾）を検出する際、ワーク（３）が透明であるか、ワ
ーク（３）の表面状態に著しい変化があるが、或はワー
ク（３）の表面に傷が付いている場合、ワーク（３）上
にテープ（３＾）を貼付しただけでは、テープ（３Δ）
を誤検出するという問題点があった。また、ワーク（３
）が鏡面もしくはそれに近い状態にある場合、ワーク（
３）と光変位計（１）の相対姿勢の変化によって光変位
計（１）の受光源（図示しない）への光入射が不足し、
やはりテープ（３＾）を誤検出するという問題点があっ
た。
そこで、この発明は、このような問題点を解決するため
になされたもので、テープを誤検出しない、光変位計に
よるテープ検出方法を得ることを目０勺とする。
になされたもので、テープを誤検出しない、光変位計に
よるテープ検出方法を得ることを目０勺とする。
また、この発明の別な発明は、上述した目的に加え、ワ
ークと光変位計の相対姿勢が変化して光変位計の投光軸
と受光軸が正反射に近い位置°に来てもテープを誤検出
せずかつ光変位計を効率良く動作させ得る、光変位計に
よるテープ検出方法を得ることを目的とする。
ークと光変位計の相対姿勢が変化して光変位計の投光軸
と受光軸が正反射に近い位置°に来てもテープを誤検出
せずかつ光変位計を効率良く動作させ得る、光変位計に
よるテープ検出方法を得ることを目的とする。
［問題点を解決するための手段］
この発明の光変位計によるテープ検出方法は、光の散乱
性が良い塗面を有する塗料を所定の幅でワークの表面に
予め塗布し、その後に塗料上に貼付したテープを光変位
計で検出するものである。
性が良い塗面を有する塗料を所定の幅でワークの表面に
予め塗布し、その後に塗料上に貼付したテープを光変位
計で検出するものである。
また、この発明の別な発明の光変位計によるテープ検出
方法は、光の散乱性が良い塗面を有する塗料を所定の幅
でワークの表面に塗布中または塗布後に艶消し処理を施
すものである。
方法は、光の散乱性が良い塗面を有する塗料を所定の幅
でワークの表面に塗布中または塗布後に艶消し処理を施
すものである。
［作用］
この発明においては、光の散乱性が良い塗面を有する塗
料をワーク表面に予め塗布することによりテープとのコ
ントラストを強調する。
料をワーク表面に予め塗布することによりテープとのコ
ントラストを強調する。
またこの発明の別な発明においては、艶消し処理を施す
ことにより、ワークと光変位計の相対姿勢が変化して光
変位計の投光軸と受光軸が正反射に近い位置に来てもテ
ープを誤検出することがない。
ことにより、ワークと光変位計の相対姿勢が変化して光
変位計の投光軸と受光軸が正反射に近い位置に来てもテ
ープを誤検出することがない。
［実施例］
第１図はこの発明の光変位計によるテープ検出方法の一
実施例を説明する平面図であり、（３）および（３＾）
は従来例におけるものと全く同じである。
実施例を説明する平面図であり、（３）および（３＾）
は従来例におけるものと全く同じである。
この発明では、ワーク（３）の表面のテープ（３Δ）を
貼付すべき場所に塗料（５）を予め塗布する。この塗料
（５）は、テープ（３＾）とのコントラストを強調して
テープ（３＾）の上述した誤検出を避けるため光の散乱
性が良い塗面例えば白色セラミクスや紙に近いものの持
つ光特性と類似する塗面を有し、所定の幅例えば光変位
計（１）（第１図には図示しない）がテープ（３Ａ）を
中心としてウィービングすることによってテープ（３＾
）を検出する範囲で塗布される。その後、塗料（５）上
にテープ（３＾）を貼付した上で、光変位計（１）によ
りテープ〈３＾）を検出する。
貼付すべき場所に塗料（５）を予め塗布する。この塗料
（５）は、テープ（３＾）とのコントラストを強調して
テープ（３＾）の上述した誤検出を避けるため光の散乱
性が良い塗面例えば白色セラミクスや紙に近いものの持
つ光特性と類似する塗面を有し、所定の幅例えば光変位
計（１）（第１図には図示しない）がテープ（３Ａ）を
中心としてウィービングすることによってテープ（３＾
）を検出する範囲で塗布される。その後、塗料（５）上
にテープ（３＾）を貼付した上で、光変位計（１）によ
りテープ〈３＾）を検出する。
なお、注意を要するのは、ここでいう光散乱性が塗料（
５）の塗色そのものではなくて、ワーク（３）に塗布さ
れた塗料（５）の塗面が問題になる点である。もう少し
詳しくいえば、ワーク（３）の表面を塗料（５）、で白
色に塗っても、ワーク（３）の表面が上述したようにメ
タリック性や光沢性を有する鏡面もしくはそれに近い状
態にあれば、この発明の別な発明の目的を達成すること
はできない。
５）の塗色そのものではなくて、ワーク（３）に塗布さ
