JP3278490B2 - 塗膜欠陥検査装置 - Google Patents

塗膜欠陥検査装置

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JP3278490B2 JP08183593A JP8183593A JP3278490B2 JP 3278490 B2 JP3278490 B2 JP 3278490B2 JP 08183593 A JP08183593 A JP 08183593A JP 8183593 A JP8183593 A JP 8183593A JP 3278490 B2 JP3278490 B2 JP 3278490B2
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直樹 山田
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、塗膜表面の凹状欠陥を
検査する塗膜欠陥検査装置、特に、その凹状欠陥が「は
じき」欠陥であるか否かを検査する装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】車体塗装の仕上り品質の良否は車両の商
品性に大きく影響するので、一般に、車両製造ラインの
車体塗装工程の後工程には塗膜欠陥検査工程が設けられ
ている。この塗膜欠陥検査工程においては、車体表面に
施された塗膜に対して種々の欠陥検査が行われる。例え
ば、特開昭62−233710号公報には、塗膜表面に
光を照射し、その塗膜表面からの反射光から得られる情
報に基づいて塗膜の欠陥検査を行う塗膜欠陥検査装置が
開示されている。さらに、特開平4−204314号公
報には、照射光の光学特性を塗膜表面と平行な平面内に
おいて一方向にのみ変化させることにより、上記塗膜の
欠陥が凸状欠陥であるか凹状欠陥であるか、およびその
欠陥の大きさを検出する塗膜欠陥検査装置が開示されて
いる。
【0003】上記塗膜欠陥検査工程において検出される
塗膜欠陥のうち凹状欠陥には、いわゆる「はじき」欠陥
と「ゆず肌」欠陥とがある。
【0004】上記「はじき」欠陥は、図8(a)に示す
ように、車体2の表面に予め形成された被塗装面8に付
着した水、油等により塗料がはじかれて、その部位には
塗膜が形成されずに、該部位が塗膜表面4に対して凹陥
部6となる欠陥である。一方、上記「ゆず肌」欠陥は、
肌特性の1つである「ゆず肌」の程度が所定の許容限度
を超えた場合の欠陥であって、溶剤の蒸発速度が速すぎ
たり、塗料吹付け距離が遠すぎたりしたために、塗膜表
面4上に数多くの細かい凹陥部6が形成される欠陥であ
る。
【0005】これらの凹状欠陥が発生した場合には、そ
の後工程において塗膜研磨等により凹状欠陥の修正処理
が行われ、さらに、凹状欠陥の再発を未然に防止するた
め、該凹状欠陥発生の事実を前工程にフィードバックし
てその再発防止のための措置が講じられる。この場合、
上記「はじき」欠陥に対しては、その発生原因が車体塗
装の前処理工程にあることから、この前処理工程にフィ
ードバックして被塗装面への水、油等の付着を防止する
措置が講じられ、「ゆず肌」欠陥に対しては、その発生
原因が車体塗装工程にあることから、この車体塗装工程
にフィードバックして塗装条件の変更措置が講じられ
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の塗膜欠陥検査装置においては、凹陥部の大小によ
り、「はじき」欠陥と「ゆず肌」欠陥との識別を行うよ
うになっているので、次のような問題が生じていた。す
なわち、たとえ「はじき」欠陥として発生した凹陥部で
あっても、この凹陥部が小さい場合には、この凹陥部と
「ゆず肌」欠陥として発生した凹陥部との識別が困難と
なり、このため、前工程へのフィードバックを凹状欠陥
の発生原因に応じて適切に行うことができない、という
問題があった。
【0007】なお、このような問題は、被塗布物が車体
以外のものである場合にも同様に生じ得る問題である。
【0008】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、「はじき」欠陥として発生した凹陥部
と「ゆず肌」欠陥として発生した凹陥部との識別を簡単
かつ確実に行うことができる塗膜欠陥検査装置を提供す
ることを目的とするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明に係る塗膜欠陥検
査装置は、「はじき」欠陥として発生する凹陥部は絶対
数が少なく孤立して存在するのに対して、「ゆず肌」欠
陥として発生する凹陥部は「ゆず肌」が肌特性であるこ
とから狭い範囲内に周期的に存在する、という現象に着
