JP5377802B2 - エリアセンサシステム - Google Patents
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Description
前記受光部は、前記発光部からの異なる3つの発光により第一受光レベルと、第二受光レベルと、第三受光レベルを得て、これらの比較判断処理を行う検出判断手段を有する。
前記検出判断手段は、前記第一受光レベルと前記第二受光レベルの差、前記第一受光レベルと前記第三受光レベルの差、または前記第二受光レベルと前記第三受光レベルの差の絶対値が所定の閾値以上の場合に検出有りの情報を、それ以外の場合に検出無しの情報を前記検出情報として前記管理判断手段に引き渡す。
前記管理判断手段は、前記検出有りの情報を受けた場合に前記検出対象物が有ると判断する。
図1および2に示すように、このエリアセンサシステムは、検出対象領域1内の検出対象物2の有無と、検出対象物2の荷姿を検出するためのものである。検出対象領域1は、互いに直交する長手方向Y、幅方向X、及び厚み方向Zの各長さで規定されており、複数の発光部3が長手方向Yに沿って並べて配置されている。また、これら複数の発光部3の各々に対し、検出対象領域1を挟んで幅方向Xに対向する複数の受光部4が並べて配置されている。なお検出対象領域1の各方向の長さは使用状況に応じて任意に設定することができるが、幅方向Xの長さは、発光部3どうし、および受光部4どうしのピッチに対し十分長いものとする。
既述の通り、共通データ信号線DP、DNには、親局5から伝送クロック信号が送出されている。この伝送クロック信号は、図6に示すように、1周期の後半が高電位レベル(この実施例では+24V)と、前半が低電位レベル(この実施例では+12Vまたは0V)とされる。そして、低電位レベル期間が発光部3による出力期間とされるとともに、受光部4による検出情報の入力期間とされている。また、伝送クロック信号の最初にはスタート信号(StartBit)が形成される。スタート信号は、伝送クロック信号の高電位レベルと同じ電位レベルであって、伝送クロック信号の1周期より長い信号とされる。
なお、この判断は、親局5が行なうものとしてもよい。
2 検出対象物
3 発光部
4、4a 受光部
5 親局
6 制御部
31 発光素子
32、43 MCU
41 受光素子
42 A/D変換器
50 出力データ部
51 タイミング発生部
52 発振回路(OSC)
53 タイミング発生手段
54 親局出力部
55 制御データ発生手段
56 ラインドライバ
57 親局入力部
58 監視データ信号検出手段
59 監視データ抽出手段
60 入力データ部
61 出力ユニット
62 入力ユニット
63 制御データ
64 監視データ
65 管理判断手段
DP、DN 共通データ信号線
R1、R2 抵抗
TR0 トランジスタ
Claims (8)
- 互いに直交する長手方向、幅方向、及び厚み方向の各長さで規定される検出対象領域の前記長手方向に沿って並べて配置され異なるタイミングで順次発光する複数の発光部と、
前記複数の発光部の各々に対し、前記検出対象領域を挟んで前記検出対象領域の幅方向に対向する複数の受光部と、
前記受光部から検出情報を受け前記検出対象領域内の検出対象物の有無を判断する管理判断手段を備え、
前記受光部は、自局の正面に対向する前記発光部からの発光、および前記正面に対向する発光部の発光タイミングに前後するタイミングでの発光により第一受光レベルと、第二受光レベルと、第三受光レベルを得て、これらの比較判断処理を行なう検出判断手段を有し、
前記第一受光レベル、前記第二受光レベルおよび前記第三受光レベルは、前記検出対象物により遮られる光路を経たときと、前記検出対象物に遮られない光路を経たときとで差が生じ、
前記検出判断手段は、前記第一受光レベルと前記第二受光レベルの差、前記第一受光レベルと前記第三受光レベルの差、または前記第二受光レベルと前記第三受光レベルの差の絶対値が所定の閾値以上の場合に前記検出対象物の端部の検出有りの情報を、それ以外の場合に前記検出対象物の端部の検出無しの情報を前記検出情報として前記管理判断手段に引き渡し、
前記管理判断手段は、前記検出有りの情報を受けた場合に前記検出対象物が有ると判断することを特徴とするエリアセンサシステム。 - 前記発光部からの所定の光軸による受光レベルを前記第一受光レベルとし、前記光軸に対し角度の異なる2つの光軸による受光レベルの各々を前記第二受光レベル、および前記第三受光レベルとする請求項1に記載のエリアセンサシステム。
