JP2001004326A

JP2001004326A - シート状物の側縁検査装置及び方法

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Publication number: JP2001004326A
Application number: JP11171383A
Authority: JP
Inventors: Yasutami Nojiri; 泰民野尻; Kimio Yugawa; 公夫湯川; Ippei Takahashi; 一平高橋; Yoshinobu Katagiri; 良伸片桐
Original assignee: Fuji Photo Film Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Holdings Corp
Priority date: 1999-06-17
Filing date: 1999-06-17
Publication date: 2001-01-12

Abstract

(57)【要約】【課題】支持体上に塗布膜を形成した被検査体に対し
て、支持体の側縁及び塗布膜の側端を高精度で識別す
る。【解決手段】ウエブ１０は透明な支持体１１上に塗布
膜１４を形成してなり、バックアップローラ１３の周面
に圧着した状態で連続走行される。バックアップローラ
１３の周上にあるウエブ１０の検査部２１，２２に検査
光が照射され、検査部２１，２２での反射光の輝度分布
に基づいて、支持体１１の側縁１１ａ，１１ｂ及び塗布
膜１４の側端１４ａ，１４ｂが識別される。バックアッ
プローラ１３の周面には、支持体１１の両側縁１１ａ，
１１ｂから突出した両端部に低反射面１５が形成され
る。ローラ面での検査光の反射が抑えられ、支持体面で
の反射光との輝度差が大きくなる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、シート状をした支
持体の表面に塗布膜を形成してなる被検査体をバックア
ップローラに圧着させて連続走行させ、この走行中に支
持体及び塗布膜の側縁位置を検出する側縁検査装置及び
方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】紙，金属板，プラスチックフイルム等の
支持体上に各種物質を塗布した製品として、例えば写真
フイルムや印画紙等が挙げられる。これらの製品は、シ
ート状又はロール状の支持体を連続走行させ、この走行
中に各種物質を塗布して塗布膜を形成する。ところが、
塗布膜を支持体の両側縁部にまで均一に形成することは
難しく、支持体の両側縁部に僅かずつ未塗布部が残って
しまう。このため、塗布膜が形成された支持体は、安定
した塗布が行われる中央部分のみが製品巾として利用さ
れる。

【０００３】このような製品の製造工程内には、塗布工
程の直後に検査工程が設けられ、支持体の側縁部に残さ
れた未塗布部の幅を測定することで、製品巾の適否を判
別するようにしている。

【０００４】未塗布部の幅を測定するために、例えば特
開平３−１６７４０６号公報や特開平４−２９５７０３
号公報（特許第２６８４４６０号）で公知の検査装置が
用いられている。特開平３−１６７４０６号公報の検査
装置は、塗布膜の側端と支持体の側縁とを含む検査部に
検査光を照射するとともに、その反射光を受光素子によ
り光電検出し、この検出出力に基づいて塗布膜の側端と
支持体の側縁とを検出して相互間距離を求めるものであ
る。また、特開平４−２９５７０３号公報の検査装置
は、塗布膜の側端と支持体の側縁を含む検査エリア内を
照明するとともに、撮像素子を用いて撮像し、得られた
画像の明度データに基づいて塗布膜の側端と支持体の側
縁とを検出する。これらの検査装置はいずれも、塗布膜
の表面と未塗布面、すなわち支持体の表面とで光の反射
性が異なることを利用し、反射光の輝度または明度に基
づいて各面の境界位置を識別するものである。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところが、支持体の種
類や塗布する物質の種類によっては、塗布膜面と支持体
面とで反射光の強度にあまり差を生じない場合があり、
上記従来の検査装置では、塗布膜の側端を正確に識別す
ることが困難であった。

【０００６】また、被検査体が透明な支持体上に塗布膜
を形成したものである場合、塗布膜が形成されていない
部位においては、検査光が支持体を透過してしまい、反
射光の強度が極めて弱くなる。このため、支持体の側縁
の外側と支持体面との識別ができなくなる。