目し、ある凹状欠陥を中心とする塗膜表面の所定範囲内
に他の凹状欠陥が存在しないとき、これを「はじき」欠
陥であると認識することにより、上記目的達成を図るよ
うにしたものである。
【0010】すなわち、請求項1に記載したように、塗
膜表面の凹状欠陥を検出する検出手段と、上記検出手段
により検出された特定の凹状欠陥を中心とする前記塗膜
表面の所定範囲内に他の凹状欠陥が存在しないとき、前
記特定の凹状欠陥を「はじき」欠陥であると認識する一
方、前記特定の凹状欠陥を中心とする前記塗膜表面の所
定範囲内に他の凹状欠陥が存在するとき、前記特定の凹
状欠陥が前記他の凹状欠陥よりも所定値以上大きけれ
ば、前記特定の凹状欠陥を「はじき」欠陥であると認識
する認識手段と、を備えてなることを特徴とするもので
ある。
【0011】上記「検出手段」は、塗膜表面の凹状欠陥
を検出することができるものであれば、特定の検出手段
に限定されるものではないが、例えば、請求項2に記載
したように、塗膜表面と平行な平面内において一方向に
のみ光学特性が変化する照射 光で塗膜表面を照射する光
照射手段を備えてなる構成とすることができる。この場
合における「光学特性」としては、照射光の光度、照射
光の波長等が採用可能である。
【0012】
【発明の作用および効果】塗膜表面上に「はじき」欠陥
として発生する凹陥部は絶対数が少なく孤立して存在す
るのに対して、「ゆず肌」欠陥として発生する凹陥部は
「ゆず肌」が肌特性であることから狭い範囲内に周期的
に存在するが、請求項1記載の発明においては、このよ
うな現象に基づき、上記検出手段により検出された特定
の凹状欠陥に対し、これを中心とする塗膜表面の所定範
囲内に他の凹状欠陥が存在しないとき、この特定の凹状
欠陥を「はじき」欠陥であると認識するようになってい
るので、「はじき」欠陥として発生した凹陥部と「ゆず
肌」欠陥として発生した凹陥部との識別を簡単かつ確実
に行うことができる。そして、これにより、前工程への
フィードバックを凹状欠陥の発生原因に応じて適切に行
うことができる。
【0013】なお、上記特定の凹状欠陥を中心とする塗
膜表面の所定範囲内に他の凹状欠陥が存在するときに
は、請求項1記載の発明では、この特定の凹状欠陥を
「はじき」欠陥であると認識しないが、この場合には、
上記構成に加え、請求項2に記載したように、上記特定
の凹状欠陥が他の凹状欠陥よりも所定値以上大きけれ
ば、この凹状欠陥を「はじき」欠陥であると認識する構
成とすればよい。この場合における「所定値以上大きけ
れば」とは、凹状欠陥の穴径が所定値以上であること、
凹状欠陥の深さが所定値以上であること、あるいは凹状
欠陥の穴径および深さが共に所定値以上であること、の
いずれの場合をも含む概念である。
【0014】
【実施例】以下、添付図面を参照しながら、本発明の実
施例について説明する。
【0015】図1は、本発明に係る塗膜欠陥検査装置の
一実施例を示す斜視図である。
【0016】この塗膜欠陥検査装置10は、車体2の塗
装検査ステーション(図示の位置)において台座12に
載置されたロボット装置14と、ロボットコントローラ
16と、光照射手段コントローラ18と、画像処理プロ
セッサ20と、ホストコンピュータ22とからなってい
る。
【0017】上記ロボット装置14には、その先端アー
ム24に光照射手段26と、CCDカメラ28とが支持
金具30を介して取り付けられている。これら光照射手
段26およびCCDカメラ28は、塗装検査ステーショ
ンに搬入された車体2の塗膜表面4をトレースし、その
際、光照射手段26によって照射された光を、塗膜表面
4で反射させてCCDカメラ22に入射させるようにな
っている。
【0018】上記のような光照射手段26とCCDカメ
ラ28による塗装欠陥検査においては、ホストコンピュ
ータ22によって与えられる指令によって、ロボットコ
ントローラ16が駆動される。そして、それによるロボ
ットコントローラ16の信号がロボット装置14に送ら
れる。
【0019】上記ロボット装置14は、内蔵されている
図示しないアクチュエータが作動し、これにより、ロボ
ット装置14は光照射手段26およびCCDカメラ28
が車体2の表面をなぞるように、これら光照射手段26
およびCCDカメラ28を移動させるとともに、CCD
カメラ28によって得られるビデオ信号を画像処理プロ
セッサ20に出力するようになっている。
【0020】上記画像処理プロセッサ20では、ビデオ
信号を増幅した後に微分し、その微分信号が、予め設定
したしきい値を超えるビデオ信号の走査線とこの走査線
上でのタイミングの検出を行い、そのデータをホストコ
ンピュータ22に伝送して解析させる。これにより、塗
膜表面の凹状欠陥の位置の座標ならびにその穴径およ
び深さの検出を行うようになっている。