れた塗料（５）の塗面が問題になる点である。もう少し
詳しくいえば、ワーク（３）の表面を塗料（５）、で白
色に塗っても、ワーク（３）の表面が上述したようにメ
タリック性や光沢性を有する鏡面もしくはそれに近い状
態にあれば、この発明の別な発明の目的を達成すること
はできない。
例えば、ワーク（３）の表面が鏡面状態にある場合に、
ワーク（３）と光変位計（１）の相対姿勢の変化によっ
て光変位計（１）の投光軸と受光軸が正反射に近い位置
に来ると、ワーク表面の光沢性により光変位計（１）の
表面状態検出信号ＶＬＤに含まれるリプル分が増大する
ので、テープ（３＾）を検出することが難しくなり、光
変位計（１）は効率良く動作できなくなる。
ワーク（３）と光変位計（１）の相対姿勢の変化によっ
て光変位計（１）の投光軸と受光軸が正反射に近い位置
に来ると、ワーク表面の光沢性により光変位計（１）の
表面状態検出信号ＶＬＤに含まれるリプル分が増大する
ので、テープ（３＾）を検出することが難しくなり、光
変位計（１）は効率良く動作できなくなる。
そこで、この発明の別な発明では、塗料（５）の塗布中
または塗布後に艶消し処理を施した後、塗料（５）上に
テープ（３＾）を貼付した上で、光変位計（１）により
テープ（３＾）を検出する。
または塗布後に艶消し処理を施した後、塗料（５）上に
テープ（３＾）を貼付した上で、光変位計（１）により
テープ（３＾）を検出する。
［発明の効果］
この発明は、以上詳述したように、光の散乱性が良い塗
面を有する塗料をワーク表面に予め塗布したので、塗料
上に貼付されたテープを誤検出することがないという効
果を奏する。
面を有する塗料をワーク表面に予め塗布したので、塗料
上に貼付されたテープを誤検出することがないという効
果を奏する。
また、この発明の別な発明は、塗料の塗布中または塗布
後に艶消し処理を施したので、ワークと光変位計の相対
姿勢が変化してもテープを誤検出することがなく、その
うえ光変位計を効率良く動作させ得るという効果を奏す
る。
後に艶消し処理を施したので、ワークと光変位計の相対
姿勢が変化してもテープを誤検出することがなく、その
うえ光変位計を効率良く動作させ得るという効果を奏す
る。
第１図はこの発明およびその別な発明の一実施例を説明
する平面図、第２図は光変位計による検出仕方を説明す
る図である。 （１）は光変位計、〈３）はワーク、（３＾）はテープ
、（５）は塗料である。 尚、図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
する平面図、第２図は光変位計による検出仕方を説明す
る図である。 （１）は光変位計、〈３）はワーク、（３＾）はテープ
、（５）は塗料である。 尚、図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (4)
- （１）ワークの表面の、テープを貼付すべき場所に、光
の散乱性が良い塗面を有する塗料を所定の幅で予め塗布
し、前記所定幅の塗料上に前記テープを貼付し、その後
光変位計を用いて前記テープを検出することを特徴とす
る光変位計によるテープ検出方法。 - （２）テープは黒色テープであり、塗料の塗面は白色セ
ラミクスや紙に近いものが持つ光特性と類似することを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光変位計による
テープ検出方法。 - （３）ワークの表面の、テープを貼付すべき場所に、光
の散乱性が良い塗面を有する塗料を所定の幅で予め塗布
し、この塗布中または塗布後に艶消し処理を施し、前記
所定幅の塗料上に前記テープを貼付し、その後光変位計
を用いて前記テープを検出することを特徴とする光変位
計によるテープ検出方法。 - （４）テープは黒色テープであり、塗料の塗面は白色セ
ラミクスや紙に近いものが持つ光特性と類似することを
特徴とする特許請求の範囲第３項記載の光変位計による
テープ検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62027136A JPS63195503A (ja) | 1987-02-10 | 1987-02-10 | 光変位計によるテ−プ検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62027136A JPS63195503A (ja) | 1987-02-10 | 1987-02-10 | 光変位計によるテ−プ検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63195503A true JPS63195503A (ja) | 1988-08-12 |