【０００７】また、検査部の平面性を保って検査精度を
高めるために、被検査体をバックアップローラの周面に
圧着させて走行させ、バックアップローラの周上に検査
位置を設定することが多い。この場合においても、支持
体が透明であると、塗布膜が形成されていない部分で
は、検査光が支持体を透過してローラ面に達し、ローラ
面で反射した光が光電検出されることになる。このた
め、未塗布面での反射光の強度と、バックアップローラ
のローラ面での反射光の強度とがほぼ同じ強さになり、
支持体の側縁を識別することが困難である。

【０００８】本発明は上記の事情を考慮してなされたも
ので、支持体上に塗布膜を形成した被検査体に対して、
支持体の側縁及び塗布膜の側端を高精度で識別できる側
縁検査装置及び方法を提供することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の側縁検査装置は、支持体の幅よりも長いバ
ックアップローラを用い、支持体の両側縁から突出した
両端部の周面に、光反射性の低い低反射面を形成するも
のである。バックアップローラは、被検査体が圧着する
中央部の表面を荒面にする。

【００１０】投光器及び受光器は、検査光が、検査部で
の法線に対して６５±１０°の角度で投・受光されるよ
うに配置する。

【００１１】また、受光器の受光面の前面に偏光フィル
タを配置し、塗布膜の表面での反射光中に含まれる偏光
成分を除去する。

【００１２】検査部は、塗布膜面，支持体面，ローラ面
のうち隣り合う２面に跨がり、支持体の幅方向に延びた
ライン状にし、かつ、受光器からの検出信号に基づいて
検査部上の輝度値のヒストグラムを作成し、この輝度範
囲の上限側及び下限側からの累積度数がそれぞれ規定度
数になるときの２つの輝度値を求めるとともに、これら
２つの輝度値の輝度差を求め、この後、検査部上の輝度
値を微分処理しながら一定方向に走査して輝度変化量を
観察し、輝度変化量が、前記輝度差に応じて決められた
基準変化量となる最初の点を２面間の境界位置と判定す
る画像処理部を設ける。

【００１３】また、本発明の検査方法は、シート状をし
た支持体の中央部に塗布膜を形成してなる被検査体をバ
ックアップローラの周面に圧着させて連続走行させ、バ
ックアップローラの周上にある被検査体の検査部に検査
光を照射するとともに、検査部で反射した検査光を光電
検出し、この検出信号に基づいて塗布膜面，支持体面，
ローラ面の各境界位置を検出する方法であって、検査部
を、塗布膜面，支持体面，ローラ面のうち隣り合う２面
に跨がり、支持体の幅方向に延びたライン状部とし、検
出信号に基づいて検査部上の輝度値のヒストグラムを作
成し、この輝度範囲の上限側及び下限側からのそれぞれ
の累積度数が規定度数になるときの輝度値を前記２面の
それぞれの平均輝度値とするとともに、これら２つの平
均輝度値の輝度差を求め、この後、検査部上の輝度値を
微分処理しながら一定方向に走査して輝度変化量を観察
し、輝度変化量が、前記輝度差に応じて決められた基準
変化量となる最初の点を２面間の境界位置とするもので
ある。

【００１４】

【発明の実施の形態】図１は、写真フイルムの作製材料
として用いられるウエブの製造工程の要部概略図であ
る。ウエブ１０は、帯状の支持体１１上に写真乳剤１２
を塗布して構成される。支持体１１は、透明なプラスチ
ックフイルムからなり、図中矢線方向に一定速度で連続
走行される。支持体１１の走行路中にはバックアップロ
ーラ１３が設けられており、支持体１１は、バックアッ
プローラ１３の外周に圧着した状態で折り返し走行され
る。

【００１５】バックアップローラ１３の周上には、支持
体１１の折り返し位置に塗布位置Ａが、また塗布位置Ａ
の下流側に検査位置Ｂが定められている。塗布位置Ａに
は、一定幅の薄い層にした写真乳剤１２が連続的に流下
されており、この下を支持体１１が走行することで、支
持体１１上に写真乳剤１２の塗布膜１４（図３参照）が
形成される。