- 前記受光部の正面に配置された前記発光部からの発光の受光レベルを前記第一受光レベルとし、前記正面に配置された発光部に隣接して配置された前記発光部からの発光の受光レベルの一方を前記第二受光レベルとし、他方を前記第三受光レベルとし、前記検出判断手段は、前記第一受光レベルと前記第二レベルの差、または前記第一受光レベルと前記第三受光レベルの差の絶対値が前記閾値以上の場合に前記検出有りの情報を、それ以外の場合に前記検出無しの情報を前記検出情報として前記管理判断手段に引き渡す請求項2に記載のエリアセンサシステム。
- 前記発光部の正面に配置された前記受光部における受光レベルを前記第一受光レベルとし、前記正面に配置された受光部に隣接して配置された前記受光部における受光レベルの一方を前記第二受光レベルとし、他方を前記第三受光レベルとし、前記検出判断手段は、前記第一受光レベルと前記第二レベルの差の絶対値が所定の閾値以上の場合、または前記第一受光レベルと前記第三受光レベルの差の絶対値が前記閾値以上の場合に検出有りの情報を、それ以外の場合に検出無しの情報を前記検出情報として前記管理判断手段に引き渡す請求項2に記載のエリアセンサシステム。
- 前記受光部の各々は、前記第一受光レベルと、前記第二受光レベルと、前記第三受光レベルの各々をレベルデータとして記憶する記憶手段を有し、時分割受光信号のレベルとして前記記憶手段に記憶し、前記第一受光レベルと、前記第二受光レベルと、前記第三受光レベルの全レベルを得たタイミングで前記比較判断処理が行われる請求項3に記載のエリアセンサシステム。
- 前記長手方向の両端に配置された前記発光部に対し前記厚み方向に間隔を開けて前記発光部を配置し、前記長手方向の両端に配置された前記受光部に対し前記厚み方向に間隔を開けて前記受光部を配置する請求項1〜5に記載のエリアセンサシステム。
- 前記管理判断手段は、前記検出有りの情報を送出した前記受光部の配置された位置を、前記長手方向における前記検出対象物の端の位置と判断する請求項1〜6の何れか一つの項に記載のエリアセンサシステム。
- 前記管理判断手段は、前記受光部が配置されているピッチと、前記端の位置に基づいて、前記検出対象物の長さの判断を行なう請求項7に記載のエリアセンサシステム。
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WO (1) | WO2013005298A1 (ja) |
Citations (3)
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JPH032591A (ja) * | 1989-05-30 | 1991-01-08 | Takenaka Denshi Kogyo Kk | 光電センサー |
JP2001004326A (ja) * | 1999-06-17 | 2001-01-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | シート状物の側縁検査装置及び方法 |
JP4472784B1 (ja) * | 2009-02-10 | 2010-06-02 | 株式会社 エニイワイヤ | 光電センサおよび光電センサシステム |
-
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- 2011-07-05 JP JP2013522636A patent/JP5377802B2/ja active Active
- 2011-07-05 WO PCT/JP2011/065349 patent/WO2013005298A1/ja active Application Filing
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JPH032591A (ja) * | 1989-05-30 | 1991-01-08 | Takenaka Denshi Kogyo Kk | 光電センサー |
JP2001004326A (ja) * | 1999-06-17 | 2001-01-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | シート状物の側縁検査装置及び方法 |
JP4472784B1 (ja) * | 2009-02-10 | 2010-06-02 | 株式会社 エニイワイヤ | 光電センサおよび光電センサシステム |
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WO2013005298A1 (ja) | 2013-01-10 |
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