【0021】次に、本実施例における塗装欠陥検査の詳
細を、図2〜図5により説明する。
【0022】図2に示すように、上記光照射手段26
は、光の射出面26aから射出する光の光度(線mの長
さで表されている)がこの射出面の矢印A1で示す一つ
の方向に強から弱に変化するようになっている。そし
て、上記光照射手段26は、射出面26aから射出され
る光によって被膜表面4の光照射領域Sを照射するよう
になっている。
【0023】上記のように、光には矢印A1で示す光度
変化が付けられているので、塗膜表面4には上記矢印A
1に対応する方向に、上記光度変化に対応した、照度変
化を有する光照射領域Sが生じる。そして、この光照射
領域Sがそれに含まれるカメラ視野Fを有するCCDカ
メラ28の上記カメラ視野Fにとらえられる。
【0024】これにより、図3に示すように、CCDカ
メラ28の受光画像32において、上記矢印A1で示す
方向に対応して矢印A2で示す方向に明るさが強から弱
に変化する。
【0025】このような状態において、塗膜表面4に凹
陥部6が生じていると、この凹陥部6で光照射手段26
からの光の正反射方向が変化する。この光の正反射方向
の変化により、CCDカメラ28の受光画像32は、照
度が矢印A2で示す方向に変化する状態で、上記凹陥部
6の明るさの変化状態がほかの部分とは異なったものと
なる。
【0026】すなわち、光照射手段26の上記射出面2
6aの光度が比較的大きい位置26Aからの光が主とし
て上記凹陥部6の射出面26aと対向する側の面6aに
当たって正反射方向が変化し、その一部がCCDカメラ
28に入射する。しかし、凹陥部6の上記面6aと反対
側の面6bには、上記射出面26aの光度が比較的小さ
い位置からの光しか入射せず、CCDカメラ28には、
凹陥部6の上記反対側の面6bからは光が殆ど入射しな
い。
【0027】したがって、CCDカメラ28の受光画像
32は、図3に示すように、CCDカメラ28の受光画
像32の明るいところから暗いところに向かう矢印A2
で示す方向で、凹陥部6がはじめに他の部分よりも暗く
なり、この暗い部分を過ぎると他の部分よりも明るくな
る。
【0028】上記画像処理プロセッサ20に入力された
ビデオ信号の、凹陥部6の付近における一走査線上の信
号レベルは、図4に示すようになる。
【0029】上記ビデオ信号はこの画像処理プロセッサ
20において、微分処理され、さらにその絶対値がとら
れる。これにより、ビデオ信号は図5に示すような3つ
のピークを有する信号に変換される。この3つのピーク
のうち、ピークAおよびピークCは凹陥部6の外周縁部
分を表わすものであり、ピークBは凹陥部6の領域中に
おいて信号レベルが大きく変化する部分を示している。
【0030】ホストコンピュータ22においては、上記
ピークAおよびピークCにより凹陥部6の穴径を算出
し、ピークBにより凹陥部6の位置を算出する。
【0031】また、このホストコンピュータ22におい
ては、凹陥部6の位置におけるビデオ信号の信号レベル
(ピークB)に基づき受光画像32中における凹陥部6
の明るさを検出し、この検出された明るさと上述のよう
にして得られた凹陥部6の穴径から凹陥部6の深さを算
出する。
【0032】ホストコンピュータ22においては、さら
に、上記凹陥部6が凹状欠陥のうち「はじき」欠陥とし
て発生した凹陥部であるのか、「ゆず肌」欠陥として発
生した凹陥部であるのか、の識別を行うようになってい
る。すなわち、塗膜表面4上に「はじき」欠陥として発
生した凹陥部は、その穴径および深さが比較的大きく、
また絶対数が少なく孤立して存在するのに対して、「ゆ
ず肌」欠陥として発生した凹陥部は、「ゆず肌」が肌特
性であることから、その穴径および深さが比較的小さ
く、また狭い範囲内に周期的に存在することに鑑み、図
6に示すようなフローで上記識別を行うようになってい
る。
【0033】まず、CCDカメラ28の受光画面32上
のすべての凹陥部6にラベリングhi(i=1〜n)を
行い、こうしてラベリングされた凹陥部6のうちから1
つの凹陥部hi(i=1)を特定する(ステップS1、
S2)。そして、この凹陥部hiを中心とする塗膜表面
4の所定範囲34(図7(a)、(b)において破線で
示す範囲)内に他の凹陥部hjが存在するか否かを判定
する(ステップS3)。
【0034】図7(a)に示すように、上記所定範囲3
4内に他の凹陥部hjが存在しなければ、上記凹陥部h
iは、孤立した凹陥部であるため、これを「はじき」欠
陥と認識する(ステップS3、S5)。一方、図7
(b)に示すように、上記所定範囲34内に他の凹陥部
hjが存在している場合には、上記凹陥部hiと他の凹
陥部hjとの大きさ(穴径および深さ)の比較を行う
(ステップS4)。その結果、凹陥部h1が他の凹陥部