【００１６】図２に示すように、バックアップローラ１
３は、支持体１１の幅Ｗよりも長いものが用いられ、そ
の両端部１３ａ，１３ｂを支持体１１の両側縁１１ａ，
１１ｂから突出させた状態で配置される。バックアップ
ローラ１３の周面には、支持体１１の両側縁１１ａ，１
１ｂから突出した両端部１３ａ，１３ｂに低反射面１５
が、支持体１１が圧着する中央部１３ｃには荒面１６が
形成されている。

【００１７】低反射面１５は、光反射性が低い暗色の物
質からなり、表面状態が平滑に構成される。低反射面１
５は、ローラ本体の周面にセラミックコーティングを施
したり、あるいは熱可塑性プラスチック粉体を溶射して
プラスチック層を形成することで構成できる。また、ロ
ーラ本体に、円柱状又は円筒状のプラスチック部品を組
み付けたり、メッキを施してもよい。

【００１８】荒面１６は、その周面に保持する支持体１
１との摩擦抵抗を大きくし、支持体１１の保持力を高め
るためのものである。荒面１６は、ローラ本体の周面に
溝やディンプルを形成したり、あるいは梨地加工を施し
て形成される。なお、ローラ本体の材質は特に限定され
るものではなく、その周面に低反射面１５と荒面１６と
を形成でき、支持体１１の平面性を維持できるものであ
ればいずれを用いてもよい。

【００１９】周面全体を低反射面に構成したローラ本体
に、微小な溝やディンプルを精巧に形成することは非常
に難しい。バックアップローラ１３は、表面全体が荒面
に形成されたローラ本体に、例えばＨＣｒメッキを施し
てなる一般的な金属ローラを用い、この金属ローラの両
端部に低反射面１５を形成して作製するのがよい。

【００２０】図３に示すように、検査位置Ｂでは、ウエ
ブ１０の両側縁部に対応させて検査部２１，２２が定め
られる。検査部２１，２２は、ウエブ１０の幅方向に延
びたライン状部であり、ウエブ１０の側縁、すなわち支
持体１１の側縁１１ａ，１１ｂと、塗布膜１４の側端１
４ａ，１４ｂとの両方を含むように定められる。

【００２１】図４に示すように、検査位置Ｂには、検査
装置２０が設けられている。検査装置２０は、検査部２
１，２２のそれぞれに対応させて配置される投光器２
３，２４及び受光器２５，２６と、一次元／二次元画像
変換器２７，２８と、画像処理装置３０とから構成され
る。投光器２３，２４は、検査部２１，２２上に均一な
検査光を照射する。受光器２５，２６は、投光器２３，
２４から投光され、検査部２１，２２上で反射した光を
光電検出し、その強度に比例したレベルの検出信号を出
力する。

【００２２】本実施形態では、写真乳剤からなる塗布膜
１４を露光することがないように、検査光として赤外光
を用い、投光器２３，２４としてピーク波長が８８０ｎ
ｍの赤外ＬＥＤを使用した。また、受光器２５，２６と
してＣＣＤラインセンサを用いたところ、視野は１２０
ｍｍ、分解能は０．２３ｍｍであった。

【００２３】投光器２３，２４としては、赤外半導体発
光素子や赤外レーザー発光素子等の他、レーザー発光素
子と赤外フィルタとを組み合せたもの等を用いることが
できる。また、検査対象が写真感光材料以外であれば、
検査光は赤外光である必要がないので、蛍光灯，白熱
灯，ハロゲンランプ，半導体発光素子等の通常の光源を
投光器２３，２４として用いることができる。

【００２４】受光器２５，２６としては、２次元ＣＣＤ
カメラ，フォトダイオード，フォトダイオードアレイ，
ＣｄＳ素子，光電子増倍管等を用いることができる。

【００２５】図１に示すように、投光器２３と受光器２
５は、検査光が検査部２１での法線Ｎに対して６５±１
０°の角度で投・受光されるように配置される。本実施
形態においては、投・受光角度αを６５°とし、投光器
２３と検査部２１との距離を３０ｍｍ、検査部２１と受
光器２５との距離を７５０ｍｍとした。なお、検査部２
２側の投光器２４及び受光器２６も、投光器２３及び受
光器２５と同じ配置である。