Family
ID=12212635
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62027136A Pending JPS63195503A (ja) | 1987-02-10 | 1987-02-10 | 光変位計によるテ−プ検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63195503A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010145383A (ja) * | 2008-12-22 | 2010-07-01 | Narimune Manufacture Co Ltd | 三次元形状計測方法及びその為の基準部材 |
| JP2012122167A (ja) * | 2010-12-09 | 2012-06-28 | Toray Ind Inc | 繊維束の監視装置 |
-
1987
- 1987-02-10 JP JP62027136A patent/JPS63195503A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010145383A (ja) * | 2008-12-22 | 2010-07-01 | Narimune Manufacture Co Ltd | 三次元形状計測方法及びその為の基準部材 |
| JP2012122167A (ja) * | 2010-12-09 | 2012-06-28 | Toray Ind Inc | 繊維束の監視装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2153160C1 (ru) | Способ детектирования положения линии сгиба на упаковочном полотне и устройство для его осуществления | |
| EP1022093A3 (en) | Endpoint detection with light beams of different wavelenghts | |
| KR960036673A (ko) | 반사표면 코팅부에 있는 결함을 인식 평가하는 방법 | |
| EP1034937A3 (en) | Identification of recording medium in a printer | |
| FI912339A (fi) | Foerfarande foer maetning av en glansprofil. | |
| ATE262172T1 (de) | Prüfung der dichtfläche eines behälters | |
| JPS63195503A (ja) | 光変位計によるテ−プ検出方法 | |
| JP3552862B2 (ja) | 光式変位センサ及び光式厚さセンサ | |
| JPH056929A (ja) | ウエハ異物検査方法及び装置 | |
| JPH04148814A (ja) | 非接触型測定装置 | |
| JP2001004326A (ja) | シート状物の側縁検査装置及び方法 | |
| JP2000146532A (ja) | レーザーオートフォーカスによる非接触寸法測定方法 | |
| JPH03197802A (ja) | ラベルズレ検査装置 | |
| JPS61217708A (ja) | 表面性状測定方法および装置 | |
| JPS63195504A (ja) | 光変位計によるマ−キング線検出方法 | |
| JPS58139107A (ja) | 光学顕微鏡の焦点自動合わせ方法 | |
| JPH0682386A (ja) | 塗装シートの欠陥検査装置 | |
| JPH05187836A (ja) | 蛍光物質を使用した光学測定方法 | |
| JPS6144307A (ja) | 微少間隙測定方法 | |
| JPH088436Y2 (ja) | 光センサー測定媒体 | |
| JPH01213506A (ja) | 光ビームによる物体形状計測法 | |
| JP3278490B2 (ja) | 塗膜欠陥検査装置 | |
| JPS62194588A (ja) | プリント基板検査装置における基準デ−タ入力方法 | |
| JPH05312732A (ja) | 透明シート体の欠陥状態検出方法及びその装置 | |
| JPS63113301A (ja) | 非接触変位測定方法 |