hjに対して穴径、深さ共に2倍以上であれば「はじ
き」欠陥と認識し、2倍以上でなければ「ゆず肌」欠陥
と認識する(ステップS4、S5、S6)。
【0035】このようにして、1つの凹陥部hi(i=
1)についての識別作業が終了すると、次の凹陥部hi
(i=2)についての識別作業を行い、以下同様にし
て、すべての凹陥部hiについての識別作業を行う(ス
テップS7、S8)。
【0036】ホストコンピュータ22は、画像処理プロ
セッサ20により上記凹陥部6が検出されると、それが
「はじき」欠陥、「ゆず肌」欠陥いずれの場合にも、凹
状欠陥が発生したとして、後工程に対して、塗膜研磨等
により凹状欠陥の修正処理を行うよう所定の命令信号を
出力する。
【0037】ホストコンピュータ22は、さらに、凹状
欠陥の再発を未然に防止するため、該凹状欠陥発生の事
実を前工程にフィードバックしてその再発防止措置を講
じるための命令信号を出力する。この場合、上記「はじ
き」欠陥に対しては、その発生原因が車体塗装の前処理
工程にあることから、この前処理工程にフィードバック
して被塗装面への水、油等の付着を防止する措置が講じ
られ、「ゆず肌」欠陥に対しては、その発生原因が車体
塗装工程にあることから、この車体塗装工程にフィード
バックして塗装条件の変更措置が講じられる。
【0038】以上詳述したように、本実施例によれば、
「はじき」欠陥として発生した凹陥部と「ゆず肌」欠陥
として発生した凹陥部との識別を簡単かつ確実に行うこ
とができる。そして、これにより、前工程へのフィード
バックを凹状欠陥の発生原因に応じて適切に行うことが
できる。
【0039】なお、本実施例においては、塗膜表面4の
凹状欠陥を検査する場合についてのみ説明したが、塗膜
欠陥検査装置10においては、塗膜表面4と平行な平面
内において一方向にのみ光学特性が変化する照射光で塗
膜表面4を照射する光照射手段26を用いて塗膜欠陥検
査を行うようになっているので、塗膜表面4の凸状欠陥
についても検査することができる。その際、上記塗膜欠
陥が凸状欠陥であるか凹状欠陥であるかの判別およびそ
の塗膜欠陥の大きさ検出等については、上記「従来の技
術」の欄で引用した特開平4−204314号公報に開
示された方法に従って行えばよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る塗膜欠陥検査装置の一実施例を示
す斜視図
【図2】上記実施例における塗膜欠陥検査の概要を示す
説明図
【図3】塗膜表面に凹状欠陥があるときの受光画像を示
す図
【図4】塗膜表面に凹状欠陥があるときのビデオ信号レ
ベルを示すグラフ
【図5】ビデオ信号に微分処理および絶対値処理を施し
た後の信号波形を示すグラフ
【図6】上記実施例における凹状欠陥識別のフローチャ
ート
【図7】凹状欠陥識別の説明のための受光画像を示す図
【図8】「はじき」欠陥と「ゆず肌」欠陥との差異を説
明するための断面図
【符号の説明】
2 車体 4 塗膜表面 6 凹陥部(凹状欠陥) 10 塗膜欠陥検査装置 14 ロボット装置 20 画像処理プロセッサ(検出手段) 22 ホストコンピュータ(認識手段) 26 光照射手段 28 CCDカメラ 32 受光画面 34 所定範囲 hi 特定の凹陥部 hj 他の凹陥
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−245045(JP,A) 特開 平4−204359(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 21/84 - 21/958

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 塗膜表面の凹状欠陥を検出する検出手段
    と、 前記検出手段により検出された特定の凹状欠陥を中心と
    する前記塗膜表面の所定範囲内に他の凹状欠陥が存在し
    ないとき、前記特定の凹状欠陥を「はじき」欠陥である
    と認識する一方、前記特定の凹状欠陥を中心とする前記
    塗膜表面の所定範囲内に他の凹状欠陥が存在するとき、
    前記特定の凹状欠陥が前記他の凹状欠陥よりも所定値以
    上大きければ、前記特定の凹状欠陥を「はじき」欠陥で
    あると認識する認識手段と、 を備えてなることを特徴とする塗膜欠陥検査装置。
  2. 【請求項2】 検出手段が、前記塗膜表面と平行な平面
    内において一方向にのみ光学特性が変化する照射光で前
    記塗膜表面を照射する光照射手段を備えてなることを特
    徴とする請求項1記載の塗膜欠陥検査装置。
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