【００２６】図４に示すように、受光器２５，２６の検
出信号は、一次元／二次元画像変換器２７，２８で二次
元画像に変換された後に、画像処理装置３０に入力され
る。画像処理装置３０は、受光器２５，２６の検出信号
により得られた二次元画像に基づいて、支持体１１の側
縁１１ａ，１１ｂと、塗布膜１４の側端１４ａ，１４ｂ
とを検出し、それぞれの相互間距離Ｌ1 ，Ｌ2 （図３参
照）を求める。そして、得られた計測距離Ｌ1 ，Ｌ2 が
規定距離範囲から外れているときに、警報器３１を作動
させて警告する。なお、画像処理装置３０内で扱われる
二次元画像は、モニタ３３上で常に監視できるようにな
っている。また、図中の符号３４は外部入力装置であ
り、支持体１１の側縁１１ａ，１１ｂ及び塗布膜１４の
側端１４ａ，１４ｂを識別する際の各種条件や、上記規
定距離範囲等の入力に用いられる。また、符号３６，３
７は投光器２３，２４の駆動用電源であり、Ｉ／ＯＢ
ＯＸ３５によって駆動又は停止が制御されている。

【００２７】図５は、受光器２５の検出信号を二次元画
像化したものであり、検査部２１上の各画素の輝度分布
を表すものである。なお、同図（Ａ）は、低反射面１５
を備えるバックアップローラ１３を用いた時の輝度分布
図であり、（Ｂ）は低反射面１５を備えていない従来の
バックアップローラを用いた時の輝度分布図を示す。同
図（Ｂ）より、従来のバックアップローラを用いた場合
には、支持体面とローラ面とで輝度差が全くなく、支持
体１１の側縁１１ａの識別が非常に困難であることがわ
かる。これに対し、低反射面１５が形成されているバッ
クアップローラ１３を用いた場合には、ローラ面での輝
度が極めて低くなり、支持体面に対して明らかな輝度差
を生じる（同図（Ａ））。したがって、支持体１１の側
縁１１ａを容易に識別することができる。

【００２８】なお、バックアップローラ１３は、端部１
３ｂにも低反射面１５ｂが形成されているので、検査部
２２上の輝度分布も支持体面とローラ面とで明らかな輝
度差を生じ、支持体１１の側縁１１ｂを容易に識別する
ことができる。

【００２９】次に、図６を参照して、塗布膜１４の側端
１４ａの検出方法を説明する。同図（Ａ）は、受光器２
５の検出信号により得られた検査部２１上の輝度分布を
示すものである。検査部２１上の輝度値は、支持体１１
及び塗布膜１４の各表面上においてほぼ一定レベルを示
すものの、各面の表面状態のバラツキによって僅かに変
動している。また、支持体面と塗布膜面との境界部にお
いても、塗布膜１４の端面における乱反射によって輝度
値が変動し、輝度変化点が明確に現れない。

【００３０】検査部２１上の輝度分布図（同図（Ａ））
から、支持体１１の側縁１１ａの位置よりも塗布膜１４
寄りの各画素の輝度値を読み取る。そして、輝度値ごと
の発生回数、すなわち画素数を計数してヒストグラムを
作成する（同図（Ｂ））。このヒストグラムは、支持体
面と塗布膜面とに跨がる範囲の輝度値により作成される
ので、支持体面及び塗布膜面の平均輝度値付近に度数が
集中したものとなり、輝度範囲の上限位置及び下限位置
の２箇所にピークが発生する。

【００３１】ヒストグラムより、輝度範囲の上限側及び
下限側からの各累積度数がＰ％になる時の輝度値Ｌc ，
Ｌn を求め、これらを支持体１１及び塗布膜１４の各表
面での平均輝度値とする。なお、平均輝度値Ｌc ，Ｌn
を求める際の比率Ｐは、支持体面及び塗布膜面の反射率
の変動幅を考慮して予め決められる。

【００３２】得られた平均輝度値Ｌc ，Ｌn より、支持
体面と塗布膜面との間の輝度差Ｌ_Rを求めるとともに、
塗布膜１４の側端１４ａを検出する際に用いる基準変化
量Ｌ _THLDを算出する。基準変化量Ｌ_THLDは、式Ｌ_THLD ＝輝度差Ｌ_R×ｓ％により求められる。基準変化量Ｌ_THLDを求める際の比率
ｓは、支持体面及び塗布膜面のそれぞれの反射率に応じ
て予め決められる。

【００３３】次に、検査部２１上の輝度分布（同図
（Ａ））を微分処理し、輝度値の変化量の分布図を作成
する（同図（Ｃ））。得られた微分画像上を、支持体１
１の側縁１１ａの位置Ｃ１から塗布膜１４側に向けて走
査する。そして、変化量が基準変化量Ｌ_THLDよりも大き
くなる最初の変化点Ｃ２を検出した時に、この変化点Ｃ
２を塗布膜１４の側端１４ａと判定する。この際、微分
効果によって支持体１１の側縁１１ａも強調されるの
で、本実施形態では、支持体１１の側縁１１ａから塗布
膜１４側にＴｍｍ移動した位置から走査を開始するよう
にした。

【００３４】上記のように、検査部２１上の輝度分布を
ヒストグラム処理することで、支持体面や塗布膜面での
反射率のバラツキを踏まえた適切な平均輝度値を求める
ことができる。また、塗布膜１４の側端１４ａを識別す
るための基準変化量が、支持体面及び塗布膜面の平均輝
度値の輝度差に応じて適宜決定されるので、側縁１４ａ
の識別を常に安定して行うことができる。

【００３５】なお、上記の方法と同様に、検査部２２上
の輝度分布図に対してもヒストグラム処理が施され、適
正な平均輝度値が求められる。また、塗布膜１４の側縁
１４ｂを識別する際の基準変化量が適正な平均輝度値に
基づいて求められ、側縁１４ｂの位置が安定して識別さ
れる。

【００３６】なお、上記実施形態では、支持体面と塗布
膜面とに跨がる範囲の輝度分布に基づいて塗布膜の側端
位置を識別する例について説明したが、ローラ面と支持
体面とに跨がる範囲の輝度分布に基づいて、支持体の側
縁位置を識別することが可能である。

【００３７】次に、検査光の投・受光角度αを変化さ
せ、検査部上の輝度分布を観察した。投・受光角度αを
３５°とした時は、支持体面と塗布膜面とで輝度差がほ
とんど表れず、塗布膜の側端を識別することができなか
った。そして、投・受光角度αを大きくするにしたがっ
て支持体面と塗布膜面との輝度差が大きくなり、投・受
光角度αを６５°とした時に輝度差が最大となった。こ
れにより、検査光の投・受光角度αが６５±１０°程度
となるように投光器及び受光器を配置することで、塗布
膜の側端位置が強調され、その識別が容易になることが
わかった。

【００３８】次に、図７を参照して本発明の第２実施形
態について説明する。図中、図１ないし図４に示した部
材と同じものには、共通の符号を付してある。なお、本
実施形態において、支持体１１は不透明な紙である。鏡
面反射光成分の一部は偏光となり、この偏光成分は偏光
フィルタを通すことによって明度が変化することが知ら
れている。第２実施形態は、この性質を利用したもの
で、受光器２５の受光面２５ａの前面に偏光フィルタ４
０を配置し、塗布膜面での反射光中の偏光成分を除去す
るものである。なお、図示しないが、受光器２６の前面
にも偏光フィルタを配置する。

【００３９】図８（Ａ）は、偏光フィルタ４０を用いた
時の受光器２５の検出信号を示すものである。なお、比
較のために、偏光フィルタ４０を用いない場合の検出信
号を同図（Ｂ）に示す。支持体１１の表面では、拡散反
射成分が多くて鏡面反射成分が少ないので、塗布膜１４
部に比較して偏光フィルタ４０によって除去される反射
光量が少なくなる。したがって、支持体１１の表面での
検出信号と、塗布膜１４の表面での検出信号とのレベル
差が大きくなり、塗布膜１４の側端１４ａの識別が容易
になる。

【００４０】なお、投光器２３，２４の前面にも偏光フ
ィルタを設け、検査部２１，２２上に偏光した赤外光を
照射することで、塗布面１４の側端１４ａ，１４ｂをよ
り高精度に検出することができる。

【００４１】上記実施形態ではいずれも、投光器と受光
器とをウエブの走行方向に沿って並べて配置したが、検
査部上に均一な検査光を投光し、その反射光を光電検出
することができるのであれば、投光器と受光器とをウエ
ブの幅方向に並べて配置してもよい。この場合、受光器
は、その光電検出方向がウエブの幅方向と一致するよう
に向きを揃える必要がある。

【００４２】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、支持体の
幅よりも長いバックアップローラを用い、支持体の両側
縁から突出したバックアップローラの両端部の周面に、
光反射性の低い低反射面を形成するので、ローラ面での
検査光の反射が抑えられる。これにより、ローラ面での
反射光と支持体面での反射光との強度差が大きくなり、
支持体の側縁の識別が容易になる。

【００４３】また、検査光が、検査部での法線に対して
６５±１０°の角度で投・受光されるように投光器及び
受光器を配置することで、支持体面での反射光と塗布膜
面での反射光との強度差が大きくなる。また、受光器の
受光面の前面に偏光フィルタを配置することで、塗布膜
面での反射光中に含まれる偏光成分が除去されるので、
支持体面での反射光と塗布膜面での反射光との強度差が
大きくなる。これらにより、塗布膜の側端を容易に識別
できるようになる。

【００４４】また検査部を、塗布膜面，支持体面，ロー
ラ面のうち隣り合う２面に跨がり、支持体の幅方向に延
びたライン状にするとともに、検査部上の輝度値のヒス
トグラムを作成し、この輝度範囲の上限側及び下限側か
らの各累積度数が規定度数になるときの各輝度値を、隣
り合う２面の平均輝度値とすることにより、各面の表面
状態に影響されることなく、適切な平均輝度値を求める
ことができる。また、２つの平均輝度値の輝度差に基づ
いて、２面間の境界位置における輝度変化量の変化レベ
ルを決定するので、境界位置を常に安定して識別するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】ウエブの製造工程を示す概略図である。

【図２】図１のバックアップローラの構成を示す説明図
である。

【図３】検査部を示す説明図である。

【図４】検査装置の構成を示す説明図である。

【図５】検査部上にある各画素の輝度分布図であり、
（Ａ）は図２のバックアップローラを用いた時の輝度分
布を、（Ｂ）は従来のバックアップローラを用いた時の
輝度分布を表す。

【図６】塗布膜の側端検出方法を示す説明図であり、
（Ａ）は検査部上の輝度分布を、（Ｂ）は輝度値のヒス
トグラムを、（Ｃ）は輝度値の変化量の分布図を示す。

【図７】検査装置の別の構成例を示す要部概略図であ
る。

【図８】図７の構成による受光器の検出信号を示すもの
で、（Ａ）は偏光フィルタを用いた時の信号を、（Ｂ）
は偏光フィルタを用いない時の信号を表す。

【符号の説明】

１０ウエブ１１支持体１１ａ，１１ｂ側縁１２写真乳剤１３バックアップローラ１３ａ，１３ｂ端部１４塗布膜１４ａ，１４ｂ側端１５低反射面１６荒面２０検査装置２１，２２検査部２３，２４投光器２５，２６受光器３０画像処理装置Ａ塗布位置Ｂ検査位置 α 投・受光角度

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号ＦＩテーマコート゛(参考）Ｇ０１Ｂ 11/24 Ｇ (72)発明者高橋一平神奈川県南足柄市中沼210番地富士写真フイルム株式会社内 (72)発明者片桐良伸神奈川県南足柄市中沼210番地富士写真フイルム株式会社内Ｆターム(参考） 2F065 AA12 AA22 AA51 BB13 BB15 CC02 CC31 DD09 FF42 GG02 GG03 GG04 GG07 GG13 GG21 HH12 JJ02 JJ03 JJ05 JJ08 JJ17 JJ18 JJ25 JJ26 LL21 MM03 NN19 NN20 PP16 QQ00 QQ03 QQ07 QQ08 QQ13 QQ25 QQ27 QQ28 QQ42 QQ43 QQ51 RR08 SS09 2G051 AA32 AB20 BA01 BA06 BB01 CA03 CA04 CA07 CB01 CC07 DA06 EA08 EA11 EB01 EC02

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】シート状をした支持体の表面に塗布膜を
形成してなる被検査体をバックアップローラの周面に圧
着させて連続走行させ、バックアップローラの周上にあ
る被検査体の検査部に投光器からの検査光を照射すると
ともに、検査部で反射した検査光を受光器により光電検
出し、この検出信号に基づいて支持体及び塗布膜の側縁
位置を検出する検査装置において、前記バックアップローラは、支持体の幅よりも長く、そ
の両端部を支持体の両側縁から突出させた状態で配置さ
れ、支持体の両側縁から突出した前記両端部の周面に、
光反射性の低い低反射面が形成されていることを特徴と
するシート状物の側縁検査装置。
【請求項２】前記バックアップローラは、被検査体が
圧着する中央部の表面が荒面であることを特徴とする請
求項１記載のシート状物の側縁検査装置。
【請求項３】投光器及び受光器は、検査光が前記検査
部での法線に対して６５±１０°の角度で投光及び受光
されるように配置されることを特徴とする請求項１又は
２記載のシート状物の側縁検査装置。
【請求項４】受光器の受光面の前面に偏光フィルタを
配置し、塗布膜の表面での反射光中に含まれる偏光成分
を除去することを特徴とする請求項１ないし３のいずれ
かに記載のシート状物の側縁検査装置。
【請求項５】前記検査部は、塗布膜面，支持体面，ロ
ーラ面のうち隣り合う２面に跨がり、支持体の幅方向に
延びたライン状部であり、受光器からの検出信号に基づいて検査部上の輝度値のヒ
ストグラムを作成し、この輝度範囲の上限側及び下限側
からの累積度数がそれぞれ規定度数になるときの２つの
輝度値を求めるとともに、これら２つの輝度値の輝度差
を求め、この後、検査部上の輝度値を微分処理しながら一定方向
に走査して輝度変化量を観察し、輝度変化量が、前記輝
度差に応じて決められた基準変化量となる最初の点を前
記２面間の境界位置と判定する画像処理部を設けたこと
を特徴とする請求項１ないし４のいずれかに記載のシー
ト状物の側縁検査装置。
【請求項６】シート状をした支持体の中央部に塗布膜
を形成してなる被検査体をバックアップローラの周面に
圧着させて連続走行させ、バックアップローラの周上に
ある被検査体の検査部に検査光を照射するとともに、検
査部で反射した検査光を光電検出し、この検出信号に基
づいて塗布膜面，支持体面，ローラ面の各境界位置を検
出する検査方法において、前記検査部を、塗布膜面，支持体面，ローラ面のうち隣
り合う２面に跨がり、支持体の幅方向に延びたライン状
部とし、前記検出信号に基づいて検査部上の輝度値のヒストグラ
ムを作成し、この輝度範囲の上限側及び下限側からのそ
れぞれの累積度数が規定度数になるときの輝度値を前記
２面のそれぞれの平均輝度値とするとともに、これら２
つの平均輝度値の輝度差を求め、この後、検査部上の輝度値を微分処理しながら一定方向
に走査して輝度変化量を観察し、輝度変化量が、前記輝
度差に応じて決められた基準変化量となる最初の点を前
記２面間の境界位置とすることを特徴とする検査方法。